专利名称：光源组件及其连板的制作方法
技术领域：
本实用新型是有关于一种软性印刷电路板的技术领域，尤指一种将检测 点设置于废料区，达到方便检测、减少光源组件尺寸的光源组件及其连板。
背景技术：
随着科技快速发展及人类生活质量日渐提升之下，各形式的消费性电子 产品，包括掌上型计算机，掌上型游戏机，智能型手机等设计越来越多样化， 而在设计上又是以轻薄短小且具有大屏幕的消费性电子商品为市场的主流， 而大屏幕装置要能达到轻薄短小，其背光模块的扁平化具有绝对的重要性，
且目前背光模块主要采用发光二极管(LED)作为液晶显示器背光模块的主要 发光源。
目前业界为方便制作背光模块的光源组件，会在一大片的连板内裁设形 成有多个光源组件的软性印刷电路板(FPC),且为能检测发光二极管是否能点 亮，而在单片的软性印刷电路板(FPC)分别设置一测试点，并于每个软性印刷 电路板于连板上进行发光二极管的焊设工作，将发光二极管分别电性连接于 软性印刷电路板，之后，再将软性电路板由连板拆下，再利用探针测试对测 试点通电，看设置在FPC上的LED经检测是否能点亮，然而此检测方法由于 需要在每片FPC上均设置测试点，如此一来将耗费Layout的布件空间，增加 FPC成本，且需逐一将软性印刷电路拿取去测试，尤其对于小尺寸的软性印 刷电路，于拿取测试时，需各别拿取测试，而造成增加测试工时，且不符合 工作效率
实用新型内容
缺点，本实用新型的主要目的即在提供一种将测 试点设置于连板的废料区，再于印刷电路板端设置一组检测导线至废料区检 测点的光源组件及其连板。
为达到上述目的，本实用新型提供一种光源组件及其连板，其是于提供 一种将测试点设置于废料区，并设置一组检测导线连接光源组件端至板外检 测点，以减少布件空间，有效利用印刷电路板的连板，不需加大连板外型， 可降低印刷电路板成本。
为达到上述主要目的，本实用新型提供一种光源组件的连板，其包含有
至少一光源组件，该光源组件包括一基板、 一外部连接部、 一内部导线 及一第一组检测导线，该外部连接部、该内部导线及该第一组检测导线分别 形成于该基板，且该内部导线与该外部连接部电性连接，该第一组检测导线 是连接于该内部导线，并该第一组检测导线延伸至该基板边缘；
一异于该光源组件位置的废料区，该光源组件外部轮廓与废料区之间形 成有断续的不连续孔洞，而于连续部位至少形成为一微连接部，且该废料区 设有至少一组检测点，该至少一组检测点是分别电性延伸一第二组检测导线，
并该第二组检测导线与该第一组检测导线经由该微连接部位置连接而电性连 接。
本实用新型的次要目的即在于提供一种将测试点设置于废料区，并于光 源组件端设置一组检测导线连至板外的检测点，縮短制程中发光二极管测试 工时，提高产线作业效率。
为达到上述次要目的，本实用新型提供一种光源组件，其是包含有一基 板、 一外部连接部、 一内部导线、 一检测导线及至少一发光组件，该外部连 接部、该内部导线及该检测导线分别形成于该基板，且该内部导线与该外部 连接部电性连接，该检测导线是连接于该内部导线，且该检测导线延伸至该 基板边缘，且该发光组件电性连接于该软性印刷电路板之内部导线。
本实用新型可减少制程布局的布件空间，进而降低软性电路板的材料成 本。使用探针直接做扎针测试光源组件是否可电性导通点亮，或是光源组件
4内是否有部分发光组件于制造中发生缺损而无法被点亮。
图1是本实用新型的单一个光源组件连接一组检测点的示意图。
图1A是图1的A部放大图。
图2是本实用新型的光源组件内组件的连结关系示意图。图3是本实用新型的多个光源组件连接多组检测点的示意图。符号说明
1连板10光源组件
11基板12外部连接部
13内部导线14第一组检测导线
15发光组件16发光二极管
20废料区21检测点
22第二组检测导线27微连接部
30光源组件31基板
32外部连接部33内部导线
34检测导线35发光组件
36发光二极管4连板
40光源组件41基板
42外部连接部43内部导线
44第一组检测导线45发光组件
46发光二极管50废料区
51检测点52第二组检测导线
57微连接部具体实施方式
请参阅图1所示，是为本实用新型的单一个光源组件连接一组检测点的
示意图。图中所示，该光源组件10及其连板1，该连板l包括有一光源组件10以及一废料区20，该光源组件10包括有一基板11、 一外部连接部12、 一内部导线13及一第一组检测导线14，该基板11为一印刷电路板，在本实施例中，该印刷电路板是为一种软性印刷电路板(Flexible Printed Circuit, FPC)，但不以此为限。
该光源组件10上述所包含的各个组件均是成形于该基板11上，该基板11是为该连板1的一部分，该光源组件10具有一发光组件15，该发光组件15是由若干个发光二极管16串连而成，且该发光组件15电性连接于该内部导线13的一端，该组内部导线13另一端与一组外部连接部12作电性连接，该第一组检测导线14(如图1A粗体线所示)是连接于该内部导线13，并该第一组检测导线14延伸至该基板11边缘。
该光源组件10外部轮廓与废料区20之间形成有断续的不连续孔洞，而于各连续部位至少形成为一微连接部27(如图中之网点标示区域)，且该废料区20设置有一组检测点21，该组检测点21延伸一第二组检测导线22经由该微连接部27与该光源组件10的第一组检测导线14相连接，并通过该组内部导线13与该发光组件15产生电性连接，而达到该第二组检测导线22能经由该第一组检测导线14，将该发光组件15与该废料区20的检测点21电性连接，不需将检测点21设置于光源组件10内，而能有效利用光源组件10的空间及方便进行检测作业。
再请参阅图2所示，是为本实用新型的光源组件内组件的连结关系示意图。该光源组件30包含有一基板31、 一外部连接部32、 一内部导线33、 一检测导线34及至少一发光组件35，该光源组件30上述所包含的各个组件均是成形于该基板上31上，该光源组件30具有一发光组件35,该发光组件35是由若干个发光二极管36串连而成，且该发光组件35电性连接于该内部导线33的一端，该组内部导线33另一端与一组外部连接部32作电性连接，该
6检测导线34是连接于该内部导线33，并该检测导线34延伸至该基板31边缘。
再请参阅图3所示，是为本实用新型的多个光源组件连接多组检测点的示意图。其主要为一整片连板4中，具有多个光源组件40以及一废料区50,该光源组件40包括有一基板41、 一外部连接部42、 一内部导线43及一第一组检测导线44，该基板41为一印刷电路板，在本实施例中，该印刷电路板是为一种软性印刷电路板(Flexible Printed Circuit, FPC)，但不以此为限。
该光源组件40上述所包含的各个组件均是成形于该基板上41上，该基板41是为该连板4的一部分，该光源组件40具有一发光组件45，该发光组件45是由若干个发光二极管46串连而成，且该发光组件45电性连接于该内部导线43的一端，该组内部导线43另一端与一组外部连接部42作电性连接，该第一组检测导线44(同图1所示)是连接于该内部导线43，并该第一组检测导线44延伸至该基板41边缘。
该光源组件40外部轮廓与废料区50之间形成有断续的不连续孔洞，而于各连续部位至少形成为一微连接部57(如图中的网点标示区域)，同时该废料区50设置有一组检测点51，该组检测点51延伸一第二组检测导线52经由该微连接部57与该光源组件40的第一组检测导线44相连接，并通过该组内部导线43与该发光组件45产生电性连接，而达到该第二组检测导线52能经由该第一组检测导线44，将该发光组件45与该废料区50的检测点51电性连接。在本实施例中，该连板4上具有多个光源组件40，该多个第一组检测导线44连接多个第二组检测导线52，使多个发光组件45分别连接若干组检测点51，该检测点51的实际设置位置及其设置大小可根据需求而定，并不以本实用新型的实施例为限。
权利要求1. 一种光源组件的连板，其特征在于，该连板包含至少一光源组件，该光源组件包括一基板、一外部连接部、一内部导线及一第一组检测导线，该外部连接部、该内部导线及该第一组检测导线分别形成于该基板，且该内部导线与该外部连接部电性连接，该第一组检测导线连接于该内部导线，并该第一组检测导线延伸至该基板边缘；一异于该光源组件位置的废料区，该光源组件外部轮廓与废料区之间形成有断续的不连续孔洞，而于连续部位至少形成为一微连接部，且该废料区设有至少一组检测点，该至少一组检测点是分别电性延伸一第二组检测导线，并该第二组检测导线与该第一组检测导线经由该微连接部位置连接而电性连接。
2. 如权利要求1所述的光源组件的连板，其特征在于，该光源组件具有至少 一发光组件，该发光组件电性连接于该光源组件的内部导线。
3. 如权利要求1或2所述的光源组件的连板，其特征在于，该连板设有多个 光源组件，且该连板相对于各该光源组件分别设有多个的第二组检测导线， 以分别与各个光源组件的第一组检测导线电性连结。
4. 如权利要求2所述的光源组件的连板，其特征在于，该发光组件为若干个 发光二极管串连而成。
5. —种光源组件，其是包含有一基板、 一外部连接部、 一内部导线、 一检测 导线及至少一发光组件，其特征在于，该外部连接部、该内部导线及该检 测导线分别形成于该基板，且该内部导线与该外部连接部电性连接，该检 测导线是连接于该内部导线，且该检测导线延伸至该基板边缘，且该发光 组件电性连接于该基板的内部导线。
6. 如权利要求5所述的光源组件，其特征在于，该发光组件为若干个发光二 极管串连而成。
专利摘要本实用新型为一种光源组件及其连板，该光源组件设有一基板，且于该基板形成有一外部连接部、一内部导线及一第一组检测导线，该内部导线与该外部连接部电性连接，该第一组检测导线是连接于该内部导线，并该第一组检测导线延伸至该基板边缘，且该连板异于该光源组件位置形成有一废料区，该光源组件外部轮廓与废料区之间形成有断续的不连续孔洞，而于各连续部位形成为一微连接部，该废料区设有至少一组检测点，该至少一组检测点是分别电性延伸一第二组检测导线，并该第二组检测导线与该第一组检测导线经由该微连接部位置连接而电性连接。
文档编号H05K1/02GK201263247SQ200820117619
公开日2009年6月24日 申请日期2008年6月2日 优先权日2008年6月2日
发明者孙玲霞, 王翠绢, 黄锦美 申请人:胜华科技股份有限公司