一种x射线机限束器附加滤过测定装置制造方法
【专利摘要】一种X射线机限束器附加滤过测定装置，属于医疗器械【技术领域】。其结构由框架（1）、X射线源组件（2）、附加滤过组合盘（3）、半价层盘（4）、剂量表1（5）、体模（6）、剂量表2（7）组成，其特征在于：将限束器铅门调至光野能照满单片滤过、单片半价层时进行曝光，记录各档辐射的原始剂量值，再将附加滤过组合盘（3）、半价层盘（4）、剂量表1（5）、体模（6）装入装置内，按上述曝光过的剂量分别重新曝光，记录各档辐射量在剂量表1（5）和剂量表2（7）上的值，然后筛选各档位滤过；各档均依上述方法测试，列出各档位对应的滤过组合，将组合制作在一张圆盘内，装入限束器，来测定附加滤过。其优点是：结构简单，适应各种X射线机的附加滤过选定。
【专利说明】一种X射线机限束器附加滤过测定装置
【技术领域】
[0001]本实用新型属于医疗器械【技术领域】。
【背景技术】
[0002]据报道，同一部位X线摄片，国内受检者所受照射量为国外发达国家的3-20倍，原因固然很多，但相当部分是由滤过板的不合理使用造成的，在常规摄影条件下，Imm铝厚的原机器固有滤过板(实际滤过还包括球管和窗口的玻璃壁及管内的部分冷却油，其综合厚度大约相当于3mm铝的厚度)可以起到较好的吸收散射线的作用，但目前90KV以上的高KV摄影越来越广泛采用，而滤过板的滤过质量却并未随KV变化而变化；目前各厂商采用的减少散射线的办法就是在限束器的上、下插口添加滤过装置来吸收散射线，但选择何种滤过装置存在几个误区，例如:①固有/附加滤过尽可能的厚，使散射线、硬射线都被大幅吸收，从而造成医生选择更高剂量的射线拍片，才能获得满意图像，这样加重了射线管的损耗，也对影像室周围环境造成危害；②固有/附加滤过材质单一，最常见的是全部采用铝材，不能起到对硬射线和软射线的区分滤过；③附加滤过和射线质量不匹配，一些厂家照搬国内外其他厂家滤过的方案用在自产机器上，未考虑到不同厂家采用的射线发生器组合不同，射线质量也不同。
【发明内容】
[0003]本实用新型的发明目的是:为克服上述存在的缺陷，设计一种装置能准确、方便、可靠的测量X射线机的附加滤过。
[0004]本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:其结构由框架、X射线源组件、附加滤过组合盘、半价层盘、剂量表1、体模、剂量表2组成，其特征在于:将X射线源组件固定在框架上，在紧贴限束器窗口处安装附加滤过盘，滤过片正对射线窗口，在紧贴附加滤过盘的滤过片下方安装半价层盘，将剂量表2固定在框架上，紧贴剂量表2的正上方安装体模，紧贴体模的正上方安装剂量表I ;将限束器铅门调至光野能照满单片滤过、单片半价层进行曝光，记录各档辐射的能量在剂量表2的原始剂量值A，再对加装了附加滤过组合盘、半价层盘、剂量表1、体模的装置，按上述曝光过的剂量分别重新曝光，记录各档辐射量在剂量表I和剂量表2的值B和C，通过拨动附加滤过组合盘，找到各档x%=B/A?50%, y%=C/B(y%取最大值)的滤过组合，该组合即为该X光机限束器的合理附加滤过。
[0005]本实用新型的有益效果是:结构简单易制作，能适应各种X光机的滤过选定。
【专利附图】
【附图说明】
[0006]图是本实用新型的实施例结构示意图。
[0007]图中:1.框架，2.X射线源组件，3.附加滤过组合盘，4.半价层盘，5.剂量表1，
6.体模，7.剂量表2。【具体实施方式】
[0008]参照附图，其结构由框架(1)、X射线源组件(2)、附加滤过组合盘(3)、半价层盘
(4)、剂量表1 (5)、体模(6)、剂量表2 (7)组成，其特征在于:将X射线源组件(2)固定在框架(1)上，在紧贴限束器窗口处安装附加滤过盘(3)，滤过片正对射线窗口，在紧贴附加滤过盘(3)的滤过片下方安装半价层盘(4)，在距离射线焦点的正下方处，将剂量表2 (7)固定在框架(1)上，紧贴剂量表2 (7)的正上方安装体模(6)，紧贴体模(6)的正上方安装剂量表1 (5)，其中滤过组合盘是由上下紧贴的2层圆盘叠加组成，上下圆盘可独立绕同一轴心转动，上层圆盘由空档、0.1,0.2,0.3,0.4,0.5,0.6mm厚的铜箔粘贴在圆盘环上，下层由空档、0.5、1、2、3mm厚度的铝箔粘贴在圆盘上。 [0009]首先按图示位置将X射线源组件、剂量表2固定在框架相应位置，限束器铅门调至光野能照满单片滤过、单片半价层，将源组件固有总滤过装配成2.5A1，从90KV开始，以IOKV为一档累加的参数进行曝光，记录各档所辐射的能量在剂量表2的原始剂量值，此值记为A，再将附加滤过组合盘、半价层盘、IBA剂量表1、体模按图示装入框架内，按之前曝光过的剂量重新曝光，记录各档辐射量在剂量表1、剂量表2的值，分别记为B、C，其中滤过率为x%=B/A，穿透率y%=C/B ;筛选各档位合理滤过的方法如下:①在某KV条件下，转动半价层盘至规定的最小半价层，曝光后观察IBA剂量表1读数，计算x%，该值如果~50%，则说明当前源组件固有滤过为最佳，附加滤过为空档，②若上述x% > 50%，则需要添加附加滤过组合盘，拨动滤过盘，使射线穿过由上下盘组成不同的滤过组合，多次曝光并记录x%、y%，找出在x% ^ 50%的情况下，y%的值最大时，对应的滤过组合，即为当前最佳附加滤过，③各档依次类推测试，列出各档位对应的最佳滤过组合，将组合制作与一张圆盘内，装入限束器，即为该X射线机的最佳滤过组合盘。
【权利要求】
1.一种X射线机限束器附加滤过测定装置，其结构由框架(l)、x射线源组件(2)、附加滤过组合盘(3)、半价层盘(4)、剂量表I (5)、体模(6)、剂量表2 (7)组成，其特征在于:将X射线源组件(2)固定在框架(I)上，在紧贴限束器窗口处安装附加滤过盘(3)，滤过片正对射线窗口，在紧贴附加滤过盘(3)的滤过片下方安装半价层盘(4)，将剂量表2 (7)固定在框架(I)上，紧贴剂量表2 (7)的正上方安装体模(6)，紧贴体模(6)的正上方安装剂量表I(5)。
【文档编号】A61B6/00GK203424938SQ201320356695
【公开日】2014年2月12日 申请日期:2013年6月20日 优先权日:2013年6月20日
【发明者】李劲生, 王 华 申请人:南京普爱射线影像设备有限公司