专利名称：纱线检测器的制作方法
技术领域：
本发明涉及根据权利要求1前序部分所述的纱线检测器。
技术背景在纱线处理系统中，例如包含有用于产生高质量的纺织或编织织物 的织布机和綷纱线喂纱装置或针织机和编织纱线喂纱装置，纱线的诸如 打结或绞搓等缺陷是不允许在织物中出现的。由于这一原因，纱线检测 器被安装，例如在每个喂纱装置的上游，从而检测这些纱线缺陷的发生 并发出信号，此信号被用于在纱线缺陷进入织物之前关掉喂纱装置和纺 织机。此后，在纱线处理系统再次被启动而继续织物生产过程之前，纱 线缺陷被纠正或完全消除。专利US-A-4， 133， 207公开了这种纱线检测器。可振动支撑的舌状物 的侧向边缘与远距离导纱件一起形成了纱线通过缝隙。压电元件被固定 在振动舌状物上。缝隙宽度被调整为常规纱线厚度以便只有结或类似物， 或运转中的纱线的较厚部分可以接触舌状物的侧向边缘，从而导致压电 元件做出响应并发出信号。当纱线围绕导纱件被偏移时，纱线被永久偏 移并加上机械负载。这一附加的机械负载在精细成纱质量的情况下是不 利的，会导致断纱并产生附加的不愿看到的纱线张力。而且，棉绒会永 久的被剥落并积淀在舌状物端部的周围直到舌状物的振动被最终抑制。#4居专利DE-B-1101081所述的纱线纟全测器，其具有一种纟果测头，所 述探测头具有圆周状的V型凹槽，此凹槽具有沿圆周变化的深度。感应 头与探测头在凹槽区域内相邻接。通过旋转探测头，凹槽深度被调整为 纱线的常规厚度。 一旦纱线的结或类似的较厚部分穿过凹槽，感应头移 出原位置并促使开关产生信号。纱线在探测头附近被永久偏移并被加上 不愿看到的纱线张力，并且会由于缺陷的产生而趋于较早断裂。而且，棉绒会永久的被从纱线上剥落，并趋向于在凹槽和感应头之间的通过缝 隙处汇集。有时汇集的棉绒被拉过缝隙并且可能导致错误的信号。而且， 汇集的棉绒显著的恶化了检测器的读取质量。发明内容本发明的目的是提供一种结构简单、使用友好的纱线检测器，所述 检测器可以检测纱线缺陷而不使纱线断裂并不会阻碍纱线的运行。 此目的可以通过权利要求1所述的特征实现。在纱线不包括纱线缺陷时，纱线被允许通过纱线检测器而不会有任 何障碍并不会接收任何机械负载。
一旦发生纱线缺陷，即超出了常规纱线厚度至少一个预定的值，纱线缺陷自身被用作辅助的装置并加上捕捉 器而使纱线的运行偏离原轨迹，从而进入与第 一通路相偏离的第二预定 通路，以便传感器能够响应纱线缺陷并发出信号。这意味着在没有纱线 缺陷发生时传感器不测量或接触纱线。因而，传感器较少地受到不可避 免的棉绒和纱线材料的负面影响。当纱线缺陷在纱线检测器中出现时或 随后一点的时间，布置在纱线检测器下游的喂纱装置可能已经被关闭了 。 该纱线检测器结构简单并使用友好，它是纱线行走路径中的被动部件， 但是会随时准备好检测任何这种纱线缺陷。本质的思想在于提供在没有 发生纱线缺陷的情况下根本不影响纱线运行的捕捉器，而是利用纱线缺 陷本身使纱线偏移到传感器的探测区域内以便可靠的检测纱线缺陷。在优选实施例中，捕捉器设有实际上沿着纱线运行方向延展的纱线 通过缝隙，其宽度大于常规纱线厚度但是小于纱线缺陷厚度。在没有纱 线缺陷发生的时候，纱线通过缝隙对纱线产生机械作用。方便的，纱线通过缝隙宽度可以被调整为与各自的常规纱线厚度相 匹配。这使得纱线检测器是使用友好的，因为用户可以通过仅仅根据需 要处理的纱线的厚度调整纱线通过缝隙的宽度而把纱线检测器用于所有 不同的纱线厚度。在另 一个优选实施例中，纱线通过缝隙被至少实际上平行的导边在 两侧限定，导边从第一通路的一边倾斜的延伸到第一通^各的另一边。一旦纱线缺陷发生，则纱线缺陷会被捕捉器在纱线通过缝隙内捕获并依附 在导边上以便使纱线从第一通路偏离到传感器位于其上的第二通路处。 当纱线缺陷沿导边滑过时，传感器可以响应已经出现的纱线缺陷。然而， 把传感器置于可以响应纱线从第二通路返回到第 一通路的跳跃行为的位 置也是可行的，这时纱线缺陷沿着斜平面到达纱线通过缝隙的下游末端。 对这种跳跃行为的检测会导致非常强和清晰的信号，因为纱线跳跃会产 生显著的冲击。在优选实施例中，限定纱线通过缝隙的导边的倾斜度可以被任意的 调整以便分别获得相对激烈的纱线跳跃或相对平和的纱线跳跃，例如， 依靠纱线质量。在优选实施例中，纱线通过缝隙的导边由支撑在传送结构上的两个 杆或两个平板构成以便缝隙宽度可以通过至少 一个与纱线运行方向交叉 的导边的相对运动而被调整。在没有纱线缺陷发生时，这些杆或平板不 影响纱线，而是仅仅在纱线缺陷发生时捕获纱线缺陷以便使纱线偏离到 第二通路内。在优选实施例中，限定纱线通过缝隙的两个导边相对于彼此在相对 的方向上是可调整的。在本实施例中，纱线通过缝隙的中心将总是保持 在第 一通路内而与纱线通过缝隙的被调整的宽度无关。第一通路，及一部分第二通路，可由位于捕捉器上游和下游的导纱 体所限定。优选的，在上游一侧至少提供有一个孔眼，并结合一个位于 孔眼上游的侧向延伸的杆。下游导纱体可能仅是位于纱线检测器较大出 口开口邻近处的侧向4干。在优选实施例中，在具有在与第一通路交叉方向上延伸的导轨的传 送器上提供有一个杆或一个平板。导轨可滑移式地装配入固定基座中。 从基座延伸到传送器中的螺紋纺纱轴允许通过使用杆或平板在导轨方向 上移位传送器而调整缝隙宽度。可选地，传送器可以在导轨上滑动而导 轨被固定在基座上。螺紋纺纱轴可以被耦合到传送器上并旋入基座的螺 紋孔内，或者可以被支撑在基座上并旋入传送器的螺紋孔内。在优选实施例中，纱线通过缝隙包括在纱线运行方向上V型分叉的下游末端区域。这一末端区域也可以被用于很方便的旋紧第一次使用的 检测器。
一旦沿着导边滑过的纱线缺陷到达这一末端区域，纱线缺陷将被V型所逐步释放以便纱线从第二通路跳跃回第一通路。如果传感器适宜于响应冲击，则这种跳跃行为可以被可靠的用于产生表示缺陷已经发 生的清晰和强烈的信号。在优选实施例中，传感器是压电传感器，无论是纱线缺陷沿导边滑 过时还是纱线缺陷随纱线从第二通路跳回第一通路时，所述压电传感器 均与纱线相接触。在另一个优选实施例中，传感器是光学传感器，其响应在第二通路 中纱线的出现或纱线返回到第 一通路的跳跃行为。优选的，传感器被置于在捕捉器上方横向延伸的外罩部件内。传感 器的这一位置确保传感器不会被棉绒或其他材料所污染，因为传感器被 置于第一通路的外部，纱线通常沿此通路运行。当螺紋纺纱轴携带至少 一 个可以从纱线检测器的 一 边或两边被抓取 的结时， 一种便捷的调整是被允许的。
本发明的实施例将借助于附图而被描述。附图如下图l所示为纱线检测器的透视图，和图2所示为图l所示的纱线;险测器的侧^见图。
具体实施方式
如图1和2所示的纱线检测器D通常被用于分别包含诸如织布机和 绵纱线喂纱装置或针织机和编织纱线喂纱装置的纱线处理系统中，在喂 纱装置(未示出)的上游。纱线检测器的目的是检测纱线缺陷，例如打 结、搓绞、线环或类似物，和产生表示纱线缺陷已经发生的信号。在检 测到纱线缺陷时，处理系统不需被关闭，而是把关闭纱线处理系统和去 除纱线缺陷作为一种结果行为。其它的结果行为可能是停止喂纱装置和/ 或停止纺织机，和/或计算纱线缺陷数目以及/或激活切割器或除去设备等。纱线检测器D具有薄片金属体l,其具有弯起的末端部分，包含有在 侧向延展的、作为导纱体的杆3的轮毂2被安装于末端部分处。金属体1 的弯起的末端部分的后边包括如图2所示的开口 22,以及侧向延展的杆 3下游的纱线孔眼。圓板4被置于纱线检测器D的入口边，其包括中心孔眼5，在中心孔 眼上游被放置有第二个侧向延展的杆6。孔眼5和杆6祐:作为导纱体。导 纱体的上游和下游限定了用于纱线Y运行穿过纱线检测器D的第一直线 通路A。在示出的，特别如图2所示的，实施例中，第一通路A相对于水 平方向从入口边到出口边轻微向上延伸。在导纱体5和3之间纱线检测器D包括固定安装的机械捕获器F。捕 获器F限定了倾斜平面，其在纱线运行方向R上并开始于第一通^各A的 下方和眼孔5的下游而终止于第一纱线通3各A的另 一边和侧向延展的^干3 的上方。相对于第一纱线通路A的倾斜角约为20°。在示出的实施例中，捕获器F被两个平板14所限定，两个平板限定 了直线导边ll、 12，所述直线导边ll、 12限定了实际上在与纱线运行方 向R平行的方向上延伸的纱线通过缝隙10。纱线通过缝隙IO具有优选可 调整的宽度，此宽度比纱线Y的常规厚度大一点而比应该被检测的纱线 缺陷S小。纱线通过缝隙10具有被V型分叉的下游末端区域13。通常为U型的基座18是固定在金属体1上的。平板14中的一个可 以被固定在基座18上，而另一个平板14被固定在传送器16上(通过紧 固元件15 ),传送器16安装有可装配进基座18的导向孔并可滑动的导杆 17 (导轨)。导杆17沿垂直于缝隙10的延伸方向延伸。螺紋纺纱轴19 被支撑在基座18上并且仅仅被装配进传送器16上。螺紋纺纱轴19在一 个末端具有至少一个旋钮20。通过转动旋钮20,传送器16和平板14可 以沿着导轨17移动以便调整纱线通过缝隙10的宽度(双箭头21所示的 方向)。在所示的实施例中，另一个平板14被固定安装，而未示出的实施例 安装有两个可调节的平板以便它们可以通过螺紋纺纱轴19 (未示出)而在相反方向上运动。而且，可选的，导边ll、 12可以^f叉仅被杆所限定， 或者被垂直安装的平板所限定。例如，包括诸如信号产生电路和/或信号评估电路等电子设备的外罩 7被固定在金属体1上。外罩的一部分8从捕获器F上方的一边延伸并放 置有至少一个用于检测纱线缺陷S发生的电子传感器9,而纱线Y在方向 R上穿过纱线检测器D而运行。如图2所示，在没有纱线缺陷S发生时，纱线Y沿着第一通^各A运 行并穿过纱线检测器而不会在纱线通过缝隙处被阻碍或被张紧。 一旦纱 线缺陷S发生，其显著超过纱线Y的常规纱线厚度，并根据纱线通过缝 隙10的宽度的调整，纱线缺陷S将被导边11、 12所捕获并沿导边向上 滑行直到它到达末端区域13。通过这种捕获器F和纱线缺陷S之间的联 合行为，纱线Y将偏离出第一通路A而进入第二通路B(由虚线所指示出)， 所述第二通路B相对于第一通路A有所偏离。当纱线缺陷S到达末端区 域13时，纱线Y将从第二通路B跳回第一通路A。纱线传感器9，例如压电传感器，可与纱线在第二通路B中相接触， 或者光电传感器，被设置为可以检测纱线在第二通路B中的出现和/或检 测纱线缺陷S的通过和/或当纱线从第二通路B跳回第一通路A时的跳跃 行为。如图所示，传感器9可被置于外罩部件8的下边。可选的，传感器9 可以被置于另一个位置，然而，远离第一通路A。把传感器9置于侧向延 伸的杆3的位置或者杆3内也是可能的，因为纱线Y将在跳回第一通路A 之后撞击杆3以便纱线的撞击冲击可以被用于检测纱线缺陷S的存在， 其在倾斜的捕获器F的帮助下导致跳跃行为。作为另一个可选实施例，当纱线被偏移到第二通路B内或纱线跳回 第一通路A时，传感器被纱线接触部件，比如杠杆，所驱动。
权利要求
1.一种纱线检测器(D)，用于检测在运行的纱线(Y)中超过常规纱线厚度至少一预定量的诸如打结或绞搓的纱线缺陷(S)，纱线检测器(D)在检测区域内包括至少一个通过信号来响应纱线缺陷(S)的电子传感器(9)，其特征在于，所述纱线检测器(D)包括机械的固定捕获器(F)，通过所述捕获器纱线(Y)沿着预定的第一通路(A)运行而不会偏转直到纱线缺陷(S)的发生，并且一旦有纱线缺陷(S)发生，捕获器(F)会通过纱线缺陷(S)把纱线(Y)移位入至少一个预定的第二通路(B)中，所述第二通路偏移于所述第一通路(A)，并且传感器(9)位于所述第二通路上或所述第二通路中。
2. 根据权利要求1所述的纱线检测器，其特征在于，所述捕获器(F) 具有实际上在纱线运行方向(R)上延伸的纱线通过缝隙(10)，所述纱 线通过缝隙的宽度大于常规纱线厚度但是d、于将要被检测的纱线缺陷 (S )的厚度。
3. 根据权利要求2所述的纱线检测器，其特征在于，所述纱线通过缝 隙(10)宽度是可调整的。
4. 根据权利要求2所述的纱线检测器，其特征在于，所述捕获器(F) 内的所述纱线通过缝隙(10)在两边被实际上平行的导边(11, 12)所 限定，所述导边倾斜地从所述第一通路(A)的一边延伸到所述第一通路 (A)的另一边。
5. 根据权利要求4所述的纱线检测器，其特征在于，所述导边(11, 12)的倾斜位置是可相对于所述第一通路(A)调整的。
6. 根据权利要求4所述的纱线检测器，其特征在于，所述导边(11, 12)由被支撑在传送结构上的两个杆或两个板(14)所形成，以便所述 缝隙宽度可以通过至少一个所述导边(11， 12)沿着实际上与纱线运行 方向(R)相垂直的方向的相对运动而获得调整。
7. 根据权利要求6所述的纱线检测器，其特征在于，所述两个导边(11， 12)在彼此相对的方向上是可调整的。
8. 根据权利要求1所述的纱线检测器，其特征在于，至少所述第一通 路(A)由被布置在所述捕获器(F)的上游和下游的导纱体(5, 6， 3, 22)所限定，优选地由各自的孔眼和各自的杆或杆和孔眼的结合所限定。
9. 根据权利要求6所述的纱线检测器，其特征在于，至少一个杆或板 (14 )被支撑在传送器(16 )上，所述传送器(16 )包括在第一通路(A ) 的交叉方向上延伸的导轨(17 ),所述导轨(17 )可滑动地包含在固定基 座(18)内，并且螺紋纺纱轴(19)被设置在基座(18)内并装配进传 送器(16)内。
10. 根据权利要求2所述的纱线检测器，其特征在于，所述纱线通过缝隙 (10 )在所述捕获器中，并且具有在纱线运行方向上分叉的后部V型末端 区域(13)。
11. 根据权利要求1所述的纱线检测器，其特征在于，所述传感器(9) 是压电传感器，所述压电传感器在纱线沿着所述第二通路(B)运行时与 纱线(Y)相接触。
12. 根据权利要求1所述的纱线检测器，其特征在于，所述传感器(9) 是光学传感器。
13. 根据权利要求1所述的纱线检测器，其特征在于，所述传感器被置 于在所述捕获器(F)上方侧向延伸的外罩部件(8)内。
14. 根据权利要求9所述的纱线检测器，其特征在于，所述螺紋纺纱轴 (19 )带有旋钮(20 )，所述旋钮在所述基座(18 )的至少一边处是可获 得的。
全文摘要
一种用于通过电子传感器9而在运行的纱线Y中检测纱线诸如打结或绞搓等缺陷S的纱线检测器D，所述传感器通过信号响应纱线缺陷S的发生，所述纱线检测器D包括固定的机械捕获器F，纱线Y可以沿着预定的第一通路A穿过捕获器F而不会偏转，直到纱线缺陷S发生，并且所述捕获器在纱线缺陷S发生时依靠纱线缺陷S使纱线Y移位进入至少一个其它第二预定通路B，传感器9被置于所述第二预定通路上或内。
文档编号D06H3/00GK101215775SQ20081000007
公开日2008年7月9日 申请日期2008年1月4日 优先权日2007年1月4日
发明者毛里齐奥·巴加廷 申请人:Iro有限公司