用于电子设备性能测试的治具的制作方法

文档序号:25679822发布日期:2021-06-29 23:40阅读:61来源:国知局
用于电子设备性能测试的治具的制作方法

本申请涉及电子设备测试技术领域,尤其涉及一种用于电子设备通信测试的治具。



背景技术:

在手机等电子设备的性能测试中,有许多场合都需要测试电子设备在不同方向上的性能,因此需要相应的治具来实现这样的功能。在现有技术中,大多数为手动转动电子设备并测量转动的角度,来满足测试需求;但手动转动电子设备进行性能测试的技术方案,操作不方便,且存在放置误差,角度测量不精准,影响实际测试结果。也有少部分治具,可以实现电动转动,而现有的电动旋转方案中,整机体积较大,而且大多数都通过螺钉锁紧固定,不易操作。



技术实现要素:

本申请实施例提供一种用于电子设备性能测试的治具,便于对电子设备进行性能测试,同时缩小治具的整机体积。

本申请实施例提供一种用于电子设备性能测试的治具,包括:

底座;

转动体,用于固定电子设备,所述转动体可转动地设置在所述底座上;

驱动装置,设置在所述底座内部,并与所述转动体连接以能够驱动所述转动体转动。

本申请实施例的用于电子设备性能测试的治具通过驱动装置驱动转动体转动,能够自动转动固定在转动体上的电子设备来进行性能测试,无需人工手动转动,便于对电子设备进行性能测试,而且驱动装置设置在底座内部,能够缩小治具的整机体积。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

为了更完整地理解本申请及其有益效果,下面将结合附图来进行以下说明,其中在下面的描述中相同的附图标号表示相同部分。

图1为本申请实施例提供的用于电子设备性能测试的治具的分解图。

图2为本申请实施例提供的电子设备横放在治具上进行性能测试的结构示意图。

图3为本申请实施例提供的电子设备竖放在治具上进行性能测试的结构示意图。

图4为本申请实施例提供的电子设备横放在治具上进行性能测试的结构的剖面图。

图5为本申请实施例提供的电子设备竖放在治具上进行性能测试的结构的剖面图。

图6为本申请实施例提供的转动体的结构示意图。

图7为本申请实施例提供的转动体的剖面图。

图8为本申请实施例提供的底座的结构示意图。

图9为本申请实施例提供的底座的剖面图。

图10为本申请实施例提供的驱动装置的结构示意图。

图11为本申请实施例提供的另一用于电子设备性能测试的治具的俯视。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域技术人员在没有付出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请的保护范围。

请参阅图1-5,图1为本申请实施例提供的用于电子设备性能测试的治具的分解图,图2为本申请实施例提供的电子设备横放在治具上进行性能测试的结构示意图,图3为本申请实施例提供的电子设备竖放在治具上进行性能测试的结构示意图,图4为本申请实施例提供的电子设备横放在治具上进行性能测试的结构的剖面图,图5为本申请实施例提供的电子设备竖放在治具上进行性能测试的结构的剖面图。本实施例中,用于电子设备性能测试的治具10包括底座100、转动体200和驱动装置300。底座100为治具10的基础部件,用于设置和承受转动体200和驱动装置300。转动体200用于固定电子设备20,转动体200可转动地设置在底座100上,当电子设备20固定在转动体200上时,电子设备20可随着转动体200的转动而转动。驱动装置300设置在底座100内部,并与转动体200连接以能够驱动转动体200转动。

本申请实施例提供的治具用于电子设备性能测试时,驱动装置300工作驱动转动体200转动,转动体200带动固定在其上的电子设备20进行转动,从而可以测试电子设备20在不同角度方向上的性能,如通信性能。该治具10通过驱动装置300驱动转动体200转动,能够自动转动固定在转动体200上的电子设备20来进行性能测试,无需人工手动转动,便于对电子设备20进行性能测试,而且驱动装置300设置在底座100内部,能够缩小治具10的整机体积。

本申请实施例中的电子设备20可以为但不限于为手机、平板电脑、笔记本电脑等电子装置。

请参阅图6,图6为本申请实施例提供的转动体的结构示意图。一些实施例中,结合图1-5所示,转动体200上设置有用于容置电子设备20至少一部分的容置槽210,电子设备20可放入容置槽210内,使其至少一部分容纳在容置槽210中,电子设备20放入容置槽210内时,电子设备20与转动体200之间存在空隙。治具10还包括插销400,插销400可插入容置槽210中电子设备20与转动体200之间的空隙内,以将容置于容置槽210中的电子设备20抵紧在转动体200上。插销400可以过盈配合插入容置槽210中电子设备20与转动体200之间的空隙内,从而能够将容置于容置槽210中的电子设备20抵紧在转动体200上。插销400也可以为尺寸较电子设备20与转动体200之间的空隙大的弹性体,将插销400压缩插入容置槽210中电子设备20与转动体200之间的空隙内,插销400回复膨胀从而能够将容置于容置槽210中的电子设备20抵紧在转动体200上。

当需要横向放置电子设备20进行性能测试时时,首先把电子设备20横向放入容置槽210内合适位置,然后将插销400插入容置槽210中电子设备20与转动体200之间的空隙内,以将电子设备20抵紧固定在转动体200上。驱动装置300工作旋转,驱动转动体200转动,转动体200带动电子设备20转动,实现电子设备20在横向上不同角度下的性能测试。性能测试完成后,将插销400从容置槽210中电子设备20与转动体200之间的空隙内拔出,即可取出电子设备20。

当需要竖向放置电子设备20进行性能测试时时,首先把电子设备20竖向放入容置槽210内合适位置,然后将插销400插入容置槽210中电子设备20与转动体200之间的空隙内,以将电子设备20抵紧固定在转动体200上。驱动装置300工作旋转,驱动转动体200转动,转动体200带动电子设备20转动,实现电子设备20在竖向上不同角度下的性能测试。性能测试完成后,将插销400从容置槽210中电子设备20与转动体200之间的空隙内拔出,即可取出电子设备20。

电子设备20在不同角度下的性能测试的整个工作过程为:每间隔一定角度,驱动装置300停转,开始进行电子设备20的性能测试,该角度下的性能测试完成后,驱动装置300转动一定角度,进行下一角度的测试。重复此步骤,直至完成电子设备20在所有角度下的性能测试。

上述实施例中,通过在转动体200上设置容置电子设备20至少一部分的容置槽210,利用插销400插入容置槽210中电子设备20与转动体200之间的空隙内,以将电子设备20抵紧固定在转动体200上,从而可以简便地将电子设备20夹持在治具10上自动进行性能测试;测试完成后,拔出插销400即可方便取出电子设备20。该方式相对于现有电动旋转方案中,通过螺钉锁紧将电子设备固定在治具上的方式,不需繁琐地拧螺钉锁紧或松开电子设备,操作简单,能够进一步便于对电子设备进行性能测试。

请参阅图7,图7为本申请实施例提供的转动体的剖面图。一些实施例中,结合图4、5所示,插销400为楔形,容置槽210包括与插销400配合的斜面部分2110,插销400可沿着斜面部分2110滑动插入容置槽210中电子设备20与转动体200之间的空隙内。

需要将电子设备20夹持在治具10上进行性能测试时,把电子设备20放入容置槽210内,并将容置槽210的斜面部分2110露出,将插销400沿着斜面部分2110滑动插入容置槽210中电子设备20与转动体200之间的空隙内,直到背对斜面部分2110的侧面与电子设备20抵接,从而将容置于容置槽210中的电子设备20抵紧固定在转动体200上。对于不同尺寸特别是厚度的电子设备20,沿着斜面部分2110滑动插销400以插入不同的深度至插销400背对斜面部分2110的侧面与电子设备20抵接,都可以满足电子设备20在治具10上的夹持。电子设备20性能测试完成后,沿着斜面部分2110滑动拔出位于容置槽210中电子设备20与转动体200之间空隙的插销400,即可方便取出电子设备20。

上述实施例中,治具10可以满足不同型号的电子设备20横放、竖放夹持的要求;而且利用插销400在斜面部分2110上的滑动进行电子设备20的夹持固定,操作简单可靠,能够进一步便于对电子设备进行性能测试。

请参阅图8、9,图8为本申请实施例提供的底座的结构示意图,图9为本申请实施例提供的底座的剖面图。一些实施例中,结合图4、5所示,底座100的上部开设有凹槽110,转动体200的至少部分容纳在凹槽110内并可在凹槽110内转动。底座100的内部还开设有容置空间120,容置空间120与凹槽110连通,驱动装置300容纳在容置空间120内,驱动装置300与容纳在凹槽110中的转动体200的部分连接。

请参阅图6、7,一些实施例中,结合图1-5所示,转动体200包括转盘220和与转盘220顶部相连一对凸起块230,转盘220容纳在凹槽110内并可在凹槽110内转动,驱动装置300与转盘220连接,一对凸起块230间隔开设置在转盘220上以形成容置槽210。

将转盘220设置在凹槽110内转动,可以使治具10的整体结构更加紧凑美观,而且转盘220在底座100的凹槽110内转动不易受到干扰而影响转动体200的转动,电子设备20的性能测试可靠准确。

一对凸起块230间隔的距离可根据不同型号的电子设备20厚度来确定,可以将一对凸起块230间隔的距离设置为大于不同型号中厚度最大的电子设备20的厚度一合适的值,从而不同型号的电子设备20放入一对凸起块230之间,电子设备20与一对凸起块230之间存在空隙,使得插销400能够插入该空隙内,以将电子设备20抵紧固定在转动体200上。凸起块230的尺寸可以合理设置,只要保证能够稳定的夹持电子设备20即可。优选地,凸起块230的高度和宽度均小于不同型号的电子设备20的最小宽度,因此不管是电子设备20横放还是竖放夹持在转动体200上时,电子设备20的边缘都能露在一对凸起块230的外面,电子设备20的通信信号不会受到干扰,能够保证电子设备20的性能测试可靠准确。

请参阅图6、7,一些实施例中,一对凸起块230与转盘220之间均设置有加强肋240。加强肋240设置在凸起块230与转盘220之间能够提高凸起块230的强度,将插销400插入一对凸起块230之间抵紧固定电子设备20时,凸起块230不易变形,能够保证电子设备20可靠稳定的夹持在转动体200上。

请参阅图6、7,一些实施例中,结合图4、5所示,转动体200还包括与转盘220底部相连的连接部250,连接部250位于容置空间120内,驱动装置300的转轴与连接部250相连。

请参阅图7、10,图10为本申请实施例提供的驱动装置的结构示意图。优选地,结合图4、5所示,驱动装置300的转轴上设置有外齿轮310,连接部250的底部开设有连接孔2510,连接孔2510上设置有内齿轮2520,外齿轮310与内齿轮2520啮合传动。驱动装置300工作时,驱动装置300的转轴转动通过外齿轮310与内齿轮2520啮合传动从而驱动连接部250转动,进而带动固定在转动体200上的电子设备20转动以进行性能测试。

应当理解的是,连接部250可通过其他方式与驱动装置300的转轴连接,如焊接、卡接、螺纹连接等,只要保证驱动装置300工作时其转轴能够驱动转动体200转动即可,本申请实施例对此不作限制。

优选地,驱动装置300为电机。电机结构简单紧凑、工作可靠、易于控制,便于设置在底座100的内部用于驱动转动体200转动。

可选地,驱动装置300也可以为气缸、油缸、伺服等能够输出转矩的装置。

请参阅图11,图11为本申请实施例提供的另一用于电子设备性能测试的治具的俯视。本实施例中,在前述实施例的基础上,底座100上设置有角度刻度130,转盘220上设置有指示角度刻度130的箭头2210。通过转盘220上的箭头2210所指示的底座100上的角度刻度130,可以实时查看电子设备20的转动角度,对电子设备20进行性能测试的过程中,不需手动测量电子设备20的转动角度,能够进一步便于对电子设备20进行性能测试。

应当理解的是,角度刻度和箭头的设置位置可以互换,即将角度刻度设置在转盘220上,将指示角度刻度的箭头设置在底座100上。

在本实用新型实施例的描述中,需要理解的是,术语“高度”、“厚度”、“顶”、“底”“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解对本实用新型的限制。在本实用新型的描述中,除非另有说明,“多个”的含义是两个或两个以上。在本实用新型的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。在本实用新型的描述中,诸如“第一”、“第二”、“第三”等术语仅用于区分类似的对象,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。

以上对本申请实施例所提供的用于电子设备通信测试的治具进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想;同时,对于本领域的技术人员,依据本申请的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本申请的限制。

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