1.一种制造标记的塑料基产品的方法，所述方法包括
在被选择来更改塑料基片的至少一个区域的特性的条件下对所述基片进行辐照。
2.如权利要求1所述的方法，其中用电离辐射对所述基片进行辐照。
3.如权利要求2所述的方法，其中所述电离辐射的剂量是至少0.10MRad。
4.如权利要求3所述的方法，其中所述电离辐射的剂量是至少0.25MRad。
5.如权利要求1所述的方法，其中辐照包括用电子束辐射进行辐照。
6.如权利要求5所述的方法，其中所述电子束具有至少0.25MeV的能量。
7.如权利要求1所述的方法，其中在被选择来增加所述基片中存在的羧酸基的数目的条件下执行辐照。
8.如权利要求1-7中任一项所述的方法，其还包括对所辐照的基片进行淬灭。
9.如权利要求8所述的方法，其中在存在被选择来与所辐照的基片中存在的自由基反应的气体时执行淬灭。
10.如权利要求1-7中任一项所述的方法，其中仅对所述基片的一部分进行辐照。
11.如权利要求8所述的方法，其中仅对所述基片的一部分进行淬灭。
12.如权利要求1-7中任一项所述的方法，其中所述基片包含烯烃。
13.如权利要求12所述的方法，其中所述烯烃包括双轴定向聚丙烯。
14.一种制造标记的塑料基产品的方法，所述方法包括
将离子注入塑料基片中以更改所述基片的至少一个区域的特性。
15.如权利要求14的方法，其中所述离子包括金属离子。
16.如权利要求15所述的方法，其中所述金属离子包括银离子。
17.如权利要求14-16中任一项所述的方法，其还包括在注入之后激活所述离子。
18.如权利要求14-16中任一项所述的方法，其中所述塑料基片包含烯烃。
19.一种识别塑料基产品是否被标记的方法，所述方法包括
将样品塑料基产品的分子结构与所标记的塑料基产品的分子结构相比较。
20.如权利要求19所述的方法，其中比较包括比较所述产品的官能化。
21.如权利要求19所述的方法，其中比较包括比较所述产品的交联程度。
22.如权利要求20所述的方法，其中比较包括将所述样品塑料基产品中存在的羧酸基的数目与所标记的塑料基产品中存在的羧酸基的数目相比较。