专利名称：用于检测残像的液晶模组检测装置、检测评定系统及方法
技术领域：
本发明涉及液晶模组检测技术领域，尤其涉及ー种用于检测残像的液晶模组检测装置、检测评定系统及方法。
背景技术：
薄膜晶体管液晶显不器(ThinFilm Transistor-Liquid Crystal Display,TFT-IXD)具有体积小、功耗低、无辐射等特点，已经广泛地应用于人们的生产和生活当中，这其中包括TV、Monitor、以及便携式的电子显示产品等，各大面板厂商都在努力提高产品 的性能，例如降低能耗，増大视角，减小响应时间等。这其中对于显示面板残像的改善尤为重要，因为它直接影响了显示画面的品质。残像是指长时间驱动特定停止画像后，变换为其他画像时留有原来画像的图案的现象。残像是发生在液晶盒内部的ー种现象，由于长时间显示静止画面后，改变为其他图像时，液晶分子不能即时完全的发生偏转以适应新的画面，从而影响了显示效果。残像依据发生的形态不同可以分为面残像(area image sticking)和线残像(line image sticking)两种。对残像机理的研究表明，产生残像的主要原因是残留电荷的影响，这包括外加电场作用下在液晶盒内部产生的极化电荷以及在液晶盒内部杂质电荷的不同分布。这些残留的电荷会影响液晶在液晶盒顶部和底部的取向，从而使得残像发生在整个面板区域，比较严重的分布在具有明显颜色差别的图像交界位置。残像的产生还受其他因素影响，比如外界温度、画面类型和静止时间长短、亮度等级等。通常，在液晶模组装配完成后，需要对其画面品质、灰尘、异物等等方面进行检測，以提高液晶模组的品质及成品率。这其中包括对残像进行检测及评定的部分。液晶模组的检测环境需要达到一定的温度，传统的对残像进行评定的系统主要包括两大部分一部分为信号发生部分，一部分为外界的加热和温控设备，由于加热和温控设备需要外加大功率电源和复杂的控温装置，所以传统的残像检测系统通常体积很大，造价也高，并且由于设备体积大，所以不便移动，需要专用的评价场地，无法进行便利的实时评价，从而不利于对残像等级进行随时监控。
发明内容
(一)要解决的技术问题本发明要解决的技术问题是提供一种体积小、方便携帯的用于检测残像的液晶模组检测装置、检测评定系统及方法。(ニ)技术方案为解决上述问题，本发明提供了ー种用于检测残像的液晶模组检测装置，该装置包括密封隔热透明容器，用于容纳待测液晶模组；温度控制模块，用于对所述容器内的温度进行调节；信号发生模块，用于为所述待测液晶模组提供驱动信号。优选地，所述温度控制模块包括温度控制单元和温度调节单元，其中，所述温度控制单元用于感应所述容器内的温度，井根据感应到的温度开闭所述温度调节单元；所述温度调节单元与所述温度控制单元相连，用于对所述容器内的温度进行调节。优选地，所述温度控制单元集成于所述容器内。优选地，所述温度调节单元集成于所述容器内。优选地，所述信号发生模块集成于所述容器内。优选地，所述温度控制单元包括温度传感器和控制器，其中，所述温度传感器用于感应所述容器内的温度，并将感应到的温度数据发送至所述控制器；所述控制器根据所述温度数据开闭所述温度调节单元。优选地，所述信号发生模块为可编程逻辑控制器。优选地，所述控制器与所述信号发生模块为同一块可编程逻辑控制器。 本发明还提供了ー种用于检测残像的液晶模组检测评定系统，该系统包括上述的装置。本发明还提供了ー种用于检测残像的液晶模组检测评定方法，该方法包括步骤SI.将待测液晶模组放入密封隔热透明容器内；S2.为所述待测液晶模组提供驱动信号，将所述待测液晶模组点亮；S3.感应所述容器内的温度，若感应到的温度未达到检测温度基准范围，则等待；若感应到的温度超出了所述检测温度基准范围，则调节所述容器内的温度，直至感应到的温度位于检测温度基准范围内，开始对所述待测液晶模组的检测。(三)有益效果本发明的装置、系统及方法通过对待测液晶模组定制密闭、绝热特性好的透明容器，使用模组自身背光和面板所发出的热量来形成测试所需的温度环境，减小了装置体积，降低了成本；将信号发生模块和温度控制模块集成在容器内，可进ー步减小装置体积，使其方便携帯，有利于液晶模组检测评定的实时监控。
图I为依照本发明ー种实施方式的用于检测残像的液晶模组检测装置结构示意图；图2为依照本发明ー种实施方式的用于检测残像的液晶模组检测评定方法流程图。
具体实施例方式本发明提出的用于检测残像的液晶模组检测装置、检测评定系统及方法，结合附图及实施例详细说明如下。液晶模组背光所发出的光线通常只有5%左右可以透过面板，最終起到显示效果，而其余能量大部分都转化为热量排出。本发明的核心思想在于利用液晶模组自身背光和面板所发出的热量来形成检测所需的温度环境，从而减少附加的加热和温控设备増加的体积，并降低成本。如图I所示，依照本发明ー种实施方式的用于检测残像的液晶模组检测装置包括密封隔热透明容器I、温度控制模块、以及信号发生模块4。其中，密封隔热透明容器I用于容纳待测液晶模组5，该容器采用绝热性好且透明的材料制成，其尺寸可根据不同的待测液晶模组的尺寸进行定制，以充分利用液晶模组自身的热量；温度控制模块用于对容器I内的温度进行调节；信号发生模块4用于为待测液晶模组5提供驱动信号。在本实施方式的装置中，该温度控制模块可进ー步包括温度控制单元2以及温度调节单元3。其中，温度控制单元2用于感应容器I内的温度，井根据感应到的温度开闭温度调节单元3 ;温度调节单元3与温度控制单元2相连，用于在该温度控制单元2的控制下，对容器I内的温度进行调节，以避免由于热量的过多累积使得容器I内的温度超出检测评定的基准温度范围。为了减小装置的体积，以实现携带方便，从而便于残像的实时监控，可将温度控制単元2、温度调节单元3以及信号发生模块4全部或部分集成于容器I内。在本实施方式的装置中，该温度控制单元2可进ー步包括温度传感器和控制器。其中，温度传感器用于感应容器I内的温度，并将感应到的温度数据发送至控制器；控制器 根据所述温度数据开闭所述温度调节单元3。在本实施方式的装置中，信号发生模块4为可编程逻辑控制器(ProgrammableLogic Controller, PLC)(不限于此)，为待测液晶模组5提供驱动信号。进ー步地，控制器的功能可由可编程逻辑控制器(Programmable LogicController, PLC)(不限于此)来实现，控制器根据温度传感器发送的温度数据进而控制温度调节单元3的开闭。优选地，控制器的功能也可由同一块PLC来控制实现，以进ー步减小装置体积。温度调节单元3可为与温度控制单元2相连的阀门或热交换设备等，只要能实现将容器I内的多余热量排出容器即可，具体的实现形式在此不作为对本发明的限制。本发明还提供了ー种用于检测残像的液晶模组检测评定系统，该系统包括上述检测装置。如图2所示，依照本发明ー种实施方式的用于检测残像的液晶模组检测评定方法，包括步骤SI.将待测液晶模组放入密封隔热透明容器内；S2.开启信号发生模块，为待测液晶模组的面板和背光源提供驱动信号，将待测液晶丰旲组点売;S3.温度控制模块实时感应容器内的温度，若感应到的温度未达到检测温度基准范围，则等待；若感应到的温度超出了所述检测温度基准范围，则调节所述容器内的温度，直至感应到的温度位于检测温度基准范围内，开始对待测液晶模组的检测。以上实施方式仅用于说明本发明，而并非对本发明的限制，有关技术领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，还可以做出各种变化和变型，因此所有等同的技术方案也属于本发明的范畴，本发明的专利保护范围应由权利要求限定。
权利要求
1.ー种用于检测残像的液晶模组检测装置，其特征在于，该装置包括 密封隔热透明容器，用于容纳待测液晶模组； 温度控制模块，用于对所述容器内的温度进行调节； 信号发生模块，用于为所述待测液晶模组提供驱动信号。
2.如权利要求I所述的用于检测残像的液晶模组检测装置，其特征在于，所述温度控制模块包括温度控制单元和温度调节单元，其中， 所述温度控制单元用于感应所述容器内的温度，井根据感应到的温度开闭所述温度调节单元; 所述温度调节单元与所述温度控制单元相连，用于对所述容器内的温度进行调节。
3.如权利要求2所述的用于检测残像的液晶模组检测装置，其特征在于，所述温度控制単元集成于所述容器内。
4.如权利要求2所述的用于检测残像的液晶模组检测装置，其特征在于，所述温度调节单元集成于所述容器内。
5.如权利要求I所述的用于检测残像的液晶模组检测装置，其特征在于，所述信号发生模块集成于所述容器内。
6.如权利要求2所述的用于检测残像的液晶模组检测装置，其特征在于，所述温度控制単元包括温度传感器和控制器，其中， 所述温度传感器用于感应所述容器内的温度，并将感应到的温度数据发送至所述控制器； 所述控制器，根据所述温度数据开闭所述温度调节单元。
7.如权利要求6所述的用于检测残像的液晶模组检测装置，其特征在于，所述信号发生模块为可编程逻辑控制器。
8.如权利要求7所述的用于检测残像的液晶模组检测装置，其特征在于，所述控制器与所述信号发生模块为同一块可编程逻辑控制器。
9.ー种用于检测残像的液晶模组检测评定系统，其特征在干，该系统包括权利要求1-8任一项所述的装置。
10.ー种用于检测残像的液晶模组检测评定方法，其特征在于，该方法包括步骤 .51.将待测液晶模组放入密封隔热透明容器内； .52.为所述待测液晶模组提供驱动信号，将所述待测液晶模组点亮； . 53.感应所述容器内的温度，若感应到的温度未达到检测温度基准范围，则等待；若感应到的温度超出了所述检测温度基准范围，则调节所述容器内的温度，直至感应到的温度位于检测温度基准范围内，开始对所述待测液晶模组的检测。
全文摘要
本发明公开了一种用于检测残像的液晶模组检测装置、检测评定系统及方法，涉及液晶模组检测技术领域。该装置包括密封隔热透明容器，用于容纳待测液晶模组；温度控制模块，用于对所述容器内的温度进行调节；信号发生模块，用于为所述待测液晶模组提供驱动信号。本发明的装置、系统及方法通过对待测液晶模组定制密闭、绝热特性好的透明容器，使用模组自身背光和面板所发出的热量来形成测试所需的温度环境，减小了装置体积，降低了成本；将信号发生模块和温度控制模块集成在容器内，可进一步减小装置体积，使其方便携带，有利于液晶模组检测评定的实时监控。
文档编号G09G3/00GK102682683SQ20121016821
公开日2012年9月19日 申请日期2012年5月25日 优先权日2012年5月25日
发明者张培林, 柳在健 申请人:京东方科技集团股份有限公司