有机发光显示装置及其驱动方法与流程

有机发光显示装置可能随时间劣化，并且可能降低其显示亮度。有机发光显示装置劣化的程度受输入图像的亮度影响。已经显示许多明亮图像的有机发光显示装置劣化得比已经显示较少明亮图像的有机发光显示装置更严重。也就是说，有机发光显示装置中的OLED的劣化程度可能因区域的不同而不同。因此，已经提出其中将检测晶体管加到每个像素的方法。根据检测电压的驱动晶体管的驱动信息被读出，待被供应到每个像素的数据电压基于该驱动信息被补偿。

驱动信息通常可以经由数据线被读出，读出电路单元可以被并入到数据驱动集成电路(IC)中。随着有机发光显示装置的分辨率增加，所需的数据驱动IC的数量也可增加，其结果是，可能变得更难以在有限的空间中布置由于并入读出电路单元而造成尺寸增加的每个数据驱动器IC。另外，由于驱动信息可经由数据线被读出，因此数据线的电容可能会增加，其结果是，由数据驱动IC产生的热量也可能增加。另外，由于从源电极向漏电极可能形成泄漏路径，因此可能难以精确地进行检测。

技术实现要素：

本发明的示例性实施例提供了一种有机发光显示装置，其能够使用不同于数据线的路径精确地测量每个像素的驱动信息。

本发明的示例性实施例还提供了一种有机发光显示装置的驱动方法，该驱动方法能够不同于数据线的路径精确地测量每个像素的驱动信息。

然而，本发明的示例性实施例并不限于在本文中提出的实施例。通过参考下面给出的本发明的详细描述，本发明的上述和其它示例性实施例对于本发明所属领域的普通技术人员来说将变得更加显而易见。

根据本发明的示例性实施例，提供了一种有机发光显示装置。该有机发光显示装置包括：包括被连接到扫描线的栅电极、被连接到数据线的第一电极和被连接到第一节点的第二电极的第一晶体管；包括被连接到所述第一节点的栅电极、被连接到第一电源电压的第一电极和被连接到第二节点的第二电极的第二晶体管；包括被连接到检测控制线的栅电极、被连接到所述扫描线的第一电极和被连接到所述第二节点的第二电极的第三晶体管；以及包括被连接到所述第二节点的阳极和被连接到第二电源电压的阴极的有机发光元件。

所述数据线和所述检测控制线可以在第一方向上彼此平行地延伸。

所述有机发光显示装置可以进一步包括被配置为向所述扫描线供应扫描信号的扫描驱动器。

所述有机发光显示装置可以进一步包括扫描驱动器，所述扫描驱动器可以包括：被配置为生成所述扫描信号的移位寄存器；被配置为测量所述第二晶体管的驱动信息的检测器；被配置为连接所述移位寄存器和所述扫描线的第一开关；以及被配置为连接所述检测器和所述扫描线的第二开关。

所述有机发光显示装置可以进一步包括被配置为利用由所述检测器测量的所述第二晶体管的驱动信息补偿输入图像信号的控制器。

所述有机发光显示装置可以进一步包括被配置为向所述检测控制线供应检测控制信号的检测控制器。

所述检测控制器可以位于第一基板的布置所述第一晶体管的第一侧，所述扫描驱动器可以位于所述第一基板的第二侧。

所述第一基板的所述第一侧和所述第二侧可以彼此垂直。

所述扫描驱动器和所述检测控制器可以位于第一基板的布置所述第一晶体管的第一侧。

被供应到所述第一晶体管的扫描信号的栅极导通电压的脉冲宽度可以不同于被供应到所述第三晶体管的检测控制信号的栅极导通电压的脉冲宽度。

所述第一晶体管的沟道宽度对沟道长度之比可以不同于所述第三晶体管的沟道宽度对沟道长度之比。

所述有机发光显示装置可以包括多个像素，每一个像素包括所述第一晶体管、所述第二晶体管和所述有机发光元件，并且其中所述多个像素中的一些均进一步包括所述第三晶体管。

根据本发明的示例性实施例，一种有机发光显示装置包括：多个像素，每个像素包括：有机发光元件；被配置为驱动所述有机发光元件的驱动晶体管；被配置为控制所述驱动晶体管的控制晶体管；以及检测晶体管；并且所述有机发光显示装置包括被配置为供应导通所述控制晶体管的扫描信号的扫描驱动器；以及被配置为供应导通所述检测晶体管的检测控制信号的检测控制器，其中响应于经由导通的所述控制晶体管的第一端子供应的检测电压，在所述驱动晶体管的沟道中生成驱动电流，并且所述扫描驱动器包括经由导通的检测晶体管测量所述驱动电流的检测器。

所述检测控制器可以位于第一基板的形成所述多个像素的第一侧，所述扫描驱动器可以位于所述第一基板的第二侧。

所述扫描信号的栅极导通电压的脉冲宽度可以不同于所述检测控制信号的栅极导通电压的脉冲宽度。

所述有机发光显示装置可以进一步包括被配置为利用由所述检测器测量的所述驱动晶体管的所述驱动电流补偿输入图像信号的控制器。

根据本发明的示例性实施例，一种用于驱动有机发光显示装置的方法，该有机发光显示装置包括多个像素，每个像素包括有机发光元件、用于驱动所述有机发光元件的驱动晶体管、用于控制所述驱动晶体管的控制晶体管、和检测晶体管，以及用于导通所述控制晶体管的扫描驱动器，该驱动方法包括：经由所述控制晶体管向所述驱动晶体管的栅极端子施加检测电压；以及测量根据所述检测电压在所述驱动晶体管的沟道中生成的驱动电流，其中所述扫描驱动器包括用于测量所述驱动电流的检测器，并且所述检测器经由导通的所述检测晶体管测量所述驱动电流。

所述检测控制器可以位于第一基板的形成所述多个像素的第一侧，所述扫描驱动器可以位于所述第一基板的第二侧。

被供应到所述控制晶体管的扫描信号的栅极导通电压的脉冲宽度可以不同于被供应到所述检测晶体管的检测控制信号的栅极导通电压的脉冲宽度。

有机发光显示装置的所述驱动方法可以进一步包括利用所测量的驱动电流补偿输入图像信号。

根据本发明的示例性实施例，由于驱动信息经由扫描线检测，因此可以基本上防止(例如防止)数据线的电容的任何增加，并且数据驱动器更易于配置。

此外，由于驱动信息经由扫描线检测，因此不产生泄漏路径，其结果是，可以提供精确的测量数据。

从下面的详细描述、附图、权利要求和它们的等同物，本发明的其它特征和示例性实施例将是显而易见的。

附图说明

图1是示出了根据本发明示例性实施例的有机发光显示装置的框图。

图2是示出了根据本发明示例性实施例的像素的示例的电路图。

图3是示出了根据本发明示例性实施例的检测模式的时序图。

图4是示出了根据本发明示例性实施例的扫描驱动器的框图。

图5是示出了根据本发明示例性实施例的第一扫描信号电路部的框图。

图6是示出了根据本发明示例性实施例的控制器的框图。

图7是示出了根据本发明另一示例性实施例的有机发光显示装置的电路图。

具体实施方式

通过参考下面对本发明的示例性实施例的详细描述和附图，本发明的实施例的方面和特征以及实现该方面和特征的方法可以更易于理解。然而，本发明可以以许多不同的形式体现，不应当被认为限于本文所提出的实施例。相反，提供这些实施例是为了使得公开充分和完整，向本领域技术人员充分地传达本发明的概念，并且本发明仅仅由所附权利要求来限定。因此，在本发明的一些实施例中，为了不让没有必要的细节使得对本发明的实施例的描述晦涩，不示出公知的结构和装置。在全文中，相同的附图标记指代相同的元件。在图中，层和区域的厚度为了清楚被夸大。

本文使用的术语仅用于描述特定的实施例，并不旨在限制本发明。如本文所用，单数形式的“一个”旨在也包括复数形式，除非上下文另有明确说明。将进一步理解的是，当在申请文件中使用时，术语“包括”和“包含”表明存在所陈述的特征、整数、步骤、操作、元件和/或组件，但不排除存在或添加一个或多个其它特征、整数、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组。

将理解的是，当一元件或层被称为在另一元件或层“上”、“被联接到”、“被连接到”或“邻近”另一元件或层时，其可以直接在另一元件或层上、被直接联接到、被直接连接到或紧邻另一元件或层，或者可以存在中间元件或中间层。可替代地，当一元件被称为“直接在”另一元件或层“上”、“被直接联接到”、“被直接连接到”或“紧邻”另一元件或层时，不存在中间元件或中间层。如本文所用，术语“和/或”包括相关联的所列项目的一个或多个的任意和所有组合。

为便于描述，诸如“之下”、“下方”、“下”、“上方”、“上”等的空间相对术语在本文中被用来描述如图中所示的一个元件或特征相对于另一个(些)元件或特征的关系。将理解的是，除了图中描述的方位之外，这些空间相对术语意在还包含装置在使用或操作中的不同方位。另外，当描述本发明的实施例时，使用“可以”是指“本发明的一个或多个实施例”。

如本文所用，术语“基本上”、“大约”和类似术语被用作近似的术语，而不是程度的术语，意在考虑到本领域普通技术人员将意识到的测量或计算的值中的固有公差。

如本文所用，术语“使用”和“被用来”可以被认为分别与“利用”和“被利用来”同义。

将理解的是，虽然术语“第一”、“第二”、“第三”等可在本文中用来描述各种元件、组件、区域、层和/或部分，但是这些元件、组件、区域、层和/或部分不应该受这些术语的限制。这些术语仅用来区分一个元件、组件、区域、层或部分与另一个元件、组件、区域、层或部分。因此，下面讨论的第一元件、组件、区域、层或部分可以被称为第二元件、组件、区域、层或部分，而不脱离本发明的精神和范围。

将参考作为本发明的理想示意图的平面图和/或剖视图来描述本文中描述的本发明的实施例。因此，示例性的图可以取决于制造技术和/或公差来修改。因而本发明的实施例不限于在图中显示的实施例，而是包括在制造工艺的基础上形成的结构的变化。因而，图中例示的区域具有示意性质，图中示出的区域的形状例示元件的区域的特定形状，而不是限制本发明的方面。

在下文中将参考附图描述本发明的示例性实施例。

图1是示出了根据本发明示例性实施例的有机发光显示装置的框图，图2是示出了根据本发明示例性实施例的像素的示例的电路图。

参考图1和图2，有机发光显示装置10包括显示面板110、控制单元120(例如控制器120)、数据驱动单元130(例如数据驱动器130)、扫描驱动单元140 (例如扫描驱动器140)和检测控制单元150(例如检测控制器150)。

显示面板110可以是图像区域。显示面板110可以包括多条扫描线(SL1，SL2，...，SLn)、横跨多条扫描线(SL1，SL2，...，SLn)的多条数据线(DL1，DL2，...，DLm)、以及各自被连接(例如联接、电联接或电连接)到多条扫描线(SL1，SL2，...，SLn)中的一条和多条数据线(DL1，DL2，...，DLm)中的一条的多个像素PX，其中n和m是相互不同的自然数。多条数据线(DL1，DL2，...，DLm)可以横跨多条扫描线(SL1，SL2，...，SLn)。也就是，多条数据线(DL1，DL2，...，DLm)可以在第一方向d1上延伸，多条扫描线(SL1，SL2，...，SLn)可以在横跨第一方向d1的第二方向d2上延伸。第一方向d1可以是列方向，第二方向d2可以是行方向。多条扫描线(SL1，SL2，...，SLn)可以包括沿着第一方向d1顺序布置的第一至第n扫描线SL1至SLn。多条数据线(DL1，DL2，...，DLm)可以包括沿第二方向d2顺序布置的第一至第m数据线DL1至DLm。

多个像素PX可以被布置成矩阵形式。多个像素PX中的每一个可以被连接到多条扫描线(SL1，SL2，...，SLn)中的一条和多条数据线(DL1，DL2，...，DLm)中的一条。像素PX中的每一个响应于经由被连接到其上的多条扫描线(SL1，SL2，...，SLn)中的一条提供到其上的多个扫描信号(S1，S2，...，Sn)中的一个，可经由被连接到其上的多条数据线(DL1，DL2，...，DLm)中的一条接收多个数据电压(D1，D2，...，Dm)中的一个。也就是说，多个扫描信号(S1，S2，...，Sn)可以被分别提供给多条扫描线(SL1，SL2，...，SLn)，多个数据电压(D1，D2，...，Dm)可以被分别提供给多条数据线(DL1，DL2，...，DLm)。第一方向d1可以是列方向，第二方向d2可以是行方向。像素PX中的每一个可以经由第一电力线(未示出)被提供第一电源电压ELVDD，并且可经由第二电力线(未示出)被提供第二电源电压ELVSS。第一电源电压ELVDD和第二电源电压ELVSS可以由电源(未示出)提供。

显示面板110还可以包括与多条数据线(DL1，DL2，...，DLm)在相同或基本相同的方向上延伸的多条检测控制线(SEL1，SEL2，...，SELm)。多条检测控制线(SEL1，SEL2，...，SELm)可以包括沿第二方向d2顺序布置的第一至第m检测控制线SEL1至SELm。第一数据线DL1和第一检测控制线SEL1可以被连接到同一列像素，其余的多条数据线(DL2，DL3，...，DLm)和其余的多条检测控制线(SEL2，SEL3，...，SELm)可以被连接到相同列像素。多条扫描线(SL1，SL2，...，SLn)和栅极线(例如多条检测控制线(SEL1，SEL2，...，SELm))可以提供用于导通包括在多个像素PX的每一个中的不同晶体管的信号。显示面板 110可以通过在单个基板上布置多个像素PX、多条数据线(DL1，DL2，...，DLm)、多条扫描线(SL1，SL2，...，SLn)和多条检测控制线(SEL1，SEL2，...，SELm)而形成。多条数据线(DL1，DL2，...，DLm)、多条扫描线(SL1，SL2，...，SLn)和多条检测控制线(SEL1，SEL2，...，SELm)可以被形成为彼此绝缘。

控制器120可以接收控制信号CS和图像信号R.G.B。图像信号R.G.B可以包括多个像素PX的亮度信息。该亮度信息可以包括预定数量的灰度级，例如，1024、256或64个灰度级。控制信号CS可以包括垂直同步信号Vsync、水平同步信号Hsync、数据使能信号DE和时钟信号CLK。控制器120可以根据图像信号R.G.B以及控制信号CS生成第一至第三驱动控制信号CONT1至CONT3和图像数据DATA。控制器120可通过根据垂直同步信号Vsync以帧为单位分割图像信号R.G.B以及根据水平同步信号Hsync以扫描线(多条扫描线(SL1，SL2，...，SLn))为单位分割图像信号R.G.B，来生成图像数据DATA。控制器120可补偿图像数据DATA，并可以将补偿后的图像数据DATA1与第一驱动控制信号CONT1一起传送到数据驱动器130。控制器120可以将第二驱动控制信号CONT2传送到扫描驱动器140，并可以将第三驱动控制信号CONT3传送到检测控制器150。

扫描驱动器140可以被连接到显示面板110的多条扫描线(SL1，SL2，...，SLn)，并且可以根据第二驱动控制信号CONT2生成多个扫描信号(S1，S2，...，Sn)。扫描驱动器140可以将栅极导通电压的多个扫描信号(S1，S2，...，Sn)分别顺序施加到多条扫描线(SL1，SL2，...，SLn)。

数据驱动器130可被连接到显示面板110的多条数据线(DL1，DL2，...，DLm)。数据驱动器130可以根据第一驱动控制信号CONT1采样并保持输入到其内的补偿后的图像数据DATA1，并且可以将补偿后的图像数据DATA1转换为模拟电压，由此生成多个数据电压(D1，D2，...，Dm)。数据驱动器130可以将多个数据电压(D1，D2，...，Dm)分别传送到多条数据线(DL1，DL2，...，DLm)。显示面板110的各个像素PX可以通过栅极导通电压的多个扫描信号(S1，S2，...，Sn)中的一个导通，并且可以被提供以多个数据电压(D1，D2，...，Dm)中的一个。

检测控制器150可以根据第三驱动控制信号CONT3被激活。第三驱动控制信号CONT3可以是用于控制检测模式的激活或失活的信号。当用于整个有机发光显示装置10的电源被接通或关断时，检测模式可被激活。也就是说，检测模式可在有机发光显示装置10被接通或关断的待机时段期间被激活，但本发明不限于此。例如，检测模式可在有机发光显示装置10的操作时段以规则的时间间隔被激活或者由用户设置激活。

检测控制器150可以根据第三驱动控制信号CONT3生成具有电平(例如预定电平)的检测电压Vref，并可以将检测电压Vref供应给多个像素PX。检测电压Vref可以以灰度级(例如预定灰度级)驱动被包括在像素PX中的每一个的有机发光元件EL。检测控制器150可以将检测电压Vref提供到多条数据线(DL1，DL2，...，DLm)。也就是说，检测电压Vref可以经由多条数据线(DL1，DL2，...，DLm)被提供给像素PX中的每一个。当检测控制器150提供检测电压Vref时，从其输出多个数据电压(D1，D2，...，Dm)的互连与多条数据线(DL1，DL2，...，DLm)可以彼此断开。此外，检测控制器150可以根据第三驱动控制信号CONT3确定多个检测控制信号(SE1，SE2，...，SEm)的电平，并且可以将多个检测控制信号(SE1，SE2，...，SEm)分别提供到多条检测控制线(SEL1，SEL2，...，SELm)。检测控制器150可以顺序将多个检测控制信号(SE1，SE2，...，SEm)分别提供到被连接到检测控制器150的多条检测控制线(SEL1，SEL2，...，SELm)。检测控制器150可以被配置为提供检测电压Vref和多个检测控制信号(SE1，SE2，...，SEm)，但本发明不限于此。例如，检测电压Vref和多个检测控制信号(SE1，SE2，...，SEm)可以由两个不同的、独立的单元或控制器供应。

图2示出了被包括在显示面板110中的多个像素PX中的一个像素的电路。例如，图2示出了被连接到第i扫描线SLi和第j数据线DLj的像素PXij的结构，但是多个像素PX的结构并不限于图2中所提出的结构。

参考图2，像素PXij可以包括第一晶体管T1、第二晶体管T2、第三晶体管T3、第一电容器C1和有机发光元件EL。

第一晶体管T1可以包括被连接到第i扫描线SLi的栅电极、被连接到第j数据线DLj的第一电极、以及被连接到第一节点N1的第二电极。第一晶体管T1可以通过被施加到第i扫描线SLi的栅极导通电压的第i扫描信号Si导通，并且可以将被施加到第j数据线DLj的第j数据电压Dj传送到第一节点N1。第一晶体管T1可以是向驱动晶体管选择性地提供第j数据电压Dj的开关晶体管。第一晶体管T1可以是n沟道场效应晶体管(FET)。也就是说，第一晶体管T1可以通过高电平电压的扫描信号导通，并且可以通过低电平电压的扫描信号截止。

第二晶体管T2可以包括被连接到第一节点N1的栅电极、被连接到第一电源电压ELVDD的第一电极、以及被连接到第二节点N2的第二电极。也就是说，第二晶体管T2的栅电极可以被连接到第一晶体管T1的第二电极。第一电容器C1可以被布置在第一节点N1与第一电源电压ELVDD之间。可以以从第一晶体管T1提供到第一电容器C1的数据电压对第一电容器C1进行充电，对第一电容器C1 进行充电的数据电压可被提供到第二晶体管T2的栅电极。有机发光元件EL的阳极可以被连接到第二节点N2。第二晶体管T2可以是驱动晶体管，并且可以根据第一节点N1的电压控制从第一电源电压ELVDD施加到有机发光元件EL的驱动电流。

第三晶体管T3可以包括被连接到第j检测控制线SELj的栅电极、被连接到第i扫描线SLi的第一电极、以及被连接到第二节点N2的第二电极。第三晶体管T3可通过被施加到第j检测控制线SELj的第j检测控制信号SEj导通。第三晶体管T3可以是检测晶体管。例如，第三晶体管T3可以检测关于第二晶体管T2的驱动特性(即驱动电流或驱动电压)的信息。当检测模式被激活时，具有电平(例如预定电平)的检测电压Vref可被施加到第二晶体管T2的栅电极，并且由于检测电压Vref，可以在第二晶体管T2的沟道中生成具有幅度(例如预定幅度)的驱动电流。响应于检测模式被激活，第三晶体管T3可以被导通，因此，驱动电流可以从第三晶体管T3的第二电极流向第一电极。第三晶体管T3的第一电极可以被连接到第i扫描线SLi，像素PXij的驱动信息可以经由第i扫描线SLi读出，这将在后面进一步详细描述。

有机发光元件EL可以包括被连接到第二节点N2的阳极、被连接到第二电源电压ELVSS的阴极、以及有机发光层(未示出)。有机发光层可以发射光的三原色(即红、绿和蓝)中的一种的光。期望的颜色可通过光的三原色的空间或时间总和被显示。有机发光层可以包括对应于每种颜色的小分子有机材料或高分子有机材料。对应于每种颜色的有机材料可以根据流入有机发光层中的电流的量产生并发射光。

图3是示出了根据本发明示例性实施例的检测模式的时序图，图4是示出了根据本发明示例性实施例的扫描驱动器的框图，图5是示出了根据本发明示例性实施例的第一扫描信号电路部的框图，图6是示出了根据本发明示例性实施例的控制器的框图。

参考图3至图6，检测模式可包括第一时段T1和第二时段T2。当整个有机发光显示装置10的电力被关断或接通时，检测模式可被激活。也就是说，检测模式可在有机发光显示装置10被接通或关断时的待机时段期间被激活，但本发明不限于此。例如，在有机发光显示装置10的操作期间，检测模式可以以规则的时间间隔被激活或由用户设置激活。

第一时段T1可以是用于施加检测电压Vref的时段，第二时段T2可以是用于根据检测电压Vref检测驱动电压的时段。第二电源电压ELVSS可在第一时段T1 和第二时段T2期间被保持为高电平电压。第二电源电压ELVSS的高电平电压可以与第一电源电压ELVDD的高电平电压相同或基本相同。也就是说，在检测模式期间，第二电源电压ELVSS可被保持为高电平电压，因此可以基本上防止(例如防止)驱动电流流入有机发光元件EL。响应于有机发光显示装置10从检测模式被切换到正常操作模式，第二电源电压ELVSS可以被切换为低电平电压。

扫描驱动器140可以顺序地供应多个扫描信号(S1，S2，...，Sn)，因此可以顺序地导通多个像素PX的第一晶体管T1。也就是说，多个扫描信号(S1，S2，...，Sn)中的每一个可作为栅极导通电压被施加，因此可以导通多个像素PX的第一晶体管T1。每个扫描信号(S1，S2，...，Sn)的栅极导通电压可以是高电平电压。扫描驱动器140可以包括分别输出多个扫描信号(S1，S2，...，Sn)的多个扫描信号电路(140_1，140_2，...，140_n)。多个扫描信号电路(140_1，140_2，...，140_n)可以通过从它们各自的前一扫描信号电路输出的扫描信号被启用，以生成扫描信号，并且可以将所生成的扫描信号输出到它们各自的扫描线以及它们各自的后一扫描信号电路。也就是说，多个扫描信号电路(140_1，140_2，...，140_n)可以顺序地生成并输出扫描信号。多个扫描信号电路(140_1，140_2，...，140_n)可以被连接为分别对应于多条扫描线(SL1，SL2，...，SLn)。因此，扫描信号电路(140_1，140_2，...，140_n)可沿列方向布置。

扫描信号电路(140_1，140_2，...，140_n)中的每一个可以包括移位寄存器141、检测部分142(例如检测器142)、第一开关SW1和第二开关SW2。移位寄存器141可以是生成扫描信号的电路。检测器142可以是在第二时段T2期间经由扫描线读出像素PX的驱动信息的电路。第一开关SW1可控制移位寄存器141与扫描线之间的连接，第二开关SW2可控制检测器142与扫描线之间的连接。由于在第一时段T1期间，扫描信号需要被供应给扫描线，因此高电平“导通”信号可以被施加到第一开关SW1，低电平“截止”信号可以被施加到第二开关SW2。

检测控制器150可以在第一时段T1期间提供检测电压Vref到多条数据线(DL1，DL2，...，DLm)中的每一条。当多个像素PX的第一晶体管T1通过多个扫描信号(S1，S2，...，Sn)导通时，可以将经由这些第一晶体管T1各自的第一电极被供应到这些第一晶体管T1上的检测电压Vref传送到被连接到这些第一晶体管T1各自的第二电极的第一电容器C1。可以以检测电压Vref对第一电容器C1进行充电。由第一电源电压ELVDD和检测电压Vref形成的电压可以是能够驱动多个像素PX的第二晶体管T2的电压，其结果是，可以在多个像素PX的第二晶体管T2的沟道中生成驱动电流。

第二时段T2可以是用于检测驱动电流的时段。为此，多个像素PX的作为检测晶体管的第三晶体管T3可以被导通。也就是说，在第二时段T2的一部分(例如预定部分)期间，检测控制信号SE可以作为高电平电压被顺序提供，因此可以导通多个像素PX的第三晶体管T3。检测控制器150可以包括用于分别生成多个检测控制信号(SE1，SE2，...，SEm)的多个移位寄存器(未示出)。多个移位寄存器可以被分别连接到与多条数据线(DL1，DL2，...，DLm)平行地延伸的多条检测控制线(SEL1，SEL2，...，SELm)。多个移位寄存器可以沿行方向并排布置，并且可以沿行方向分别顺序地提供多个检测控制信号(SE1，SE2，...，SEm)。

检测控制器150可以被布置在构成显示面板110的基板的一侧上。例如，检测控制器150可以被布置在基板的形成多个像素PX的第一晶体管T1的第一侧上。检测控制器150的多个移位寄存器可以以芯片上玻璃(COG)的方式被安装在基板上，以沿着基板的第一侧布置。扫描驱动器140的多个移位寄存器可以被安装在基板上，以沿着基板的第二侧布置。基板的第一侧和第二侧可以彼此垂直，但本发明不限于此。

例如，在本发明的可替代示例性实施例中，检测控制器150和扫描驱动器140可以沿显示面板110的一对平行侧安装。例如，检测控制器150和扫描驱动器140可以被分别布置在显示面板110的左侧和右侧。在本发明的这一示例性实施例中，检测控制器150可以被连接到横跨多条检测控制线(SEL1，SEL2，...，SELm)的多条延伸线(未示出)。

在本发明的另一可替代示例性实施例中，检测控制器150和扫描驱动器140可以沿着显示面板110的同一侧布置。在本发明的这一示例性实施例中，检测控制器150可以被连接到分别横跨多条检测控制线(SEL1，SEL2，...，SELm)的多条延伸线(未示出)。

多个像素PX中的每一个还可以包括用于连接多条检测控制线(SEL1，SEL2，...，SELM)中的一条和对应的第三晶体管T3的栅电极的延长线L。对应的第三晶体管T3可以通过被提供到其上的检测控制信号导通。驱动电流可以经由对应的第三晶体管T3流向扫描线。高电平“导通”信号可以被施加到对应的第二开关SW2。也就是说，多条扫描线(SL1，SL2，...，SLn)可以被分别连接到多个扫描信号电路(140_1，140_2，...，140_n)的检测器142。多个扫描信号电路(140_1，140_2，...，140_n)的检测器142可以测量驱动电流的电平。可替代地，多个扫描信号电路(140_1，140_2，...，140_n)的检测器142可以将驱动电流连接到电流吸收器(未示出)，并且可以测量所得的电压变化。也就是说，多个扫描信号电路(140_1，140_2，...，140_n)的检测器142可以根据具有电平(例如预定电平)的检测电压Vref测量多个像素PX的驱动晶体管T2的驱动信息。多个扫描信号电路(140_1，140_2，...，140_n)的每个检测器142可以包括用于将测量的模拟电压转换成数字值的模数转换器(ADC)。由多个像素PX中的每一个生成的数字值可以被映射到存储器(未示出)，并且可以作为检测数据SD被提供给控制器120。

也就是说，有机发光显示装置10可经由多条扫描线(SL1，SL2，...，SLn)读出检测数据SD，而不是经由多条数据线(DL1，DL2...，DLm)或检测线(未示出)读出检测数据SD。因此，在多条数据线(DL1，DL2，...，DLm)中不会产生额外的电容。另外，由于检测控制器150通过被并入到具有相对简单结构的扫描驱动器140中而不是被并入到具有复杂结构的数据驱动集成电路(IC)中来安装，因此可便于高分辨率的数据驱动IC的设计。另外，由于多条扫描线(SL1，SL2，...，SLn)被连接到多个像素PX的第一晶体管T1的栅电极，因此相比于多个像素PX的第一晶体管T1的第一电极被连接到其上的多条数据线(DL1，DL2，...，DLm)，可以减少或最小化泄漏路径。因此，可以读出精确的测量数据。

检测控制信号SE的栅极导通电压的脉冲宽度P2可以不同于扫描信号S的栅极导通电压的脉冲宽度P1。例如，检测控制信号SE的栅极导通电压的脉冲宽度P2可以大于扫描信号S的栅极导通电压的脉冲宽度P1。也就是说，为了更精确的检测，多个像素PX的第三晶体管T3相比多个像素PX的第一晶体管T1可以被导通更长的时间段。多个像素PX的第三晶体管T3可以具有与多个像素PX的第一晶体管T1不同的沟道宽度(W)对沟道长度(L)之比，也就是说，具有不同的宽度对长度(W/L)比。多个像素PX的第三晶体管T3的W/L比可以大于多个像素PX的第一晶体管T1的W/L比。例如，多个像素PX的第三晶体管T3可以被形成为具有大的沟道宽度W，可以有效地发送即使是低的电流到多条扫描线(SL1，SL2，...，SLn)。例如，多个像素PX的第三晶体管T3的W/L比可以被设置为比多个像素PX的第一晶体管T1的W/L比大两到三倍。

控制器120可以使用检测数据SD补偿图像数据DATA，因此可以生成补偿后的图像数据DATA1。控制器120可以包括用于生成第一至第三驱动信号CONT1至CONT3的信号处理器121、用于通过处理图像信号R.G.B生成图像数据DATA的图像处理器122、以及用于补偿图像数据DATA的图像补偿器123。图像补偿器123可以基于由检测控制器150提供的检测数据SD与由图像处理器122提供的图像数据DATA，生成补偿后的图像数据DATA1。补偿后的图像数据DATA1可以是通过针对多个像素PX的驱动晶体管T2之间的特征偏差和多个像素PX的有机发光元件EL之间的劣化程度偏差对图像数据DATA进行补偿得到的数据。由于有机发光显示装置10通过使用多条扫描线(SL1，SL2，...，SLn)精确地读出检测数据SD，基于检测数据SD生成补偿后的图像数据DATA1，并基于补偿后的图像数据DATA1显示图像，因此有机发光显示装置10可提供提高了的显示质量。

在下文中将描述根据本发明另一示例性实施例的有机发光显示装置。

图7是示出了根据本发明另一示例性实施例的有机发光显示装置的电路图。在图1至图7中，相同的附图标记指代相同的元件，因此其详细描述可被省略。

参考图7，根据本发明另一示例性实施例的有机发光显示装置可包括被布置成矩阵的多个像素PX。第一晶体管T1、第二晶体管T2和有机发光元件EL可以被形成在多个像素PX中的每一个中。第三晶体管T3可以被形成在多个像素PX中的一些中。图7示出了包括被连接到同一数据线的第一、第二和第三像素PX1、PX2和PX3的像素列。第一、第二和第三像素PX1、PX2和PX3中的每一个包括第一晶体管T1、第二晶体管T2和有机发光元件EL，而作为检测晶体管的第三晶体管T3可以仅被提供在第二像素PX2中。彼此相邻的像素可能显示类似灰度级的图像，因此可能以类似的速度劣化。因此，从一些像素测量的检测数据可直接适用于其它相邻像素的劣化的补偿。例如，从第二像素PX2测量的检测数据可以被用作用于补偿第一和第三像素PX1和PX3的数据。在图7的示例性实施例中，可以由多个像素PX限定一个或多个像素组，检测晶体管可以被形成在每个像素组中的一个像素中。因此，在提供补偿数据的相同或基本相同的效果的同时，可以减少或最小化通过形成补偿晶体管所导致的任何成本和在扫描线中可能形成的任何电容。

在下文中将描述根据本发明示例性实施例的有机发光显示装置的驱动方法。该驱动方法包括施加检测电压(S110)的步骤和测量驱动电流(S120)的步骤。

该有机发光显示装置包括多个像素PX，像素PX中的每一个包括有机发光元件EL、用于驱动有机发光元件EL的驱动晶体管T2、用于控制驱动晶体管T2的控制晶体管T1、以及检测晶体管T3。该有机发光显示装置还包括用于导通多个像素PX的控制晶体管T1的扫描驱动器140。该有机发光显示装置可以是图1至图7中的有机发光显示装置，因此其详细描述可以被省略。在下文中将参考图1至图7描述该驱动方法。

施加检测电压(S110)。

施加检测电压(S110)的步骤可以在检测模式的第一时段T1。也就是说，检测控制器150可以根据第三驱动控制信号CONT3被激活。第三驱动控制信号CONT3可以是用于控制检测模式的激活或失活的信号。检测控制器150可以根据第三驱动控制信号CONT3生成具有电平(例如预定电平)的检测电压Vref，并且可以将检测电压Vref供应给多个像素PX。检测电压Vref可以以灰度级(例如预定灰度级)驱动被包括在每个像素PX中的有机发光元件EL。检测控制器150可以将检测电压Vref提供到多条数据线(DL1，DL2，...，DLm)。也就是说，检测电压Vref可以经由多条数据线(DL1，DL2，...，DLm)被提供给像素PX中的每一个。

当检测控制器150提供检测电压Vref时，从其输出多个数据电压(D1，D2，...，Dm)的互连与多条数据线(DL1，DL2，...，DLm)可被彼此断开。为了将检测电压Vref传送到多个像素PX的驱动晶体管T2的栅电极，多个像素PX的控制晶体管T1中的每一个可以通过扫描信号导通。当多个像素PX的控制晶体管T1通过多个扫描信号(S1，S2，...，Sn)导通时，可以将经由这些控制晶体管T1各自的第一电极被供应到这些控制晶体管T1上的检测电压Vref传送到被连接到这些控制晶体管T1各自的第二电极的第一电容器C1。

可以以检测电压Vref对第一电容器C1进行充电。由第一电源电压ELVDD和检测电压Vref形成的电压可以是能够驱动多个像素PX的第二晶体管T2的电压，其结果是，可以在多个像素PX的第二晶体管T2的沟道中生成驱动电流。

此后，可测量根据检测电压得到的驱动电流(S120)。

也就是说，测量驱动电流(S120)的步骤可以在检测模式的第二时段T2。为了测量驱动电流，多个像素PX的作为检测晶体管的第三晶体管T3中的每一个可以通过检测控制信号导通。检测控制器150可以分别顺序地提供多个检测控制信号(SE1，SE2，...，SEn)到被连接到其上的多条检测控制线(SEL1，SEL2，...，SELn)。多个像素PX的第三晶体管T3中的每一个可具有被连接到第二晶体管T2的驱动电流在其上流动的第二电极的第一电极、以及被连接到多条扫描线(SL1，SL2，...，SLn)中的一条的第二电极。也就是说，扫描驱动器140可包括用于测量驱动电流的检测器。该检测器可以经由导通的检测晶体管T3测量驱动电流。多条扫描线(SL1，SL2，...，SLn)中的每一条可被连接到扫描驱动器140的移位寄存器，因此可以在S110中被供应扫描信号。多条扫描线(SL1，SL2，...，SLn)中的每一条可以连接到扫描驱动器140的检测器，因此可以在S120中将驱动电流传送到扫描驱动器140的检测器。

在根据本发明示例性实施例的驱动方法中，使用具有降低或最小化的泄露路径的扫描线读出检测数据，因此可以提供精确的测量数据。此外，可以减少由来自数据线的电容增加所导致的任何负担，可便于高分辨率的数据驱动IC的设计。

根据本发明示例性实施例的驱动方法的其余部分基本上等同于图1至图7的有机发光显示装置的对应描述，因此其进一步的描述将被省略。

虽然已经参考本发明的示例性实施例具体示出和描述了本发明，但本领域普通技术人员可以理解，可以在不脱离由下述权利要求及其等同方案限定的本发明的精神和范围的情况下在本文中进行各种改变。本发明的示例性实施例应被认为是描述意义，而不是为了限制的目的。

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技术所有人：三星显示有限公司;
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