显示装置的制作方法

本公开涉及一种包括圆形显示面板的显示装置。

背景技术：

随着信息技术的进步，针对作为用户与信息之间的连接媒介的显示装置的市场已在扩大。因此，使用平面显示面板的诸如液晶显示器(LCD)、有机发光显示装置、电泳显示器(EPD)和等离子体显示面板(PDP)的显示装置已被越来越多地使用。

在上述显示装置当中，例如，LCD或有机发光显示装置包括显示面板，该显示面板包括以矩阵形式被设置的多个子像素和驱动该显示面板的驱动器。该驱动器包括向显示面板提供扫描信号(或选通信号)的扫描驱动器和向显示面板提供数据信号的数据驱动器。当显示面板基于从电源单元输出的功率以及从扫描驱动器和数据驱动器输出的扫描信号和数据信号发射光或允许光通过其被发射时，显示装置显示特定图像。

近来，便携式显示装置的使用日益增长，并且具体地，可以被穿戴在手腕上的可穿戴显示装置正在增长。

技术实现要素：

可穿戴显示装置也可以基于具有圆形或椭圆形形状的变形的显示面板而被实现。尽管变形的显示面板具有弯曲形状，但晶体管和信号线被线性地构图。因此，为了有效地减小边框，需要改进晶体管和信号线的阵列结构。

在一方面，一种显示装置可以包括像素阵列、开关元件和检测线。在显示区域中，外部区域的至少一部分可以包括弯曲部，并且可以设置有与数据线连接的像素。所述开关元件可以被设置在所述显示区域以外的边框区域中并且响应于使能信号，向所述数据线提供测试电压。所述检测线可以将检测焊盘部件与所述开关元件连接，并且可以是沿着所述弯曲部按照阶梯形式被设置的。所述开关元件可以是沿着所述检测线被设置的，并且包括被设置成在相互垂直的方向上彼此相邻的第一开关元件和第二开关元件。

附图说明

附图被包括以提供对本发明的进一步理解，并且被并入本说明书中且构成本说明书的一部分，附图例示了本发明的实施方式，并且与本描述一起用来解释本发明的原理。在附图中：

图1是例示根据本公开的实施方式的显示装置的视图。

图2是例示图1中所例示的像素的示例的视图。

图3是例示检测部件的阵列结构的视图。

图4和图5是例示边框根据检测部件的形状而改变的视图。

图6是例示检测部件的阵列的示例的平面图。

图7是图6中所例示的检测开关元件的等效电路图。

图8是沿图6中的线I-I’截取的截面图。

具体实施方式

在下文中，将参照附图详细地描述本公开的实施方式。遍及全文，相同的参考标号指代相同的元件。在描述本发明方面，如果对现有已知功能或构造的详细说明被认为不必要地转移了本发明的要点，则将省略这种说明，但本领域技术人员将会理解这种说明。

图1是例示根据本公开的实施方式的显示装置的视图。

参照图1，根据本公开的实施方式的显示装置包括显示面板100和驱动电路DIC。显示面板100包括设置有像素的像素阵列区域A/A和围绕像素阵列区域A/A的边框BZ。驱动电路DIC包括时序控制器、数据驱动器和电源单元。

图2中例示的像素P被形成在显示面板100的像素阵列区域A/A中。各个像素P被形成在数据线DL与选通线GL彼此相交的区域中。各个像素P响应于通过被连接至选通线GL和数据线DL的开关元件SW提供的扫描信号而进行操作，以利用与数据电压对应的亮度表示灰度级。各个像素P的像素电路PC和开关元件SW可以根据显示面板的类型而按照不同的形式来实现。

驱动电路DIC可以被集成在驱动IC中以便被附接至边框BZ。驱动电路DIC可以包括时序控制器和数据驱动器。时序控制器接收数字视频数据RGB以及接收诸如垂直同步信号Vsync、水平同步信号Hsync、数据使能信号DE、主时钟CLK等的时序信号。时序控制器向数据驱动器发送输入图像的数字数据，并且控制数据驱动器和选通驱动器GIP的操作时序。响应于从时序控制器提供的数据时序控制信号，数据驱动器对视频数字数据进行采样，并且响应于伽马参考电压，数据驱动器将视频数字数据转换为模拟数据电压并且输出转换后的模拟数据电压。电源单元产生要被提供给显示面板的高电位驱动电压VDD和低电位驱动电压VSS。基于从外部提供的输入功率，电源单元产生要被提供给选通驱动器GIP的选通高电压VGH和选通低电压VGL，以及产生要被提供给显示面板100的电力VDD或VSS。高电位驱动电压VDD和低电位驱动电压VSS是用于驱动像素电路PC的电压。

多路复用器MUX被设置在驱动电路DIC与像素阵列区域A/A之间，并且向多条数据线DL分配从驱动电路DIC提供的数据电压。

选通驱动器使用选通时序使能信号来输出选通脉冲Gout。选通驱动器包括移位寄存器。该移位寄存器包括彼此相关连接的级。响应于启动脉冲，这些级开始输出选通脉冲，并且根据移位时钟对输出进行移位。从这些级依次输出的输出信号作为选通脉冲而被提供给选通线。

检测部件AP用于自动探测检测(auto probe inspection)处理并且包括向像素阵列区域A/A提供测试电压的开关元件。自动探测检测处理是一种在安装驱动电路之前检测被设置在基板上的各种信号线的缺陷等的处理。

图3是例示检测部件AP的阵列结构的视图。

参照图3，检测部件AP包括开关元件AP Tr和检测线AP_L。检测线AP_L是按照阶梯形式被设置的，并且开关元件AP Tr是沿着检测线AP_L被设置的。

如图6所例示，检测线AP_L包括数据引入线TL1、TL2和TL3以及使能信号线EnL1、EnL2和EnL3。检测线AP_L是沿着像素阵列区域A/A的弯曲部分按照阶梯形式被设置的。

开关元件AP Tr是沿着检测线AP_L来布置的。具体地，由于开关元件AP Tr被设置成至少两行或更多行，因此设置有开关元件AP Tr的区域的边界是按照阶梯形式被设置的。按照阶梯形式进行设置的开关元件AP Tr可以减小设置有检测部件AP的区域。将对此进行详细描述。

图4是例示作为比较示例的被设置在圆形像素阵列中的线性检测部件的视图。当如图4中所例示的检测部件AP按照线性形式被设置在圆形像素阵列区域A/A的端部处时，检测部件AP的相对端部与像素阵列区域A/A之间的间隔h2大于检测部件AP的中心与像素阵列区域A/A之间的间隔h1。即，在图4中所例示的检测部件AP的阵列结构中，在检测部件AP的相对端部处不必要地增大了边框。

因此，为了减小像素阵列区域A/A与检测部件AP的相对端部之间的间隔，将检测部件AP设置成对应于像素阵列区域A/A的弯曲形状可以是有利的。当检测线AP_L按照阶梯形式来实现时，检测线AP_L在水平方向上的长度可能会被垂直部分VA的宽度延长。因此，图5中所例示的弯曲检测部件AP在水平方向上的长度l2长于图4中所例示的线性检测部件AP在水平方向上的长度l1。

相反，如图3所例示，在根据本公开的实施方式的检测部件AP的阵列结构中，由于至少一对开关元件AP Tr被设置成彼此垂直相邻，所以可以减小设置有开关元件AP Tr的水平部HA的长度。因此，可以防止检测部件AP的水平长度由于检测线AP_L在垂直部VA中的宽度d而增大。

图6是例示根据本公开的实施方式的检测部件的阵列结构的平面图，以及图7是图6中所例示的开关元件当中的被设置在垂直方向上的开关元件的等效电路图。

参照图6和图7，根据本公开的实施方式的检测部件AP包括分别被第一使能信号En1至第三使能信号En3操作的第一开关元件T1至第九开关元件T9。

第一开关元件T1包括第一栅极GE1、第一漏极DE1和第一源极SE1，以及第二开关元件T2包括第一栅极GE1、第一漏极DE1和第二源极SE2。第三开关元件T3包括第二栅极GE2、第二漏极DE2和第一源极SE1，以及第四开关元件T4包括第二栅极GE2、第二漏极DE2和第二源极SE2。

第一开关元件T1与第二开关元件T2共用第一栅极GE1和第一漏极DE1。第三开关元件T3与第四开关元件T4共用第二栅极GE2和第二漏极DE2。而且，第一开关元件T1与第三开关元件T3共用第一源极SE1，以及第二开关元件T2与第四开关元件T4共用第二源极SE2。

第一源极SE1和第二源极SE2被设置在相同的垂直轴处。第一源极SE1被连接至第一数据线DL1，以及第二源极SE2通过第一链路图案LP1被连接至第五数据线DL5。第一栅极GE1被设置在第一源极SE1的一侧上。第一漏极DE1被设置成与第一源极SE1相邻，且它们之间插置有第一栅极GE1。第二栅极GE2被设置在第一源极SE1的一侧上。第二漏极DE2被设置成与第二源极SE2相邻，且它们之间插置有第二栅极GE2。

第一漏极DE1被连接至第一数据引入线TL1，以及第一栅极GE1被连接至第二使能信号线EnL2。因此，第一开关元件T1和第二开关元件T2响应于第二使能信号En2，向第一数据线DL1和第五数据线DL5提供第一测试电压Tdata1。

第二漏极DE2被连接至第二数据引入线TL2，以及第二栅极GE2被连接至第一使能信号线EnL1。因此，第三开关元件T3和第四开关元件T4响应于第一使能信号En1，向第一数据线DL1和第五数据线DL5提供第二测试电压Tdata2。

第五开关元件T5包括第三栅极GE3、第三漏极DE3和第三源极SE3，以及第六开关元件T6包括第三栅极GE3、第三漏极DE3和第四源极SE4。第五开关元件T5与第六开关元件T6共用第三栅极GE3和第三漏极DE3。

第三源极SE3和第四源极SE4被设置在相同的垂直轴处。第三源极被连接至第二数据线DL2，以及第四源极通过第二链路图案LP2被连接至第六数据线DL6。第三栅极GE3被设置在第三源极SE3的一侧上。第三漏极DE3被设置成与第三源极SE3相邻，且它们之间插置有第三栅极GE3。

第三漏极DE3被连接至第三数据引入线TL3，以及第三栅极GE3被连接至第三使能信号线EnL3。因此，第五开关元件T5和第六开关元件T6响应于第三使能信号En3，向第二数据线DL2和第六数据线DL6提供第三测试电压Tdata3。

第七开关元件T7包括第四栅极GE4、第四漏极DE4和第五源极SE5，以及第八开关元件T8包括第五栅极GE5、第五漏极DE5和第五源极SE5。第七开关元件T7与第八开关元件T8共用第五源极SE5。

第五源极SE5被连接至第三数据线DL3。第四栅极GE4和第五栅极GE5被设置在第五源极SE5的两侧上。第四漏极DE4被设置成与第五源极SE5相邻，且它们之间插置有第四栅极GE4。第五漏极DE5被设置成与第五源极SE5相邻，且它们之间插置有第五栅极GE5。

第四漏极DE4被连接至第一数据引入线TL1，以及第四栅极GE4被连接至第一使能信号线EnL1。第五漏极DE5被连接至第二数据引入线TL2，以及第五栅极GE5被连接至第二使能信号线EnL2。

因此，第七开关元件T7响应于第一使能信号En1，向第三数据线DL3提供第一测试电压Tdata1。第八开关元件T8响应于第二使能信号En2，向第三数据线DL3提供第二测试电压Tdata2。

第九开关元件T9包括第六栅极GE6、第六漏极DE6和第六源极SE6。第六源极SE6被连接至第四数据线DL4。第六栅极GE6被设置在第六源极SE6的一侧上。第六漏极DE6被设置成与第六源极SE6相邻，且它们之间插置有第六栅极GE6。

第六漏极DE6被连接至第三数据引入线TL3，以及第六栅极GE6被连接至第三使能信号线EnL3。因此，第九开关元件T9响应于第三使能信号En3，向第四数据线DL4提供第三测试电压Tdata3。

在AP检测处理期间通过第一数据引入线至第三数据引入线TL1、TL2和TL3提供给各自的数据线DL的测试电压可以是红(R)、绿(G)和蓝(B)三原色。例如，第一测试电压Tdata1可以是红色测试电压、第二测试电压Tdata2可以是绿色测试电压以及第三测试电压Tdata3可以是蓝色测试电压。而且，可以按照时分的方式施加第一使能信号至第三使能信号En1、En2和En3。

在图6中，由于开关元件被设置在第二晶体管T2、第四晶体管T4和第六晶体管T6与像素阵列区域A/A之间，所以第二源极SE2和第四源极SE4可以不直接地被连接至数据线。因此，第二源极SE2和第四源极SE4分别通过第一链路图案LP1和第二链路图案LP2而被连接至数据线。第一链路图案LP1和第二链路图案LP2被构图在被绝缘层将其与栅极和漏极分离以防止短路的金属层上。

图8是沿着图6中的线I-I’截取的截面图。将参照图8描述设置有第一链路图案的区域的截面。

以下，将参照图6和图8描述开关元件的截面结构。图6和图8例示了设置有第二使能信号图案的区域，但可以使用相同的材料和方法形成相同的构造。在开关元件的截面结构中将统称各个组件。例如，虽然图6和图8仅例示了第二使能信号图案，但第一使能信号图案至第六使能信号图案将被统称为“使能信号图案(MP)”。

缓冲层BUF被形成在基板SUB上，并且半导体有源层ACT被设置在缓冲层BUF上。半导体有源层ACT可以被形成为覆盖要设置栅极GE、源极SE和漏极DE的区域。栅绝缘层GI被形成为覆盖缓冲层BUF。

栅极GE被设置在栅绝缘层GI上。第一层间绝缘层ILD1被形成为覆盖栅极GE，并且第一链路图案LP1被设置在第一层间绝缘层ILD1上。第二层间绝缘层ILD2被设置为覆盖第一链路图案LP1，并且第一漏极DE1和第二源极SE2被设置在第二层间绝缘层ILD2上。第二源极SE2通过第一接触孔CNT1被连接至第一链路图案LP1。

如上所述，在本公开中，由于检测线AP_L是按照阶梯形式进行设置的并且一些开关元件AP Tr被垂直地设置，所以可以减小设置有检测部件AP的区域的边框BZ。图6和图7中所例示的开关元件的阵列结构表示一种实施方式，但垂直相邻的开关元件的数量和位置不限于附图中所例示的实施方式。

尽管已参照许多其例示性实施方式描述了实施方式，但应理解的是，本领域技术人员可以设计出将落入本公开的原理的范围内的许多其它修改和实施方式。更具体地，在本公开、附图和所附权利要求书的范围内，可以对主题组合布置的组成部分和/或布置进行各种变型和修改。除了对组成部分和/或布置进行变型和修改之外，替代使用也将对本领域技术人员是显而易见的。