一种点亮治具及装置的制作方法

本发明涉及平板显示器点亮测试技术领域，特别涉及一种点亮治具及装置。

背景技术：

在平板显示技术中，有机发光二极管(organiclight-emittingdiode，oled)显示器具有轻薄、主动发光、响应速度快、可视角大、色域宽、亮度高和功耗低等众多优点，逐渐成为继液晶显示器后的第三代显示技术。相对于lcd(liquidcrystaldisplays，液晶显示器)，oled具有更省电，更薄，且视角宽的优势，这是lcd无法比拟的。目前人们对显示的细腻程度即分辨率要求越来越高，但生产高质量、高分辨率的oled显示屏仍然面临着许多挑战。

在现今的oled产品设计中，oled显示面板中包括复杂的像素电路，而在进行高解析度产品设计时，对制造工艺的要求比较严格。因此，为了更加及时、准确地监控产品，通常在oled产品中设置与各元件相对应的具有测试点的测试电路，通过对各个测试电路进行量测，来获取各元件的参数。

目前，点亮oledteg(testelementgroup，测试元件组)片的治具设计较少，实验室均为“扣盖式”治具。当治具顶发光时，探针在治具盖子上与teg阴阳极接触，此种方式在测试teg发光点视角时非常局限，不能支持多角度大视角量测；同时，一种治具只支持一种teg的点亮，造成了资源的浪费；另外，治具上也没有考虑到teg片的厚度的区别，极易造成探针接触不良或探针损坏的现象。

技术实现要素：

本发明提供了一种点亮治具及装置，以解决现有的点亮治具点亮测试元件组后，无法对待测面板进行多角度、大视角量测的问题。

为实现上述目的，本发明提供的技术方案如下：

本发明提供了一种点亮治具，所述点亮治具包括：样品放置区域、至少两个发光点控制开关、智能控制系统、扫描系统、印刷版、导线以及至少两组探针；

其中，所述探针的一端与探针臂相连，所述探针臂用于控制所述探针上、下滑动及转动，

所述扫描系统用于定位所述测试元件组的量测位置，所述智能控制系统用于根据所述扫描系统所确定的量测位置控制所述探针臂对所述探针的位置进行自动调节。

根据本发明一优选实施例，所述发光点控制开关与测试元件组的发光点对应，每一所述发光点控制开关用于控制一个所述发光点发光，

其中，所述发光点控制开关包括测试元件组顶部发光开关和底部发光开关。

根据本发明一优选实施例，每组所述探针包括阴极探针和阳极探针，控制所述探针的所述探针臂与传动装置相连，所述传动装置包括升降架以及机械杆；

其中，所述机械杆由所述智能系统进行控制，所述机械杆以及升降机用以对所述探针臂的位置进行控制。

根据本发明一优选实施例，所述探针设置有压力传感器；

所述探针臂通过所述压力传感器控制所述探针承受的压力，使所述探针适应不同厚度的所述测试元件组。

根据本发明一优选实施例，当所述点亮治具停止工作时，所述探针被锁紧在所述点亮治具中。

本发明还提供了一种点亮治具装置，所述点亮治具装置包括：

点亮治具；

其中，所述点亮治具包括：

样品放置区域、至少两个发光点控制开关、智能控制系统、扫描系统、印刷版、导线以及至少两组探针；

所述探针的一端与探针臂相连，所述探针臂用于控制所述探针上、下滑动及转动，

所述扫描系统用于定位所述测试元件组的量测位置，所述智能控制系统用于根据所述扫描系统所确定的量测位置控制所述探针臂对所述探针的位置进行自动调节。

根据本发明一优选实施例，所述发光点控制开关与测试元件组的发光点对应，每一所述发光点控制开关用于控制一个所述发光点发光，

其中，所述发光点控制开关包括测试元件组顶部发光开关和底部发光开关。

根据本发明一优选实施例，每组所述探针包括阴极探针和阳极探针，控制所述探针的所述探针臂与传动装置相连，所述传动装置包括升降架以及机械杆；

其中，所述机械杆由所述智能系统进行控制，所述机械杆以及升降机用以对所述探针臂的位置进行控制。

根据本发明一优选实施例，所述探针设置有压力传感器；

所述探针臂通过所述压力传感器控制所述探针承受的压力，使所述探针适应不同厚度的所述测试元件组。

根据本发明一优选实施例，当所述点亮治具停止工作时，所述探针被锁紧在所述点亮治具中。

本发明的有益效果为：相比于现有技术，本发明提出了一种点亮治具及装置，所述点亮治具适用于多种测试元件组，节省资源，操作方便；所述探针压力传感器的设置，能控制所述探针下的压力，避免所述探针的不良接触以及探针的损坏，对探针起到保护作用；另外，当所述点亮治具停止工作时，所述探针被锁紧在所述点亮治具中，避免了探针的损坏。

附图说明

为了更清楚地说明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明优选实施例一一种点亮治具的俯视图；

图2为本发明优选实施例一一种点亮治具的侧视图。

附图标记

a探针上升按钮

b探针下降按钮

h探针支架轴

i探针轴

k探针支架

l探针压力设置键

m压力增大键

n压力减小键

o控制键

p扫描系统

q带感应装置的开关

r阳极

s阴极

t导线

u可伸缩机械杆

v智能控制系统

w印刷版

具体实施方式

以下各实施例的说明是参考附加的图示，用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语，例如[上]、[下]、[前]、[后]、[左]、[右]、[内]、[外]、[侧面]等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本发明，而非用以限制本发明。在图中，结构相似的单元是用以相同标号表示。

本发明针对现有的点亮治具，因用途单一，一种治具只能点亮一种测试元件组，点亮所述测试元件组后，无法对待测面板进行行多角度以及大视角的量测；另外，未考虑测试元件组的厚度区别，极易造成探针接触不良或探针损坏等问题，而提出一种点亮治具及装置，本实施例能够改善该缺陷。

图1和图2分别为本发明优选实施例一一种点亮治具的俯视图和侧视图，所述点亮治具包括样品放置区域、至少两个发光点控制开关、智能控制系统v、扫描系统p、印刷版w、导线以及至少两组探针。

其中，所述发光点控制开关与所示测试元件组的发光点对应，每一所述发光点控制开关用于控制一个所述发光点发光，所述发光点控制开关包括测试元件组顶部发光开关和底部发光开关；所述扫描系统p用于确定所述测试元件组的量测位置；

所述探针的一端与探针臂相连，所述探针臂用于控制所述探针上、下滑动及转动，所述扫描系统p用于定位所述测试元件组的量测位置，所述智能控制系统v用于根据所述扫描系统p所确定的量测位置控制所述探针臂对所述探针的位置进行自动调节，所述探针通过所述探针臂对所述测试元件组点亮后，可以对待测面板进行全角度、大视角量测；

每组所述探针包括阴极s探针和阳极r探针，控制所述探针的所述探针臂与传动装置相连，所述传动装置包括升降架以及机械杆p；

其中，所述机械杆p由所述智能系统进行控制，所述机械杆p以及升降机用以对所述探针臂的位置进行控制；

另外，所述探针设置有压力传感器，所述点亮治具通过所述压力传感器控制所述探针承受的压力，使所述探针适应不同厚度的测试元件组；

所述探针具有一定的收缩性，因此，当所述点亮治具停止工作时，所述探针被锁紧在所述点亮治具中。

实施例一

如图1所述，优选的，在本实施例中，所述点亮治具上产品上设置有40个探针；位置q为所述点亮治具的开关，通过调整位置q的开关，对所述点亮治具进行操作。

具体操作流程为：将所述点亮治具位置q的开关打开，使得所述感应装置将接收到的位置信号传输至所述智能控制系统v；所述智能控制系统v接收到所述感应装置的信号后，通过控制可伸缩机械杆p将导线底端的金属片推至阴极s接触片或阳极r接触片处；另外，所述探针可沿探针轴i转动、可沿探针支架轴h上下滑动，所述探针亦可左右滑动；当将样品放入后，位于样品四周的扫描系统p将会自动扫描测试元件组发光点的位置，系统将根据所述测试元件组发光点的位置自动调节所述探针的位置。

当使用所述点亮治具时，在本实施例中，所述测试元件组为顶部发光时，将待测测试元件组放置在oled测试元件组的放置区；当按下探针下降按钮a后，所述点亮治具会自动将所述探针支架升起并将所述探针的方向转为向下；而当所述oled测试元件组放置区内的感应器感应到有样品放入后，系统会自动将探针支架旋转到如图中右侧所示位置，并向下移动探针支架，使探针与待测的所述测试元件组发光点接触；

另外，系统可以通过设置于每个所述探针上的压力传感器来调整每个探针的高度，保证所有探针在待测的所述测试元件组发光点上的压力一致；通过对所述点亮治具侧边的按钮压力增大键m和压力减小键n对所述压力的大小进行调节，通过显示器可以观察实时的压力值以及需要设置的压力大小；

所述点亮治具下方的top开关可控制所述测试元件组发光点的点亮与关闭，其中，每一个开关控制一个测试元件组发光点；

当所述点亮操作完成后，按下控制键o，所述探针将会自动升起，并旋转至竖直状态；同时，位于所述oled测试元件组放置区下方的升降架升起，将所述待测测试元件组支起；当所述待测测试元件组被取走后，位于升降架上的压力感应器感会自动回落，同时系统会控制探针支架及探针回到初始状态。

当使用所述点亮治具时，在本实施例中，将所述待测测试元件组发光面朝上放入所述点亮治具中，按下探针下降按钮b，系统感应到所述待测测试元件组放入后，会自动将所述探针伸出，并调整探针方向及压力，重复上述过程；所述点亮治具下方的bottom开关可控制所述测试元件组发光点的点亮与关闭，其中，每一个开关控制一个测试元件组发光点；

最后，当所述点亮治具停止工作时，系统会自动控制探针，并将所述探针收缩至探针臂内，保证探针不被损坏。

本发明还提出了一种点亮治具装置，所述点亮治具装置包括所述点亮治具，其中，所述点亮治具包括样品放置区域、至少两个发光点控制开关、智能控制系统v、扫描系统p、印刷版w、导线以及至少两组探针。

其中，所述发光点控制开关与所示测试元件组的发光点对应，每一所述发光点控制开关用于控制一个所述发光点发光，所述发光点控制开关包括测试元件组顶部发光开关和底部发光开关；所述扫描系统p用于确定所述测试元件组的量测位置；

所述探针的一端与探针臂相连，所述探针臂用于控制所述探针上、下滑动及转动，所述扫描系统p用于定位所述测试元件组的量测位置，所述智能控制系统v用于根据所述扫描系统p所确定的量测位置对所述探针的位置进行自动调节，所述探针通过所述探针臂对所述测试元件组点亮后，可以对待测面板进行全角度、大视角量测；

每组所述探针包括阴极s探针和阳极r探针，控制所述探针的所述探针臂与传动装置相连，所述传动装置包括升降架以及机械杆p；

其中，所述机械杆p由所述智能系统进行控制，所述机械杆p以及升降机用以对所述探针臂的位置进行控制；

另外，所述探针设置有压力传感器，所述点亮治具通过所述压力传感器控制所述探针承受的压力，使所述探针适应不同厚度的测试元件组；

所述探针具有一定的收缩性，因此，当所述点亮治具停止工作时，所述探针被锁紧在所述点亮治具中。

所述点亮治具装置的具体实施例与实施例一类似，此处不在一一赘述。

本发明提供一种点亮治具及装置，所述点亮治具包括：样品放置区域、至少两个发光点控制开关、智能控制系统、扫描系统、印刷版、导线以及至少两组探针；其中，所述探针的一端与探针臂相连，所述探针臂用于控制所述探针上、下滑动及转动，所述扫描系统用于定位所述测试元件组的量测位置，所述智能控制系统用于根据所述扫描系统所确定的量测位置对所述探针的位置进行自动调节，使得所述点亮治具能点亮多种测试元件组，节省资源，操作方便；所述探针压力传感器的设置，能控制所述探针下的压力，避免所述探针的不良接触以及探针的损坏，对探针起到保护作用；另外，当所述点亮治具停止工作时，所述探针被锁紧在所述点亮治具中，避免了探针的损坏。

综上所述，虽然本发明已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本发明，本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。