本发明涉及本发明涉及液晶模组的检测领域，尤其是涉及一种针对液晶模组的多路id/te检测方法及装置。
背景技术：
随着液晶面板产品品质的要求愈加严格，需要通过对面板ic产生的id/te信号进行检测，以便将有缺陷的模组提前筛除，目前绝大多数客户通过万用表，示波器、逻辑分析仪进行检测，操作繁琐且不便于产线作业。少部分客户通过pg接口预留的fpga和arm的gpio引脚来实现，但存在引脚过少，检测精度差，与其它检查功能存在冲突的问题，不能很好的兼容。
技术实现要素：
本发明主要是解决现有技术所存在的技术问题；提供了一种在原有的pg不变的情况下外接此装置，通过pc软件和本装置建立通讯后实现检测，即避免原单独pg接口gpio引脚不足的问题，更能方便产线作业，极大提高检测效率，同时还具备升级方便，节约成本等优点。
本发明的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的：
一种针对液晶模组的多路id/te检测装置，其特征在于，包括mcu中央处理单元、至少一组信号传输单元；其中，
mcu中央处理单元具有至少一组id检测引脚以及te检测引脚，信号传输单元具有至少一组id信号接收端口和id信号输出端口、以及至少一组te信号接收端口和te信号输出端口，待检测液晶模组的id检测引脚分别通过信号传输单元的id信号接收及输出端口与mcu中央处理单元id检测引脚连接；待检测液晶模组的te检测引脚分别通过信号传输单元的te信号接收及输出端口与mcu中央处理单元te检测引脚连接。
2在上述的一种针对液晶模组的多路id/te检测装置，信号传输单元包括电压跟随器和图形信号发生器，所述图形信号发生器的若干输出检测引脚与待检测液晶模组的若干id或te检测引脚连接，图形信号发生器的若干输入检测引脚通过电压跟随器与mcu中央处理单元的检测引脚连接。
在上述的一种针对液晶模组的多路id/te检测装置，所述图形信号发生器的若干检测引脚与待检测液晶模组id或te检测引脚一一对应连接，并通过电压跟随器与mcu中央处理单元的id或te检测引脚对应。
在上述的一种针对液晶模组的多路id/te检测装置，所述mcu中央处理单元为单片机，mcu中央处理单元的id检测引脚为单片机的adc引脚，mcu中央处理单元的te检测引脚为单片机的gpio引脚，图形信号发生器的若干检测引脚与待检测液晶模组id或te检测引脚一一对应连接，并通过电压跟随器与单片机的adc或gpio检测引脚对应。
在上述的一种针对液晶模组的多路id/te检测装置，还包括一个上位机，通过rs232连接协议与mcu中央处理单元连接，所述上位机用于配置检测参数，检测参数包括开电通道，当前检测引脚状态，当前检测状态，以及设置判断阈值的最大值和最小值，其中，开电通道包括待检测液晶模组点屏通道和id/te检测通道，当前检测引脚状态包括id引脚状态和te引脚状态；当前检测状态包括id检测状态和te检测状态。
在上述的一种针对液晶模组的多路id/te检测装置，所述单片机包括设置有信号采集单元的第一可编程逻辑器件，设置有信号判断单元的第二可编程逻辑器件，上位机设有控制单元的第三可编程逻辑器件。
在上述的一种针对液晶模组的多路id/te检测装置，
第一可编程逻辑器件用于通过信号传输单元同时采集多路待检测液晶模组的id的电平以及te的频率；
第二可编程逻辑器件用于根据配置的检测参数，判断每路检测的id的电平以及te的频率是否符合检测参数，并将检测结果输出至三可编程逻辑器件；
第三可编程逻辑器件用于根据第二可编程逻辑器件的判断结果控制图形信号发生器输出图形信号至该路待检测液晶模组，点亮待检测液晶模组，或者终止点屏流程。
在上述的一种针对液晶模组的多路id/te检测装置，
当前检测状态配置为id检测状态时，当前检测引脚状态对应配置为id引脚状态，且第一可编程逻辑器件同时进行电平采集，并记录电压值；
当前检测状态配置为te检测状态时，当前检测引脚状态对应配置为te引脚状态，且第一可编程逻辑器件同时采集方波的两个下降沿，记录两个下降沿的时间，通过公式f＝1/t计算出频率，其中，t为从上一个下降沿至下一个下降沿时间。
在上述的一种针对液晶模组的多路id/te检测装置，第二可编程逻辑器件进行数据判断的具体过程是：判断id的电平以及te的频率时，针对电平和频率分别设定的判断阈值的最大值和最小值进行判断，具体是：
当判断te的频率时，若当前检测频率值在电平判断阈值的最大值和最小值范围内，则向第三可编程逻辑器件输出能够点亮模组信号，第三可编程逻辑器件控制图形信号发生器输出图形信号至该路待检测液晶模组；超出阈值范围则向第三可编程逻辑器件输出终止点屏信号；
当判断id的电平时，若当前检测电压值在电平判断阈值的最大值和最小值范围内，则正常输出图形信号，则向第三可编程逻辑器件输出能够点亮模组信号，第三可编程逻辑器件控制图形信号发生器输出图形信号至该路待检测液晶模组；超出阈值范围则向第三可编程逻辑器件输出终止点屏信号。
一种针对液晶模组的多路id/te检测器，其特征在于，该多路id/te检测器包括如上述的用于针对液晶模组的多路id/te进行检测的装置。
因此，本发明具有如下优点：1、适用于所有液晶模组id/te的检测，能搭配pg最大支持双通道8路的检测。2、pc软件搭配多路id/te检测装置的方式，无需人工操作，程序根据命令控制采集数据并进行结果判断，可以在面板画面检测的过程中并行，不占用额外的检测时间。3、电压跟随模块，保障id/te信号不失真，提高检测精度；4、高效的单片机内部数据处理方式，提高检测精度；5、低成本，使用灵活，只依赖pc，不支持id/te检测功能pg也能很方便的升级改造，也可以集成到pg内部使用。
附图说明
附图1是本发明的检测原理示意图。
附图2是本发明涉及的电压跟随器的电路拓扑示意图。
具体实施方式
下面通过实施例，并结合附图，对本发明的技术方案作进一步具体的说明。
实施例：
一、本发明涉及一种针对液晶模组的多路id/te检测装置，包括：
模块一:上位机，用于实现id/te参数的下发。包含开电通道、检测引脚、功能选择、电平幅值、频率、阀值范围。
模块二：单片机，单片机包含检测和程序控制两个部分，检测引脚既可以切换成adc进行电平采集，也可以切换成gpio，通过中断和定时器计算频率，单片机程序进行数据处理，引脚的控制和与pc通讯。
模块三：依次连接的电压跟随器和图形信号发生器。用于将待检测液晶模组的id/te端连接至模块一的检测引脚上。在电路中做缓充级(buffer)，因为电压放大器的输入阻抗一般比较高，通常在几千欧到几十千欧，如果后级的输入阻抗比较小，那么信号就会有相当的部分损耗在前级的输出电阻中。在这个时候，就需要电压跟随器进行缓冲。起到承上启下的作用。
二、下面是采用该装置进行多路id/te检测方法，包括：
步骤1，模块一包括pc和pc软件，通过模块一进行id/te检测配置：包括开电通道，检测引脚选择，id/te功能选择，作判断阈值的最大值和最小值，以及检测开关命令，通过rs232的方式下发到模块二。
在本实施例中，开电通道包括待检测液晶模组点屏通道和id/te检测通道，具体和pg(图形信号发生器)搭配使用的，例如pg可以同时点两块模组，相应8个检测引脚均分成两组，每组检测引脚(gpio/adc)和pg的开电通道进行绑定，开电检测时候即给模组供电，也打开自己的检测引脚，(每组4个检测引脚，1-4随意设置gpio/adc，根据产品来自由选择)。
步骤2，单片机程序接收到模块一的配置信息和开电命令后，程序分别控制打开相应的检测引脚，并切换状态(配置id引脚切换成adc，配置te切换成gpio)；
在id检测时：检测模组id信号的电平，本装置通过单片机的dac将模拟电平转换成数字信号，单片机程序通过数字信号转换成相应的电平。
te检测时：检测模组te信号的频率，本装置通过单片机的中断和定时器来实现，中断用来检测下降沿，两个下降沿之间的时间就是一个周期，用定时器计这个时间t，通过公式f＝1/t计算频率值。
步骤3，模组端的id/te通过模块三(包括依次连接的电压跟随器和图形信号发生器，电压跟随器是为了防止信号衰减和失真，提高检测精度)连接到模块二的检测引脚上；
步骤4，模块二切换成adc的引脚做电平采集，为了保障采集电平的精度，程序会在收到命令后的一段时间内连续采样100个电压值取平均的方式得出精确的电压值；切换成gpio的引脚通过单片机的中断功能采集方波的两个下降沿，定时器记录两个下降沿的时间，通过公式f＝1/t计算出频率，为了避免检测过程中收到外界干扰(例如电磁干扰，噪声等)导致采集的信号失真，程序会通过在一段时间内采集多个点的方式进行排列，将差异较大的值筛除，再在有效值内选取中间值的处理方式保障准确度。单片机将准确的数据通过rs232将反馈回模块一；
步骤5，模块一接收到对应的电平，频率后分别进行对比(例如采集到的值a，软件设置的阀值区间是[a,b],当值a≤a≤b则判断ok，反之ng)，在阀值范围内判定ok，pg正常输出图形信号，点亮模组；超出阀值范围判断ng，终止点屏流程，上层弹框提示告之作业员。
三、下面是采用上述方法的具体实例。
1、当id1电平设置成1800mv，误差设置是300mv，当采集到的id在1500mv～2100mv判定检测ok，超出1500mv～2100mv范围判定ng。即设置电平v1，设置误差a1，检测到的id电平v，当v1+a1≥v≥v1-a1pc软件判定ok；当v>v1+a1或v<v1-a1判定ng。
2、当te3频率设置成60hz，误差设置时5hz，当采集到的te在55hz～65hz判定检测ok，超出55hz～65hz范围判定ng。即设置te频率为f3，设置误差b3，检测到的频率为f，当f3+b3≥f≥f3-b3pc软件判定ok；当f>f3+b3或f<f3-b3判定ng。
本文中所描述的具体实施例仅仅是对本发明精神作举例说明。本发明所属技术领域的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，但并不会偏离本发明的精神或者超越所附权利要求书所定义的范围。