成像设备的制作方法

专利名称：成像设备的制作方法
技术领域：
本发明涉及能够在诸如片材之类的记录材料(即，记录介质)上形成图像的电子照相成像设备。更具体地，本发明涉及诸如复印机或打印机之类的成像设备。
背景技术：
在利用电子照相成像处理的成像设备中，传统上公开了通知或估计显影装置中显影剂余量的方法。如在日本专利申请公开No. 5-6092中所述，作为直接測量显影剂的量的方法，传统上已知的是检测可随显影装置中显影剂余量而变化的静电容量，井根据检测的静电容量，计算显影剂残量。此外，如在USP5649264中所述，红外发光二极管(LED)和受光传感器的组合可用于检测显影剂余量。
此外，作为间接估计显影剂的量的方法，如在日本专利申请公开No. 2001-318566中所述，传统上已知的是，可根据成像操作中的图像信息(例如，像素计数值)，估计显影剂消耗率，然后可根据该估计结果，检测剰余量。此外，作为能够简化显影剂的补充或者显影装置的维护的电子照相成像设备的典型配置，传统上已知显影装置可被配置成可从成像设备的主体拆卸的“显影盒”。此外，传统上已知显影装置可以与感光部件和其它处理単元一体形成，作为可从成像设备的主体拆卸的“处理盒”。此外，作为能够简化显影剂的补充或者显影装置的维护的电子照相成像设备的另ー种配置，传统上已知显影装置可被配置成可从成像设备的主体拆卸的“显影处理盒”。此夕卜，传统上已知显影装置可以与感光部件和其它处理単元一体形成，作为可从成像设备的主体拆卸的“处理盒”。此外，传统上已知的是，在上述显影处理盒中设置通知単元(例如，显示单元)，以測量显影剂容器中的显影剂余量(即，显影剂残量)和发出残余显影剂即将不足的报警。此夕卜，通知単元(例如，显示单元)可用于把显影盒的使用极限通知用户，从而促使用户更换
显影盒。这种情况下，控制装置设定适当的报警水平，以便在显影剂容器中仍然剩余一定量的显影剂的状态下产生报警，从而促使用户更换显影盒。需要上述报警设置的原因在于如果连续地使用显影剂，直到显影剂容器变空为止，那么例如由于沿着显影剂载体(例如，显影辊)的纵向方向偏离的显影剂的存在，会出现图像缺陷。不过，如果通知単元(例如，显示单元)被配置成当显影剂余量达到预先确定的阈值水平时，显示报警消息(或者指示)，那么会出现以下问题。更具体地说，如果成像设备以较低的打印率进行图像的形成，那么在显影剂余量达到阈值水平之前(即，在剰余相对较大量的显影剂，从而还不需要报警的状态下)的早期时刻，会出现图像缺陷。更具体地说，通常认为如果打印率较低，那么保存在显影剂存储容器中的显影剂的劣化度相对地高于在打印率较高的情况下的劣化度。
例如，下面将描述打印率和显影剂的劣化之间的关系。显影剂包括包含顔料的树脂颗粒(作为基材)，和外部添加剂(比如润滑剂和电荷控制剂)。当在显影剂载体上用显影刮刀摩擦显影剂时，显影剂可获得所需数量的电荷。不过，当用显影刮刀摩擦显影剂以获得所需数量的电荷时，外部添加剂会被嵌入树脂颗粒之间。如果外部添加剂被完全嵌在树脂颗粒之间，那么显影剂不再能够获得所需数量的电荷。这种现象通常被称为“显影剂的劣化”。劣化的显影剂可能导致图像缺陷，因为可获得的电荷量不足。如果借助显影刮刀，显影剂获得所需的电荷量，那么显影剂被传送到显影部分的预先确定的位置，在所述显影部分，按照使静电潜像显影的方式，使图像载体与显影剂载体成对向关系。另ー方面，如果显影剂未被用于静电潜像的显影，那么显影剂被传送到显影剂存储容器中。
如果显影剂未被用于静电潜像的显影，从而被返回到显影剂存储容器中，那么显影剂已处于劣化状态，因为显影剂已被显影刮刀充分摩擦。于是，当成像设备以较低的打印率进行图像的形成时，未被用于静电潜像的显影的显影剂的百分率増大。结果，返回到显影剂存储容器部分的劣化显影剂的百分率増大。因而，与以较高的打印率进行成像的情况相比，当成像设备以较低的打印率打印大量图像时，存在于显影剂存储容器中的显影剂的整体劣化度变高。根据上面的描述，通常认为如果成像设备以较低的打印率打印许多图像，那么在显影剂余量达到预先确定的阈值水平之前的早期时刻，可能产生图像缺陷。

发明内容
本发明涉及一种能够在各种使用历史中在最佳时刻生成与显影剂余量的报警相关的信息或者与显影盒的更换相关的信息的成像设备。从而，按照本发明的成像设备在考虑到每个形成的图像的打印率的时候，能够长时间地使用显影剂，而不会导致任何图像缺陷。按照本发明的ー个方面，成像设备在记录材料上进行成像。成像设备包括承载显影剂图像的图像载体；显影装置，所述显影装置包括保存显影剂的显影剂存储部分，并且被配置成使在图像载体上形成的静电潜像显影；余量检测装置，所述余量检测装置配置成检测与保存在显影剂存储部分中的显影剂的余量相关的信息；以及，控制装置，所述控制装置被配置成根据与显影剂的余量相关的信息，传送与显影装置的使用极限相关的信息信号。所述控制装置被配置成按照在所述信息信号的传送时刻在显影剂存储部分中剰余的显影剂的量可按照平均显影剂消耗率而变化的方式，传送所述信息信号。按照本发明的示例性实施例的成像设备能够在各种使用历史中，在最佳时刻，生成与显影剂余量的报警相关的信息，或者与显影盒的更换相关的信息。按照本发明的示例性实施例的成像设备在考虑到每个形成的图像的打印率的时候，能够长时间地使用显影齐U，而不会导致任何图像缺陷。參考附图，根据示例性实施例的以下详细描述，本发明的其它特征和方面将变得明显。


包含在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出本发明的示例性实施例、特征和方面，并且与下面的描述一起，用于解释本发明的原理。图I示出按照本发明的示例性实施例的成像设备的示意性结构。图2是按照本发明的示例性实施例的处理盒的示意性截面视图。图3是示出按照本发明的示例性实施例的显影剂量检测单元的电路配置的框图。图4是示出按照本发明的示例性实施例的显影剂消耗量计算单元的电路配置的框图。图5是示出按照本发明的第一示例性实施例的控制系统的框图。
图6是示出按照本发明的第一示例性实施例的示例性选择控制的序列图。图7是示出按照本发明的第二示例性实施例的显影剂消耗量计算单元的电路配置的框图。图8是示出按照本发明的第四示例性实施例的示例性选择控制的序列图。图9是示出按照本发明的第四示例性实施例的预先确定的显影剂消耗率和显影剂残量阈值之间的关系的表格。图10是示出按照本发明的第五示例性实施例的显影剂余量和有缺陷图像生成时间之间的关系的示图。图11是示出按照本发明的第五示例性实施例的显影辊旋转的単位时间的累积显影剂劣化度和显影剂余量之间的关系的示图。图12是示出按照本发明的第五示例性实施例的累积显影剂劣化度估计单元的电路配置的框图。图13是示出按照本发明的第五示例性实施例的控制系统的框图。图14是示出按照本发明的第五示例性实施例的示例性选择控制的序列图。图15是示出按照本发明的第五示例性实施例的显影剂消耗模式的示图。图16是示出按照本发明的第五示例性实施例的累积显影剂劣化度和显影辊旋转之间的关系的示图。图17是示出按照本发明的第五示例性实施例的累积显影剂劣化度(Dall)和显影剂余量(Rt)之间的关系的示图。
具体实施例方式下面參考附图，详细描述本发明的各个示例性实施例、特征和方面。本发明涉及包括控制装置的成像设备，所述控制装置能够控制通知保存在显影剂存储部分中的显影剂的剰余量变得较小或者显影装置的使用极限将很快达到的信息信号。所述控制装置能够按照这样的方式传送所述信息信号，以致当传送所述信息信号时，按照打印率(即，每单位张数的记录材料消耗的显影剂的量)，改变显影剂存储部分中显影剂的余量。下面描述示例。图I示出按照本发明的第一示例性实施例的成像设备的示意性结构。成像设备包括充当图像载体的感光部件21。以下处理单元与感光部件21—起工作，被布置在感光部件21周围。充电装置能够对感光部件21充电。显影装置2b能够用显影剂，把通过使充电感光部件21曝光而形成的静电潜像显影成显影剂图像。转印装置可把在感光部件21上形成的显影剂图像转印到被转印部件，比如记录材料或者中间转印部件。清洁刮刀28能够从感光部件21清除未被转印的剩余显影剂。废弃显影剂存储容器29可保存清除的未被转印的剩余调色剂。在本示例性实施例中，充当充电装置的充电辊23、显影装置2b的显影辊22( S卩，显影剂载体)、充当转印装置的转印辊40和清洁刮刀28被布置成与感光部件21接触。感光部件21、充电辊23和清洁刮刀28与废弃显影剂存储容器29 —体地构成，从而形成感光部件単元2a。显影装置2b具有被配置成显影剂容器71的壳体，显影剂容器71包括充当显影剂存储部分的显影剂存储部分70。显影剂容器71被配置成其中设置有显影辊22、显影剂进给辊72、显影刮刀73和充当搅拌单元的显影剂搅拌部件74的显影单元。下面，显影装置 2b被称为“显影単元2b”。显影辊22被布置成与感光部件21相对向的关系。下面描述可由按照本示例性实施例的成像设备进行的成像操作。当感光部件21由驱动机构(未示出)驱动时，感光部件21沿着箭头X所示的方向，以预先确定的速度旋转。电源(未示出)对充电辊23施加充电偏压，从而以预先确定的电位均匀地对感光部件21的表面充电。激光曝光装置(未出)使感光部件21的充电表面曝露在激光之下,从而在感光部件21的充电表面上形成潜像。在感光部件21的表面上形成的潜像被传送到显影辊22的接触部分，在所述接触部分，利用显影辊22供给的显影剂D，潜像能够被可视化成显影剂图像。在本示例性实施例中，显影剂D是非磁性单组分显影剂。电源(未示出)对显影辊22施加显影偏压。按照感光部件21的旋转，可视化的显影剂图像被传送到转印辊40的接触部分，从而被转印到与感光部件21的旋转同步传送的记录材料P (即，图像被转印到的介质)的表面。电源(未示出)对转印辊40施加转印偏压。已被转印有显影剂图像的记录材料P被传送到定影装置50。定影装置50对记录材料P加热和加压，以致转印的显影剂图像被定影到记录材料P上。另ー方面，感光部件21上的未被转印的显影剂D( S卩，残余显影剂)被清洁刮刀28刮掉，然后保存在废弃显影剂存储容器29中。在残余显影剂被除去之后，再次用充电辊23对感光部件21的表面充电，以重复上述成像操作。按照图I中示出的成像设备，感光部件単元2a和显影单元2b被一起一体化成可从成像设备拆卸的处理盒2。下面參考图2，详细描述按照本示例性实施例的显影单元2b。图2示出处理盒2的示意性截面视图。在显影单元2b中，显影辊22和显影剂进给辊72可自由旋转，并由显影剂容器71支承。显影剂进给辊72被布置成与显影辊22的圆柱面接触。显影辊22沿着用图2中所示的箭头Y指示的方向旋转。显影剂进给辊72沿着用箭头Z指示的方向旋转。换句话说，显影辊22和显影剂进给辊72沿着相同的方向(在接触部分的圆柱面处反方向)旋转。显影辊22包括用具有预先确定的体积电阻率的导电弹性橡胶层环绕的金属芯。显影剂进给辊72包括用聚氨酯泡沫层环绕的金属芯。聚氨酯泡沫层具有带开ロ泡沫蜂窝的表面层，以便可靠地保持和传送显影剂D。显影刮刀73由诸如柔性磷青铜板之类的弹性板构成。显影刮刀73的一端被固定到显影剂容器71。显影刮刀73具有被布置成与显影辊22的导电弹性橡胶层表面摩擦接触的自由端。显影剂搅拌部件74设置在显影剂存储部分70中，可绕旋转轴76旋转。显影剂搅拌部件74具有布置成与显影剂存储部分70的底面接触的远端部分75。在显影剂存储部分70的底面,设置有两个光透射窗ロ 61和62 (即，入射光透射窗ロ 61和出射光透射窗ロ62)。显影剂搅拌部件74的远端部分75被配置成与显影剂存储部分70的光透射窗ロ61和62接触。远端部分75能够暂时移动在光透射窗ロ 61和62上的显影剂D。换句话说， 显影剂搅拌部件74能够利用其远端部分75，清洁光透射窗ロ 61和62。下面，描述当前正操作的显影单元2b中的显影剂的移动。当显影单元2b由驱动机构(未示出)驱动时，显影辊22、显影剂进给辊72和显影剂搅拌部件74各沿着图2中示出的箭头方向旋转。当显影剂搅拌部件74在显影剂存储部分70中旋转吋，显影剂D在显影剂存储部分70中(在显影单元中)被搅抖，然后被传送到显影剂进给辊72。按照显影剂进给辊72的旋转，保持在显影剂进给辊72的聚氨酯泡沫层上的显影剂D被传送到显影辊22的接触部分。当显影剂D到达接触部分吋，显影剂D被沿着彼此相反的方向旋转的显影辊22和显影剂进给辊72的表面摩擦。一部分的显影剂D被转移到显影辊22。从而，显影剂D附着到显影辊22的表面。按照显影辊22的旋转，附着到显影辊22的表面的显影剂D被传送到显影刮刀73。显影刮刀73能够按照形成均匀薄层的方式，调整附着到显影辊22的表面的显影剂D的量。此外，显影刮刀73能够通过摩擦使显影剂D带电。按照显影辊22的旋转，薄层化的显影剂D能够被传送到感光部件21的接触部分，然后能够用于使感光部件21上的潜像显影。如果一部分的显影剂D残留在显影辊22的表面上，未被用于显影，那么残留的显影剂D被传送到显影剂进给辊72的接触部分。显影剂进给辊72从显影辊22的表面除去残留的显影剂D。除去的显影剂D被返回显影剂存储部分70，随后被搅拌，并与保存在显影剂存储部分70中的显影剂D混合。下面，參考图2描述在本示例性实施例中采用的光透射式显影剂量检测方法。成像设备包括能够发射用于检测显影剂的余量的光的发光单元102，和能够接收已通过显影剂存储部分70的光的受光单元103。在本示例性实施例中，发光单元102是发光二极管(LED)，受光单元103是光敏晶体管(PTR)。光透射式显影剂量检测方法的特征在于光通过显影剂存储部分70的内部空间，以检测显影剂的余量。如果显影剂存储部分70中没有任何显影剂D，那么来自发光単元102的光从光透射窗ロ 61进入显影剂存储部分70。光通过显影剂存储部分70的内部空间，从光透射窗ロ62出射到受光单元103。如果在显影剂存储部分70中充足地保存显影剂D，那么光被从光透射窗ロ 61延伸到光透射窗ロ 62的光路上的显影剂D遮蔽。于是，光不能到达受光単元103。
在按照本示例性实施例的配置中，在显影剂量检测操作期间，显影剂搅拌部件74以预先确定的时间间隔旋转。在其设置位置，显影剂搅拌部件74阻挡光路。于是，即使在显影剂存储部分70中不存在显影剂D的情况下，也会按照显影剂搅拌部件74的旋转周期，交替地出现接收光时段和遮蔽光时段。如果在显影剂存储部分70中残留一定量的显影剂D，那么显影剂搅拌部件74的远端部分75传送残留的显影剂D。于是，与不存在显影剂D的情况相比，遮蔽光时段变长。遮蔽光时段对应于显影剂存储部分70中剰余的显影剂D的量。因而，通过测量在显影剂搅拌部件74进行一整圈旋转(下面称为“搅拌周期”)时遮蔽光时段的比率，能够检测在显影剂存储部分70的内部空间中剩余的显影剂D的量。备选地，通过比较接收光时段的比率(而不是遮蔽光时段的比率)，能够实现可比的余量检测。图3是示出按照本示例性实施例的显影剂量检测单元110的电路配置的框图。
如图3中所示，除了发光单元102和受光单元103之外，显影剂量检测单元110 (即，光残量检测装置)还包括受光检测单元111、受光时间计数器112和显影剂量变换单元113。受光单元103把代表接收的光的信号输出给受光检测单元111。只有当接收的光的強度等于或者大于预先确定的水平时，受光检测单元111把输出信号(下面，称为“受光信号”)发送给受光时间计数器112。受光时间计数器112测量受光信号的时间间隔，然后把测量值发送给显影剂量变换单元113。显影剂量变换单元113根据受光时间计数器112获得的测量值，和搅拌周期，计算保存在显影剂存储部分70中的显影剂的量。随后，显影剂量变换单元113把显影剂量数据“A”发送给控制单元140。下面描述被配置成估计成像操作的平均显影剂消耗率的平均消耗率变换单元120 ( S卩，计算装置)。在本示例性实施例中，平均显影剂消耗率代表每单位数目的记录材料片材的显影剂的消耗量。通常，显影剂的消耗量与作为在成像操作中在记录材料上形成的图像的图像信息的输出图像的像素信息(即，像素信号的数目(即，像素计数数目))成比例地变大。通过把显影剂消耗量除以记录材料的基准面积，能够获得平均显影剂消耗率。更具体地说，可以采用以下公式来计算在记录材料上形成的图像的显影剂消耗率IW=PC^-KS (I)在本示例性实施例中，W代表显影剂消耗率，PC代表像素计数值，KS代表记录材料的面积。在本示例性实施例中，记录材料面积KS是根据A4记录纸计算的。按照本示例性实施例的显影剂消耗率一般可被称为“打印率”。通常，在利用面积相同的记录材料片材进行成像的情况下，当打印率较高吋，単位数目的记录材料片材的显影剂消耗量増大。图4是示出按照本示例性实施例的平均消耗率变换单元120的电路配置的框图。如图4中所示，平均消耗率变换单元120包括像素信号输入单元121、记录材料尺寸输入単元122、像素信号计数器123、消耗率变换单元124、平均消耗率变换单元125、平均消耗率输出单元126和平均消耗率存储单元127。成像设备包括格式化器，所述格式化器能够将从外部装置接收的图像数据光栅化(rasterize),从而获得被转换成输出图像的尺寸(即，记录材料的面积)的图像数据和输出图像的像素信号。转换后的像素信号被输入像素信号输入单元121中，然后被形成为具有能够容易地用像素信号计数器123计数的适当数据格式的信号。记录材料的面积信息被输入记录材料尺寸输入单元122中，然后被发送给消耗率变换单元124。像素信号计数器123计数由像素信号输入单元121形成的具有预先确定的时间间隔的像素信号，然后把计数值发给消耗率变换单元124。消耗率变换单元124利用上述公式(I)，获得从外部装置接收的图像数据的转换后的显影剂消耗率W，然后把获得的值发送给平均消耗率变换单元125。平均消耗率变换单元125通过求从消耗率变换单元124发送的显影剂消耗率W和保存在平均消耗率存储单元127中的消耗率数据Wa的平均值，更新消耗率数据Wa。平均消耗率变换单元125把获得的新的消耗率数据Wa发送给平均消耗率输出单元126。平均消耗率输出单元126把所述新信息保存在平均消耗率存储单元127中。此外，平均消耗率输出单元126把所述新信息作为显影単元2b的消耗率数据Wa输出给控制单元 140。图5是示出按照本示例性实施例的控制系统的框图。如图5中所示，控制单元140接收来自显影剂量检测单元110的检测数据“A”，和来自平均消耗率变换单元120的消耗率数据Wa。控制单元140连接到成像设备的显示单元105,向显示单元105输出信息。下面參考图6中示出的序列图，详细描述可由控制单元140进行的示例性控制。在步骤S101，打印信号被发送给成像设备。在步骤S102，成像设备开始成像操作，然后显影単元2b开始其操作。此外，在步骤S103，连同打印信号一起接收的图像信息被发送给平均消耗率变换单元120。在步骤S104，平均消耗率变换单元120计算消耗率数据Wa。在步骤S106，控制单元140比较消耗率数据Wa和预先设定的预先确定的显影剂消耗率WO (參见步骤S105)。如果确定消耗率数据Wa等于或小于预先确定的显影剂消耗率WO (步骤S106中“否”)，那么在步骤S108，控制单元140把显影剂残量阈值Z设定为Zl0此外，如果确定预测性的消耗率数据Wa大于预先确定的显影剂消耗率WO (步骤S106中“是”)，那么在步骤S107，控制单元140把显影剂残量阈值Z设定为Z0。在本示例性实施例中，显影剂残量阈值ZO小于显影剂残量阈值Zl (即，Z0〈Z1)。另ー方面，在步骤S109，显影剂量检测单元110检测显影剂量数据“A”。随后，在步骤S111，控制单元140比较检测的显影剂量数据“A”和显影剂残量阈值Z (參见步骤S110)。如果确定显影剂量数据“A”小于显影剂残量阈值Z(步骤Slll中“是”)，那么在步骤S112，控制装置传送所述信息信号。响应所述信息信号，显示单元105向用户通知显影剂即将不足。通过按照本示例性实施例的上述控制，控制装置按照平均消耗率变换单元120计算的消耗率数据Wa，改变显影剂残量阈值Z。更具体地说，与在消耗率数据Wa较大的情况下设定的值相比，如果消耗率数据Wa较小，那么控制装置对于显影剂残量阈值Z设定相对较大的值。另ー方面，与在消耗率数据Wa较小的情况下设定的值相比，如果消耗率数据Wa较大，那么控制装置对于显影剂残量阈值Z设定相对较小的值。因而，例如，现在假定存在两种成像条件，即，第一和第二成像条件。第二成像条件在打印率方面小于第一成像条件。换句话说，由于打印率小，因此在从显影单元2b的初始使用阶段直到控制装置传送所述信息信号的时间段内，按照第二成像条件的単位面积的记录材料的显影剂消耗量变得小于第一成像条件的単位面积的记录材料的显影剂消耗量。如果成像设备按照上述两种条件中的各个条件进行成像操作，那么在控制装置传送所述信息信号的时候，在剰余在废弃显影剂存储容器29中的显影剂的量方面，将看到差
巳升。按照第一成像条件，由于消耗率数据Wa变大，因此显影剂残量阈值Z变成更小的值。于是，在控制装置传送所述信息信号时(即，在通知显影剂即将不足吋)，按照第一成像条件剰余在显影剂存储容器中的显影剂的量变得小于按照第二成像条件剰余在显影剂存储容器中的显影剂的量。当进行上述控制吋，如果消耗率数据Wa较小，那么显影剂残量阈值Z变大。于是，在归因于显影剂的劣化而出现图像缺陷之前，能够使警报保持原状。
另ー方面，当消耗率数据Wa较大时，可能不出现归因于显影剂的劣化的图像缺陷。当消耗率数据Wa较大时，显影剂残量阈值Z变得较小。于是，与消耗率数据Wa较小的情况相比，显影单元2b能够被有效地使用，直到显影剂的余量变成较小的值为止。在第一示例性实施例中，通过把显影剂消耗量除以记录材料的基准面积，控制装置获得平均显影剂消耗率(即，指示显影剂的劣化度的指标)。不过，如上所述，通常认为显影剂的劣化是根据承载显影剂的显影辊的旋转而逐渐发展的。从而，在本示例性实施例中，通过把显影剂消耗量除以显影辊的旋转时间，控制装置获得平均显影剂消耗率。按照本发明的成像设备具有与在第一示例性实施例中描述的系统配置相似的系统配置，于是，不再重复其描述。下面描述按照本示例性实施例的平均显影剂消耗率变换单元。下面描述按照第二示例性实施例的，被配置成估计成像操作中的平均显影剂消耗率的平均消耗率变换单元120 (即，计算装置)。以下公式可以用于计算图像的显影剂消耗率W。W=PC+ Tdr (2)在本示例性实施例中，W代表显影剂消耗率，PC代表像素计数值，Tdr代表显影辊的旋转时间。在本示例性实施例中，控制装置以预先确定的时间间隔更新显影剂消耗率W。例如，控制装置可在完成单ー记录纸的成像时，或者在完成预先确定的数目的记录纸的成像时，更新显影剂消耗率W。图7是示出按照本示例性实施例的平均消耗率变换单元130的电路配置的框图。如图7中所示，平均消耗率变换单元130包括像素信号输入单元131、显影辊旋转时间输入単元139、像素信号计数器133、消耗率变换单元134、平均消耗率变换单元135、平均消耗率输出单元136和平均消耗率存储单元137。像素信号被输入到像素信号输入单元131中，并被形成为具有能够容易地由像素信号计数器133计数的适当数据格式的信号。显影辊22的旋转时间DT基本上类似于显影单元2b的驱动机构的驱动时间。于是，显影棍旋转时间输入单元139从显影单元2b的驱动机构(未示出)的驱动时间测量単元接收显影辊旋转时间信息，然后把接收的显影辊旋转时间信息发送给消耗率变换单元134。像素信号计数器133计数由像素信号输入单元131形成的具有预先确定的时间间隔的像素信号，然后把计数值发送给消耗率变换单元134。消耗率变换单元134利用上述公式(2)，获得从外部装置接收的图像数据的转换的显影剂消耗率W，然后把获得的值发送给平均消耗率变换单元135。平均消耗率变换单元135通过求从消耗率变换单元134发送的显影剂消耗率W和保存在平均消耗率存储单元137中的消耗率数据Wa的平均值，更新消耗率数据Wa。平均消耗率变换单元135把获得的新的消耗率数据Wa发送给平均消耗率输出单元136。平均消耗率输出单元136把所述新信息保存在平均消耗率存储单元137中。此外，平均消耗率输出单元136把所述新信息作为显影単元2b的消耗率数据Wa输出给控制单元140。类似于第一示例性实施例，控制装置按照图6中示出的序列，根据消耗率数据Wa，通知用户显影剂即将不足。
例如，现在假定存在两种成像条件，S卩，第一和第二成像条件。第二成像条件在打印率方面小于第一成像条件。换句话说，由于打印率小，因此在从显影单元2b的初始使用阶段直到控制装置传送所述信息信号的时间段期间，按照第二成像条件的显影辊22的单位旋转时间的显影剂消耗量变得小于第一成像条件的显影辊22的单位旋转时间的显影剂
消耗量。如果成像设备按照上述两种条件中的每个条件进行成像操作，那么在控制装置传送所述信息信号的时候，在剰余在废弃显影剂存储容器29中的显影剂的量方面，将看到差
巳升。按照第一成像条件，由于消耗率数据Wa变大，因此显影剂残量阈值Z变成更小的值。于是，在控制装置传送所述信息信号时(即，在通知显影剂即将不足吋)，按照第一成像条件剰余在显影剂存储容器中的显影剂的量变得小于按照第二成像条件剰余在显影剂存储容器中的显影剂的量。当进行上述控制时，能够获得与在第一示例性实施例中描述的效果相似的效果。由于按照第二示例性实施例的上述控制是根据显影辊旋转时间进行的，因此与在第一示例性实施例中描述的控制相比，能够精确地检测显影剂的劣化度。例如，当进行成像操作吋，显影辊发生相当大量的旋转，作为成像操作的前准备或后处理的一部分。因而，即使当成像操作中使用的片材的数目保持相同时，前准备或后处理之际，显影辊旋转所需的时间也根据成像操作的内容而显著改变。例如，对10张片材连续进行成像操作所需的显影辊的旋转时间不同于对10张片材间歇进行成像操作所需的旋转时间。换句话说，在按照第二示例性实施例的控制中，考虑到成像操作方面的差异(即，连续的还是间歇的)。以下示例性实施例的特征在于通知用户显影剂即将不足的控制过程。当平均显影剂消耗率数据超过预先确定的值时，在第一示例性实施例中描述的控制装置降低控制装置通知用户显影剂即将不足时的显影剂残量的预先确定的值。相反，在本示例性实施例中，存在控制装置向用户通知平均显影剂消耗率数据和显影剂即将不足时的显影剂残量的多个预先确定的值。按照本示例性实施例的成像设备包括与在第一示例性实施例中描述的显影剂量检测单元和平均显影剂消耗率变换单元类似的显影剂量检测单元和平均显影剂消耗率变换单元。
更具体地说，按照本示例性实施例的控制系统具有与在第一示例性实施例中描述的图5中示出的系统相似的配置。下面參考图8中示出的序列图，详细描述按照本示例性实施例的示例性控制。在步骤S201，向成像设备发送打印信号。在步骤S202，成像设备开始成像操作，从而显影単元2b开始其操作。此外，在步骤S203，连同打印信号一起接收的图像信息被发送给平均消耗率变换单元120。在步骤S204，平均消耗率变换单元120计算消耗率数据Wa。在步骤S205，控制系统參考预先设定的表格，确定显影剂残量阈值Z，所述表格定义预先确定的显影剂消耗率WO和显影剂残量阈值Z之间的关系(參见步骤S205)。另ー方面，在步骤S206，显影剂量检测单元110检测显影剂量数据“A”。随后，在步骤S208，控制装置比较检测的显影剂量数据“A”和上面描述的显影剂残量阈值Z(參见步骤207)。如果确定显影剂量数据“A”小于显影剂残量阈值Z (步骤S208中“是”)，那么在步骤S209，控制装置通知用户显影剂即将不足。图9是定义预先确定的显影剂消耗率WO和显影剂残量阈值Z之间的关系的上述·表格的例子(參见步骤S205)。根据示出的表格的内容可知，当预先确定的显影剂消耗率WO变大时，显影剂残量阈值Z变小。在本示例性实施例中，代替采用图9中示出的表格，控制装置可利用补充(complement)预先确定的显影剂消耗率WO和显影剂残量阈值Z之间的关系的关系表达式，进行类似的计算。如上所述，可采用适当的表格。此外，有益的是采用如在第二示例性实施例中描述的，根据显影辊的旋转时间，获得消耗率数据Wa的方法。按照本发明的显影剂残量检测单元并不局限于在上述示例性实施例中描述的光透射式余量检测单元。例如，可以采用基于静电容量的余量检测方法，或者基于图像信息的显影剂残量检测方法。基于静电容量的显影剂量检测的特征在于检测显影辊22和显影剂进给辊72之间的静电容量。这种情况下，所述静电容量与存在于显影辊22和显影剂进给辊72之间的居间物质的相对介电常数(specific inductive capacity)成比例。如果居间物质是空气,那么相对介电常数等于1，或者，如果居间物质是显影剂，那么相对介电常数等于或大于I。于是，所述静电容量可随存在于显影辊22和显影剂进给辊72之间的显影剂的量而变化。从而，通过获得静电容量，可获得显影剂量数据“A”。通常，显影剂的消耗量与作为在成像操作中在记录材料上形成的图像的图像信息的输出图像的像素信息(即，像素信号的数目(即，像素计数数目))成比例地变大。这里，以下计算公式适合于估计调色剂消耗量Q。Q=PCXffdot(2，)在本示例性实施例中，Q代表显影剂消耗量，PC代表像素计数值，Wdot代表每个像素的显影剂消耗量。从而，通过积分根据输出图像的像素信息用上述公式(2’)定义的显影剂消耗量Q，能够估计显影剂使用量。通过从充填在崭新的显影单元2b中的显影剂的初始量中减去显影剂使用量，能够计算显影剂余量。随后，根据计算的显影剂余量，能够获得显影剂量数据“A”。如上所述，本发明适用于另外的显影剂残量检测单元。如上所述，根据可从显影剂残量检测装置获得的与显影剂残量相关的信息(例如，静电容量值或像素计数值)，能够计算显影剂的余量。随后，如果确定计算的显影剂的余量小于阈值，那么控制装置能够传送通知显影剂即将不足的信息信号。如上所述，显影剂的劣化根据承载显影剂的显影辊的旋转而逐渐进展。此外，显影剂的劣化度可随显影剂的余量而变化。通常认为如果显影剂余量较小，那么显影剂的劣化
进展显著。于是，在本示例性实施例中，关于平均显影剂消耗率，控制装置參考显影辊的旋转时间和显影剂消耗量(余量)之间的关系，获得指示显影剂的劣化度的指标。随后，根据获得的值，控制装置确定当控制装置通知即将达到显影装置的使用极限时，要參照的參考显影剂余量。按照本示例性实施例的成像设备包括与在上述示例性实施例中描述的显影剂量检测单元相似的显影剂量检测单元。首先，下面描述显影剂的劣化度。在本示例性实施例中，显影剂的劣化度指示全部 显影剂的劣化度。如果显影辊的旋转时间较长，那么显影剂的劣化大大进展。就与显影单元2b中的显影剂的余量的关系来说，如果显影辊的旋转时间相同，那么与显影剂余量较大的情况相比，当显影剂余量较小时，劣化大大进展。更具体地说，在由于显影辊的旋转，一部分的显影剂已劣化的情况下，如果显影剂余量较大，那么劣化显影剂的百分率相对地较小。于是，劣化显影剂对全部显影剂的影响较小。另ー方面，认为如果显影剂余量变小，那么劣化的显影剂对全部显影剂的影响更大。下面描述关于显影剂余量，检查显影剂劣化度和显影辊的旋转时间之间的关系的示例性方法。示例性方法包括准备显影剂填充量不同的多种显影単元2b。所述方法还包括把每个准备的単元安装到成像设备上，从而进行以较低打印率形成图像(或者无图像打印)的持久打印，和获得产生图像缺陷(例如，出现在图像的白色区域中的翳影(fogging))的片材的数(numb er ),即，获得显影棍的旋转时间。图10示出显影剂余量和有缺陷图像生成时间之间的关系。显影剂的填充量较小的単元反映剰余在所述单元中的显影剂量Rt较小的情況。另ー方面，显影剂的填充量较大的单元反映剩余在所述单元中的显影剂量Rt较大的情况。如果单元的显影剂的填充量较小(即，当显影剂余量Rt较小时)，那么在显影辊的旋转时间T较短时生成缺陷图像。另ー方面，如果单元的显影剂的填充量较大(即，当显影剂余量Rt较大时)，那么在显影辊的旋转时间T变长之前，不产生有缺陷图像。例如，可利用以下公式表示上述結果。T=AXRtn(3)在本示例性实施例中，“A”代表任意常数，“η”代表任意指数。下面，描述显影辊的单位旋转时间的显影剂劣化度Dt。有缺陷图像生成时间T的倒数等于代表显影辊的每单位旋转时间的显影剂的劣化度的值。更具体地说，利用以下公式，可表示显影辊的单位旋转时间的显影剂劣化系数D’。D’=l/T=C/Rtn(4)在本示例性实施例中，D’代表显影剂劣化系数，C代表任意常数，“η”代表任意指数。图11是可根据公式(4)获得的曲线图，它示出显影辊旋转的単位时间的显影剂劣化度和显影剂余量之间的关系。根据图11中示出的关系可知，当显影剂余量Rt较小时，显影剂劣化系数较大。当显影剂余量Rt较大时，显影剂劣化系数较小。可作为显影剂劣化系数D’和显影辊旋转数DT的乘积，获得显影剂劣化度Dt。随后，通过对显影剂劣化度Dt积分，可获得累积显影剂劣化度Dali。可根据上述公式(4)，显影辊的旋转时间和显影剂余量，使用估计显影剂的劣化度的方法。在本示例性实施例中，为了简化以下的描述，假定在公式(4)中，常数C等于1，指数“η”等于I。D’=l/Rt (4，)通常，常数C和指数“η”具有可随每个设备的配置而变化的实际值。下面描述估计显影剂劣化度的示例性方法。图12是示出按照本示例性实施例的累积显影剂劣化度估计单元220的电路配置的框图。
累积显影剂劣化度估计单元220包括显影剂余量输入单元221、显影辊旋转时间输入单元222、显影剂劣化度变换单元223和显影剂劣化度积分单元224。此外，累积显影剂劣化度估计单元220包括累积显影剂劣化度输出单元225和累积显影剂劣化度存储单元226。显影剂量检测单元把显影剂余量信息输入显影剂余量输入单元221。显影辊22的旋转时间DT大体上类似于显影单元2b的驱动机构的驱动时间。于是，显影辊旋转时间输入単元222从显影単元2b的驱动机构(未示出)的驱动时间测量単元接收显影辊旋转时间信息，然后把接收的显影辊旋转时间信息发送给显影剂劣化度变换单元223。显影剂劣化度变换单元223按照上述公式(4’)获得转换后的显影剂劣化度Dt，然后把获得的显影剂劣化度Dt发送给显影剂劣化度积分单元224。显影剂劣化度积分单元224通过结合从显影剂劣化度变换单元223发送的显影剂劣化度Dt和保存在累积显影剂劣化度存储单元226中的显影剂劣化度信息，获得积分值Dall0随后，显影剂劣化度积分单元224计算新的累积显影剂劣化度Dali。显影剂劣化度积分单元224把新的累积显影剂劣化度Dall输出给累积显影剂劣化度输出单元225。累积显影剂劣化度输出单元225把所述新信息保存在累积显影剂劣化度存储单元226中。此外，累积显影剂劣化度输出单元225把所述新信息作为显影単元2b的累积显影剂劣化度Dall输出给控制单元240。如下所述，累积显影剂劣化度估计单元能够以适当的频度和在适当的时刻，计算累积显影剂劣化度Dali。例如，有益的是显影辊的旋转时间的每个单位时间地(例如，毎秒或者每10秒)，或者当完成预先确定的数目(例如，I张或10张)的片材的打印时，更新累积显影剂劣化度Dall0此外，有益的是当在打印操作被终止时，在进行后旋转的时候，进行累积显影剂劣化度Dall的上述计算。图13是示出按照本示例性实施例的控制系统的框图。如图13中所示，控制单元240接收来自显影剂量检测单元11的检测数据“A”，和来自累积显影剂劣化度估计单元220的累积显影剂劣化度Dali。控制单元240连接到成像设备的显示单元105并且向显示单元105输出信息。下面參考图14中示出的序列图，详细描述可由控制单元240进行的示例性控制。
在步骤S501，向成像设备发送打印信号。在步骤S502，成像设备开始成像操作，从而显影単元2b开始其操作。在步骤S503，显影单元2b的驱动时间测量単元检测驱动时间数据。在步骤S504，显影剂量检测单元110检测显影剂量数据“A”。在步骤S505，累积显影剂劣化度估计单元220根据在步骤S503中获得的驱动时间数据和在步骤S505中获得的显影剂量数据“A”，计算累积显影剂劣化度数据Dali。在步骤S507，控制单元240比较累积显影剂劣化度数据Dal I和预先设定的预定的显影剂劣化度DO (參见步骤S506)。如果确定累积显影剂劣化度数据Dall小于预先确定的显影剂劣化度DO (步骤S507中“是”)，那么在步骤S508，控制单元240向用户通知显影剂的过度使用。如果进行上述控制，那么，例如在成像设备ー边改变成像条件，一边进行操作的情况下，在控制装置传送通知显影剂使用过度的信息信号时，剰余在显影剂存储容器中的显影剂的量能变化。
如在第一示例性实施例中所述，假定存在两种成像条件，即第一和第二成像条件。第二成像条件在打印率方面小于第一成像条件。这种情况下，如果显影剂余量相同，那么当选择的条件是第一成像条件吋，显影剂劣化度变小。与在第二成像条件下剩余的显影剂量相比，如果选择第一成像条件，那么在控制装置传送(通知显影剂的过度使用的)信息信号时，剰余在显影剂存储容器中的显影剂的量相对较小。下面，描述在利用显影单元的处理中，显影剂消耗模式响应于打印率的变化而变化的示例性情况。图15是示出显影剂消耗模式的例子的曲线图，其中横坐标轴代表显影辊旋转数，纵坐标轴代表显影剂余量。显影辊旋转数(即，參见横坐标轴)可用在成像设备的相同进纸模式下的打印片材的数目替换。例如，在从显影単元2b的初始使用阶段到控制装置传送所述信息信号的时间段期间，以相同打印率进行成像操作被称为“第三成像条件”。如果成像设备的操作条件被设定成第三成像条件，那么显影剂余量如图15中的“情况I”所示地单调减小。下面，在图15-17的各个示图中，情况I指示按照第三成像条件的成像的結果。接下来，在显影单元2b的初始使用阶段中，以比第三成像条件的打印率高的打印率进行成像操作，随后以比第三成像条件的打印率低的打印率进行成像操作被称为“第四成像条件”。如果成像设备的操作条件被设定成第四成像条件，那么显影剂余量如图15中的“情况2”所示地减小。下面，在图15-17的各个示图中，情况2指示按照第四成像条件的成像的結果。图16是示出分别在第三成像条件和第四成像条件下，累积显影剂劣化度Dall和显影辊旋转数之间的关系的曲线图。如果成像设备的操作条件被设定成第四成像条件，那么与按照第三成像条件的成像操作相比，在显影单元的初始使用阶段中，以相对较高的打印率进行成像操作。于是，与第三成像条件下的显影剂余量相比，在第四成像条件下，显影剂余量相对较小(參见图15)。随后，如果成像设备的打印率被切换成较小的值，那么如上所述，当显影剂余量较小吋，显影剂劣化系数变大。于是，即使显影辊的旋转时间相同，当设定第四成像条件吋，累积显影剂劣化度也变得较高(參见图16)。图17是示出在第三成像条件和第四成像条件中的各成像条件下，累积显影剂劣化度Dall和显影剂余量Rt之间的关系的示图。理解如下如果显影単元的使用极限被设定成图17中示出的水平“A”，那么当选择第四成像条件(即，情况2)时，在显影剂残量变小之前，显影剂都可被使用，因为显影剂的劣化相对地低。于是，在成像设备的操作条件被设定成第四成像条件的情况下，控制装置传送所述信息信号的时刻过早，结果，相对大量的显影剂剰余在显影剂存储容器中。于是，与第四成像条件下的余量相比，如果选择第三成像条件，那么在控制装置传送(通知显影剂即将不足的)信息信号时，剰余在显影剂存储容器中的显影剂的量相对较小。然而，在显影单元的使用极限被设定成图17中所示的水平“B”的情况下，与第四成像 条件下的余量相比，如果选择第三成像条件，那么在控制装置传送所述信息信号吋，剰余在显影剂存储容器中的显影剂的量相对较大。如上所述，如果成像设备的操作条件可在两种条件之间选择，那么在控制装置传送所述信息信号时，剰余在废弃显影剂存储容器29中的显影剂的量并不恒定。本示例性实施例的特征在于考虑了“显影剂劣化度”概念；以及，在显影单元的使用极限时剰余在显影剂存储容器中的显影剂的量可随从显影単元的初始使用阶段开始的使用历史而变化。按照在第一示例性实施例或第二示例性实施例中描述的方法，显影单元的使用极限取决于在从显影単元的初始使用阶段到某个时刻的时间段期间的总打印率，与显影单元的使用历史无关。在第五示例性实施例中，即使总的打印率在某一时刻相同，显影剂的劣化度也取决于使用历史(參见图15示出的情况I和情况2)，并对显影単元的使用极限具有显著的影响。因而，第五实施例的有益之处在于与第一和第二示例性实施例相比，能够进一歩提高检测显影剂的劣化度的精度。按照在本示例性实施例中描述的控制，根据累积显影剂劣化度估计单元220计算的累积显影剂劣化度数据Dall，确定保存在显影单元2b中的显影剂的使用极限。从而，本示例性实施例能够提供ー种相对较长时间地有效使用显影剂，而不会在任何用户的使用状态中导致任何图像缺陷的方法。尽管在示例性实施例中，采用了上述公式(3)、(4)和(4’)，不过同样有益的是利用关于显影剂残量定义显影剂的劣化度和显影辊的旋转时间之间的关系的表格。此外，计算显影剂劣化度Dall的方法并不局限于根据显影辊的旋转时间进行计算的上述方法。如在第一示例性实施例中所述，有益的是參照所记录片材的数目，计算劣化度Dall。这种情况下，可将劣化度Dall计算为劣化度系数Dt和所记录片材的数目的乘积。在上述示例性实施例中，控制装置获得和成像操作中的显影剂的使用有关的显影剂消耗量。不过，有益的是还考虑在除成像之外的操作中的显影剂消耗。例如，成像设备的控制模式可包括在不进行成像的适当时刻，向感光部件和(清除感光部件上的显影剂的)清洁刮刀之间的接触部分供给作为润滑剂的显影剂。如果成像设备具有上述控制模式，那么通过在显影剂消耗率Wa或显影剂劣化度数据Dall的计算中，考虑到作为润滑剂消耗的显影剂的量，能够更精确地检测显影剂的劣化度。不过，与在成像操作中使用的显影剂的量相比，在除成像之外的操作中消耗的显影剂的量相对地小。因此，如果未用于成像的显影剂的上述消耗对显影剂的劣化度的影响可以忽略不计，那么可以忽视未用于成像的显影剂的上述消耗。此外，在上述示例性实施例中，显示单元105被配置成根据从控制装置接收的信息信号，向用户通知显影剂即将不足，或者显影装置的使用极限。不过，显示単元105的配置不局限于上述例子，只要控制装置传送与显影装置的使用极限相关的信息信号即可。例如，有益的是当显影剂余量变小时，成像设备响应所述信息信号，停止其操作，同时促使用户更换墨盒。尽管參考示例性实施例描述了本发明，不过应理解，本发明不局限于所公开的示例性实施例。所附权利要求的范围应被赋予最宽泛的解释，以包含所有修改、等同的结构和功能。·
权利要求
1.一种被配置成在记录材料上进行成像的成像设备，所述设备包括 图像载体，所述图像载体被配置成承载显影剂图像； 显影装置，所述显影装置包括被配置成保存显影剂的显影剂存储部分，并且被配置成使在图像载体上形成的静电潜像显影； 余量检测装置，所述余量检测装置被配置成检测与保存在显影剂存储部分中的显影剂的余量相关的信息；和 控制装置，所述控制装置被配置成，基于余量检测装置生成的与显影剂的余量相关的信息，传送与显影装置的使用极限相关的信息信号， 其中所述控制装置被配置成使得，在传送所述信息信号时在显影剂存储部分中剩余的显影剂的量能够根据平均显影剂消耗率而变化。·
2.一种被配置成在记录材料上进行成像的成像设备，所述设备包括 图像载体，所述图像载体被配置成承载显影剂图像； 显影装置，所述显影装置包括被配置成保存显影剂的显影剂存储部分，并且被配置成使在图像载体上形成的静电潜像显影； 余量检测装置，所述余量检测装置被配置成生成与保存在显影剂存储部分中的显影剂的余量相关的信息；和 控制装置，所述控制装置被配置成，基于余量检测装置生成的与显影剂的余量相关的信息，控制与显影装置的使用极限相关的信息信号； 其中，提供第一成像条件作为成像条件，并且提供第二成像条件作为另一个成像条件，当在从显影装置的初始使用阶段到所述信息信号的传送为止的时间段期间的成像操作中，以比第一成像条件下的平均显影剂消耗率低的平均显影剂消耗率进行成像操作时，能够设定所述另一个成像条件，和 所述控制装置被配置成，以当设定第一成像条件时在所述信息信号的传送时刻在显影剂存储部分中剩余的显影剂的量变得小于第二成像条件下的该量的方式传送所述信息信号。
3.—种被配置成在记录材料上进行成像的成像设备，所述设备包括 图像载体，所述图像载体被配置成承载显影剂图像； 显影装置，所述显影装置包括被配置成保存显影剂的显影剂存储部分，并且被配置成使在图像载体上形成的静电潜像显影； 余量检测装置，所述余量检测装置被配置成检测与保存在显影剂存储部分中的显影剂的余量相关的信息；和 控制装置，所述控制装置被配置成，当能够从与显影剂的余量相关的信息获得的显影剂残量变得小于阈值时，传送与显影装置的使用极限相关的信息信号， 其中所述控制装置被配置成，计算平均显影剂消耗率，并且当平均显影剂消耗率变大时，降低所述阈值。
4.按照权利要求1-3任意之一所述的成像设备，其中所述控制装置被配置成，基于当进行成像操作时能够获得的像素信息以及与成像操作中要使用的记录材料的面积相关的信息，计算平均显影剂消耗率。
5.按照权利要求1-3任意之一所述的成像设备，其中所述控制装置被配置成，基于当进行成像操作时能够获得的像素信息以及与显影剂载体的驱动时间相关的信息，计算平均显影剂消耗率。
6.一种被配置成在记录材料上进行成像的成像设备，所述设备包括 图像载体，所述图像载体被配置成承载显影剂图像； 显影装置，所述显影装置包括被配置成保存显影剂的显影剂存储部分，并且被配置成使在图像载体上形成的静电潜像显影； 余量检测装置，所述余量检测装置被配置成生成与保存在显影剂存储部分中的显影剂的余量相关的信息；和 控制装置，所述控制装置被配置成，基于余量检测装置生成的与显影剂的余量相关的信息，传送与显影装置的使用极限相关的信息信号； 其中，提供第三成像条件作为成像条件，并且提供第四成像条件作为另一个成像条件，当在从显影装置的初始使用阶段到所述信息信号的传送为止的时间段期间，首先以比第三成像条件下的平均显影剂消耗率大的平均显影剂消耗率进行成像操作、然后以比第三成像条件下的平均显影剂消耗率小的不同的平均显影剂消耗率进行成像操作时，能够设定所述另一个成像条件，和 所述控制装置被配置成，以在第三成像条件下和在第四成像条件下在所述信息信号的传送时刻在显影剂存储部分中剩余的显影剂的量能变化的方式，传送所述信息信号。
7.—种被配置成在记录材料上进行成像的成像设备，所述设备包括 图像载体，所述图像载体被配置成承载显影剂图像； 显影装置，所述显影装置包括被配置成保存显影剂的显影剂存储部分，并且被配置成使在图像载体上形成的静电潜像显影； 余量检测装置，所述余量检测装置被配置成生成与保存在显影剂存储部分中的显影剂的余量相关的信息；和 控制装置，所述控制装置被配置成传送与显影装置的使用极限相关的信息信号， 其中，所述控制装置被配置成，基于劣化系数和成像操作中使用的记录材料片材的数量，计算劣化度，所述劣化系数代表对于成像操作中使用的每单位数量的记录材料片材的显影剂的劣化度， 其中，所述劣化系数被设定成，与在显影剂残量较大时的值相比，在显影剂残量较小时更大，和 其中，当累积的劣化度的值超过预先确定的值时，所述控制装置传送所述信息信号。
8.—种被配置成在记录材料上进行成像的成像设备，所述设备包括 图像载体，所述图像载体被配置成承载显影剂图像； 显影装置，所述显影装置包括被配置成保存显影剂的显影剂存储部分，并且被配置成使在图像载体上形成的静电潜像显影； 余量检测装置，所述余量检测装置被配置成生成与保存在显影剂存储部分中的显影剂的余量相关的信息；和 控制装置，所述控制装置被配置成传送与显影装置的使用极限相关的信息信号， 其中，显影装置是与图像载体成对向关系地承载显影剂的显影剂载体， 其中，所述控制装置被配置成基于劣化系数和显影剂载体的旋转时间计算劣化度，所述劣化系数代表对于显影剂载体的每单位旋转时间的显影剂的劣化度， 其中，所述劣化系数被设定成，与在显影剂残量较大时的值相比，在显影剂残量较小时更大，和 其中，当累积的劣化度的值超过预先 确定的值时，所述控制装置生成所述信息信号。
全文摘要
本发明涉及一种成像设备，包括被配置成控制信息信号的控制装置，所述信息信号向用户通知显影剂存储部分中的显影剂即将不足，或者显影装置的使用极限。控制装置可按照在信息信号的传送时刻在显影剂存储部分中剩余的显影剂的量可根据对于记录材料片材的单位数量的显影剂消耗量而改变的方式，传送所述信息信号。
文档编号G03G15/08GK102854775SQ20121021445
公开日2013年1月2日 申请日期2012年6月26日 优先权日2011年6月29日
发明者渡边泰成 申请人:佳能株式会社