一种液晶显示面板的检测方法

文档序号:2689929阅读:393来源:国知局
专利名称:一种液晶显示面板的检测方法
技术领域
本发明涉及显示技术领域,特别是涉及一种液晶显示面板的检测方法。
背景技术
现有技术中,通过成盒(cell)制程得到的液晶显示面板将进入模组(module)制程,以将液晶显示面板和驱动IC装配为液晶显示模组。在模组制程中,通常是通过对液晶显示模组绑定(bonding)后进行点灯检测,以对液晶显示面板的影像残留现象进行拦检。影 像残留是指在结束外加电场时,液晶显示面板的显示画面不会即时消失,而是逐渐延迟消失的现象,由此影响显示品质。因此,在液晶显示模组点灯检测过程中,当检测到液晶显示面板有影像残留现象时,由于液晶显示面板已经和驱动IC装配为液晶显示模组,因此较难对其中的液晶显示面板进行修复。进一步的,现有成盒制程阶段使用的IDlG (IDATA I GATE, I数据线I扫描线)点灯检测方法中,只能点亮黑、白、灰的单色显示画面,无法检测影像残留。

发明内容
本发明主要解决的技术问题是提供一种液晶显示面板的检测方法,能够在cell阶段使用IDlG点灯检测方法对影像残留进行拦检,增强缺陷检出能力,提升良率。为解决上述技术问题,本发明采用的一个技术方案是提供一种液晶显示面板的检测方法,在成盒制程阶段使用的IDlG点灯检测中,将液晶显示面板的多条扫描线分为第一组扫描线、第二组扫描线,将液晶显示面板的多条数据线分为第一组数据线和第二组数据线;第一组扫描线和第二组扫描线周期性地输送扫描驱动信号,每个扫描周期分为第一子周期和第二子周期;在第一子周期,第一组扫描线输送第一扫描驱动信号,且第一组数据线输送第一检测信号,第二组数据线输送第二检测信号;在第二子周期,第二组扫描线输送第二扫描驱动信号,且第一组数据线输送第二检测信号,第二组数据线输送第一检测信号;其中,所述第一检测信号和所述第二检测信号分别提供不同颜色的第一显示画面和第二显示画面。其中,第一检测信号是提供白色画面的信号,第二检测信号是提供黑色画面的信号。其中,第一检测信号是提供黑色画面的信号,第二检测信号是提供白色画面的信号。其中,第一子周期为前半扫描周期,第二子周期为后半扫描周期。其中,第一子周期为后半扫描周期,第二子周期为前半扫描周期。其中,第一组扫描线为奇数组扫描线,第二组扫描线为偶数组扫描线,第一组数据线为奇数组数据线,第二组数据线为偶数组数据线。其中,第一组扫描线为偶数组扫描线,第二组扫描线为奇数组扫描线,第一组数据线为偶数组数据线,第二组数据线为奇数组数据线。
其中,液晶显示面板电连接至点灯检测装置,点灯检测装置用于向液晶显示面板提供第一扫描驱动信号、第二扫描驱动信号、第一检测信号以及第二检测信号。其中,第一组扫描线、第二组扫描线、第一组数据线和第二组数据线分别连接至点灯检测装置的信号发生器的不同信号通道。其中,第一组扫描线、第二组扫描线、第一组数据线和第二组数据线分别通过位于液晶显示面板边缘的对应的导电胶分别连接至信号发生器的不同信号通道。本发明的有益效果是区别于现有技术的情况,本发明通过设置第一扫描线在第一子周期输送扫描驱动信号,且第一组数据线输送第一检测信号,第二组数据线输送第二检测信号;第二组扫描线在第二子周期输送扫描驱动信号,且第一组数据线输送第二检测信号,第二组数据线输送第一检测信号,使得在成盒制程中能显示不同颜色的第一显示画面和第二显示画面,因此,在结束外电场时,能够对影像残留进行拦检,由此实现在成盒制程阶段使用IDlG点灯检测方法对液晶显示面板的影像残留进行拦检,增强缺陷检出能力,提升良率。


图I是本发明的一种液晶显示面板的检测方法的原理图;图2是本发明的数据线和扫描线输送的信号的波形图;图3是根据本发明的液晶显示面板的检测方法产生的一种检测画面的效果示意图;图4是根据本发明的液晶显示面板的检测方法产生的另一种检测画面的效果示意图;图5是本发明的液晶显示面板与点灯检测装置连接的结构示意图。
具体实施例方式下面结合附图和实施例对本发明进行详细说明。请一起参阅图I和图2,图I是本发明的一种液晶显示面板的检测方法的原理图;图2是图I所示的数据线和扫描线输送的信号的波形图。首先请参阅图1,本发明的液晶
显不面板10包括多条扫描线Gll----G14…、与多条扫描线Gll----G14…相交的多条数据线
S11…-S14…以及多个薄膜晶体管τ。其中,扫描线Gll…为第一组bonding区域中的Gate扫描信号线,扫描线G12…为第二组bonding区域中的Gate扫描信号线,扫描线G13…为第三组bonding区域中的Gate扫描信号线,扫描线G14…为第四组bonding区域中的Gate扫描信号线。同理,数据线Sll…为第一组bonding区域中的红(Red, R)绿(Green, G)蓝(Blue, B)数据信号线,数据线S12…为第二组bonding区域中的RGB数据信号线,数据线S13…为第三组bonding区域中的RGB数据信号线,数据线S 14…为第四组bonding区域中的RGB数据信号线。扫描线Glb--GH…分别连接对应的薄膜晶体管T的栅极,数据线S11…-S14…分别连接对应的薄膜晶体管τ的源极。本实施例中,在成盒制程阶段使用IDlG点灯检测方法对液晶显示面板10进行检测,即每组扫描线或每组数据线对应一个bonding区域的信号线。具体为首先将多条扫描线Gll----G14…分为第一组扫描线Gl和第二组扫描线G2,将多条数据线Sll----S14…分为第一组数据线SI和第二组数据线S2。具体而言,本实施例中,第一组扫描线Gl为奇数组扫描线,其例如包括扫描线G11···和G13···,第二组扫描线G2为偶数组扫描线,其例如包括扫描线G12…和G14···,第一组数据线SI为奇数组数据线,其例如包括数据线Sll…和S13···,第二组数据线S2为偶数组数据线,其例如包括数据线S12…和S11··。应理解,本发明中,第一组扫描线Gl也可以设置为偶数组扫描线,第二组扫描线G2对应为奇数组扫描线,第一组数据线SI也可以设置为偶数组数据线,第二组数据线S2对应设置为奇数组数据线。第一组扫描线Gl还可以为连续设置的扫描线,其例如包括扫描线Gll…和G12···,同理,第二组扫描线G2对应为连续设置的扫描线G13…和G14···,第一组数据线SI为连续设置的数据线,其例如包括Sll…和S12···,第二组数据线S2对应为连续设置的数据线S13…和S14···。本发明对扫描线和数据线的分组不作限制。本实施例中,第一组扫描线Gl和第二组扫描线G2周期性地输送扫描驱动信号,其中,每个扫描周期分为第一子周期tl (如图2所示)和第二子周期t2 (如图2所示)。第一 组数据线SI和第二组数据线S2分别在第一子周期tl和第二子周期t2中输送不同的检测信号,如本发明的第一检测信号103 (如图2所示)和第二检测信号104 (如图2所示)。其中,第一检测信号103和第二检测信号104分别提供不同颜色的第一显示画面和第二显示画面。因此,本发明的液晶显示面板10能够显示不同颜色的画面。具体而言,请一并参阅图I和图2。在第一子周期tl,第一组扫描线Gl输送第一扫描驱动信号101至与第一组扫描线Gl连接的薄膜晶体管T的栅极,以打开对应的薄膜晶体管T,并且第一组数据线SI在对应的薄膜晶体管T开启后输送第一检测信号103至与第一组数据线SI连接的薄膜晶体管T的源极,使得与第一组扫描线Gl和第一组数据线SI电连接的像素单元显示第一显示画面。此时,第二组数据线S2输送第二检测信号104至与第二组数据线S2连接的薄膜晶体管T的源极,使得与第一组扫描线Gl和第二组数据线S2电连接的像素单元显示第二显示画面。同理,在第二子周期t2,第二组扫描线G2输送第二扫描驱动信号102至与第二组扫描线G2连接的薄膜晶体管T的栅极,以打开相应的薄膜晶体管T,并且第一组数据线SI在对应的薄膜晶体管T开启后输送第二检测信号104至与第一组数据线SI连接的薄膜晶体管T的源极,使得与第二组扫描线G2和第一组数据线SI电连接的像素单元显示第二显示画面。此时,第二组数据线S2输送第一检测信号103至与第二组数据线S2连接的薄膜晶体管T的源极,使得与第二组扫描线G2和第二组数据线S2电连接的像素单元显示第一显示画面。值得注意的是,本实施例中第一检测信号103和第二检测信号104为不同电压的信号,如方波信号或者基准电压(VCOM)信号,其中,VCOM信号由短路棒(Shorting bar)的基准电压固化垫(VCOM Pad)输送。当打开的薄膜晶体管T输入的是方波信号,则显示白色画面;当打开的薄膜晶体管T输入的是VCOM信号,则显示黑色画面。因此,本实施例中的第一检测信号103和第二检测信号104提供的显示颜色有两种情况第一种情况是第一检测信号103为方波信号,即提供白色画面的信号,第二检测信号104为VCOM信号,即提供黑色画面的信号;第二种情况是第一检测信号103为VCOM信号,即提供黑色画面的信号,第二检测信号104为方波信号,即提供白色画面的信号。
因此,当第一检测信号103是提供白色画面的信号以及第二检测信号104是提供黑色画面的信号时,本发明的液晶显示面板10显示如图3所示的显示画面。如图3所示,液晶显示面板10显示的画面为黑色和白色画面间隔显示。具体为在扫描线打开薄膜晶体管T,并且数据线向打开的薄膜晶体管T输送第一检测信号103时显示白色;在扫描线打开薄膜晶体管T,并且数据线输送第二检测画面104时显示黑色。当第一检测信号103是提供黑色画面的信号以及第二检测信号104是提供白色画面的信号时,液晶显示面板10显示的画面如图4所示。图4所显示的画面与图3所示显示的画面的颜色正好相反。本实施例中,第一子周期tl为前半扫描周期,第二子周期t2为后半扫描周期,SP 第一子周期tl和第二子周期t2之和为一个完整的扫描周期t。在其他实施例中,第一子周期tl也可为后半扫描周期,第二子周期t2为前半扫描周期,并且本发明对第一子周期tl和第二子周期t2占同一个扫描周期中的具体时长不作限制,例如,在一个完整的扫描周期t中,tl可为t的1/3,t2对应为t的2/3。·
同理,当第一组扫描线Gl为偶数组扫描线,第二组扫描线G2为奇数组扫描线,第一组数据线SI为偶数组数据线,第二组数据线S2为奇数组数据线时,或者第一组扫描线Gl和第二组扫描线G2为连续设置的扫描线,第一组数据线SI和第二组数据线S2为连续设置的数据线时,液晶显示面板10显示的检测画面也如图3或者图4所示。在其他实施例中,如果液晶显示面板只有一个bonding区域的Gate扫描信号线以及一个bonding区域的RGB数据信号线,则把bonding区域中的Gate扫描信号线进行分组,同样,把bonding区域中的RGB数据信号线进行分组,然后再进行IDlG点灯检测,具体的分组情况和点灯检测原理如前文所述,在此不再赘述。因此,本发明将多条扫描线分为第一组扫描线和第二组扫描线,将多条数据线分为第一组数据线和第二组数据线,并且第一组扫描线和第二组扫描线周期性地输送扫描驱动信号,第一组数据线和第二组数据线在不同的扫描周期输送不同的检测信号,使得液晶显示面板10能够显示不同颜色的黑白棋盘画面,因此能够在成盒制程阶段使用IDlG点灯检测方法检测液晶显示面板10的显示是否存在残留影像。请参阅图5,图5是本发明的液晶显示面板与点灯检测装置连接的结构示意图。如图5所示,本发明的液晶显示面板10电连接至点灯检测装置20。其中,点灯检测装置20用于向液晶显不面板10提供第一扫描驱动信号101、第二扫描驱动信号102、第一检测信号103以及第二检测信号104。本实施例中,第一组扫描线G1、第二组扫描线G2、第一组数据线SI和第二组数据线S2分别连接至点灯检测装置20的信号发生器201的不同信号通道。具体而言,位于液晶显示面板10的边缘设置有多个导电胶111、112、113以及114,其中,第一组扫描线Gl通过导电胶111连接到信号发生器201的第一信号通道211,第二组扫描线G2通过导电胶112连接到信号发生器201的第二信号通道212,第一组数据线SI通过导电胶113连接到信号发生器201的第三信号通道213以及第二组数据线S2通过导电胶114连接至信号发生器201的第四信号通道214。本发明的信号通道可以通过信号发生器201中的软体进行设置。其中,每个信号通道输送不同的信号,优选为第一信号通道211在第一子周期tl输送第一扫描驱动信号101,第二信号通道212在第二子周期t2输送第二扫描驱动信号102。第三信号通道213在第一子周期tl输送第一检测信号103,在第二子周期t2输送第二检测信号104。第四信号通道214在第一子周期tl输送第二检测信号104,在第二子周期t2输送第一检测信号103。通过在信号发生器201中设置不同的信号通道,并且每一信号通道提供不同的信号,以提供如图3和图4所示的黑白棋盘检测画面对液晶显示面板10的影像残留进行检测。即,本发明可在成盒制程阶段使用IDlG点灯检测方法对液晶显示面板10进行影像残留检测,增强缺陷检出能力。
以上所述仅为本发明的实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本发明的专利保护范围内。
权利要求
1.一种液晶显示面板的检测方法,其特征在于, 在成盒制程阶段使用的IDlG点灯检测中,将所述液晶显示面板的多条扫描线分为第一组扫描线、第二组扫描线,将所述液晶显示面板的多条数据线分为第一组数据线和第二组数据线; 所述第一组扫描线和第二组扫描线周期性地输送扫描驱动信号,每个扫描周期分为第一子周期和第二子周期; 在所述第一子周期,所述第一组扫描线输送第一扫描驱动信号,且所述第一组数据线输送第一检测信号,所述第二组数据线输送第二检测信号; 在所述第二子周期,所述第二组扫描线输送第二扫描驱动信号,且所述第一组数据线输送所述第二检测信号,所述第二组数据线输送所述第一检测信号; 其中,所述第一检测信号和所述第二检测信号分别提供不同颜色的第一显示画面和第二显示画面。
2.根据权利要求I所述的方法,其特征在于,所述第一检测信号是提供白色画面的信号,所述第二检测信号是提供黑色画面的信号。
3.根据权利要求I所述的方法,其特征在于,所述第一检测信号是提供黑色画面的信号,所述第二检测信号是提供白色画面的信号。
4.根据权利要求2或3任一项所述的方法,其特征在于,所述第一子周期为前半扫描周期,所述第二子周期为后半扫描周期。
5.根据权利要求2或3任一项所述的方法,其特征在于,所述第一子周期为后半扫描周期,所述第二子周期为前半扫描周期。
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述第一组扫描线为奇数组扫描线,所述第二组扫描线为偶数组扫描线,所述第一组数据线为奇数组数据线,所述第二组数据线为偶数组数据线。
7.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述第一组扫描线为偶数组扫描线,所述第二组扫描线为奇数组扫描线,所述第一组数据线为偶数组数据线,所述第二组数据线为奇数组数据线。
8.根据权利要求I所述的方法,其特征在于,所述液晶显示面板电连接至点灯检测装置,所述点灯检测装置用于向所述液晶显示面板提供所述第一扫描驱动信号、所述第二扫描驱动信号、所述第一检测信号以及所述第二检测信号。
9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述第一组扫描线、所述第二组扫描线、所述第一组数据线和所述第二组数据线分别连接至所述点灯检测装置的信号发生器的不同信号通道。
10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述第一组扫描线、所述第二组扫描线、所述第一组数据线和第二组数据线分别通过位于所述液晶显示面板边缘的对应的导电胶分别连接至所述信号发生器的不同信号通道。
全文摘要
本发明公开了一种液晶显示面板的检测方法,具体为在成盒制程阶段使用的1D1G点灯检测中,每个扫描周期分为第一子周期和第二子周期;在第一子周期,第一组扫描线输送第一扫描驱动信号,且第一组数据线输送第一检测信号,第二组数据线输送第二检测信号;在第二子周期,第二组扫描线输送第二扫描驱动信号,且第一组数据线输送第二检测信号,第二组数据线输送第一检测信号。通过以上方式,本发明能够在成盒制程阶段使用1D1G点灯检测方法对液晶显示面板的影像残留进行拦检,增强缺陷检出能力,提升良率。
文档编号G02F1/1362GK102944945SQ20121047914
公开日2013年2月27日 申请日期2012年11月22日 优先权日2012年11月22日
发明者李志明, 黄皓, 潘昶宏 申请人:深圳市华星光电技术有限公司
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1