专利名称：近红外飞行器姿态位置测量物镜系统的制作方法
技术领域：
本发明属于光学设计领域，涉及一种物镜系统，特别涉及近红外飞行器姿态位置测量物镜系统。
背景技术：
在轨飞行的两个飞行器实现在轨对接，需要采用特殊的对接机构。现有的光电设备中，对目标飞行器位置姿态测量通常采用星敏感器对恒星成像，由所成恒星像通过查找星历表进而确定目标飞行器的姿态位置。但星敏感器是对无穷远恒星成像，对无穷远恒星成像焦面位于CCD表面，但跟踪飞行器在与目标飞行器不断靠近过程中，目标飞行器上的标志灯成像在跟踪飞行器上的星敏感器CXD上将产生较大的像移，无法准确计算标志灯质心位置，尤其轴外视场标志灯质心位置将随两飞行器相对距离的变化而发生大幅度变化，造成计算电路计算姿态位置测量的错误，进而无法实现在有限距离、跟踪飞行器与目标飞行器在轨对接时对目标飞行器实时姿态位置测量的要求。近红外光源指780nm 3000nm范围内的电磁波。采用近红外光源作为标志灯发出的信号光可以避开太阳强辐照谱段光对空间跟踪捕捉物镜成像影响。如果从目标飞行器上若干个标志灯发出或反射的信号光在跟踪飞行器上的跟踪捕捉物镜成像，所得标志灯质心像通过镶嵌在跟踪飞行器内部的计算电路与存储的姿态信息进行计算比对，即可实现在一定物距范围内对目标飞行器进行实时高精度姿态测量。这种方法需要飞行器姿态位置测量物镜对目标飞行器上标志灯成像，且要求同一视场的标志灯在一定物距范围内成像位置不变，即要求此物镜具有一定的像方远心特性，同时工作波长适合工作在太空环境中。现有技术中的像方远心物镜达不到飞行器姿态位置测量物镜的要求，例如:申请号为201210095425.6的中国专利揭露了一种高投射比投影物镜，该高投射比投影物镜具有正光焦度的第一镜组、具有正光焦度的第二镜组、光阑及显示芯片，具有像方远心的性质。该物镜光学总长123.61mm，具有两个非球面。此镜头含有11片透镜，两个非球面，无法满足结构紧凑轻量化、透镜元件加工检测难度低的目的，同时该物镜适用于可见光波段，无法在近红外波段良好成像。申请号为200910206333.9的中国专利揭露了一种定焦镜头，该定焦镜头包括三个透镜群，具有正光焦度的第一透镜群、具有正光焦度的第二透镜群、具有正光焦度的第三透镜群，共7片透镜，有较小的像方视场角。该镜头具有8个非球面，存在一定的加工检测难度，同时该定焦镜头适用于可见光波段，无法再近红外波段良好成像。申请号为200910020932.1的中国专利揭露了一种全反射光学系统，该光学系统由5片反射镜构成，具有像方远心、高分辨观测、不受使用波长严格限制的光学性质。但系统中含有一片抛物反射面、一片双曲面反射面、一片高次非球面、一片凹椭球面，对于加工检测存在较大难度，同时该光学系统口径较大导致体积过大，较小的视场导致在物距不大时观测视场范围过小。
上述专利中的成像设备在有限物距发生变化时，某一视场的入射光在像面成像能量质心位置将发生变化，同时复杂的结构将占用较大的空间体积，空间适应性未知，其自身重量带来的发射成本也将会相应增加。因此发明一种大视场、，体积小巧、占用空间少、有限物距变化下全视场成像质心位置稳定、适应温度变化大的近红外飞行器姿态位置测量物镜系统是亟待解决的问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种近红外飞行器姿态位置测量物镜系统。本发明的技术方案在于:近红外飞行器姿态位置测量物镜系统，自左至右同轴设置:平板滤波片、前镜组、后镜组和CCD ;所述前镜组从左至右依次为第一正弯月透镜、第二正弯月透镜、第三负弯月透镜；所述后镜组从左至右依次为第一正弯月透镜、第二负弯月透镜、第三正弯月透镜、第一双凸透镜、第二双凸透镜；所述前镜组和后镜组中的透镜均为球面镜；信号光经过平板滤波片、前镜组和后镜组后成像在CXD上。本发明的优点在于:1、该物镜系统可以克服用CXD对不同距离目标飞行器跟踪捕捉存在的成像缺陷，该物镜系统具有大视场、大相对孔径、0.5 130m物距范围内各视场信号光在像面位置稳定，常温下(20°C)各视场绝对畸变小于Ιμπι，-70°C +70°C、0.5 130m物距范围内各视场信号光绝对畸变小于±1.5 μ m,弥散圆几何形状中心对称、能量集中度好；2、光学兀件径向尺寸小,最大通光直径小于17mm ;结构紧凑，光学总长小于41mm;重量轻，光学总重量小于11.4g，重量小，空间占有体积小，节约发射成本、节省安装空间；3、系统采用9片透镜(I个平板透镜，6个正弯月透镜，2个双凸透镜)，没有采用非球面光学表面，没有采用衍射元件，制造、检测难度大大降低；4、全系统无胶合面，没有采用特种光学玻璃，环境温度变化较大情况下绝对畸变变化量较小，弥散圆能量集中度较好、定焦距的设计使其空间工作可靠性高；5、全视场内无渐晕，各视场信号光在像面成像照度均匀性好。
图1:本发明近红外飞行器姿态位置测量物镜系统光路结构示意图。图2:本发明近红外飞行器姿态位置测量物镜系统在850nm波长光源下0.5m物距
畸变图。图3:本发明近红外飞行器姿态位置测量物镜系统在850nm波长光源下Im物距畸变图。图4:本发明近红外飞行器姿态位置测量物镜系统在850nm波长光源下150m物距
畸变图。图5:本发明近红外飞行器姿态位置测量物镜系统在850nm波长光源下0.5m物距弥散圆几何分布图。图6:本发明近红外飞行器姿态位置测量物镜系统在850nm波长光源下Im物距弥散圆几何分布图。图7:本发明近红外飞行器姿态位置测量物镜系统在850nm波长光源下150m物距弥散圆几何分布图。图8:本发明近红外飞行器姿态位置测量物镜系统在850nm波长光源下0.5m物距弥散圆能量分布图。图9:本发明近红外飞行器姿态位置测量物镜系统在850nm波长光源下Im物距弥散圆能量分布图。图10:本发明近红外飞行器姿态位置测量物镜系统在850nm波长光源下150m物距弥散圆能量分布图。
具体实施例方式下面结合附图对本发明的做进一步详细说明。如图1所示，近红外飞行器姿态位置测量物镜系统，自左至右同轴设置:平板滤波片1、前镜组2、后镜组3和(XD4 ;前镜组2从左至右依次为第一正弯月透镜2-1、第二正弯月透镜2-2、第三负弯月透镜2-3 ;后镜组3从左至右依次为第一正弯月正弯月透镜3-1、第二负弯月透镜3-2、第三正弯月正弯月透镜3-3、第一双凸透镜3-4、第二双凸透镜3-5 ;前镜组2和后镜组3中的透镜均为球面镜；信号光经过平板滤波片1、前镜组2和后镜组3后成像在(XD4上。以上透镜的光学参数如下:表1:
权利要求
1.近红外飞行器姿态位置测量物镜系统，其特征是，自左至右同轴设置:平板滤波片(I)、前镜组(2)、后镜组(3)和CXD (4);所述前镜组(2)从左至右依次为第一正月牙透镜(2-1)、第二正月牙透镜(2-2)、第三正月牙透镜(2-3);所述后镜组(3)从左至右依次为第一负月牙透镜(3-1)、第二负月牙透镜(3-2 )、第三负月牙透镜(3-3 )、第一双凸透镜(3-4)、第二双凸透镜(3-5);所述前镜组(2)和后镜组(3)中的透镜均为球面镜；光经过平板滤波片(I)、前镜组(2)和后镜组(3)后成像在CXD (4)上；以上透镜的光学参数如下:
2.根据权利要求1所述的一种近红外飞行器姿态位置测量物镜系统，其特征在于，所述平板滤波片(I)左边同轴设置平板玻璃，作为该物镜系统的保护玻璃。
3.根据权利要求1所述的一种近红外飞行器姿态位置测量物镜系统，其特征在于，所述平板滤波透镜(1-2)前后表面镀制减反射膜。
4.根据权利要求1所述的近红外飞行器姿态位置测量物镜系统，其特征在于，所述第一正月牙透镜(2-1)为正光焦度，第二正月牙透镜(2-2)为负光焦度、第三正月牙透镜(2-3)为正光焦度。
5.根据权利要求1所述的近红外飞行器姿态位置测量物镜系统，其特征在于，所述CCD(4)左边同轴设置平板玻璃，作为CXD (4)的保护玻璃。
6.根据权利要求1所述的近红外飞行器姿态位置测量物镜系统，其特征在于，该物镜系统适用波段0.79 0.88μπι，全视场2ω彡32°，焦距f' =20_，相对孔径:D/f' =1/2.85，分辨率在全视场0.5 150m，全波段绝对畸变小于1.5 μ m，色偏差< 0.5 μ m，工作温度:-70°C +70°C。
全文摘要
近红外飞行器姿态位置测量物镜系统，属于光学系统设计领域，该物镜系统自左至右同轴设置平板滤波片、前镜组、后镜组和CCD；前镜组从左至右依次为第一正弯月透镜、第二正弯月透镜、第三正弯月透镜；后镜组从左至右依次为第一负弯月透镜、第二负弯月透镜、第三负弯月透镜、第一双凸透镜、第二双凸透镜；前镜组和后镜组中的透镜均为球面镜；光经过平板滤波片、前镜组和后镜组后成像在CCD上，该物镜系统适用波段0.79～0.88μm，全视场2ω≥32°，焦距f′=20mm，相对孔径D/f′=1/2.85，分辨率在全视场0.5～150m，全波段绝对畸变小于1.5μm，色偏差≤0.5μm，工作温度-70℃～+70℃。
文档编号G02B13/00GK103207443SQ20131009488
公开日2013年7月17日 申请日期2013年3月22日 优先权日2013年3月22日
发明者刘伟奇, 吕博, 张大亮, 姜珊, 康玉思 申请人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所