一种用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法及装置制造方法
【专利摘要】本发明实施例公开了一种用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法，包括步骤：给待测液晶模组提供Flicker画面；利用一测量头扫描液晶模组，将液晶模组的亮度转换成电压信号，获得液晶模组的模拟亮度波形信号；接收测量头输出的模拟亮度波形信号，并转换成数字亮度波形信号；对数字亮度波形信号进行傅里叶变换，获得特定频率波的幅值；通过特定频率波的幅值，获得所述液晶模组的Flicker闪烁值。本发明实施例还公开了相应的测量装置。实现本发明，可以实时测量得到的液晶模组的Flicker闪烁值，以便对Vcom进行调整，从而提高液晶模组产品的品质。
【专利说明】—种用于测量液晶模组Fl icker闪烁值的方法及装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid CrystalDisplay, TFT-1XD)的测量技术，特别涉及一种用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法及
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【背景技术】
[0002]在液晶面板的使用过程中，由于公共电极信号(Vcom)的极性切换会产生水平的条纹的闪烁现象，我们一般称之为Flicker现象。其中，Flicker闪烁值的数值大小，也直接反应了液晶面板的品质可靠性。通常Flicker闪烁值的数值越小，液晶面板产生图像残留(Image Sticking, IS)的风险越小，反之则风险越大。所以，如何测量Flicker闪烁值的数值大小以及控制Flicker闪烁值在预定范围之内是在液晶面板的设计及制造过程中需要面临的问题。
[0003]现有的技术中，对Flicker闪烁值进行测量通常采用诸如:FMA方法、JEITA方法以及VESA方法。现有的这几种测量方法的共同点是，用Flicker去反应人眼对闪烁的直观感受。FM方法用亮度变化的交流分量比直流分量代表Flicker ;而JEITA方法和VESA方法则是用FFT分频计量闪烁各频率的分贝值，再对全频谱积分或找到最大分贝值。这些方法虽然能够对人眼对闪烁的观察进行量化分析，但是并不能直接表示Vcom极性切换造成的Flicker现象。而且往往由于其他因素的影响，比如背光的闪烁、地线不稳定等因素导致测得的Flicker值不能准确反映Vcom偏移程度。
【发明内容】
[0004]本发明所要解决的技术问题在于，提供一种用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法及装置，可以实时测量得到的液晶模组的Flicker闪烁值，以便对公共电极进行调整，从而提闻液晶1旲组广品的品质。
[0005]为了解决上述技术问题，本发明的实施例的一方面提供一种用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法,包括如下步骤:
给所述待测液晶模组提供Flicker画面；
利用一测量头扫描所述液晶模组，将所述液晶模组的亮度转换成电压信号，获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号；
接收所述测量头输出的模拟亮度波形信号，并转换成数字亮度波形信号；
对所述数字亮度波形信号进行傅里叶变换，获得特定频率波的幅值；
通过所述特定频率波的幅值，获得所述液晶模组的Flicker闪烁值。
[0006]其中，所述利用一测量头，扫描所述液晶模组，将所述液晶模组的度转换成电压信号，获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号的步骤包括:
利用至少一个光电二极管获得所述液晶模组的亮度信号；
利用放大电路对所述亮度信号进行放大；将所述至少一个放大后的亮度信号取平均值，获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号。
[0007]其中，其特征在于，所述特定频率为所述液晶模组当前公共电极信号的切换频率。
[0008]其中，所述通过所述特定频率波的幅值，获得所述液晶模组的Flicker闪烁值的步骤具体为:
通过下述公式计算所述液晶模组的Flicker闪烁值:
【权利要求】
1.一种用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法，其特征在于，包括如下步骤: 给待测液晶模组提供Flicker画面； 利用一测量头扫描所述液晶模组，将所述液晶模组的亮度转换成电压信号，获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号； 接收所述测量头输出的模拟亮度波形信号，并转换成数字亮度波形信号； 对所述数字亮度波形信号进行傅里叶变换，获得特定频率波的幅值； 通过所述特定频率波的幅值，获得所述液晶模组的Flicker闪烁值。
2.如权利要求1所述的用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法，其特征在于，所述利用一测量头扫描所述液晶模组，将所述液晶模组的度转换成电压信号，获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号的步骤包括: 利用至少一个光电二极管获得所述液晶模组的亮度信号； 利用放大电路对所述亮度信号进行放大； 将所述至少一个放大后的亮度信号取平均值，获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号。
3.如权利要求1所述的用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法，其特征在于，所述特定频率为所述液晶模组当前公共电极信号的切换频率。
4.如权利要求3所述的用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法，其特征在于，所述通过所述特定频率波的幅值，获得所述液晶模组的Flicker闪烁值的步骤具体为: 通过下述公式计算所述液晶模组的Flicker闪烁值:
5.如权利要求1-4任一项所述的用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法，其特征在于，进一步包括: 根据所述计算出来的液晶模组的Flicker闪烁值，向所述液晶模组发送参数调节命令，以调节所述液晶模组当前公共电极信号的参数，以使所述液晶模组的Flicker闪烁值符合预定目标。
6.一种用于测量液晶模组Flicker闪烁值的装置，其特征在于，包括: 测量头，用于扫描提供有Flicker画面的待测液晶模组，将所述液晶模组的亮度转换成电压信号，获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号； 模数转换装置，接收所述测量头输出的模拟亮度波形信号，并转换成数字亮度波形信号; 傅里叶变换装置，对所述数字亮度波形信号进行傅里叶变换，获得特定频率波的幅值； 计算装置，用于根据所述傅里叶变换装置获得的所述特定频率波的幅值，计算获得所述液晶模组的Flicker闪烁值。
7.如权利要求6所述的用于测量液晶模组Flicker闪烁值的装置，其特征在于，所述测量头进一步包括: 至少一个光电二极管，用于获得所述液晶模组的亮度信号； 放大电路，与所述至少一个光电二极管电连接，用于对所述至少一个光电二极管所获得的亮度信号进行放大； 测量子单元，用于将所述至少一个放大后的亮度信号取平均值，获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号。
8.如权利要求7所述的用于测量液晶模组Flicker闪烁值的装置，其特征在于，所述特定频率为所述液晶模组当前公共电极信号的切换频率。
9.如权利要求8所述的用于测量液晶模组Flicker闪烁值的装置，其特征在于，所述测量处理装置通过下述公式计算所述液晶模组的Flicker闪烁值:
10.如权利要求6-9任一项所述的用于测量液晶模组Flicker闪烁值的装置，其特征在于，进一步包括: Flicker画面提供装置44，用于向液晶模组I提供Flicker画面；或/以及 参数调整装置，用于根据所述计算出来的液晶模组的Flicker闪烁值，向所述液晶模组发送参数调节命令，以调节所述液晶模组当前公共电极信号的参数，以使所述液晶模组的Flicker闪烁值符合预定目标。
【文档编号】G02F1/13GK103676231SQ201310550178
【公开日】2014年3月26日 申请日期:2013年11月8日 优先权日:2013年11月8日
【发明者】戴叶, 康志聪 申请人:深圳市华星光电技术有限公司