一种测试装置及测试方法与流程

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种测试装置及测试方法。

背景技术：

在显示技术领域，保护盖板设置在液晶模组上以保护显示面板，现已广泛地应用到显示产品上，尤其是具有触控功能的显示产品。

如图1所示，液晶模组包括保护盖板01，用于固定保护盖板01和彩色滤光片03的OCA胶(一种具有光学透明特性的特殊双面胶)02，与保护盖板01相对设置的阵列基板04，设置在保护盖板01朝向阵列基板04的侧面上的柔性电路板06以及设置在阵列基板04朝向保护盖板01的侧面上的ET Pad(测试点)05，由于ET Pad 05位于彩色滤光片03靠近柔性电路板06的一侧，在完成保护盖板01的贴合之后，显示面板在TFT(薄膜晶体管)侧的ET走线(测试走线)被保护盖板01覆盖，导致在后续解析产品不良时，阵列基板04上的ET Pad 05和ET走线不能直接用探针进行测试，在现有技术中，需要将保护盖板01拆除以进行测试，但是这种测试方式需要在客户的授权下才能够进行，测试人员在拆除保护盖板01之前并不能对产品的失效原因做出初步的判断，而且在保护盖板01拆除的过程中极可能损坏液晶模组，且无法保留不良样品，解析效率较低。

技术实现要素：

本发明提供一种测试装置及测试方法，该测试装置在不拆除保护盖板的情况下能够完成对待测试的液晶模组的测试，进而避免了拆除过程中对液晶模组造成损害，能够完整地保留客户不良样品，提高解析效率。

为达到上述目的，本发明提供以下技术方案：

一种测试装置，用于对待测试的液晶模组进行测试，包括：

基台；

设置在基台上的至少一个测试模块，所述测试模块包括与所述液晶模组的阵列基板上的测试点一一对应的测试探针，在测试时所述测试探针伸入所述液晶模组的阵列基板和保护盖板之间与对应的所述测试点相接触；

显示模块，所述显示模块与所述测试探针相连接，用于接收并显示测试探针发送的测试信号。

在上述测试装置对待测试的液晶模组进行测试时，测试探针伸入液晶模组的阵列基板和保护盖板之间并与对应的与测试点相接触以对测试点进行测试，测试探针将测试点的测试信号发送到显示模块，显示模块将接收到的测试信号在其显示屏幕上显示，以便于测试人员对测试信号进行分析，上述测试装置对待测试的液晶模组进行测试时，不需要将保护盖板从液晶模组中拆除就可以完成对测试点的测试，进而避免了拆除过程中对液晶模组造成损害，减少了对液晶模组的损伤，能够完整地保留客户不良样品，提高解析效率。

优选地，所述测试模块还包括伸入板、测试光源以及测试杆，所述伸入板固定在所述基台上，且所述伸入板凸出所述基台边缘的部分设有所述测试光源，所述测试杆可移动地安装在所述基台上，且所述测试杆位于所述伸入板背离所述基台的一侧，所述测试杆的延伸方向平行于所述伸入板所在平面，且所述测试杆的末端设有所述测试探针。

优选地，所述基台上设有滑轨，所述测试杆滑动安装在所述滑轨上。

优选地，所述测试光源为灯条。

优选地，所述伸入板上设有安装孔，所述灯条安装在所述安装孔内。

优选地，所述显示模块为示波器，所述示波器与所述测试探针通过信号连接线相连。

一种测试方法，包括：

去除液晶模组的背光；

确定液晶模组的保护盖板位于阵列基板的下方，且所述保护盖板背离所述阵列基板的一面与基台的底面平行；

将测试探针伸入液晶模组的阵列基板和保护盖板之间对对应的测试点进行测试；

显示模块接收并显示测试探针所发送的测试信号。

优选地，所述将测试探针伸入液晶模组的阵列基板和保护盖板之间对对应的测试点进行测试，具体包括：

移动基台，以使伸入板插入所述液晶模组的阵列基板和保护盖板之间；

点亮测试光源；

测试杆伸入测试点背离阵列基板的一侧；

测试探针与测试点相接触。

优选地，所述测试杆伸入测试点背离阵列基板的一侧，具体包括：测试杆沿安装在基台上的滑轨滑动。

附图说明

图1为本发明背景技术中提供的一种液晶模组的结构示意图；

图2为本发明提供的一种测试装置的结构示意图；

图3为本发明提供的一种测试装置测试时测试装置与待测试液晶模组所组成模块的结构示意图；

图4为本发明提供的一种测试方法的流程图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

如图2以及图3所示，一种测试装置，用于对待测试的液晶模组5进行测试，包括：

基台1；

设置在基台1上的至少一个测试模块2，测试模块2包括与液晶模组5的阵列基板51上的测试点53一一对应的测试探针23，在测试时测试探针23伸入液晶模组5的阵列基板51和保护盖板52之间与对应的测试点53相接触；

显示模块3，显示模块3与测试探针23相连接，用于接收并显示测试探针23发送的测试信号。

在上述测试装置对待测试的液晶模组5进行测试时，测试探针23伸入液晶模组5的阵列基板51和保护盖板52之间并与对应的测试点53相接触以对测试点53进行测试，测试探针23将测试点53的测试信号发送到显示模块3，显示模块3将接收到的测试信号在其显示屏幕上显示，以便于测试人员对测试信号进行分析，上述测试装置对待测试的液晶模组5进行测试时，不需要将保护盖板52从液晶模组5中拆除就可以完成对测试点53的测试，进而避免了拆除过程中对液晶模组5造成损害，减少了对液晶模组5的损伤，能够完整地保留客户不良样品，提高解析效率。

一种优选实施方式中，如图2以及图3所示，测试模块2还包括伸入板21、测试光源22以及测试杆24，伸入板21固定在基台1上，且伸入板21凸出基台1边缘的部分设有测试光源22，测试杆24可移动地安装在基台1上，且测试杆24位于伸入板21背离基台1的一侧，测试杆24的延伸方向平行于伸入板21所在平面，且测试杆24的末端设有测试探针23。

在上述测试装置对待测试的液晶模组5进行测试时，去除液晶模组5的背光，将保护盖板52朝下放置，移动基台1使得伸入板21凸出基台1边缘的部分插入阵列基板51和保护盖板52之间，点亮设置在伸入板21凸出基台1边缘部分的测试光源22以便于定位测试点53的位置，然后测试杆24相对基台1移动以使位于测试杆24末端的测试探针23伸入液晶模组5的阵列基板51和保护盖板52之间，测试探针23与对应的测试点53相接触以对测试点53进行测试，上述测试装置对待测试的液晶模组5进行测试时，不需要将保护盖板52从液晶模组5中拆除就可以完成对测试点53的测试，进而避免了拆除过程中对液晶模组5造成损害，而且通过机械连接及传动的方式能够方便且可靠地对待测试的液晶模组5进行测试。

在上述测试装置的基础上，为了能够更好地实现测试杆24相对于基台1的运动，具体地，如图2以及图3所示，基台1上设有滑轨25，测试杆24滑动安装在滑轨25上，测试杆24沿滑轨25滑动，以使位于测试杆24末端的测试探针23伸入液晶模组5的阵列基板51和保护盖板52之间，测试探针23与对应的测试点53相接触以对测试点53进行测试，滑轨25保证了测试探针23能够沿着设定的轨迹运动，使得测试杆24以及测试探针23的运动较为稳定。

具体地，测试光源22可以为灯条，灯条作为一种冷光源，发热低微，对液晶模组5的影响较小，且绿色环保，损耗较低；根据测试装置以及待测试的液晶模组5的具体情况，测试光源22还可以为其他合适的光源形式。

具体地，伸入板21上设有安装孔，灯条安装在安装孔内，将灯条设置在伸入板21的安装孔内使得测试模块2的尺寸较为紧凑，进而保证了伸入板21以及测试探针23能够顺畅地进入液晶模组5的阵列基板51和保护盖板52之间。

一种优选实施方式中，显示模块3为示波器，示波器与测试探针23通过信号连接线4相连，测试探针23通过与对应的测试点53相接触以获得测试信号，并将测试信号通过信号连接线4传送至示波器，示波器将测试信号转换成图像，以便于测试人员分析研究，示波器作为一种用途十分广泛的电子测量仪器能够较为方便地将看不到的测试信号转换成能够分析研究的图像，根据测试装置的具体情况和测试环境，显示模块3还可以为其他合适的显示装置。

如图4所示，一种测试方法，包括：

步骤S401，去除液晶模组5的背光；

步骤S402，确定液晶模组5的保护盖板52位于阵列基板51的下方，且保护盖板52背离阵列基板51的一面与基台1的底面平行；

步骤S403，将测试探针23伸入液晶模组5的阵列基板51和保护盖板52之间对对应的测试点53进行测试；

步骤S404，显示模块3接收并显示测试探针23所发送的测试信号。

在上述测试方法中，通过步骤S401保证在测试装置在测试时具有唯一的照明光源，通过步骤S402将保护盖板52向下放置以方便测试装置对液晶模组5进行测试，在步骤S403中测试探针23对对应的测试点53进行测试并通过步骤S404显示该测试信号，上述测试方法简单易实现，而且在测试时不需要去除保护盖板52，减少了对液晶模组5的损伤，提高了解析效率。

在上述测试方法的基础上，一种优选实施方式中，将测试探针23伸入液晶模组5的阵列基板51和保护盖板52之间对对应的测试点53进行测试，具体包括：

移动基台1，以使伸入板21插入液晶模组5的阵列基板51和保护盖板52之间；

点亮测试光源22；

测试杆24伸入测试点53背离阵列基板51的一侧；

测试探针23与测试点53相接触。

在对待测试的液晶模组5进行测试时，移动基台1使得伸入板21插入阵列基板51和保护盖板52之间，点亮设置在伸入板21凸出基台1边缘部分的测试光源22便于定位测试点53的位置，测试杆24伸入测试点53背离阵列基板51的一侧以使测试探针23与对应的测试点53相接触以对测试点53进行测试，上述测试方法简单易实现，能够方便且可靠地对待测试的液晶模组5进行测试。

具体地，测试杆24伸入测试点53背离阵列基板51的一侧，具体包括：测试杆24沿安装在基台1上的滑轨25滑动，滑轨25保证了测试探针23能够沿着设定的轨迹运动，使得测试杆24以及测试探针23的运动较为稳定。

显然，本领域的技术人员可以对本发明实施例进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。