1.一种光斩波器，其特征在于：使用电机调制，其斩光盘由圆柱的底面和侧面构成，圆柱的底面和侧面分别分布有通光孔，当该光斩波器绕圆柱轴转动的时候，可以同时对垂直于圆柱底面和侧面的光路进行斩光控制。
2.如权利要求1所述的光斩波器，其特征在于，圆柱型斩光盘的侧面和底面可以拆开、重新组合。
3.一种测量延迟发光的方法，其特征在于，使用如权利要求1所述的斩波器；
其中有两条光路：光路一是激发光照射样品的光路，光路二是探测器探测样品发光的光路；
将样品放置于合适的位置，使两条光路不分先后，分别经过圆柱式斩波器的侧面和底面，当斩波器绕圆柱的轴转动时，其侧面和底面可以分别对两条光路进行斩光，对光路一的斩光相当于把稳态光源转变成脉冲光源；对光路二的斩光相当于探测器快门的开合，两次斩光就实现了脉冲信号发生和延迟探测的协同控制。
4.如权利要求1所述的斩波器用于荧光光谱仪或荧光成像装置中，
其特征在于：该装置除含有如权利要求1所述的斩波器外，还含有光源、探测器、样品架或样品室；此外，该装置的光路为：光源发出的光经过斩波器的侧面或底面，作为激发光照射样品，然后样品的光经过斩波器的底面或侧面，到达探测器。
5.如权利要求1所述的斩波器用于延迟发光的成像装置中，其特征在于：激发光经过圆柱式斩波器201的侧面转变为脉冲光源，再经过二向色镜204反射，经过物镜205后照射样品台206中的样品207，样品发光依此经过物镜205、二向色镜204，再经过斩波器的底面、透镜208后到达探测器209。
6.如权利要求4或5所述的任意一种装置，光路上还含有一种或几种附加的部件，这些附加的部件选自狭缝、光栅、透镜、滤光片、分光片、衰减片、二向色镜、棱镜、反光镜和光纤。