1.一种对位标记，用于测试两层膜层图形的位移偏差，其特征在于，所述对位标记包括两组标记，每组标记由不同膜层形成，每组标记包括至少一个圆形的子标记。
2.如权利要求1所述的对位标记，其特征在于，每组标记包括至少两组子标记，每组子标记包括两个相对设置的圆形的子标记，每组子标记中的两个子标记的圆心之间的连线与其他组子标记中的两个子标记的圆心之间的连线相交于一交点。
3.如权利要求1所述的对位标记，其特征在于，每个所述子标记的直径为3微米至8微米。
4.如权利要求2所述的对位标记，其特征在于，其中一组标记中的每组子标记中相对设置的两个子标记之间的距离为15微米至25微米。
5.如权利要求4所述的对位标记，其特征在于，所述至少两组标记中除所述其中一组标记之外的其他组标记中，每组子标记中相对设置的两个子标记之间的距离为30微米至40微米。
6.如权利要求2所述的对位标记，其特征在于，每组子标记中的两个子标记关于所述交点中心对称。
7.一种显示基板，其特征在于，所述显示基板上设置有至少一个如权利要求1至6中任一项所述的对位标记。
8.一种显示装置，其特征在于，所述显示装置包括权利要求7所述的显示基板。