测试走线结构、测试装置及测试系统的制作方法

本申请涉及显示技术领域，特别是涉及一种测试走线结构、测试装置及测试系统。

背景技术：

随着液晶显示技术的飞速发展，人们对液晶显示面板的画面质量要求也越来越高。为了保证液晶显示面板的显示质量，往往需要对生产完成的液晶显示面板的画面进行点灯测试(Power Up Test)，即将带有探针的压头压合到液晶显示面板上，使得探针与液晶显示面板的信号输入点接触，进而输入相应的测试信号点亮液晶显示面板进行测试，判断液晶显示面板是否显示正常。

传统的点灯测试方法每对一个液晶显示面板进行测试时，都需要对测试垫 (Pad)进行一次扎针处理，这个过程会花费较多的时间，当同时对大量液晶显示面板进行测试时，测试时间过长。因此，传统的点灯测试方法具有测试效率低的缺点。

技术实现要素：

基于此，有必要针对传统的点灯测试方法测试效率低的问题，提供一种测试走线结构、测试装置及测试系统。

一种测试走线结构，包括：信号走线，所述信号走线依次级联；每一所述信号走线均包括第一接口、第二接口和级联接口，所述第一接口与所述第二接口分别位于所述信号走线的两端，所述级联接口设置于所述信号走线，且位于所述第一接口与所述第二接口之间；所述依次级联的信号走线中上一级信号走线的第一接口和第二接口分别与下一级信号走线中对应信号走线的级联接口连接，且第一级信号走线的级联接口用于连接测试垫，最后一级信号走线的第一接口和第二接口分别用于连接对应的显示面板。

在一个实施例中，所述信号走线的级数为两级，所述最后一级信号走线包括第一末级信号走线和第二末级信号走线，所述第一末级信号走线的第一接口、所述第一末级信号走线的第二接口、所述第二末级信号走线的第一接口和所述第二末级信号走线的第二接口分别用于连接对应的显示面板，所述第一级信号走线的第一接口连接所述第一末级信号走线的级联接口，所述第一级信号走线的第二接口连接所述第二末级信号走线的级联接口。

在一个实施例中，所述级联接口均位于所述信号走线的二分之一电阻位置。

在一个实施例中，所述信号走线均包括三条信号线。

一种测试装置，所述装置包括：上述的测试走线结构，探针，所述探针设置于所述最后一级信号走线的第一接口和第二接口，所述最后一级信号走线通过所述探针连接对应的显示面板；测试垫，所述测试垫设置于所述第一级信号走线的连接接口。

在一个实施例中，所述测试垫包括微控单元、处理单元和信号转换芯片，所述微控单元连接所述处理单元，所述处理单元连接所述信号转换芯片，所述信号转换芯片连接所述第一级信号走线的级联接口。

在一个实施例中，所述处理单元为现场可编程门阵列。

在一个实施例中，所述装置还包括基板，所述测试垫、所述探针和所述测试走线结构固定设置于所述基板。

在一个实施例中，所述基板为玻璃基板。

一种测试系统，所述系统包括上述任一项所述测试装置以及显示面板，所述测试装置通过所述探针分别连接对应的所述显示面板。

上述测试走线结构、测试装置及测试系统，测试走线包括依次级联的信号走线，通过将依次级联的信号走线中上一级信号走线的第一接口和第二接口分别与下一级信号走线中对应信号走线的级联接口连接，且最后一级信号走线的第一接口和最后一级信号走线第二接口分别连接不同的显示面板，第一级信号走线的级联接口连接测试垫；从而能够通过最后一级信号走线采集显示面板的相应数据，经过级联测试走线的第一级信号走线的级联接口发送到测试垫，然后通过测试点完成对应的点灯测试操作。通过上述测试走线结构、测试装置及测试系统，只需采用一个测试垫就能够完成多个显示面板的点灯测试，在测试过程中不需要重复进行测试垫的扎针动作，在进行多个显示面板的点灯测试时，与传统的点灯测试方法相比较，能够有效地缩短扎针时间，从而有效地提高了点灯测试的效率。

附图说明

图1为一实施例中测试走线结构示意图；

图2为一实施例中信号走线接口示意图；

图3为另一实施例中测试走线结构示意图；

图4为一实施例中测试装置结构示意图。

具体实施方式

为了便于理解本申请，下面将参照相关附图对本申请进行更全面的描述。附图中给出了本申请的较佳的实施例。但是，本申请可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本申请的公开内容的理解更加透彻全面。

请参阅图1，一种测试走线结构，包括：依次级联的信号走线100，每一信号走线100均包括位于信号走线100两端的第一接口和第二接口，以及设置于信号走线100上的级联接口，依次级联的信号走线100中上一级信号走线的第一接口和第二接口分别与下一级信号走线中对应信号走线的级联接口连接，且第一级信号走线110的级联接口用于连接测试垫200，最后一级信号走线120的第一接口和第二接口分别用于连接对应的显示面板300。

具体地，点灯测试是指在显示面板生产完成之后对显示面板的显示画面进行点亮测试，判断其是否显示正常的一种方法，在保证显示面板的显示可靠性方面具有很好的效果。在进行显示面板300的点灯测试时，往往是采用一组测试垫200，逐一对显示面板300进行点亮测试，并且在测试过程中，每切换一次显示面板300，就要对测试垫200进行一次扎针处理，以保证测试垫200能够对相应的显示面板300进行点灯测试。这种测试方法仅适用于少量显示面板300的点灯测试，但是，往往在同一基板上会切割划分为较多个数的显示面板300进行点灯测试，若每进行一次测试都进行一次测试垫200的扎针处理，将会花费大量的时间，导致点灯测试的效率很低。请参阅图2，以与测试垫200相连的第一级信号走线110为例，第一级信号走线110具有位于信号走线两端的第一接口112和第二接口113，以及位于信号走线上的级联接口111，每一信号走线100 均有与第一级信号走线110相同的三个连接口。本方案通过依次级联的信号走线100，将依次级联的信号走线100中上一级信号走线的第一接口和第二级口分别与下一级信号走线中对应的信号走线的级联接口相连，第一级信号走线110的级联接口用于连接测试垫200，最后一级信号走线120的第一接口和第二接口分别用于连接对应的显示面板300。可以理解，将用于连接测试垫200的信号走线作为第一级信号走线110，用于连接显示面板300的信号走线作为最后一级信号走线120；上一级信号走线和下一级信号走线是相对的，在相邻的两级信号走线 100中，将与测试垫200相对较近的一条信号走线100作为上一级信号走线，与显示面板300相对较近(即与测试垫200相对较远)的信号走线100作为下一级信号走线。

应当指出的是，依次级联的信号走线100的每一级信号走线100的数量从第一级到最后一级是依次递增的，上一级信号走线的两个接口分别连接下一级信号走线中两条不同信号走线的级联接口，因此可以理解为第一级信号走线110 的数量为1条(即2⁰条)，对应的后边级数的信号走线100的数量依次为2条 (即2¹条)、4条(即2²条)、8(即2³条)条……相应的第n级信号(即最后一级信号走线120)走线的数量为2^n-1条，第n级信号走线的第一接口和第二接口分别对应连接2ⁿ个显示面板300。综上所述，采用上述信号走线100的设计方法，可以根据设计n级依次级联的信号走线100，实现通过一组测试垫200对2ⁿ个显示面板300的点灯测试，在测试过程中，仅需要对测试垫200进行一次扎针处理，大大的缩短了对大量显示面板300的点灯测试时间，有效地提高了点灯测试的效率。

在一个实施例中，请参阅图3，信号走线100的级数为两级，最后一级信号走线120包括第一末级信号走线121和第二末级信号走线122，第一末级信号走线121的第一接口、第一末级信号走线121的第二接口、第二末级信号走线122 的第一接口和第二末级信号走线122的第二接口分别用于连接对应的显示面板 300，第一级信号走线110的第一接口连接第一末级信号走线121的级联接口，第一级信号走线110的第二接口连接第二末级信号走线122的级联接口。

具体地，以两级信号走线100为例，对应的第一级信号走线110作为最后一级信号走线120的上一级信号走线，最后一级信号走线120作为第一级信号走线110的下一级信号走线。因此，第一级信号走线110的级联接口用于与测试垫200相连，第一级信号走线110的第一接口与最后一级信号走线120中第一末级信号走线121的级联接口相连，第一级信号走线110的第二接口与最后一级信号走线120中第二末级信号走线122的级联接口相连，第一末级信号走线121的第一接口和第二接口、第二末级信号走线122的第一接口和第二接口分别连接不同的显示面板300。通过两级信号走线100的布局，能够采用一组测试垫200实现四个显示面板300的点灯测试，具有操作便利性高的优点。可以理解，在其它实施例中，信号走线100还可以是其它级数，对应的采用一组测试垫200实现对多个显示面板300的点灯测试，以提高点灯测试的效率。

应当指出的是，在一个实施例中，级联接口均位于信号走线100的二分之一电阻位置。具体地，在进行点灯测试时，为了保证点灯测试结果的准确性，通过将级联接口设置于信号走线100的二分之一电阻位置，即通过该点可以将一条信号走线100分为阻值相等的两段信号走线100，使得各个显示面板300到测试垫200的信号走线100的阻值均相同，以保证测试垫200所接收的各个显示面板300发送的相应测试信号一致。可以理解，在一个实施例中，所采用的信号走线100的材料、长度和横截面积均一致，为了保证各个显示面板300到测试垫200的信号走线100的阻值均相同，只需要级联接口设置于每一信号走线100 的中点即可，具有操作简单的优点。在其它实施例中，还可以是采用其它方式确定每一信号走线100的二分之一电阻位置，比如通过软件模拟的方式，所得到的二分之一电阻位置具有准确性高的优点。

在一个实施例中，信号走线100均包括三条信号线。具体地，每一信号走线100均包括三条不同的信号线，分别为测试垫200提供不同的测试信号。在一个实施例中，三条信号线分别为红色信号线、绿色信号线和蓝色信号线，分别测试垫200提供显示面板300红色像素单元、绿色像素单元和蓝色像素单元的灰阶电压、数据信号等。此时，各个信号走线100中的红色信号线与红色信号线对应连接、绿色信号线和绿色信号线对应连接、蓝色信号线和蓝色信号线对应连接，即上一级信号走线中的红色信号线的第一接口和第二接口分别连接下一级信号走线中对应红色信号线的级联接口，上一级信号走线中的绿色信号线的第一接口和第二接口分别连接下一级信号走线中对应绿色信号线的级联接口，上一级信号走线中的蓝色信号线的第一接口和第二接口分别连接下一级信号走线中对应绿色信号线的级联接口。可以理解，在其它实施例中，信号走线100中信号线的数量还可以是其它，对应的输出至测试垫200的测试信号也不一致，但各个信号线在不同级之间的连接关系都类似，以实现同一测试垫200对多个显示面板300的点灯测试。

上述测试走线结构包括依次级联的信号走线，通过将依次级联的信号走线中上一级信号走线的第一接口和第二接口分别与下一级信号走线中对应信号走线的级联接口连接，且最后一级信号走线的第一接口和最后一级信号走线第二接口分别连接不同的显示面板，第一级信号走线的级联接口连接测试垫；从而能够通过最后级信号走线采集显示面板的相应数据，经过级联测试走线的第一级信号走线的级联接口发送到测试垫，然后通过测试点完成对应的点灯测试操作。通过上述测试走线结构，只需采用一个测试垫就能够完成多个显示面板的点灯测试，在测试过程中不需要重复进行测试垫的扎针动作，在进行多个显示面板的点灯测试时，与传统的点灯测试方法相比较，能够有效地缩短扎针时间，从而有效地提高了点灯测试的效率。

请参阅图4，一种测试装置，包括探针400、测试垫200和结构如上述的测试走线，第一级信号走线110的接连接口连接测试垫200,最后一级信号走线120 的第一接口和第二接口均设置有探针400，最后一级信号走线120通过探针400 连接对应的显示面板300。

具体地，通过依次级联的信号走线100，将依次级联的信号走线100中上一级信号走线的第一接口和第二级口分别与下一级信号走线中对应的信号走线的级联接口相连，第一级信号走线110的级联接口连接测试垫200，最后一级信号走线120的第一接口和第二接口均分别连接有探针400，最后一级信号走线120 第一接口和第二接口分别通过探针400与对应的显示面板300相连接；在对需要对显示面板300进行点灯测试时，只需要将探针400与对应的显示面板300 压合，使探针400与显示面板300中相应的信号接触点接触，然后通过该点灯测试装置完成显示面板300的点灯测试。可以理解，将用于连接测试垫200的信号走线作为第一级信号走线110，用于连接显示面板300的信号走线作为最后一级信号走线120；上一级信号走线和下一级信号走线是相对的，在相邻的两级信号走线100中，将与测试垫200相对较近的一条信号走线100作为上一级信号走线，与显示面板300相对较近(即与测试垫200相对较远)的信号走线100 作为下一级信号走线。

应当指出的是，依次级联的信号走线100的每一级信号走线100的数量从第一级到最后一级是依次递增的，上一级信号走线的两个接口分别连接下一级信号走线中两条不同信号走线的级联接口，因此可以理解为第一级信号走线110 的数量为1条(即2⁰条)，对应的后边级数的信号走线100的数量依次为2条 (即2¹条)、4条(即2²条)、8(即2³条)条……相应的第n级信号(即最后一级信号走线120)走线的数量为2^n-1条，第n级信号走线的第一接口和第二接口分别对应连接2ⁿ个显示面板300。综上所述，采用上述信号走线100的设计方法，可以根据设计n级依次级联的信号走线100，实现通过一组测试垫200对2ⁿ个显示面板300的点灯测试，在测试过程中，仅需要对测试垫200进行一次扎针处理，大大的缩短了对大量显示面板300的点灯测试时间，有效地提高了点灯测试的效率。

进一步地，在一个实施例中，以两级信号走线为例，第一级信号走线110的级联接口用于与测试垫200相连，第一级信号走线110的第一接口与最后一级信号走线120中第一末级信号走线121的级联接口相连，第一级信号走线110 的第二接口与最后一级信号走线120中第二末级信号走线122的级联接口相连，第一末级信号走线121的第一接口和第二接口、第二末级信号走线122的第一接口和第二接口分别连接有探针400，在进行点灯测试时只需要将探针400压合到显示面板300上对应的接触点，输入测试信号即可完成相应的点灯测试。

在一个实施例中，测试垫200包括微控单元、处理单元和信号转换芯片，微控单元连接处理单元，处理单元连接信号转换芯片，信号转换芯片连接第一级信号走线110的级联接口。

具体地，微控制单元接收用于点亮显示面板300的时序信息，并且将该时序信息发送至处理单元，处理单元将处理后的时序信息以及内部产生的红、绿、蓝像素的灰阶电压、数据信号转换为晶体管-晶体管逻辑(Transistor– Transistor Logic，TTL)数字信号，并将转化为TTL数字信号的时序信息以及红、绿、蓝像素的灰阶电压、数据信号等发送至信号转换芯片，信号转换芯片将接收到的信号进一步转化为显示面板300的接口所需要的移动产业处理器接口 (Mobile Industry Processor Interface，MIPI)信号或者嵌入式显示面板300 端口(Embedded Display Port，EDP)信号发送至显示面板300，以完成显示面板 300的点灯测试。

进一步地，在一个实施例中，处理单元为现场可编程门阵列。具体地，通过现场可编程门阵列(Field－Programmable Gate Array，FPGA)用户可以自由组合以实现不同的电路功能，相对于传统的CPU、GPU等处理器具有效率更高和速度更快的优点。采用FPGA对时序信息进行处理，将处理后的时序信息和显示面板300产生的红、绿、蓝像素的灰阶电压、数据信号转换为数字信号发送至信号转换芯片进行处理，已完成对显示面板300的点灯测试操作。可以理解，在其它实施例中，处理单元还可以是其它类型的可编程器件，例如PAL(Programmable Array Logic，可编程阵列逻辑)、CPLD(Complex Programmable Logic Device，复杂可编程逻辑器件)等，只要能够实现与上述FPGA类似的功能即可。

请继续参阅图4，在一个实施例中，测试装置还包括基板500，测试垫200、探针400和测试走线固定设置于基板500。具体地，以两级信号走线100为例，将测试垫200、探针400和信号走线100均固定设置于基板500，在进行点灯测试时只需要将固定于基板500的探针400与显示面板300压合即可，通过将测试垫200、探针400和信号走线100均固定设置于基板500的方式，有利于对信号走线100进行保护，并且在点灯测试时具有操作便利性高的优点。进一步地，在一个实施例中，基板500为玻璃基板。采用玻璃基板作为基板500，将测试垫 200、探针400和信号走线100均设置于玻璃基板，以实现对显示面板300的点灯测试，具有容易实现和成本低的优点。

上述测试装置，测试走线包括依次级联的信号走线，通过将依次级联的信号走线中上一级信号走线的第一接口和第二接口分别与下一级信号走线中对应信号走线的级联接口连接，且最后一级信号走线的第一接口和最后一级信号走线第二接口分别连接不同的显示面板，第一级信号走线的级联接口连接测试垫；从而能够通过最后一级信号走线采集显示面板的相应数据，经过级联测试走线的第一级信号走线的级联接口发送到测试垫，然后通过测试点完成对应的点灯测试操作。通过上述测试装置，只需采用一个测试垫就能够完成多个显示面板的点灯测试，在测试过程中不需要重复进行测试垫的扎针动作，在进行多个显示面板的点灯测试时，与传统的点灯测试方法相比较，能够有效地缩短扎针时间，从而有效地提高了点灯测试的效率。

一种测试系统，应用于液晶显示面板，包括上述的测试装置，还包括液晶显示面板，测试装置通过探针400分别连接对应的液晶显示面板。

具体地，液晶显示面板(Liquid Crystal Display)是一种平面超薄的显示设备，它由一定数量的彩色或黑白像素组成，放置于光源或者反射面前方。液晶显示面板具有功耗很低、省电、辐射低和画面柔和的优点，在日生生活中使用广泛，液晶显示面板在生产完成时同样需要进行点灯测试，以保证液晶显示面板的显示画面正常。

在测试系统中，通过依次级联的信号走线100，将依次级联的信号走线100 中上一级信号走线的第一接口和第二级口分别与下一级信号走线中对应的信号走线的级联接口相连，第一级信号走线110的级联接口连接测试垫200，最后一级信号走线120的第一接口和第二接口均分别连接有探针400，最后一级信号走线120第一接口和第二接口分别通过探针400与对应的显示面板300相连接；在对需要对显示面板300进行点灯测试时，只需要将探针400与对应的显示面板300压合，使探针400与显示面板300中相应的信号接触点接触，然后通过该测试装置完成显示面板300的点灯测试。可以理解，将用于连接测试垫200的信号走线作为第一级信号走线110，用于连接显示面板300的信号走线作为最后一级信号走线120；上一级信号走线和下一级信号走线是相对的，在相邻的两级信号走线100中，将与测试垫200相对较近的一条信号走线100作为上一级信号走线，与显示面板300相对较近(即与测试垫200相对较远)的信号走线100 作为下一级信号走线。

应当指出的是，依次级联的信号走线100的每一级信号走线100的数量从第一级到最后一级是依次递增的，上一级信号走线的两个接口分别连接下一级信号走线中两条不同信号走线的级联接口，因此可以理解为第一级信号走线110 的数量为1条(即2⁰条)，对应的后边级数的信号走线100的数量依次为2条 (即2¹条)、4条(即2²条)、8(即2³条)条……相应的第n级信号(即最后一级信号走线120)走线的数量为2^n-1条，第n级信号走线的第一接口和第二接口分别对应连接2ⁿ个显示面板300。综上所述，采用上述信号走线100的设计方法，可以根据设计n级依次级联的信号走线100，实现通过一组测试垫200对2ⁿ个显示面板300的点灯测试，在测试过程中，仅需要对测试垫200进行一次扎针处理，大大的缩短了对大量显示面板300的点灯测试时间，有效地提高了点灯测试的效率。

上述测试系统，测试走线包括依次级联的信号走线，通过将依次级联的信号走线中上一级信号走线的第一接口和第二接口分别与下一级信号走线中对应信号走线的级联接口连接，且最后一级信号走线的第一接口和最后一级信号走线第二接口分别连接不同的液晶显示面板，第一级信号走线的级联接口连接测试垫；从而能够通过最后一级信号走线采集液晶显示面板的相应数据，经过级联测试走线的第一级信号走线的级联接口发送到测试垫，然后通过测试点完成对应的点灯测试操作。通过上述测试系统，只需采用一个测试垫就能够完成多个液晶显示面板的点灯测试，在测试过程中不需要重复进行测试垫的扎针动作，在进行多个液晶显示面板的点灯测试时，与传统的点灯测试方法相比较，能够有效地缩短扎针时间，从而有效地提高了点灯测试的效率。

应当指出的是，上述的显示面板面板可以是TN面板(全称为Twisted Nematic，即扭曲向列型面板)、IPS面板(In-Pane Switcing，平面转换)、VA 面板(Multi-domain Vertica Aignment，多象限垂直配向技术)等，当然，也可以是其他类型的面板，适用即可。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。