1.一种液晶屏导电粒子个数及偏位自动检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种液晶屏导电粒子个数及偏位自动检测方法，其特征在于，所述步骤s2中对待检测的导电粒子图像进行图像增强处理具体为：
3.根据权利要求1所述的一种液晶屏导电粒子个数及偏位自动检测方法，其特征在于，所述步骤s3中获取bump区域集合具体为：
4.根据权利要求1所述的一种液晶屏导电粒子个数及偏位自动检测方法，其特征在于，所述步骤s4中对获取的bump区域集合计算导电粒子个数具体为：
5.根据权利要求1所述的一种液晶屏导电粒子个数及偏位自动检测方法，其特征在于，所述步骤s5中计算导电粒子的偏位情况具体为：
6.一种液晶屏导电粒子个数及偏位自动检测装置，其特征在于，所述装置包括光学系统及电子设备，所述电子设备包括处理器、存储器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述装置执行以下步骤：
7.根据权利要求6所述的一种液晶屏导电粒子个数及偏位自动检测装置，其特征在于，所述步骤s2中对待检测的导电粒子图像进行图像增强处理具体为：
8.根据权利要求6所述的一种液晶屏导电粒子个数及偏位自动检测装置，其特征在于，所述步骤s3中获取bump区域集合具体为：
9.根据权利要求6所述的一种液晶屏导电粒子个数及偏位自动检测装置，其特征在于，所述步骤s4中对获取的bump区域集合计算导电粒子个数具体为：
10.根据权利要求6所述的一种液晶屏导电粒子个数及偏位自动检测装置，其特征在于，所述步骤s5中计算导电粒子的偏位情况具体为：