液晶模组1-wire写入及写入功能测试系统及方法
【专利摘要】本发明涉及液晶模组检测技术领域，具体涉及一种液晶模组1?wire写入及写入功能测试系统及方法，包括人机模块和为系统供电的系统电源模块，还包括主控模块、数模转换模块和可控电源模块，所述可控电源模块用于为待测液晶模组的TCON板供电，所述人机模块用于接收主控模块反馈的vcom信号以及向主控模块发送vcom操作指令，所述主控模块通过I2C通道将vcom操作信号发送至数模转换模块，所述数模转换模块通过1?wire总线将vcom操作信号发送至待测液晶模组的TCON板。机身较轻，可移动性较强，方便作业员操作，成本较低。通过按键板操作对模组进行1?wire调节和写入，调写数据可显示在LED显示屏中，显示界面简单直观。
【专利说明】
液晶模组1-wi re写入及写入功能测试系统及方法
技术领域
[0001]本发明涉及液晶模组检测技术领域，具体涉及一种液晶模组1-Wire写入及写入功能测试系统及方法。【背景技术】
[0002]1-Wire总线是一个简单的信号传输电路，可通过一根共用的数据线实现主控制器与一个或一个以上从器件之间的半双工双向通信。液晶模组1-Wire功能是基于1-wire总线读取调节写入液晶VC0M电压已达到校准液晶模组闪烁程度的功能。
[0003]目前液晶模组1-wire写入均需要通过电脑，连接PG模块(图像信号发生模块)逐个模组进行写入，操作较为繁琐，且耗时较长，写入效率低下。
[0004]而对于写入功能的检测，都是通过电脑控制液晶模组检测系统进行测试，此种测试方法存在以下几个弊端:
[0005](1)电脑控制界面内容繁琐，操作流程较为复杂，影响测试效率；[〇〇〇6] (2)由于电脑机身较重，不易移动，对于测试人员的操作有很大的局限性；
[0007](3)电脑成本较高，对于大批量的模组测试可能需要用到多台电脑，对测试成本要求很高。
【发明内容】
[0008]为解决上述技术问题，本发明提供一种液晶模组1-wire写入及写入功能测试系统及方法，该装置和方法能实现快速写入，并去除其他功能对测试人员的操作干扰，化繁为简，使liire功能的检测方式和结果简单明了，解决由于测试工具对操作人员带来的局限性，降低测试成本。
[0009]对于本发明一种液晶模组1-wire写入及写入功能测试系统，其技术方案为，包括: 人机模块和为系统供电的系统电源模块，还包括主控模块、数模转换模块和可控电源模块， 所述可控电源模块用于为待测液晶模组的TC0N板供电，所述人机模块用于接收主控模块反馈的vcom信号以及向主控模块发送vcom操作指令，所述主控模块通过I2C通道将vcom操作信号发送至数模转换模块，所述数模转换模块通过1-wire总线将vcom操作信号发送至待测液晶模组的TC0N板。
[0010]进一步的，所述人机模块包括操作面板和显示屏，所述主控模块的vcom操作指令输入端与操作面板的vcom操作指令输出端连接，所述主控模块的vcom信号输出端与显示屏的vcom信号输入端连接。
[0011]进一步的，所述数模转换模块的vcom操作信号输出端连接有放大器，所述放大器的信号输出端与1-wire总线连接，所述放大器为1?N倍放大器中的任意一种。
[0012]进一步的，还包括时序控制模块，所述时序控制模块的时序控制信号输入端与主控模块的时序控制信号输出端连接，所述时序控制模块根据时序控制信号控制I2C通道开启、1-wire总线开启、可控电源模块为放大器及待测液晶模组TC0N板供电的顺序。
[0013]进一步的，还包括图像信号发生模块，所述图像信号发生模块用于为待测液晶模组点屏，生成闪烁画面。
[0014]对于本发明一种液晶模组1-wire写入及写入功能测试方法，其技术方案为，可控电源模块为待测液晶模组的TC0N板供电，通过操作面板选择待测液晶模组TC0N板的IC类型，进入vcom调节模式；
[0015]通过在操作面板上加减vcom值的方式向主控模块发送vcom调节指令，主控模块将 vcom调节信号发送给数模转换模块，数模转换模块将vcom调节信号转换成相应的模拟电压波形并通过1-wire总线输出至待测液晶模组TC0N板，待测液晶模组TC0N板进行vcom电压调节后将该vcom值进行写入存储。
[0016]进一步的，连接图像信号发生模块点亮待测液晶模组，将待测液晶模组切换至闪烁画面，通过操作面板选择待测液晶模组TC0N板的1C类型，进入vcom调节模式；
[0017]通过在操作面板上加减vcom值的方式向主控模块发送vcom调节指令，主控模块将 vcom调节信号发送给数模转换模块，数模转换模块将vcom调节信号转换成相应的模拟电压波形并通过1-wire总线输出至待测液晶模组，观测待测液晶模组屏幕闪烁度，不断进行调节，直至待测液晶模组屏幕闪烁度达到最低时，待测液晶模组将此时的vcom值进行写入。 [〇〇18]进一步的，所述待测液晶模组TC0N板将vcom值写入后，重启待测液晶模组TC0N板， 再次进入vcom调节模式，若显示屏显示的vcom值为操作面板之前发送的vcom值，则说明1-wire写入功能良好。
[0019]进一步的，所述数模转换模块输出的模拟电压波形通过放大器放大后经1-wire总线输出。
[0020]进一步的，当接通所述待测液晶模组TC0N板后，时序控制模块控制可控电源模块为待测液晶模组TC0N板供电；
[0021]当操作面板向主控模块发送vcom调节指令后，所述时序控制模块根据时序控制信号按顺序开启I2C通道、1-wire总线通道及控制可控电源模块为放大器供电。[〇〇22]本发明的有益效果:此装置脱离PG模块直接对液晶模组的TC0N板进行1-wire调节与写入，节省了连接PG模块的时间，大大的提高了工作效率。装置程序可切换多种测试程式，点多款模组，适用性广泛。此外，采用操作面板和显示屏代替电脑，机身较轻，可移动性较强，方便作业员操作，相对于电脑而言成本较低，可降低测试成本。此系统调写数据可显示在LED显示屏中，显示界面简单直观;可以脱离PG直接对待测液晶模组TC0N板进行筛查， 检测出1-wire写入功能不良品。【附图说明】
[0023]图1为本发明液晶模组1-wire调节写入功能测试系统连接示意图；[〇〇24]图中:1一主控模块，2—数模转换模块，3—放大器，4一操作面板，5—显示屏，6— 系统电源模块，7—可控电源模块，8—时序控制模块，9一PG模块，10—液晶模组。【具体实施方式】[〇〇25]以下结合附图和具体实施例对本发明作进一步的详细说明:
[0026]如图1所示为液晶模组1-wire调节写入功能测试系统模块连接图，其包括主控模块1、数模转换模块2、放大器3、操作面板4、显不屏5、系统电源模块6、可控电源模块7、时序控制模块8、PG模块9、液晶模组10。
[0027]主控模块1的vcom操作指令输入端与操作面板4的vcom操作指令输出端连接，主控模块1的vcom信号输出端与显示屏5的vcom信号输入端连接。主控模块1的vcom操作信号输出端通过I2C通道与数模转换模块2的vcom操作信号输入端连接，数模转换模块2的vcom操作信号输出端与放大器3连接，最后通过1-wire总线连接到待测液晶模组HL220V市电经 AC-DC模块转换为直流电源(3.3 v )，并分别输出至系统电源模块6和可控电源模块7，系统电源模块6为主控模块1提供基本的工作电压(如5v，3.3v，1.8v)，可控电源模块7为模组TC0N 板提供5v/12v电压，并在vcom写入时提供15v电压。其中，放大器3可以根据需要选择1?n倍放大器。[〇〇28] 对待测液晶模组的1-wire调节、写入以及写入功能进行检测，可以基于PG模块9对待测液晶模组进行检测，也可以单独对待测液晶模组的TC0N板进行检测。第一种实施方式为基于PG模块9对待测液晶模组进行检测，其过程如下:
[0029]连接PG模块9点亮待测液晶模组10,将待测液晶模组10切换至闪烁画面，连接本系统，通过操作面板4选择待测液晶模组10TC0N板的1C类型(如頂L7991)，进入vcom调节模式， 同时主控模块1获取待测液晶模组10的当前vcom值并发送给显示屏5显示输出。若获取成功，则显示屏5显示当前VC0M值，若不成功则提示线材连接失败。
[0030]当显示屏显5示当前VC0M值后，通过在操作面板4上加减vcom值的方式采用RS232 通信协议向主控模块1发送vcom调节指令，主控模块1接收到vcom调节指令后，向时序控制模块8发送时序控制信号，时序控制模块8根据时序控制信号按顺序依次开启I2C通道、1-wire总线通道及控制可控电源模块8为放大器3提供12V电压。主控模块1通过I2C通道将 vcom调节信号发送给数模转换模块2,数模转换模块2将vcom调节信号转换成相应的模拟电压波形并通过1-wire总线输出至待测液晶模组10,若待测液晶模组10屏幕出现闪烁，则说明待测液晶模组10的l-wire调节功能正常，调节完毕后将该vcom值进行写入，并将该vcom 值反馈给显示屏显示输出。
[0031]确认调节功能正常后，重启待测液晶模组10,再次进入vcom调节模式，若显示屏5 显示的vcom值为操作面板4之前发送的vcom值，则说明待测液晶模组10的1-wire写入功能正常。也可在客户check站或者再回切至闪烁画面观察vcom值是否写入成功。
[0032]在对待测液晶模组的vcom电压值进行调节的过程中，操作操作面板4,加减vcom值至模组显示闪烁度最低，操作操作面板4写入此最佳值，可以实现模组最佳状态的调试。 [〇〇33]第二种实施方式为脱离PG模块，单独对待测液晶模组TC0N板进行写入与检测，其过程如下:[〇〇34]将系统与待测液晶模组TC0N板接通，在操作面板4上选择单独检测模组TC0N板模式，通过操作面板4选择待测液晶模组10TC0N板的1C类型，进入vcom调节模式。主控模块1给时序控制模块8发送时序控制信号，时序控制模块8控制可控电源模块7为待测液晶模组 TC0N板输出5v或12v电压，同时主控模块1获取待测液晶模组10的当前vcom值并发送给显示屏5显不输出；[〇〇35]当显示屏5显示当前VC0M值后，通过在操作面板4上加减vcom值的方式采用RS232 通信协议向主控模块1发送vcom调节指令，主控模块1接收到vcom调节指令后，向时序控制模块8发送时序控制信号，时序控制模块8根据时序控制信号按顺序依次开启I2C通道、1-wire总线通道及控制可控电源模块7为放大器3提供12V电压。主控模块1通过I2C通道将 vcom调节信号发送给数模转换模块2,数模转换模块2将vcom调节信号转换成相应的模拟电压波形并通过1-wire总线输出至待测液晶模组TC0N板，待测液晶模组TC0N板写入此vcom 值，并将该vcom值反馈给显示屏显示输出。[〇〇36] 待测液晶模组TC0N板断电后再次上电，进入vcom调节模式，若显示屏5显示的vcom 值为操作面板4之前发送的vcom值，则说明待测液晶模组10的1-wire写入功能正常。
[0037]以上所述，仅为本发明的【具体实施方式】，应当指出，任何熟悉本领域的技术人员在本发明所揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。
【主权项】
1.一种液晶模组1-wire写入及写入功能测试系统，包括人机模块和为系统供电的系统 电源模块(6)，其特征在于:还包括主控模块(1)、数模转换模块(2)和可控电源模块(7)，所 述主控模块(1)通过I2C通道将vcom操作信号发送至数模转换模块(2)，所述数模转换模块 (2)通过1-wire总线将vcom操作信号发送至待测液晶模组(10)的TC0N板，所述可控电源模 块(7)用于为待测液晶模组(10)的TC0N板供电，所述人机模块用于接收主控模块(1)反馈的 vcom信号以及向主控模块(1)发送vcom操作指令。2.如权利要求1所述的液晶模组1-wire写入及写入功能测试系统，其特征在于:所述人 机模块包括操作面板(4)和显示屏(5)，所述主控模块(1)的vcom操作指令输入端与操作面 板(4)的vcom操作指令输出端连接，所述主控模块(1)的vcom信号输出端与显示屏(5)的 vcom信号输入端连接。3.如权利要求1所述的液晶模组1-wire写入及写入功能测试系统，其特征在于:所述数 模转换模块(2)的vcom操作信号输出端连接有放大器(3)，所述放大器(3)的信号输出端与 1 -wire总线连接，所述放大器(3)为1?N倍放大器中的任意一种。4.如权利要求3所述的液晶模组1-wire写入及写入功能测试系统，其特征在于:还包括 时序控制模块(8)，所述时序控制模块(8)的时序控制信号输入端与主控模块(1)的时序控 制信号输出端连接，所述时序控制模块(8)根据时序控制信号控制I2C通道开启、1-wire总 线开启、可控电源模块(7)为放大器(3)及待测液晶模组TC0N板供电的顺序。5.如权利要求1所述的液晶模组1-wire写入及写入功能测试系统，其特征在于:还包括 图像信号发生模块(9)，所述图像信号发生模块(9)用于为待测液晶模组(10)点屏，生成闪 烁画面。6.—种液晶模组1-wire写入及写入功能测试方法，其特征在于:为待测液晶模组(10)的TC0N板供电，通过操作面板(4)选择待测液晶模组(10)TC0N板 的1C类型，进入vcom调节模式；通过在操作面板(4)上加减vcom值的方式向主控模块(1)发送vcom调节指令，主控模块 (1)将vcom调节信号发送给数模转换模块(2)，数模转换模块(2)将vcom调节信号转换成相 应的模拟电压波形并通过1-wire总线输出至待测液晶模组TC0N板，待测液晶模组TC0N板进 行vcom电压调节后将该vcom值进行写入存储。7.—种液晶模组1-wire写入及写入功能测试方法，其特征在于:连接图像信号发生模块(9)点亮待测液晶模组(10)，通过操作面板(4)选择待测液晶模 组(10) TC0N板的1C类型，进入vcom调节模式；通过在操作面板(4)上加减vcom值的方式向主控模块(1)发送vcom调节指令，主控模块 (1)将vcom调节信号发送给数模转换模块(2)，数模转换模块(2)将vcom调节信号转换成相 应的模拟电压波形并通过1-wire总线输出至待测液晶模组(10)，观测待测液晶模组(10)屏 幕闪烁度，不断进行调节，直至待测液晶模组(10)屏幕闪烁度达到最低时，待测液晶模组 (10)将此时的vcom值进行写入。8.如权利要求6所述的液晶模组1-wire写入及写入功能测试方法，其特征在于:所述待 测液晶模组TC0N板将vcom值写入后，重启待测液晶模组TC0N板，再次进入vcom调节模式，若 显示屏(5)显示的vcom值为操作面板(4)之前发送的vcom值，则说明1-wire写入功能良好。9.如权利要求6所述的液晶模组1-wire写入及写入功能测试方法，其特征在于，所述数模转换模块(2)输出的模拟电压波形通过放大器(3)放大后经1-wire总线输出。10.如权利要求9所述的液晶模组1-wire写入及写入功能测试方法，其特征在于:当接通所述待测液晶模组TCON板后，时序控制模块(8)控制可控电源模块(7)为待测液 晶模组TCON板供电；当操作面板(4)向主控模块(1)发送vcom调节指令后，所述时序控制模块(8)根据时序 控制信号按顺序开启I2C通道、1-wire总线通道及控制可控电源模块(7)为放大器(3)供电。
【文档编号】G02F1/13GK106019647SQ201610292040
【公开日】2016年10月12日
【申请日】2016年5月5日
【发明人】乐勉, 胡磊, 徐梦银, 朱传忠
【申请人】武汉精测电子技术股份有限公司