专利名称：一种用于透射电镜试样的研磨工具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种用于透射电镜试样的研磨装置。
背景技术：
目前在传统的透射电镜试样制备过程中所使用的磨样工具，价格较高且在使用过程中极为费力，故无法保证长时间磨样。其次，传统磨样工具每次只能磨一个试样且不能保证磨制成功，这就使得磨样的效率低，磨样时间长。针对以上了部分问题，市场上已经出现了一些简单的改进的工具，能够解决磨制困难的问题，并且降低了工具的造价，但仍然只能磨制一个试样，效率依然不高。
发明内容本实用新型的目的就是针对上述磨样效率低，工具价格高以及工具笨重的不足，提供一种能大幅提高磨样效率和节省购买资金的磨样工具。本实用新型的目的是通过以下技术方案实现的。一种用于透射电镜磨样的工具，包括套筒、加载杆和砝码。加载杆由直径为IOmm不锈钢圆柱体和厚5mm的铁片组成,不锈钢圆柱体的一端有螺纹，铁片中心有螺纹孔，两者通过螺纹连接。砝码是经过钻孔的铁块，分为二种:IOOg钻孔铁块和150g钻孔铁块。砝码的孔和加载杆的直径相对应，砝码的直径与套筒对应。进一步特征，可以采用垫片用来固定试样，垫片分为单孔、两孔或三孔三种规格。研磨时，将砝码套在加载杆上；试样固定在垫片里并放在加载杆下，加载杆件与套筒配合给试样一定的压力，以便于磨样。本实用新型的一种透射电镜磨样工具，结构简单，造价低。还可以用于几个试样同时磨样，通过调整砝码的数量还可以控制磨样的速度，从而大幅提高磨样的效率和成功率。
图1是本实用新型的结构示意图。图2是三种垫片示意图。图中:1套筒；2试样；3加载杆；4砝码。
具体实施方式
1.将加载杆3放入套筒I内，根据试样的厚度选择适当的砝码4。2.把试样固定在垫片内，然后将套筒I套在垫片上。3.使加载杆3压在试样上,保证对试样产生一定的压力。4.开始研磨。随着试样的厚度减小，应当调整砝码4，以免压溃试样。5.磨样完毕后，应将工具清洗干净后存放。
权利要求1.一种用于透射电镜试样的研磨工具，其特征在于，该包括套筒(I)、加载杆(3)和砝码(4);加载杆(3)由直径为IOmm不锈钢圆柱体和厚5mm的铁片组成，不锈钢圆柱体的一端有螺纹，铁片中心有螺纹孔，两者通过螺纹连接；砝码是中间有孔的铁块；砝码的孔和加载杆的直径相对应，砝码的直径与套筒对应。
2.根据权利要求1所述的研磨工具，其特征在于，所述的砝码分为二种:100g钻孔铁块和150g钻孔铁块。
3.根据权利要求1或2所述的研磨工具，其特征在于，进一步的特征还包括垫片，该片用来固定试样，分为单孔、两孔或三孔三种。
专利摘要本实用新型涉及一种用于透射电镜试样的研磨工具。该研磨装置包括套筒、加载杆和砝码；加载杆由直径为10mm不锈钢圆柱体和厚5mm的铁片组成，不锈钢圆柱体的一端有螺纹，铁片中心有螺纹孔，两者通过螺纹连接；砝码是中间有孔的铁块；砝码的孔和加载杆的直径相对应，砝码的直径与套筒对应。本实用新型的一种透射电镜磨样工具，结构简单，造价低。还可以用于几个试样同时磨样，通过调整砝码的数量还可以控制磨样的速度，从而大幅提高磨样的效率和成功率.。
文档编号B24B13/01GK203045471SQ20132002101
公开日2013年7月10日 申请日期2013年1月16日 优先权日2013年1月16日
发明者石国辉, 叶飞, 蒋鑫, 杨晓琨 申请人:大连理工大学