一种新型照片档案出库控制系统及控制方法与流程

文档序号:12156080阅读:163来源:国知局
一种新型照片档案出库控制系统及控制方法与流程

本发明涉及一种新型照片档案出库控制系统及控制方法。



背景技术:

照片档案的保存对温湿度的要求很高,因此,国家出台专门的规范GB/T 11821-2002《照片档案管理规范》予以明确规定:黑白照片库房温度10~20℃,湿度55~60%;彩色照片库房温度13~17℃,湿度55~60%。照片档案的保存价值在于利用,只有积极开发照片档案的利用价值,为社会提供各种有价值的信息资源,才能充分体现出照片的珍贵和档案本身所具有的历史价值。所以,安全可靠的利用好照片档案成为档案管理人员的一项重要工作。

由于档案管理人员对温湿度的管理缺乏专业的知识,同时相关规范操作性不强:GB/T 11821-2002《照片档案管理规范》规定:底片、照片贮存的温、湿度与提供利用房间的温、湿度若存在较大差别,应设缓冲室,在其提供利用前应在缓冲室过渡几小时。这使得照片档案在出库到缓冲室这个过程中,工作时间与流程冗长,同时照片档案的温湿度变化剧烈,造成照片档案结露等损坏。在这个过程中,温度的变化对照片档案的损坏作用明显,同时,由于采用热泵型加热与冷却实现温度控制,虽然能解决问题,但由于制冷(制热)量很小,对热泵型机组的选型设计以及产品制造提出了小型化的要求,一般很难实现。据此,申请人提出一种新型照片档案出库控制系统及控制方法。



技术实现要素:

本发明要解决的技术问题之一,在于提供一种新型照片档案出库控制系统,能够实现照片档案加热、冷却以及直接出库于一体,保障照片档案安全出库,减少工作时间与工作流程。

本发明是这样实现上述技术问题之一的:

一种新型照片档案出库控制系统,包括前后均设置箱门的绝热箱,所述绝热箱从前至后分别设置为进口段、温度测定段、热处理段以及出口段;所述控制系统还包括照片安置格架、用于传送所述照片安置格架的机械传动装置、用于测试所述温度测定段、热处理段以及缓冲室外温度的温度测试装置、用于对热处理段进行加热或冷却的半导体制冷制热机组以及用于控制所述半导体制冷制热机组工作与否的控制器;所述机械传动装置设于所述绝热箱的下方,所述照片安置格架设于所述机械传动装置的传送带上。

进一步地,所述温度测试装置包括设于所述温度测定段的第一温度探头、设于所述热处理段的第二温度探头、设于缓冲室外的大气温度探头以及设于缓冲室外的露点温度测试仪;所述第一温度探头、第二温度探头、大气温度探头以及露点温度测试仪均连接至所述控制器。

进一步地,所述半导体制冷制热机组包括直流电源、电路控制器、断路器、P型半导体、N型半导体、第一金属导热板、第二金属导热板以及第三金属导热板;所述P型半导体和N型半导体均穿设于所述绝热箱的侧壁上,所述直流电源、电路控制器、第一金属导热板均设于绝热箱外且位于缓冲室内,所述第二金属导热板以及第三金属导热板均设于所述绝热箱内;所述P型半导体的一端与所述第二金属导热板连接,其另一端与所述第一金属导热板连接;所述N型半导体的一端与所述第三金属导热板连接,其另一端与所述第一金属导热板连接;所述直流电源的正极和负极以及所述第二金属导热板和第三金属导热板均连接至所述电路控制器;所述断路器设于所述第二金属导热板与所述电路控制器的连接线上,或者所述断路器设于所述第三金属导热板与所述电路控制器的连接线上,所述断路器还连接至所述控制器。

本发明要解决的技术问题之二,在于提供一种新型照片档案出库控制方法,通过温度测试装置判断如何处理照片,进而通过半导体制冷制热机组对照片进行处理,从而实现照片档案安全出库,减少工作时间与工作流程。

本发明是这样实现上述技术问题之二的:

一种新型照片档案出库控制方法,该控制方法是基于所述控制系统所执行的控制方法,具体步骤如下:

步骤1,在所述控制器上设置“冷却工况”、“加热工况”以及“直接工况”三种状态的工作条件;

步骤2,开启所述绝热箱的前箱门,把需要出库的照片放置于所述照片安置格架上,关闭所述前箱门;通过所述控制器打开电源,所述机械传动装置通过所述传送带将放置好照片的照片安置格架传送至所述温度测定段;

步骤3,所述第一温度探头连续检测所述照片的温度Tin,所述大气温度探头连续监测缓冲室外大气的温度Tout,所述露点温度测试仪测试缓冲室外大气的露点温度Toutl,若Tin小于Tout且Tin小于等于Toutl,则所述控制系统进入“加热工况”,若Tin小于Tout且Tin大于Toutl则所述控制系统进入“直接工况”,若Tin等于Tout,则所述控制系统进入“直接工况”;若Tin大于Tout,则所述控制系统进入“冷却工况”;

步骤4,所述机械传动装置把所述照片安置格架传送至所述热处理段,

若步骤3中判定需进入“加热工况”,则所述控制器发出信号指令,使所述断路器处于闭合状态,所述半导体制冷制热机组进入制热工况,即:所述直流电源的负极连接所述N型半导体及第三金属导热板,所述直流电源的正极连接所述P型半导体及第二金属导热板,在电场的作用下,利用绝热箱内外温差的不同,使得所述绝热箱内侧的P型半导体、N型半导体分别与所述第二金属导热板、第三金属导热板之间的节点温度升上来,在自然对流与辐射的作用下,对照片加热,所述第二温度探头连续监测所述热处理段的温度TH,当TH等于Tout时,所述控制器发出信号指令,使半导体制冷制热机组停止工作,所述机械传动装置把所述照片安置格架传送至出口段,照片即可出库;

若步骤3中判定需进入“直接工况”,则所述控制器发出信号指令,使所述断路器处于打开状态,所述半导体制冷制热机组停止工作,所述机械传动装置把所述照片安置格架传送至出口段,照片即可出库;

若步骤3中判定需进入“冷却工况”,则所述控制器发出信号指令,使所述断路器处于闭合状态,所述半导体制冷制热机组进入制冷工况,即:所述直流电源的正极连接所述N型半导体及第三金属导热板,所述直流电源的负极连接所述P型半导体及第二金属导热板,在电场的作用下,利用绝热箱内外温差的不同,使得所述绝热箱内侧的P型半导体、N型半导体分别与所述第二金属导热板、第三金属导热板之间的节点温度降下来,在自然对流与辐射的作用下,对照片冷却,所述第二温度探头连续监测所述热处理段的温度TH,当TH等于Tout时,所述控制器发出信号指令,使半导体制冷制热机组停止工作,所述机械传动装置把所述照片安置格架传送至出口段,照片即可出库。

本发明具有如下优点:

1、本发明控制系统以及控制方法可靠性高,减少工作时间与工作流程,能够保障系统正常高效工作,实现照片安全可靠出库;

2、本发明操作简单,根据照片档案库内外温度大小,通过联动调节所述电路控制器和断路器实现制冷、制热以及直接出库三种功能;

3、本发明控制系统施工简单,安装调试后运行成本低;

4、本发明中控制系统可以通过手动调节断路器进行手动控制,又可以通过控制器自动控制,适用性强。

【附图说明】

下面参照附图结合实施例对本发明作进一步的说明。

图1为本发明一种新型照片档案出库控制系统的纵向剖视图。

图2为本发明一种新型照片档案出库控制系统的电路连接图。

图3为本发明一种新型照片档案出库控制方法的流程图。

【具体实施方式】

请参阅图1至图3所示,对本发明的实施例进行详细的说明。

请先参阅图1和图2,一种新型照片档案出库控制系统,包括前后均设置箱门14、15的绝热箱1,所述绝热箱1从前至后分别设置为进口段11、温度测定段12、热处理段13以及出口段14;所述控制系统还包括照片安置格架2、用于传送所述照片安置格架2的机械传动装置3、用于测试所述温度测定段12、热处理段13以及缓冲室外温度的温度测试装置4、用于对热处理段13进行加热或冷却的半导体制冷制热机组5以及用于控制所述半导体制冷制热机组5工作与否的控制器6;所述机械传动装置3设于所述绝热箱1的下方,所述照片安置格架2设于所述机械传动装置3的传送带31上。

所述照片安置格架一般选用多层网状格架。所述机械传动装置3通过简单的传送带、电机以及皮带轮即可实现,但不局限该实现方式。

所述控制器6主要用于根据采集到的温度值控制半导体制冷制热机组的工作与否。

重点请参阅图2,所述温度测试装置4包括设于所述温度测定段12的第一温度探头41、设于所述热处理段13的第二温度探头42、设于缓冲室外的大气温度探头43以及设于缓冲室外的露点温度测试仪44;所述第一温度探头41、第二温度探头42、大气温度探头43以及露点温度测试仪44均连接至所述控制器6。所述第一温度探头41、第二温度探头42以及大气温度探头43均是指包含温度传感器的温度探头。

重点请参阅图2,所述半导体制冷制热机组5包括直流电源51、电路控制器52、断路器53、P型半导体54、N型半导体55、第一金属导热板56、第二金属导热板57以及第三金属导热板58;所述P型半导体54和N型半导体55均穿设于所述绝热箱1的侧壁上,所述直流电源51、电路控制器52、第一金属导热板56均设于绝热箱外且位于缓冲室内,所述第二金属导热板57以及第三金属导热板58均设于所述绝热箱1内;所述P型半导体54的一端与所述第二金属导热板57连接,其另一端与所述第一金属导热板56连接;所述N型半导体55的一端与所述第三金属导热板58连接,其另一端与所述第一金属导热板56连接;所述直流电源51的正极和负极以及所述第二金属导热板57和第三金属导热板58均连接至所述电路控制器52;所述断路器53设于所述第二金属导热板57与所述电路控制器52的连接线上,或者所述断路器53设于所述第三金属导热板58与所述电路控制器52的连接线上,所述断路器52还连接至所述控制器6。所述第一金属导热板56、第二金属导热板57以及第三金属导热板58可采用悬空电连接的方式进行设置,即不与绝热箱1及其他物体有直接接触。

需要说明的是,所述控制系统一般设置在缓冲室内,所述缓冲室的温度近似等同于照片档案库的温度。因此,第一温度探头41在温度测定段12测得的温度值就是最接近待出库照片此时的温度值。

本发明选用半导体制冷制热机组,其不仅可以同时实现制冷与制热,且设备体积小、加热量小,非常适合本发明控制系统。

本实施例的工作原理即本发明另一实施例——一种新型照片档案出库控制方法,具体为:

一种新型照片档案出库控制方法,该控制方法是所述控制系统所执行的控制方法,具体步骤如下:

步骤1,在所述控制器6上设置“冷却工况”、“加热工况”以及“直接工况”三种状态的工作条件;

步骤2,开启所述绝热箱1的前箱门14,把需要出库的照片(未图示)放置于所述照片安置格架2上,关闭所述前箱门14;通过所述控制器6打开电源,所述机械传动装置3通过所述传送带31将放置好照片的照片安置格架2传送至所述温度测定段12;

步骤3,所述第一温度探头41连续检测所述照片的温度Tin,所述大气温度探头43连续监测缓冲室外大气的温度Tout,所述露点温度测试仪44测试缓冲室外大气的露点温度Toutl,若Tin小于Tout且Tin小于等于Toutl,说明照片温度小于缓冲室外温度且小于露点温度,若直接出库照片会结露,则所述控制系统进入“加热工况”,若Tin小于Tout且Tin大于Toutl,说明照片温度虽然小于缓冲室外温度,但高于露点温度,直接出库照片也不会结露,则所述控制系统进入“直接工况”,若Tin等于Tout,则所述控制系统进入“直接工况”;若Tin大于Tout,则所述控制系统进入“冷却工况”;上述温度判断由所述控制器6完成;

步骤4,所述机械传动装置3把所述照片安置格架2传送至所述热处理段13,

若步骤3中判定需进入“加热工况”,则所述控制器6发出信号指令,使所述断路器53处于闭合状态,所述半导体制冷制热机组5进入制热工况,即:通过所述电路控制器52实现:所述直流电源51的负极连接所述N型半导体55及第三金属导热板58,所述直流电源51的正极连接所述P型半导体54及第二金属导热板57,在电场的作用下,利用绝热箱1内外温差的不同,使得所述绝热箱1内侧的P型半导体54、N型半导体55分别与所述第二金属导热板57、第三金属导热板58之间的节点温度升上来,在自然对流与辐射的作用下,对照片加热,所述第二温度探头42连续监测所述热处理段13的温度TH,当TH等于Tout时,所述控制器6发出信号指令,使半导体制冷制热机组5停止工作,所述机械传动装置3把所述照片安置格架2传送至出口段,照片即可出库;所述电路控制器52用于控制半导体制冷制热机组5中N型半导体55和P型半导体54与所述直流电源51的正负极连接方式,所述直流电源51一般选用直流蓄电电源;

若步骤3中判定需进入“直接工况”,则所述控制器6发出信号指令,所述断路器53断开,使所述半导体制冷制热机组5停止工作,所述机械传动装置3把所述照片安置格架2传送至出口段14,照片即可出库;

若步骤3中判定需进入“冷却工况”,则所述控制器6发出信号指令,使所述断路器53处于闭合状态,使所述半导体制冷制热机组5进入制冷工况,即:所述直流电源51的正极连接所述N型半导体55及第三金属导热板58,所述直流电源51的负极连接所述P型半导体54及第二金属导热板57,在电场的作用下,利用绝热箱1内外温差的不同,使得所述绝热箱1内侧的P型半导体54、N型半导体55分别与所述第二金属导热板57、第三金属导热板58之间的节点温度降下来,在自然对流与辐射的作用下,对照片冷却,所述第二温度探头42连续监测所述热处理段13的温度TH,当TH等于Tout时,所述控制器6发出信号指令,使半导体制冷制热机组5停止工作,所述机械传动装置3把所述照片安置格架2传送至出口段14,照片即可出库。

本发明通过温度测试装置判断照片档案库与室外温度的温差状态,从而确定是否需要加热或冷却或直接出库,进入通过半导体制冷制热机组进行加热或冷却,通过电路控制器和断路器使得半导体制冷制热机组进入不同的工作状态。因此,本发明具有如下优点:

1、本发明控制系统以及控制方法可靠性高,减少工作时间与工作流程,能够保障系统正常高效工作,实现照片安全可靠出库;

2、本发明操作简单,根据照片档案库内外温度大小,通过联动调节所述电路控制器和断路器实现制冷、制热以及直接出库三种功能;

3、本发明控制系统施工简单,安装调试后运行成本低;

4、本发明中控制系统可以通过手动调节断路器进行手动控制,又可以通过控制器自动控制,适用性强。

虽然以上描述了本发明的具体实施方式,但是熟悉本技术领域的技术人员应当理解,我们所描述的具体的实施例只是说明性的,而不是用于对本发明的范围的限定,熟悉本领域的技术人员在依照本发明的精神所作的等效的修饰以及变化,都应当涵盖在本发明的权利要求所保护的范围内。

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