技术特征：
1.一种芯片检测收集设备，包括上料机构（1）、检测转移机构（2）和收集装置（3），其特征在于，所述收集装置（3）包括工作台（31）、收集块（32）和运动错位机构（4），所述收集块（32）设置有多个，且多个所述收集块（32）均通过所述运动错位机构（4）设置在所述工作台（31）上；所述检测转移机构（2）将所述上料机构（1）上的芯片转移到所述收集块（32）上，且在所述运动错位机构（4）的作用下能够使芯片不间断的收集在不同的所述收集块（32）上。2.根据权利要求1所述的一种芯片检测收集设备，其特征在于，所述运动错位机构（4）包括运动块（41）、运动组件（42）和升降错位组件（43），所述运动块（41）滑移设在所述工作台（31）上，所述收集块（32）滑移设置在所述运动块（41）上；所述运动组件（42）设置在所述工作台（31）上且与所述运动块（41）连接；所述升降错位组件（43）设置在所述运动块（41）上且与所述收集块（32）连接。3.根据权利要求2所述的一种芯片检测收集设备，其特征在于，所述运动组件（42）包括第一电机（421）、第一转轮（422）、第二转轮（423）和传送带（424），所述第一电机（421）设置在所述工作台（31）上，所述第一转轮（422）设置在所述第一电机（421）的输出轴上；所述第二转轮（423）转动设置在所述工作台（31）上；所述传送带（424）套设在所述第一转轮（422）和所述第二转轮（423）上，且所述第一转轮（422）和所述第二转轮（423）均抵触所述传送带（424）；所述运动块（41）与所述传送带（424）连接。4.根据权利要求3所述的一种芯片检测收集设备，其特征在于，所述运动块（41）上设置有与所述传送带（424）连接的连接机构（5），所述连接机构（5）包括固定块（51）、调节块（52）和调节组件（53），所述固定块（51）与所述传送带（424）固定连接，所述调节块（52）通过所述调节组件（53）滑移设置在所述固定块（51）上，且所述运动块（41）与所述调节块（52）连接。5.根据权利要求3所述的一种芯片检测收集设备，其特征在于，所述工作台（31）上设置有定位机构（6），所述定位机构（6）包括第一气缸（61）、滑移块（62）、第二电机（63）、连接轴和定位块（64），所述第一气缸（61）的缸体设置在所述工作台（31）上，所述滑移块（62）滑移设置在所述工作台（31）上且与所述第一气缸（61）的活塞杆连接；所述第二电机（63）设置在所述滑移块（62）上，所述连接轴设置在所述第二电机（63）输出轴上；所述定位块（64）设置在所述连接轴上，且所述收集块（32）抵触所述定位块（64）。6.根据权利要求1所述的一种芯片检测收集设备，其特征在于，所述检测转移机构（2）包括固定架（21）、驱动件（22）、圆盘（23）、支撑块（24）、第一检测台（25）和转移组件（26），所述圆盘（23）转动设置在所述固定架（21）上，所述驱动件（22）设置在所述固定架（21）上且与所述圆盘（23）连接；所述支撑块（24）设置有多个，且多个所述支撑块（24）均设置在所述圆盘（23）周侧；所述第一检测台（25）设置在所述支撑块（24）上；所述转移组件（26）设置在所述圆盘（23）上，且所述转移组件（26）能够将芯片从上料机
构（1）中转移到所述第一检测台（25）上，所述转移组件（26）能将芯片从所述第一检测台（25）转移到所述收集块（32）上，所述转移组件（26）能将芯片在从所述第一检测台（25）转移到相邻的所述第一检测台（25）上。7.根据权利要求6所述的一种芯片检测收集设备，其特征在于，相邻两个所述支撑块（24）之间设置有回收机构（7），所述回收机构（7）包括回收块（71）、第二气缸（72）和收集板（73），所述回收块（71）设置在相邻两个所述支撑块（24）之间，所述回收块（71）上开设有回收槽（711），所述收集板（73）滑移设置在所述回收槽（711）内；所述第二气缸（72）设置在所述回收块（71）上且活塞杆与所述收集板（73）连接。8.根据权利要求7所述的一种芯片检测收集设备，其特征在于，相邻两个所述支撑块（24）之间设置有调整装置（8），所述调整装置（8）包括第三气缸（81）、移动块（82）、第二检测台（83）和位置移动机构（9），所述第三气缸（81）设置在相邻两个所述支撑块（24）之间，所述移动块（82）与所述第三气缸（81）的活塞杆连接，且所述回收块（71）设置在所述移动块（82）上，所述第二检测台（83）设置在所述回收块（71）上；所述位置移动机构（9）设置在所述移动块（82）上，且所述位置移动机构（9）能将位于所述回收槽（711）内的芯片转移到所述第二检测台（83）上。9.根据权利要求8所述的一种芯片检测收集设备，其特征在于，所述位置移动机构（9）包括第四气缸（91）、连接块（92）、连杆（93）、吸盘（94）和调整组件（95），所述第四气缸（91）设置在所述移动块（82）上，所述连接块（92）设置在所述第四气缸（91）的活塞杆上，所述连杆（93）滑移设置在所述连接块（92）上，所述吸盘（94）设置在所述连杆（93）上；所述调整组件（95）设置在所述连接块（92）上且与所述连杆（93）连接。
技术总结
本申请涉及一种芯片检测收集设备，其包括上料机构、检测转移机构和收集装置，所述收集装置包括工作台、收集块和运动错位机构，所述收集块设置有多个，且多个所述收集块均通过所述运动错位机构设置在所述工作台上；所述检测转移机构将所述上料机构上的芯片转移到所述收集块上，且在所述运动错位机构的作用下能够使芯片不间断的收集在不同的所述收集块上。本申请具有提高收集效率的效果。申请具有提高收集效率的效果。申请具有提高收集效率的效果。
技术研发人员：周建松 吴建良 锺政峰
受保护的技术使用者：苏州艾方芯动自动化设备有限公司
技术研发日：2022.11.23
技术公布日：2023/3/7