本实用新型涉及化学测试技术领域,尤其涉及一种用于XRF试样片保存的密封干燥箱。
背景技术:
X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。本法利用原级X射线光子或其他微观粒子激发待测物质中的原子,使之产生次级的特征X光荧光而进行物质成分分析和化学态的研究方法。一般待测试样片样品要求保存于干燥的环境中,长期保存需存放在干燥的玻璃器皿中。
目前大量的待测试样片样品的保存环境和湿度不好控制,易被污染,或因样品受潮,试样片变形,造成待测试样片样品报废。
技术实现要素:
本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的待测试样片样品在保存过程中容易受潮的缺点,而提出的一种用于XRF试样片保存的密封干燥箱。
为了实现上述目的,本实用新型采用了如下技术方案:
设计一种用于XRF试样片保存的密封干燥箱,包括箱体,所述箱体内部的顶部设置有盖板,且盖板顶面的中部设置有提手,所述箱体的底部铺设有干燥剂,所述箱体的四个内壁上间隔设置有多个限位柱,所述箱体的底部水平放置有通气板,所述通气板的底部间隔设置有多个第一支柱,所述通气板的四个侧边均开设有与多个限位柱位置相对应的第二凹槽,所述通气板上间隔开设有多个通气孔;
所述通气板的上方放置有样品放置板,所述样品放置板的底部间隔设置有多个第二支柱,所述样品放置板的四个侧边均开设有与多个限位柱位置相对应的第一凹槽,所述样品放置板的上表面间隔开设有多个样品放置槽。
优选的,所述箱体设置为透明箱体,且盖板、通气板、样品放置板均设置为透明放置板。
优选的,所述第一凹槽和第二凹槽均设置为弧形凹槽。
优选的,所述盖板的周边设置有硅胶密封圈。
本实用新型提出的一种用于XRF试样片保存的密封干燥箱,有益效果在于:密封干燥箱对样品的保护性好,有效地降低了水汽对试样片样品的损坏;可视干燥剂质变状态,方便及时更换干燥剂;平铺式放置样品模式可提高查找所需指定样品的效率,极大降低试样片之间的相互污染,明显改善了试样片样品的测定准确度、可靠性,避免试样片的损坏,也提升了工作人员的工作效率。
附图说明
图1为本实用新型提出的一种用于XRF试样片保存的密封干燥箱的正面剖视图;
图2为本实用新型提出的一种用于XRF试样片保存的密封干燥箱的侧面剖视图;
图3为本实用新型提出的一种用于XRF试样片保存的密封干燥箱的通气板俯视图;
图4为本实用新型提出的一种用于XRF试样片保存的密封干燥箱的样品放置板俯视图。
图中:箱体1、第一凹槽2、提手3、盖板4、样品放置板5、通气板6、干燥剂7、第一支柱8、第二支柱9、第二凹槽10、通气孔11、样品放置槽12、限位柱13。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。
参照图1-4,一种用于XRF试样片保存的密封干燥箱,包括箱体1,箱体1内部的顶部设置有盖板4,且盖板4顶面的中部设置有提手3,盖板4的周边设置有硅胶密封圈,箱体1的底部铺设有干燥剂7,干燥剂7有效地清除了箱体1内的水汽,防止试样片样品因潮湿空气影响发生膨胀变形,保证了样品的质量。
箱体1的四个内壁上间隔设置有多个限位柱13,箱体1的底部水平放置有通气板6,通气板6的底部间隔设置有多个第一支柱8,通气板6的四个侧边均开设有与多个限位柱13位置相对应的第二凹槽10,通气板6上间隔开设有多个通气孔11。
通气板6的上方放置有样品放置板5,箱体1设置为透明箱体,且盖板4、通气板6、样品放置板5均设置为透明放置板,这样便于观察干燥剂7质变状态,便于及时更换新干燥剂7,便于保存试样片样品,样品放置板5的底部间隔设置有多个第二支柱9,样品放置板5的四个侧边均开设有与多个限位柱13位置相对应的第一凹槽2,第一凹槽2和第二凹槽10均设置为弧形凹槽,这样设置方便使用者使用,第一凹槽2和第二凹槽10不仅可与限位柱13配合卡接,以此可对样品放置板5与通气板6的位置进行限定,并且也便于将样品放置板5与通气板6从箱体1内取出,样品放置板5的上表面间隔开设有多个样品放置槽12。
在使用时,先将干燥剂7铺设在箱体1的底部,再将通气板6沉入干燥剂7中,放置平稳后,将样品放置板5放置在通气板6的上方,样品放置板5上的多个样品放置槽12用于放置样品,再将盖板4盖在箱体1的顶部,使箱体1的内部空间处于密封的状态。
以上所述,仅为本实用新型较佳的具体实施方式,但本实用新型的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。