集成电路自动分选的制造方法
【专利摘要】一种集成电路自动分选机。自动分选机包括：机架；测试分选平台，测试分选平台安装在机架上并具有至少一部分相对水平面呈角度倾斜的料轨；以及控制装置；其中测试分选平台包括送料部件、料轨分料部件、测试部件、具有分料梭子的自动分档部件以及包括收料轨道的自动收料部件，其中，测试部件包括多个测试工位，分料梭子具有多个工位，分料梭子位于测试工位下游，并且可控地在多个测试工位之间往复移动。采用根据本实用新型的集成电路自动分选机可以提高生产速度和效率。
【专利说明】集成电路自动分选机
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种半导体集成电路的自动分选机，尤其涉及一种重力下滑式集成电路自动分选机。
【背景技术】
[0002]近年来，在半导体集成电路生产领域，常常使用集成电路自动分选机代替人工对集成电路进行测试分选，从而省去了大量的人力物力，半导体集成电路分选机特别适用于DIP、SOP、SSOP等封装形式的集成电路的自动测试和分选。
[0003]目前集成电路自动分选机主要有真空吸附拣取式与重力下滑式两种。真空吸附拣取式集成电路自动分选机测试效率高但是结构复杂，成本较高，维护不便。重力下滑式集成电路自动分选机中，出料口与下料轨道间接口多，易卡料，影响测试速度，并且重力下滑式自动分选机通常采用45°角料轨下料和90°料轨下料，前者下料过程中摩擦阻力大，测试速度慢，后者下料过程中在料轨接口处电路正反面都容易卡料，同样影响测试效率；此外，传统的重力下滑式集成电路分选机采用单梭子分料，在多测试工位的测试时，单梭子的往复运行影响测试速度。
实用新型内容
[0004]为克服现在技术中集成电路自动分选机存在的不足，本实用新型提供了一种集成电路自动分选机，包括:机架；测试分选平台，测试分选平台安装在机架上并具有至少一部分相对水平面呈角度倾斜的料轨；以及控制装置；其中测试分选平台包括送料部件、料轨分料部件、测试部件、具有分料梭子的自动分档部件以及包括收料轨道的自动收料部件，其中测试部件包括多个测试工位，分料梭子具有多个工位，分料梭子位于测试工位下游，并且可控地在多个测试工位之间往复移动。
[0005]根据本实用新型的另一个方面，测试工位包括左测试工位和右测试工位，分料梭子的工位包括左工位和右工位，分料梭子的左工位和右工位之间的距离设定为两个左测试工位和右测试工位之间距离的一半，收料轨道在两个测试工位的中间位置设置在分料梭子的下游。
[0006]根据本实用新型的另一个方面，分料梭子安装在线性滑轨部分上，分料梭子由伺服电机驱动在多个测试工位之间往复移动。
[0007]根据本实用新型的另一个方面，收料轨道为料轨的一部分。较佳地，料轨的至少一部分与水平面之间的角度在50-70度的范围内，更佳地，料轨的至少一部分与水平面之间的角度为60度。此时，送料部件包括将料管夹紧的夹手送料机构，该机构能够以与料轨的至少一部分与水平面之间的角度相等的角度翻转，即机构能够以50-70度的角度翻转，更佳地，该机构能够以60度的角度翻转。
[0008]根据本实用新型的又一个方面，机架底部设置多个带有制动装置的滚轮。
[0009]根据本实用新型的又一个方面，每个测试工位包括上暂存区、测试区和下暂存区。[0010]根据本实用新型的集成电路自动分选机，由于采用具有多工位的分料梭子，减少了分料梭子的移动距离，提高了生产速度。并且由于料轨特定的角度设置，使被测元件移动速度加快的同时被测元件在不同部件间转移的可靠性提高。
【专利附图】
【附图说明】
[0011]图1为示出了根据本实用新型实施例的集成电路自动分选机的立体图。
[0012]图2示出了集成电路自动分选机中分料梭子部分的详图。
【具体实施方式】
[0013]下面结合具体实施例和附图对本实用新型作进一步说明，在以下的描述中阐述了更多的细节以便于充分理解本实用新型，但是本实用新型显然能够以多种不同于此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下根据实际应用情况作类似推广、演绎，因此不应以此具体实施例的内容限制本实用新型的保护范围。
[0014]图1示出了根据本实用新型实施例的集成电路自动分选机100。图示的自动分选机100主要包括机架1、测试分选平台2和控制装置3。
[0015]机架I通常由金属框架构成，测试分选平台2安装在机架I上并由机架I支承，而机架I的底部设有多个滚轮11，通常为四个，并且较佳地每个滚轮11都设有一个制动装置或刹车机构(未图示)，制动装置或刹车机构可以是通过控制装置3自动控制的也可以是手动的，从而在使用时能够防止自动分选机100意外移动。
[0016]测试分选平台2从上游至下游依次包括送料部件20、料轨分料部件24、测试部件25、自动分档部件26以及收料部件27，由此，集成电路(IC)将依次通过这些部件进行测试和分选。送料部件20主要包括放料槽机构21、送料推管机构22、夹手送料机构23。料轨分料部件24又包括下料轨道机构和分粒机构。
[0017]放料槽机构21 —般构造成可放30-50根料管，送料推管机构22构造成将位于放料槽机构21最下面的一根料管推送到指定位置，而夹手送料机构23构造成将该料管夹紧并翻转一定角度将料管口对准料轨分料部件24的轨道口，此时，料管中的集成电路在重力作用下自动进入到料轨分料部件24的下料轨道机构中，由分粒机构使集成电路单颗地、彼此独立地滑入测试部件25，以便在测试部件25中进行检测，自动分档部件26根据测试部件25中测得的结果作往复动作，将检测完毕的集成电路送入收料部件27中，由收料部件27完成收料作业。收料部件27可以是自动的，也可以是手动的。
[0018]以下，参照图2对根据本实用新型的自动分档部件26进行描述。如上所述的，自动分档部件26位于测试部件25的下游和自动收料部件27的上游，单粒集成电路当测试完成之后在重力的作用下从测试部件25转移到自动分档部件26，并进一步转移到收料部件27的收料轨道71中。自动分档部件26包括线性滑轨部分62、分料梭子61和用于驱动分料梭子61沿线性滑轨部分62往复移动的伺服电机63。如图所示，自动分档部件26上游的测试部件25具有两个测试工位，例如称之为左测试工位55和右测试工位56，左右两个测试工位沿水平方向并排设置，每个测试工位包括上暂存区、测试区和下暂存区。自动分档部件26中的分料梭子61也具有两个工位，例如称之为左工位65和右工位66，这两个工位同样也沿水平方向并排设置。较佳地，分料梭子61的两个工位之间的距离设定为两个测试工位之间距离的一半，而收料轨道71在两个测试工位的中间位置设置在分料梭子61的下游，也就是说，收料轨道71的进口与两个测试工位55和56的距离相等。例如，左测试工位55和右测试工位56彼此相距60mm，而分料梭子61的左右工位65、66之间彼此相距30mm，收料轨道71在左右测试工位55、56的中间位置位于分料梭子61的下游。当测试部件25的左测试工位55与分料梭子61的左工位65对齐时，分料梭子61的右工位66与收料轨道71对齐。相应地，当分料梭子61的右工位66移动到与右测试工位56对齐时，分料梭子61的左工位65与收料轨道71对齐。采用这一结构，分料梭子61的移动行程仅为左右测试工位55、56之间距离的一半，从而与单工位的分料梭子61相比明显减少了分料梭子61的移动距离，并且当分料梭子61的一个工位从测试工位接收集成电路的同时，另一个工位可同步地将集成电路移到收料轨道71上，从而大大增加了工作效率。
[0019]根据本实用新型的集成电路自动分选机100为重力下滑式集成电路自动分选机100。自动分选机100的测试分选平台2包括至少一部分相对水平面呈角度倾斜的料轨，集成电路沿着料轨在重力作用下向下滑移，在滑移过程中，电路单面接触料轨。上文中提到的收料轨道71为测试分选平台2的料轨的一部分，除此之外，料轨还包括位于送料部件中的送料轨道。如图所示，料轨的至少一部分与水平面成60度角，例如收料轨道71是与水平面成60度角的，同时送料轨道的主要部分也与水平面成60度角，这样，集成电路移动地较快，但又不容易在部件之间的活动接口处被卡位，因此，这一角度设置是优选的。
[0020]此外，当送料轨道相对于水平面呈60度角倾斜时，夹手送料机构23构造成将该料管夹紧并翻转60度而使将料管口对准料轨分料部件24的轨道口。
[0021]控制装置3包括人机交换界面、气动系统和电气控制系统。人机交换界面如图1所示可以是一个触摸式显示屏31，通过它操作人员能够输入必须的控制信息并且接收到显示的反馈信息。气动系统与分选机的各个作动部件的气缸装置相连，而电气控制系统构造成对分选机的各部件的自动运行提供控制，从而使测试分选平台2上的各个作动部件按照规定的时机和顺序进行动作。
[0022]除上述实施例外，本实用新型还可以有其他变型。例如，可以设置多个测试工位，例如可以设置四个测试工位，这些测试工位可以等间距设置，下料轨道在端部的两个测试工位的中间位置设置在分料梭子的下游，而分料梭子同样也具有多个分料工位，例如可以设置2个分料工位，从而也能够减少分料梭子沿线性轨道的移动距离。又例如，测试部件可以设置四个测试工位，分料梭子也设置有四个工位，并且设置两个收料轨道，当分料梭子中的两个工位与两个测试工位对齐时，分料梭子中的另两个工位与两个收料轨道的进口对准。
[0023]本实用新型虽然以较佳实施例公开如上，但其并不是用来限定本实用新型，任何本领域技术人员在不脱离本实用新型的精神和范围内，都可以做出可能的变动和修改。因此，凡是未脱离本实用新型技术方案的内容，依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何修改。
【权利要求】
1.一种集成电路自动分选机，所述自动分选机包括: 机架； 测试分选平台，所述测试分选平台安装在机架上并具有至少一部分相对水平面呈角度倾斜的料轨；以及 控制装置； 其中测试分选平台包括送料部件、料轨分料部件、测试部件、具有分料梭子的自动分档部件以及包括收料轨道的自动收料部件，其特征在于， 所述测试部件包括多个测试工位，所述分料梭子具有多个工位，所述分料梭子位于所述测试工位下游，并且可控地在多个测试工位之间往复移动。
2.如权利要求1所述的集成电路自动分选机，其特征在于，所述多个测试工位为包括左测试工位和右测试工位的两个测试工位，所述分料梭子的工位包括左工位和右工位，所述分料梭子的左工位和右工位之间的距离设定为两个所述左测试工位和所述右测试工位之间距离的一半，所述收料轨道在两个测试工位的中间位置设置在分料梭子的下游。
3.如权利要求1所述的集成电路自动分选机，其特征在于，所述分料梭子安装在线性滑轨部分上，所述分料梭子由伺服电机驱动在多个测试工位之间往复移动。
4.如权利要求1所述的集成电路自动分选机，其特征在于，所述收料轨道为所述料轨的一部分。
5.如权利要求1或4所述的集成电路自动分选机，其特征在于，所述料轨的至少一部分与水平面之间的角度在50-70度的范围内。
6.如权利要求1或4所述的集成电路自动分选机，其特征在于，所述料轨的至少一部分与水平面之间的角度为60度。
7.如权利要求5或6所述的集成电路自动分选机，其特征在于，所述送料部件包括将料管夹紧的夹手送料机构，所述夹手送料机构以与所述料轨的至少一部分与水平面之间的角度相等的角度翻转。
8.如权利要求1所述的集成电路自动分选机，其特征在于，所述机架底部设置多个带有制动装置的滚轮。
9.如权利要求1所述的集成电路自动分选机，其特征在于，每个测试工位包括上暂存区、测试区和下暂存区。
【文档编号】B07C5/00GK203437343SQ201320463850
【公开日】2014年2月19日 申请日期:2013年7月30日 优先权日:2013年7月30日
【发明者】周望标, 连高城 申请人:杭州友旺电子有限公司