1.一种电子元件分类方法，其特征在于，包括：
使多个电子元件被一检测机构进行搬送及特性检测，当电子元件被检测出其料码归类为单数时，将该电子元件由一第一排出管经一第一分配装置至一第一收集区收集；当电子元件被检测出其料码归类为双数时，将该电子元件由一第二排出管经一第二分配装置至一第二收集区收集。
2.一种电子元件分类装置，其特征在于，包括：用以执行如权利要求1所述种电子元件分类方法的装置。
3.一种电子元件分类装置，其特征在于，包括：
一检测机构，执行一间歇旋转的电子元件搬运流路并检测电子元件的特性，该检测机构设有一测盘，该测盘周缘等距环列布设有多个容槽供电子元件容置；
一第一收集区，该第一收集区设有多个第一类料盒，用以收集检测后料码归类为单数的电子元件；
一第二收集区，该第二收集区设有多个第二类料盒，用以收集检测后料码归类为双数的电子元件；
一第一分配装置，该第一分配装置与一第一排出管连通，该第一排出管对应该测盘其中一容槽，该第一分配装置设有一分配头，该分配头可选择性的移动对应至一分配座的多个分配管其中之一，该分配管与该第一收集区的该第一类料盒相对应；
一第二分配装置，该第二分配装置与一第二排出管连通，该第二排出管对应该测盘其中一容槽，该第二分配装置设有一分配头，该分配头可选择性的移动对应至一分配座的多个分配管其中之一，该分配管与该第二收集区的该第二类料盒相对应。
4.如权利要求3所述电子元件分类装置，其特征在于，该第一收集区的该第一类料盒总数等于该第二收集区的该第二类料盒总数。
5.如权利要求3所述电子元件分类装置，其特征在于，该电子元件由该测盘排出至该第一收集区的移动路径长度等于排出至该第二收集区的移动路径长度。
6.如权利要求3所述电子元件分类装置，其特征在于，该第一收集区的多个第一类料盒与该第二收集区的多个第二类料盒分别以矩阵方式排列且有各有两个第一类料盒与第二类料盒未使用。
7.如权利要求3所述电子元件分类装置，其特征在于，该第一分配装置与该第二分配装置分别设有一移摆机构，该分配座设有一呈三度空间的矩形立体向下凹陷的凹弧面，该分配头受该移摆机构的驱动在该凹弧面上方水平位移与上下弧形摆移至对应的分配管。
8.如权利要求7所述电子元件分类装置，其特征在于，该移摆机构设有一水平设置的转轴，转轴一端设有一拨架并与其连动，该分配头设于该拨架上，该转轴受一第一驱动件驱动可作间歇性转动，及受一第二驱动件驱动可沿转轴轴向作间歇性水平位移。
9.如权利要求3所述电子元件分类装置，其特征在于，该第一分配装置与该第二分配装置分别设有一平移机构，该分配座设有一水平面，该分配头受该平移机构的驱动在该水平面上方以一第一方向与一第二方向水平位移至对应的分配管。
10.如权利要求9所述电子元件分类装置，其特征在于，该平移机构设有一第一驱动件与一第二驱动件，该第一驱动件驱动一第一嵌轮旋转以连动一皮带绕转，带动该分配头以间歇性直线运动作第一方向位移；一第二驱动件使一驱动臂驱动一连动臂，以连动分配头作第二方向位移。