1.一种芯片电路测试系统，其特征在于：包括有用于存放待检测芯片的芯片存放架(2)、芯片测试座(3)、用于存放芯片检测用基板的基板存放柜(4)以及计算机控制器(5)；
2.根据权利要求1所述的一种芯片电路测试系统，其特征在于：所述基板抓取机构(6)包括有相互平行的两条第一轨道(61)，在两条第一轨道(61)上滑动连接有第一移动座(62)，在两条第一轨道(61)之间设置有带动所述第一移动座(62)沿着第一轨道(61)进行移动的第一牵引机构(63)；
3.根据权利要求2所述的一种芯片电路测试系统，其特征在于：所述基板抓取爪(610)包括与所述第一横梁(68)固定相连的主体部(6101)，所述主体部(6101)的下方开设有滑槽(61011)，所述主体部(6101)的下方设置有两个夹爪(6102)，两个夹爪(6102)的顶端伸入到滑槽(61011)的内部且能够沿着滑槽(61011)的长度方向进行移动，所述主体部(6101)上设置有带动两个夹爪(6102)相互靠近或远离的驱动组件。
4.根据权利要求3所述的一种芯片电路测试系统，其特征在于：所述驱动组件包括回转连接在所述滑槽(61011)内的双头丝杠(6103)，所述双头丝杠(6103)包括同轴设置的左旋段(61031)和右旋段(61032)，所述左旋段(61031)与其中一个夹爪(6102)螺纹相连，所述右旋段(61032)与另一个夹爪(6102)螺纹相连，所述双头丝杠(6103)的其中一端设置有用于带动双头丝杠(6103)转动的驱动件。
5.根据权利要求1所述的一种芯片电路测试系统，其特征在于：所述芯片抓取机构(8)包括相互平行设置的两条第二轨道(81)，在两条相平行的第二轨道(81)上滑动连接有第二移动座(82)，在两条第二轨道(81)之间设置有带动第二移动座沿着第二轨道(81)进行移动的第二牵引机构(83)；
6.根据权利要求5所述的一种芯片电路测试系统，其特征在于：所述芯片抓取爪(810)包括有与所述第二横梁(88)固定的固定臂(8101)以及位于所述固定臂(8101)一端端头的旋转臂(8102)，所述旋转臂(8102)转动连接在所述固定臂(8101)上，所述固定臂(8101)与所述旋转臂(8102)之间设置有带动所述旋转臂(8102)进行回转的第四旋转驱动机构(8108)；
7.根据权利要求6所述的一种芯片电路测试系统，其特征在于：所述固定臂(8101)的内部设置有第一空腔(81011)，所述驱动组件位于所述第一空腔(81011)内；
8.根据权利要求1所述的一种芯片电路测试系统，其特征在于：所述基板存放柜(4)包括有侧向开口的柜体(41)，所述柜体(41)的内部自下至上间隔设置有多层隔板(42)，所述隔板(42)的上表面自左向右一次设置有多个用于容纳基板的固定槽(421)。
9.根据权利要求1所述的一种芯片电路测试系统，其特征在于：还包括有测试台(1)，所述芯片测试座(3)位于所述测试台(1)的顶端端面上。
10.一种芯片电路测试方法，其特征在于：其采用了权利要求1-9中任意一项所述的芯片电路测试系统，具体步骤如下：