一种离子膜试漏装置的制造方法
【技术领域】
[0001]—种离子膜试漏装置，涉及一种离子膜烧碱生产系统中的离子膜试漏装置。
【背景技术】
[0002]离子膜烧碱生产过程中，氯氢压差等工艺指标控制不好，会使离子膜出现漏点，泄露严重时导致氯气含氢偏高，存在极大的安全隐患。
[0003]目前普遍使用的离子膜试漏方法是在海绵上滚压的方法，操作繁琐、工作量大，且小的针孔基本上测试不出来，试漏效果不好。
【实用新型内容】
[0004]本实用新型的目的就是针对现有技术存在的不足，提供一种操作简单、方便、实用又效果良好的离子膜试漏方法和装置。
[0005]本实用新型的目的是通过以下技术方案实现的。
[0006]—种离子膜试漏装置，其特征在于其结构包括:
[0007]充气腔体，该是充气腔体为上端敞口的、敞口端带有外平法兰的盒状腔体;在腔体一侧侧壁上设有进气管，在进气管上设有进气阀门；在腔体另一侧侧壁上设有排气管，在排气管上设有排气阀门；
[0008]盛水槽，该盛水槽为下底边带有外平法兰的筒体;该筒体的下底边带有与充气腔体上端口配合的外平法兰。
[0009]本实用新型的一种离子膜试漏装置，其特征在于在充气腔体下底设有放水管，放水管上设有放水阀门。
[0010]本实用新型的一种离子膜试漏装置，其特征在于充气腔体水槽上沿与盛水槽下沿通过带有的外平法兰，紧固螺栓固定联接，联接处设有密封环。
[0011]本实用新型的一种离子膜试漏装置，对泄露的离子膜进行补漏时，能够很方便、准确、直观、快速的找出漏点，简化了操作，提高了查漏效率和准确性，能检测小至针孔的漏点，为离子膜烧碱生产氯氢压差等工艺指标控制提供了保障，消除了泄露严重时导致氯气含氢偏高存在极大的安全隐患。
【附图说明】
[0012]图1为本实用新型离子膜试漏装置的结构示意图。
【具体实施方式】
[0013]—种离子膜试漏装置，其结构包括:充气腔体I，该是充气腔体为上端敞口的、敞口端带有外平法兰的盒状腔体;在腔体一侧侧壁上设有进气管5，在进气管上设有进气阀门8;在腔体另一侧侧壁上设有排气管6，在排气管上设有排气阀门9;盛水槽2，该盛水槽为下底边带有外平法兰的管体;该管体的下底边带有与充气腔体上端口配合的外平法兰;在充气腔体下底设有放水管7，放水管上设有排水阀门10。
[0014]本实用新型的一种离子膜试漏装置，使用时充气腔体水槽上沿与盛水槽下沿通过带有的外平法兰用紧固螺栓4固定联接，联接处设有密封环3。
[0015]制作时，充气腔体、盛水槽、紧固螺栓可采用耐酸碱PVC，密封环可采用离子膜电解槽连接垫片;所用阀门可采用PVC球阀。
[0016]在离子膜试漏时，首先在充气腔体和盛水槽的连接处端粘接好密封垫环片，将离子膜平整放置于充气腔体上，再将盛水槽与气室通过法兰用紧固螺栓固定联接;试漏时，关闭排气阀门与放水阀门，打开进气阀往充气腔体内缓缓通入压缩空气。往盛水槽内离子膜表面上通入纯水，水面高度约为2cm，观察离子膜表面，有明显气泡冒出的地方即为漏点，用记号标注。完成试漏后，关闭进气阀门，打开排气阀门，排空充气腔体内的空气，松开紧固螺栓，取出离子膜，即完成离子膜试漏操作。
【主权项】
1.一种离子膜试漏装置，其特征在于其结构包括: 充气腔体，该充气腔体为上端敞口的、敞口端带有外平法兰的盒状腔体;在腔体一侧侧壁上设有进气管，在进气管上设有进气阀门；在腔体另一侧侧壁上设有排气管，在排气管上设有排气阀门； 盛水槽，该盛水槽为下底边带有外平法兰的筒体;该筒体的下底边带有与充气腔体上端口配合的外平法兰。2.根据权利要求1所述的一种离子膜试漏装置，其特征在于在充气腔体下底设有放水管，放水管上设有放水阀门。3.根据权利要求1所述的一种离子膜试漏装置，其特征在于充气腔体水槽上沿与盛水槽下沿通过带有的外平法兰，紧固螺栓固定联接，联接处设有密封环。
【专利摘要】一种离子膜试漏装置，涉及一种离子膜烧碱生产系统中的离子膜试漏装置。其特征在于其结构包括：充气腔体，该是充气腔体为上端敞口的、敞口端带有外平法兰的盒状腔体；盛水槽，该盛水槽为下底边带有外平法兰的筒体；该筒体的下底边带有与充气腔体上端口配合的外平法兰。本实用新型的一种离子膜试漏装置，对泄露的离子膜进行补漏时，能够很方便、准确、直观、快速的找出漏点，简化了操作，提高了查漏效率和准确性，能检测小至针孔的漏点，为离子膜烧碱生产氯氢压差等工艺指标控制提供了保障，消除了泄露严重时导致氯气含氢偏高存在极大的安全隐患。
【IPC分类】C25B1/34, C25B15/02, B01D65/10
【公开号】CN205258622
【申请号】CN201520930801
【发明人】苏青天, 叶得强, 迟建, 杨汝芸, 王金峰, 安克柱, 张岭
【申请人】金川集团股份有限公司
【公开日】2016年5月25日
【申请日】2015年11月20日