技术特征：
1.一种半导体激光器测试装置，包括有底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的基面均对称固定连接有四个第一固定板(2)，以及基面放置有半导体激光器测试仪(3)，四个所述第一固定板(2)上均安装有四个折叠支撑机构(4)，所述折叠支撑机构(4)上安装有承板(5)；所述折叠支撑机构(4)包括有对称设置的两个矩形板(6)，两个所述矩形板(6)相向的侧壁均开设有滑槽(7)，以及相向的侧壁均固定连接有连接板(8)，以及靠近底部相向的侧壁通过销轴转动连接有支杆(9)，所述滑槽(7)的内壁分别滑动连接有压紧块(10)和滑块(11)，所述连接板(8)和压紧块(10)之间均固定连接有弹簧(12)，所述滑块(11)的底部固定连接有定位柱(13)，所述支杆(9)的顶部开设有第一定位槽(14)，以及底部开设有u型槽(15)。2.根据权利要求1所述的一种半导体激光器测试装置，其特征在于：所述承板(5)的底部均对称固定连接有四个第二固定板(16)，所述第二固定板(16)的侧壁通过销轴与两个所述矩形板(6)为转动连接，且第二固定板(16)位于两个所述矩形板(6)之间。3.根据权利要求1所述的一种半导体激光器测试装置，其特征在于：所述定位柱(13)位于第一定位槽(14)的内壁。4.根据权利要求1所述的一种半导体激光器测试装置，其特征在于：所述第一固定板(2)的侧壁开设有第二定位槽(17)。5.根据权利要求1所述的一种半导体激光器测试装置，其特征在于：所述底座(1)的底部固定连接有支腿(18)。6.根据权利要求1所述的一种半导体激光器测试装置，其特征在于：所述底座(1)靠近边沿的基面固定连接有对称设置的两个第三固定板(19)，两个所述第三固定板(19)之间通过销轴转动连接有提手(20)。