专利名称：用于接线端子接头的电子连接测试装置和电子连接测试方法
技术领域：
本发明涉及一种用于承装在一个接插件内的接线端子接头的电子连接测试装置和电子连接测试方法，特别是涉及一种用于在接插件壳侧壁上形成的垂直于接线端子插入方向的测试孔中穿过一个测试探头，并且使得接插件壳体的侧面与接线端子接头进行侧面接触，并使之与插入和锁定在空腔内的端子接头侧面接触，从而测试接线端子的电子连接的电子连接测试装置和方法。
盛装在一个接插件内的用于接线端子接头的电子连接测试装置，通过将测试探头穿过在该接插件与配合的接插件啮合的一侧上形成的开口插进空腔，并使得所述的探头的前端与插入和锁定在空腔内的接线端子接触而测试电子连接。但是，在测试母式接线端子接头的情况下，只有母式接线端子接头的空心部分能够从探头插入侧面看到，而与探头接触的接线端子的端面却无法看到。而且，如果探头沿着与配合的接线端子的插入方向相同的方向插入探头，那么如果探头破坏了接线端子和/或接插件，则与配合接插件连接过程中的电接触可靠性和电连接精确性可能会出现问题。
因此，在测试母式接线端子的电子连接的情况下，希望电子连接测试装置为侧面探头类型，其中，测试孔形成在一个接插件箱体的侧壁上，其方向垂直于接线端子插入方向，而测试探头穿过这些测试孔而不是穿过空腔前端上的开口，因此使得这些测试探头与接线端子接头的侧面接触。
本发明的申请人在未审查的日本专利公开第6-258373号专利中提出了一种侧面探头类型的电子连接测试设备，如
图17所示。在该装置的结构中，插入到在一个接插件的侧壁上形成的测试孔1a内的探头2为L形，如图所示，并且其弯曲向下伸出的前端插入到测试孔1a内。
在上述的结构中，测试孔1a只可以形成在接插件1的一个侧壁上(在图8中为上壁)，换句话说，只能有一级空腔设置在接插件1上。许多接插件的空腔形成为两级，而上述的装置不可能适用于这些接插件。
注意到上述问题，本发明的一个目的就是提供侧面探头类型的电子连接测试装置和电子连接测试方法，用于更容易地对两级式的接插件进行测试。
根据本发明，该目的通过根据权利要求1所述的电子连接测试装置和权利要求15所述的电子连接测试方法来实现。本发明的优选的实施例就是从属权利要求的主题内容。
根据本发明，提供一种电子连接测试装置，用于通过将测试探头至少部分地插入到在接插件箱体上形成的测试孔内，而对至少部分地盛装在一个接插件内的接线端子接头的电子连接进行测试；所述的测试孔沿着0-180°的不同角度延伸，该角度最好基本上垂直于该接线端子接头与配合的接线端子接头的接线端子配合方向或者插入方向，因此测试探头可以通过弹性方式与接插件的接线端子接头的侧面接触；该电子连接测试装置包括一个接插件固定器，适合于固定接插件，其上形成有探头插入孔，所述的探头适合于穿过所述的插入孔而与所固定的接线端子接头接触；一个第一探头固定器和一个第二探头固定器，用于装载相应的一个或者多个探头；以及一个相对移动机构，用于相对相互移动第一探头固定器、第二探头固定器和/或接插件固定器，以将探头插入到探头测试孔内，从而与所固定的接插件的接线端子接头接触。
因此，所提供的侧面探头类型的电子连接测试装置能够足够程度地相对地向着接插件固定器和离开接插件固定器移动一个探头固定器，以进行测试；并且，即使在一个接插件排列有两级空腔时，探头也可以同时插入在接插件的两侧的侧壁上形成的测试孔内，以测试接线端子接头的电子连接。
根据本发明的一个优选的实施例的电子连接测试装置，还包括一个基础部分，所述的第一探头固定器固定到该基础部分上，并且所述的接插件固定器和所述的第二探头固定器连续地排列而设置为可以向着或者离开第一探头固定器进行连续移动。
作为优选的形式，所述的相对移动机构包括一个推压机构，用于在接插件固定器对侧推压第一探头固定器和/或一第二探头固定器的接收面，所述的推压机构可以向着或者离开所述的第一探头固定器和/或第二探头固定器移动从而与所述的第一探头固定器和/或第二探头固定器耦连。
作为更为优选的形式，在所述的推压机构向着第二探头固定器移动的作用下，所述的第二探头固定器和接插件固定器向着第一探头固定器移动，因此将探头定位在测试位置；在该测试位置上，所述的探头插入到其两侧最好由接插件固定器固定的接插件的测试孔内。
根据本发明的另外一个优选的实施例，提供一个电子连接测试装置，用于通过将测试探头插入在一个接插件箱体的侧壁上形成测试孔内而对盛装在一个接插件内的接线端子的电子连接进行测试，所述的测试探头垂直于所述的接线端子插入方向延伸，从而使得所述的测试探头与插入和锁定在空腔内的接线端子接头接触，该电子连接测试装置包括
一个接插件固定器，适合于固定接插件，该接插件固定器的对侧的侧壁部分上形成探头插入孔，所述的探头可以穿过这些插入孔而与所固定的接插件的接线端子接头进行接触；一个第一和一个第二探头固定器，设置为可以面对所述的接插件固定器的对侧表面和装载探头；一个基础部分，所述的第一探头固定器固定到该基础部分上，而所述的接插件固定器和所述的第二探头固定器连续地排列从而可以向着或者离开所述的第一探头固定器移动；一个推压机构，该推压机构用于从接插件固定器的对侧推压第二探头固定器的一个接收面，所述的推压机构可以向着和离开所述的第二探头固定器移动从而与其耦连在一起；在所述的推压机构向着第二探头固定器移动的作用下，所述的第二探头固定器和接插件固定器可以向着所述的第一探头固定器移动，从而将所述的探头定位在测试位置，在该测试位置上，这些探头插入到一个由接插件固定器从其两侧进行固定的接插件的测试孔内；以及第二探头固定器和接插件固定器可以一起移动到一个回缩位置，在该回缩位置上，借助于所述的推压机构离开所述的第二探头固定器，所述的接插件可以安装到接插件固定器内和从该接插件固定器内取出。
由于根据本发明由所述的第一和第二探头固定器所装载的探头可以(至少部分地)从两侧插入到盛装在接插件固定器内的接插件的测试孔内，使得在两侧的接线端子接头互相接触，从而在只是利用推压机构将第二探头固定器向着第一探头固定器移动到测试位置的情况下进行电子连接测试。另一方面，当推压机构移动离开第二探头固定器时接插件固定器和第二探头固定器从其测试位置移动到其回缩位置，在该回缩位置上接插件由回缩连接结构盛装在接插件固定器内。因此改善了可操作性。
具体地，当接插件盛装在接插件固定器内时，所述的推压机构处于回缩位置，并且在该状态下第一探头固定器和第二探头固定器以及接插件固定器位于互相远离的回缩位置，并且在该位置上进行等待；在回缩位置这些固定器不会阻挡盛装和取出接插件。在接插件盛装到接插件固定器后，当第二探头固定器的接收面在推压机构作用下被推压向第一探头固定器时，第二探头固定器阻挡接插件固定器的一侧，从而进一步向着第一探头固定器推压接插件固定器。因此，第一探头固定器和接插件之间的空隙和接插件固定器与第二探头固定器之间的空隙变窄，从而到达指定的测试位置。在这些位置上，探头的前端穿过接插件固定器的探头插入孔而插入到接插件的测试孔内，并且这些导向端与各个接线端子接头弹性接触，从而进行电子连接测试。当推压机构在进行电子连接测试后移动离开第二探头固定器时，在设置在第一探头固定器和接插件固定器之间以及在接插件固定器和第二探头固定器之间的回缩连接结构的作用下，接插件固定器和第二探头固定器返回到回缩位置；各个探头从接插件的测试孔回缩。因此，接插件可以从接插件盛装部分内取出。
作为优选的形式，推压机构包括一个可操作控制杆和一个凸轮部分；该可操作控制杆可旋转地安装在一个基础部分的一个端部上或者安装在接插件固定器的一个支点上；所述的凸轮部分用于在可操作控制杆旋转时推压所述的第二探头固定器的一个接收面和/或所述的第一探头固定器的一个接收面。
作为优选的形式，所述的相对移动机构包括一个回缩连接结构，用于将第二探头固定器和接插件固定器一起移动到回缩位置(图A)，在该回缩位置上，通过使得第二探头固定器移动离开推压机构而使得接插件至少部分地安装到接插件固定器内和从接插件固定器内取出。
具体地，所述的相对移动机构尤其是回缩连接结构包括设置在第一探头固定器和接插件固定器之间和设置在接插件固定器和第二探头固定器之间的弹簧，用于向着互相离开的方向偏压探头固定器。利用这样的一个回缩连接结构，当通过移动推压机构离开第二探头固定器而释放了作用到第二探头固定器上的推压作用力后，第一探头固定器和接插件固定器以及接插件固定器和第二探头固定器都互相分开，从而在弹簧的偏压作用力作用下一起移动到回缩位置。
作为另外一种替代的形式或者附加的形式，回缩连接结构可以包括设置在接插件固定器和第二探头固定器之间以及设置在第二探头固定器和推压机构之间的第一连接件和第二连接件。在这种情况下，由于没有设置弹簧(该弹簧向着回缩位置偏压并弹性返回)，因此无须很大的力就可以通过推压机构将第二探头固定器和接插件固定器移动测试位置，因此改善了可操作性。
作为优选的方式，所述的探头插入孔形成在接插件固定器的两侧的侧壁部分上；其中，第一和第二探头固定器设置为可以面对所述的接插件固定器的对端。
作为优选的方式，所述的第一和第二探头固定器中的至少一个探头固定器包括一个挡块，用于通过在接插件固定器内的安装在接插件或者接插件的一个端面插入表面上的保持器未充分插入时，阻挡保持器而防止所述的第一和/第二探头固定器相对地移动到测试位置。在接插件的保持器未充分插入的情况下，由于挡块与从盛装在接插件固定器内的接插件的后部表面上伸出的保持器接触，从而使得第二探头固定器和接插件固定器不可能移动测试位置。因此，由于探头没有与接插件的接线端子接头的侧面接触因此不可能进行电子连接测试，因此可以探测到保持器的未充分插入状态。而且，由于挡块定位在这样的一个位置上以阻止接插件进入接插件固定器的通道和阻止接插件固定器处于测试位置，这阻止了探头的前端由于强迫将接插件安装到接插件固定器内而受到破坏。
根据另外一个优选的实施例，一对探头固定器设置为向着或者离开接插件固定器的两个相反侧面移动。
作为优选的形式，所述的相对移动机构包括弹簧，用于向着接插件固定器将探头固定器移动到测试位置，在该测试位置上，探头插入穿过固定在接插件固定器内的接插件的测试孔内。
作为更为优选的形式，所述的相对移动机构包括一个凸轮，该凸轮可围绕一个支点旋转，并且形成有一对推压表面，这两个推压表面以支点为中心向着两个方向伸出；所述的凸轮设置在接插件固定器的侧壁上，而所述的探头固定器形成有导向表面，该导向表面与对应的推压表面接触。
其中，所述的推压表面通过凸轮的旋转推压探头固定器的导向表面，因此将探头固定器移动离开接插件固定器，从而克服弹簧的偏压作用力而移动到回缩位置，在该位置上，接插件可以至少部分地插入到接插件固定器内或者从接插件固定器内取出。
根据本发明的另外一个实施例，提供一个电子连接测试装置，用于通过将测试探头插入在一个接插件箱体的侧壁上形成测试孔内而对盛装在一个接插件内的接线端子的电子连接进行测试，所述的测试探头垂直于所述的接线端子插入方向延伸，从而使得所述的测试探头与插入和锁定在空腔内的接线端子接头接触，该电子连接测试装置包括一个接插件固定器，适合于固定接插件，该接插件固定器的两侧的侧壁部分上形成由探头插入孔，所述的探头可以穿过这些插入孔而与所固定的接插件的接线端子接头进行接触；一对探头固定器，设置为可以向着或者离开所述的接插件固定器的两侧表面移动，并装载探头；弹簧，用于向着接插件固定器偏压探头固定器，从而将探头固定器定位在测试位置，在该位置上，探头插入到固定在接插件固定器内的测试孔内；以及一个凸轮，所述的凸轮可以围绕一个支点旋转，并且形成有一对推压表面，所述的推压表面以支点为中心向着两侧伸出，所述的凸轮设置在接插件固定器的一侧的侧壁上，并且所述的探头固定器形成有导向表面，所述的推压表面可以与所述的导向表面接触，其中，所述的推压表面在所述的凸轮旋转作用下推压所述的探头固定器的导向表面，因此克服弹簧的偏压作用力而移动探头固定器离开接插件固定器，从而到达其回缩位置，在该回缩位置上，接插件可以插入到接插件固定器内和从接插件固定器内取出。
如上所述，在本发明中，由于通过向着和离开接插件固定器的两侧表面移动，使得探头可以从两侧插入到盛装在接插件固定器内的接插件的测试孔内，探头与两侧的接线端子接头接触，从而在只是向着接插件固定器移动探头固定器的情况下进行电子连接测试。由于探头固定器在弹簧的作用下移动到测试位置，和当接插件盛装在接插件固定器内时在凸轮的旋转作用下移动到回缩位置，因此改善了可操作性。
具体地，当接插件要盛装在接插件固定器内时，当所述的凸轮旋转时所述的探头固定器克服弹簧的偏压作用力而推压探头固定器的导向表面，结果导致所述的探头固定器离开接插件固定器而移动到回缩位置，所述的探头在该位置上处于等待状态，并且在该位置上这些探头固定器不会阻挡盛装和取出接插件。在接插件盛装后，释放凸轮的一个旋转作用力。因此，在弹簧的偏压作用力作用下把探头固定器向着接插件固定器移动，探头的前端穿过接插件固定器的探头插入孔被插入到接插件的测试孔内并且与各个接线端子接头接触以进行电子连接测试。如果凸轮在电子连接测试后再旋转，探头则从接插件的测试孔内回缩。因此，接插件可以从接插件固定器内取出。
作为优选的形式，所述的凸轮固定到一个可以围绕支点进行旋转的可操作控制杆上，在可操作控制杆的作用下该凸轮可以进行旋转或者转动。通过这种结构，用于利用控制杆移动探头固定器到回缩位置的凸轮旋转操作可以通过手动方式来完成，而不会遇到任何困难。
作为优选的形式，所述的一对探头固定器中的至少一个探头固定器包括一个挡块，用于通过在接插件固定器内的安装在接插件或者接插件的一个端面插入表面上的保持器未充分插入时，阻挡保持器而防止所述的第一和/第二探头固定器相对地移动到测试位置。在接插件的保持器未充分插入的情况下，由于挡块与从盛装在接插件固定器内的接插件的后部表面上伸出的保持器接触，从而使得第二探头固定器和接插件固定器不可能移动测试位置。因此，由于探头没有与接插件的接线端子接头的侧面接触，因此不可能进行电子连接测试，因此可以探测到保持器的未充分插入状态。而且，由于挡块定位在这样的一个位置上以阻止接插件进入接插件固定器的通道，和阻止接插件固定器处于测试位置，这阻止了探头的导向端由于强迫将接插件安装到接插件固定器内而受到破坏。
根据本发明，还提供一种用于对至少部分盛装在一个接插件内的接线端子接头进行测试的电子连接测试方法，特别适用于根据本发明或者本发明的实施例的电子连接测试装置，该方法包括下列步骤将一个接插件至少部分地插入到在一个接插件箱体的侧壁上形成的测试孔内，所述的测试孔沿着0-180°的不同角度延伸，该角度最好基本上垂直于该接线端子接头与配合的接线端子接头的接线端子配合方向或者插入方向，接插件固定器形成有探头插入孔，这些插入孔与所述的测试孔接触；相对地相互移动(位移)装载一个或者多个相应探头的一个第一探头固定器、一个第二探头固定器和/或一个接插件固定器，以至少部分地将探头插入到插入孔和测试孔内从而与所固定的接插件的接线端子接头接触；以及利用探头对至少部分地盛装在接插件内的接线端子进行测试。
具有操作性的本发明的电子连接测试装置和方法特别是适用于需要测试的接线端子接头为母式接线端子接头的情况。换句话说，利用在先技术的电子连接测试装置探头无法容易地与母式接线端子接触。但是，如果除了筒形部分外在接插件箱体上与母式接线端子接头的部分对应的接插件箱体的位置上形成测试孔，则探头的导向端可以穿过测试孔而紧固地和安全地与母式接线端子的侧面接触。
在阅读了本发明下面的最佳最佳实施例和附图后，本发明的这些和其它目的、特征和优点将会更加清楚。应该能够理解，虽然这些实施例是互相独立地进行描述的，但是某些实施例中的单个的技术特征也可以组合到其它的实施例中。
图1是根据本发明的第一个实施例的用于盛装在一个接插件内的接线端子接头的电子连接测试装置的正视图；图2是该电子连接测试装置的平面视图；图3是该电子连接测试装置的主要部分的分解立体透视图；图4是一个接插件固定器的侧视图；图5是处于回缩位置的接插件固定器的正视图；图6A和6B分别是处于回缩位置和测试位置的接插件固定器的剖面图；图7表示一个保持器没有充分插入到接插件内的一个状态；图8A和8B分别表示处于测试位置和回缩位置的根据本发明的第二个实施例的电子连接测试装置的正视图；图9是表示第一和第二连接件上的长圆孔的尺寸关系；图10是根据本发明的另外一个实施例的用于盛装在一个接插件内的接线端子接头的电子连接测试装置的正视图；图11是该电子连接测试装置的平面视图；图12是该电子连接测试装置的侧视图13是该电子连接测试装置的主要部分的分解立体透视图；图14是接插件固定器的回缩位置的正视图；图15(A)是当接插件固定器处于回缩位置时电子连接测试装置的剖面图，而图15(B)表示当接插件固定器处于测试位置时电子连接测试装置的剖面图；图16是表示保持器未充分插入时接插件的安装状态；以及图17表示现有技术的电子连接测试装置的示意图。
下面，参照这些附图对本发明的一个最佳实施例进行描述。
图1-7表示根据本发明的该实施例的电子连接测试装置10，在该电子连接测试装置的结构中，探头固定器13、14设置在一个基础部分或者基础板11上，以使得两个探头固定器面对或者与放置在两个探头固定器之间的接插件对应。该测试装置设计用于一个接插件C。在该接插件C中，在一个接插件箱体的侧面Cb上沿着0-180°的方向形成电子连接测试孔Cd，其中，接线端子T具有两级；但是其方向最好垂直于接线端子插入方向(或者所说明的接线端子接头T与一个未作说明的一个配合接插件的配合的接线端子的配合方向)。
第一探头13通过一个螺栓11a固定到或者安装到基础部分11的一端，而接插件固定器12和第二探头固定器14的下表面上形成有导向沟槽12f和14f。导向沟槽12f和14f与从基础部分11上伸出并沿着纵向方向延伸的一对轨道11b啮合，因此接插件12和第二探头固定器14可以沿着轨道11b滑动(参见附图3和4)。
接插件固定器12具有一个在其上表面12a上形成的接插件盛装部分12b，如图2和3所示。盛装部分12b的结构基本上与需要测试的接插件C的外部形状相同，因此接插件C可以至少部分地盛装(装配或者插入)到接插件盛装部分12b内。当接插件C如图6(B)所示从上方至少部分地装配或者插入到接插件固定器12的盛装部分12b内时，它被保持在该盛装部分12b内，其中，接插件C的被穿过而插入接线端子接头的一个表面朝向上方，而侧壁Cb上则形成测试孔Cd，这些测试孔Cd面对或者对应第一和第二探头固定器13、14。而且，接插件固定器12的另外一侧的侧壁12c上形成凹槽12d，以基本上面对盛装在接插件固定器12内的接插件C的各个测试孔Cd；而在凹槽12d内的底部形成与测试孔Cd连通的探头插入孔12e。
如图6A所示，一个滑动轴15c的一端穿过接插件固定器12和第二探头固定器14的导向孔12g和14g后被固定到所述的第一探头固定器13的底部。安装在滑动轴15c上的弹簧15a、15b位于第一探头固定器13和接插件固定器12之间和接插件固定器12和第二探头固定器14之间并处于压缩状态。这些弹簧15a和15b形成一个回缩连接结构15；在弹簧15a和15b的偏压作用力作用下，第一探头固定器13和第二探头固定器14被迫远离接插件固定器12而到达回缩位置(如图6A所示)。
与凹槽12d啮合的伸出部分13a和14a从第一和第二探头固定器13、14的表面上伸出并面对该接插件固定器12；探头16、17则穿过这些伸出部分13a和14a安装。多个探头16和17最好以与需要测试的接插件C的测试槽或者孔相同的间隔进行安装，而在这些探头导向端上伸出的接触元件可以以拉杆方式穿过探头测试孔Cd插入到测试孔Cd内。这些接触元件16a、17a最好在探头16、17上设置为可以在它们的导向端与盛装在接插件C内的对应的接线端子接头T接触时以拉杆方式回缩到各个探头16、17的体内。接插件固定器12和第二探头固定器14朝着第一探头固定器13移动从而使得插入到测试孔Cd内的接触元件16a、17a最好与接插件C的接线端子接头T接触的位置称为测试位置(参见附图6(B))。在测试位置上，第一探头固定器13、接插件固定器12和第二探头固定器14的面对表面互相接触，而从第一和第二探头固定器13、14的对侧伸出的颚形部分13c、14c装配或者可以装配或者滑动在接插件固定器12的对侧的外表面上，以进行定位。
在基础部分11上邻近第二探头固定器14和与接插件固定器12的对侧上设置一个用于推压第二探头固定器14的接收面推压机构18。该推压机构18包括一个可操作控制杆19和一个可以被压缩从而通过可操作控制杆19的旋转而挤压接收面14d的凸轮部分19b，该可操作控制杆19安装用于围绕一个销轴19a旋转，该销轴19a插入到从基础部分11的前部和另外一侧上的后部上伸出的轴承11c内。
板状挡块20、21(一体地或者独立地)设置在第一探头固定器13和第二探头固定器14的上表面上，从而使得第一探头固定器13和第二探头固定器14的端面向着盛装部分12b伸出。挡块20和21适合于通过面对盛装在盛装部分12b内的接插件C的接线端子插入表面而防止接插件C出来，和适合于在接插件C插入或者装配到接插件盛装部分12b内的过程中，通过阻挡接线端子接头而探测保持器Ce的未充分插入状态。保持器Ce最好从接线端子插入表面的侧面安装以用于对接线端子接头T机械双向锁定。
安装配件22固定到基础板11上以将基础部分11固定到一个工作平台上，而用于与一个测试设备连接的接插件23、24安装在电缆W的端部，这些电缆W则连接到各个探头16、17。
下面对上述的电子连接测试装置10进行电子连接测试的方式进行描述。
首先，附图5所示，使得可操作控制杆19转动而离开第二探头固定器14以进行倾斜，而第一和第二探头固定器13和14至少部分地在回缩连接结构15的弹簧15a、15b的作用下处于回缩位置，与接插件固定器12分开一定距离。在该状态，由于挡块20和21也回缩从而打开接插件固定器12的盛装部分12b的入口，因此接插件C可以装配到盛装部分12b内，如图6A所示。但是，第一和第二探头固定器13、14也可以只是通过一个可操作控制杆19(例如通过将两个探头固定器连接到一个可操作控制杆19)的移动而移动到其回缩状态或者位置。
接着，如图6B所示，如果可操作控制杆19向着第二探头固定器14进行旋转以基本上处于直立位置，则第二探头固定器14被凸轮部分19的移动推压而向着接插件固定器12移动；而接插件固定器12与第二探头固定器14一起进一步向着第一探头固定器13推压移动。如果接插件的一个保持器Ce未能充分插入，从而接插件C的端面上伸出，则第二探头固定器14和接插件固定器12不可能到达其测试位置，因为挡块20、21与保持器Ce接触，如图7所示。在该状态，由于探头16、17的接触元件16a、17a无法与接线端子接头T接触，因此接插件C无法进行电子连接测试。
另一方面，如果保持器Ce完全或者全部插入，挡块20、21到达一定位置，从而面对接插件C的接线端子插入表面的对端，如图6B所示，则可以防止安装在盛装部分12b内的接插件C出来，因此将接插件紧固地固定在其中。在该阶段，各个探头16、17的前端上的接触元件16a、17a能够或者可以基本上与穿过对应的探头插入孔12e和测试孔Cd的各个接线端子接头T接触；然后输出连接信号，从而通过一个测试设备或者电路确定接线端子接头T是否正确排列。如果可操作控制杆19在完成电子连接测试后再旋转而到达其倾斜位置(如图6A所示)，最好在弹簧15a、15b的作用下，接插件固定器12和第二探头固定器14又回到其回缩位置，从而导致接插件C可以从盛装部分12b内取出。
图8A和8B分别表示根据本发明的第二个实施例的电子连接测试装置30，该电子连接测试装置30具有一个不同于第一个实施例中的回缩连接结构15的回缩连接结构35。该回缩连接结构35由第一连接件35a和第二连接件形成35b。第一连接件和第二连接件35a、35b设置在可操作控制杆19与第二探头固定器14之间和设置在第二探头固定器14与接插件固定器12之间，从而使得这两个连接件至少在各个侧面之间的一侧延伸。尽管一个第三连接件35c没有直接连接到回缩连接结构35，但是一个用于现在接插件固定器12的回缩位置的第三连接件35c设置在接插件固定器12和第一探头固定器13之间。
所述的第一连接件、第二连接件和第三连接件35a、35b和35c通过将插入安装销钉35a-2、35b-2和35c-2插入到在各个连接件35a、35b和35c的一端上形成的三个安装孔35a-1、35b-1和35c-1内，从而安装到可操作控制杆19和接插件固定器12上。而在第一连接件、第二连接件和第三连接件35a、35b和35c的另外一端上则形成多个沿着纵向延伸的长圆孔35a-3、35b-3和35c-3，被压入到第二探头固定器14和第一探头固定器13内的可以滑动的销钉35a-4、35b-4和35c-4以可以滑动的方式装配到这些长圆孔35a-3、35b-3和35c-3内。
第一连接件35a的长圆孔35a-3的长度La(La=L-Lb)是根据可操作控制杆19的旋转移动而由安装销钉35a-2的一定的(预定的或者可以进行预定的)移动距离L减去第二探头固定器14从回缩位置到测试位置的一定的(预定的或者可以进行预定的)移动距离Lb而获得。另一方面，长圆孔35b-3、35c-3的长度设置为长圆孔35a-3的距离的一半亦即La/2。第二个实施例除了回缩连接结构35外，其它结构与第一个实施例中的结构类似或者相同，因此不再用同样的附图标号对这些结构进行描述。
下一步，对接插件固定器12的回缩与第二探头固定器14利用该回缩连接结构35而进行的回缩进行描述。图8A表示了接插件固定器12和第二探头固定器14处于测试位置的状态。在该状态，各个可滑动的销钉35a-4、35b-4和35c-4位于长圆孔35a-3、35b-3和35c-3的内。如图8B所示，当可操作控制杆19旋转或者转动而倾斜时，可滑动销钉35a-4与第一连接件35a的长圆孔35a-3的外侧端部接触，从而迫使第二探头固定器14移动到其回缩位置。因此，可滑动销钉35b-4与第二连接件35的长圆孔35b-3接触从而迫使接插件固定器12移动到其回缩位置。而且，当接插件固定器12到达其回缩位置时，第三连接件35c与长圆孔35c-3接触，因此第三连接件起到一个挡块的作用，用于阻挡接插件固定器回缩超过其回缩位置。
从上面的描述可以清楚地看出，具有创造性的电子连接测试装置可以容易地和安全地测试通常用常规的方法很难进行测试的接插件，并且适用于其接线端子接头以两级进行安装的接插件。由于接插件固定器12具有挡块用于在保持器未充分插入而安装到接插件的插入表面上时干涉该保持器，因此在进行电子连接测试之前就可以探测到保持器的安装状态。
下面参照附图10-16对本发明的另外一个最佳实施例进行描述。
图10-16表示根据本发明的另外一个实施例的电子连接测试装置100，在该电子连接测试装置100的结构中，探头固定器13、14设置在一个基础部分或者基础板11上，以使得两个探头固定器面对或者与放置在两个探头固定器之间的接插件对应。该测试装置100设计用于一个接插件C。在该接插件C中，在一个接插件箱体的侧面Cb上沿着0-180°的方向形成电子连接测试孔Cd，其中，接线端子T具有两级；但是其方向最好垂直于接线端子插入方向。
接插件固定器12固定或者可以固定在基础板11的中部，在接插件固定器12的上表面12a上形成的接插件盛装部分12b，如图13所示。盛装部分12b的结构基本上与需要测试的接插件C的外部形状相同，因此接插件C可以至少部分地盛装(装配或者插入)到接插件固定器12的接插件盛装部分12b内并被保持在该盛装部分12内。如图15A所示，当接插件C的被从上方装配或者插入接插件固定器12的盛装部分时，经其插入端子接头的接插件表面朝上，而其上则形成有测试孔Cd的侧壁Cb，Cd面对或者对应第一和第二探头固定器13、14。而且，接插件固定器12的对侧的侧壁12c上形成凹槽12d，以基本上面对至少部分地盛装在接插件固定器12内的接插件C的各个测试孔Cd；而在凹槽12d内的底部形成与测试孔Cd连通的探头插入孔12e。
一对探头固定器13、14设置在基础板11上从而基本上与接插件固定器12的另外一侧的侧壁部分12c面对。如图12和13所示，一对滑动轴115a、115b插入或者可以插入并穿过接插件固定器12和探头固定器13、14的底部，而所述的滑动轴115a、115b由安装在接插件固定器12的互相面对的端面上的容纳板111a、111b支撑。因此，探头固定器13、14可以向着接插件固定器12的两端的端面上移动或者离开所述的端面。而且，安装在滑动轴115a、115b上的弹簧15c、15d位于第一探头固定器13和第二探头固定器14之间并处于压缩状态，以向着测试位置P1偏压各个探头固定器13、14，在该测试位置上，探头固定器13、14基本上与接插件固定器12的两端接触。
与凹槽12d啮合的伸出部分13a和14a形成在从第一和第二探头固定器13、14的表面上，并面对该接插件固定器12；探头16、17则穿过这些伸出部分13a和14a安装，以向着或者远离探头固定器13、14延伸。多个探头16和17最好以与需要测试的接插件C的测试槽或者孔相同的间隔进行安装，而在这些探头导向端上伸出的接触元件16a、17a可以以穿过探头测试孔Cd插入到测试孔Cd内。
在接插件固定器12不是与探头固定器13、14面对的前表面和后表面中的一个表面上设置一个可以围绕一个支点A进行旋转的凸轮118。如图13所示，该凸轮118具有一对向对侧突出的推压表面118a、118b，这些推压表面118a、118b可以与之接触的引导表面13b、14b则从探头固定器13、14伸出。当凸轮118旋转将探头固定器13、14一起移动到与接插件固定器12分开一定距离的回缩位置P2，所述的推压表面118a、118b推压导向表面13b、14b。
凸轮118固定到一个可以围绕支点A进行旋转的可操作控制杆19的底端，而且该凸轮118可以借助于一个杠杆机构由可操作控制杆19转动。不管凸轮是向着探头固定器13还是探头固定器14移动，凸轮118都迫使探头固定器13、14克服弹簧15c、15d的偏压作用力而沿着互相远离的方向移动。
板状挡块20、21(一体地或者独立地)设置在第一探头固定器13和第二探头固定器14的上表面上，从而使得第一探头固定器13和第二探头固定器14的端面向着盛装部分12b伸出。挡块20和21适合于通过面对盛装在盛装部分12b内的接插件C的接线端子插入表面，从而防止接插件C出来，并适合于在接插件C插入或者装配到接插件盛装部分12b内的过程中，通过阻挡接线端子接头而探测保持器Ce的未充分插入状态。保持器Ce最好从接线端子插入表面的侧面安装，以用于对接线端子接头T机械双向锁定。
安装配件122固定到基础板11上以将基础部分11固定到一个工作平台上，而用于与一个测试设备连接的接插件23、24安装在电缆W的端部，这些电缆W则连接到各个探头16、17。
下面对上述的电子连接测试装置100进行电子连接测试的方式进行描述。首先，当可操作控制杆19按照如图14所示进行手动旋转时，凸轮118的推压表面118a、118b推动探头固定器13、14的导向表面13b、14b，结果使得探头固定器13、14互相离开而到达回缩位置P2。此时，由于挡块20、21也移动，以打开接插件固定器12的盛装部分12b的入口，因此接插件C可以至少部分地装配到接插件固定器12的盛装部分12b内，如图15A所示。
接着，如果释放旋转后的可操作控制杆19，在弹簧15c、15d的偏压作用下，探头固定器13、14将被移动到测试位置P1，在该测试位置P1上两个探头固定器13、14与接插件固定器12接触，如图15B所示。此时，如果接插件C的保持器Ce未充分插入而从盛装部分12b的端面上伸出，则挡块20、21与保持器Ce接触，如图16所示。因此，探头固定器13、14不可能到达测试位置P1。由于探头16、17的接触元件16a、17a无法与接线端子接头T接触，因此接插件C无法进行电子连接测试。
另一方面，如果保持器Ce完全或者全部插入，挡块20、21到达一定位置，从而面对接插件C的接线端子插入表面的对端，如图15B所示，则可以防止安装在盛装部分12b内的接插件C出来，因此将接插件紧固地固定在其中。在该阶段，各个探头16、17的前端上的接触元件16a、17a能够基本上与穿过对应的探头插入孔12e和测试孔Cd的各个接线端子接头T接触；然后输出连接信号，从而通过一个测试设备或者电路确定接线端子接头T是否正确排列。如果可操作控制杆19在完成电子连接测试后再旋转而而将探头固定器13、14移动到回缩位置P2，从而导致接插件C可以从盛装部分12b内取出。
本发明不限于上述的实施例。例如，当可操作控制杆19旋转以移动探头固定器13、14到回缩位置P2时，可操作控制杆19可以通过一个锁定装置(例如象一个锁定爪，设置在可操作控制杆19与接插件固定器12或者基础板11之间)而锁定在该位置上。在这种情况下，接插件C可以固定在接插件固定器12内，而无须保持可操作控制杆19在旋转状态。在进行电子连接测试时，通过释放可操作控制杆19的锁定，在弹簧15c、15d的偏压作用力作用下，探头固定器13、14可以移动到测试位置。设置在探头固定器13、14上的用于探测保持器未充分插入状态的挡块20、21可以只是设置在两个探头固定器13、14中的一个探头固定器上。
从上面的描述可以清楚地看出，具有创造性的电子连接测试装置可以容易地和安全地测试通常用常规的方法很难进行测试的接插件，并且适用于其接线端子接头以两级进行安装的接插件。由于接插件固定器12具有挡块，用于在保持器未充分插入而安装到接插件的插入表面上时干涉该保持器，因此在进行电子连接测试之前就可以探测到保持器的安装状态。
附图标号列表T…接线端子C…接插件Ca…接插件箱体Cb…侧壁Cd…测试孔Ce…保持器10、30、100…电子连接测试装置11…基础部分12…接插件固定器12a…上表面12b…盛装部分12c…侧壁部分12e…探头插入孔12f……导向沟槽13…第一探头固定器14…第二探头固定器13b,14b…导向表面14d…接收面15、35…回缩连接结构15a,15b…弹簧35a…第一连接件35b…第二连接件16、17…探头16a,17a…接触元件18…推压机构19…可操作控制杆19b…凸轮部分20、21…挡块115c,115d…弹簧118…凸轮118a,118b…推压表面A…支点P1…测试位置P2…回缩位置
权利要求
1．一种电子连接测试装置(10；30；100)，用于通过将测试探头(16；17)至少部分地插入到在接插件箱体(Ca)上形成的测试孔(Ce)内，从而对至少部分地盛装在一个接插件(C)内的接线端子接头(T)的电子连接进行测试；所述的测试孔沿着0-180°的不同角度延伸，该角度最好基本上垂直于具有配合的接线端子接头的接线端子接头(T)的接线端子配合方向，因此测试探头(16；17)可以通过弹性方式与接插件(C)的接线端子接头(T)的侧表面接触；该电子连接测试装置包括一个接插件固定器(12)，适合于固定接插件(C)，其上形成有探头插入孔(12e)，所述的探头(16、17)适合于穿过所述的插入孔(12e)而与所固定的接线端子接头(T)接触；一个第一探头固定器和一个第二探头固定器(13,14)，用于装载一个或者多个相应的探头(16、17)；以及一个相对移动机构(18；19；15；35；118)，用于相对相互移动第一探头固定器(13)、第二探头固定器(14)和/或互相之间的接插件固定器(12)，从而将探头(16,17)插入到探头测试孔(12e)内，从而与所固定的接插件(C)的接线端子接头(T)接触。
2．根据权利要求1所述的电子连接测试装置，其特征在于，还包括一个基础部分(11)，所述的第一探头固定器(13)固定到该基础部分(11)上，并且所述的接插件固定器(12)和所述的第二探头固定器(14)相继地设置为可以向着或者离开第一探头固定器(13)进行移动。
3．根据前述一个或者多个权利要求所述的电子连接测试装置，其特征在于，所述的相对移动机构(18；19；15；35；118)包括一个推压机构(18；118)，用于从接插件固定器(12)对端推压第一探头固定器(13)和/或一第二探头固定器(14)的接收面(14d；13b；14b)，所述的接收面(14d；13b；14b)可以向着或者离开所述的第一探头固定器(13)和/或第二探头固定器(14)移动从而与所述的第一探头固定器(13)和/或第二探头固定器(14)耦连。
4．根据权利要求3所述的电子连接测试装置，其特征在于，在所述的推压机构(18；19)向着第二探头固定器(14)移动的作用下，所述的第二探头固定器(14)和接插件固定器(12)向着第一探头固定器(13)移动，因此将探头(16,17)定位在测试位置(如图6B所示)；在该测试位置上，所述的探头(16,17)插入到其两侧最好由接插件固定器(12)固定的接插件(C)的测试孔(Cd)内。
5．根据权利要求3或者4所述的电子连接测试装置，其特征在于，推压机构(18；118)包括一个可操作控制杆(19)和一个凸轮部分(19b)；该可操作控制杆(19)可旋转地安装在一个基础部分(11)的一个端部上或者安装在接插件固定器(12)的一个支点(A)上；所述的凸轮部分(19b)用于在可操作控制杆旋转时推压所述的第二探头固定器(14)的一个接收面(14d；14a)，和/或所述的第一探头固定器(13)的一个接收面(13a)。
6．根据前述的一个或者多个权利要求所述的电子连接测试装置，其特征在于，所述的相对移动机构(18；19；15；35；118)包括一个回缩连接结构(15；35)，用于将第二探头固定器(14)和接插件固定器(12)移动到回缩位置(图6A)，在该回缩位置上，通过使得第二探头固定器(14)移动离开推压机构(18；19)而使得接插件(C)至少部分地安装到接插件固定器(12)内和从接插件固定器(12)内取出。
7．根据前述的一个或者多个权利要求所述的电子连接测试装置，其特征在于，所述的相对移动机构(18；19；15；35；118)，尤其是回缩连接结构(15；35)，包括设置在第一探头固定器(13)和接插件固定器(12)之间和设置在接插件固定器(12)和第二探头固定器(14)之间的弹簧(15a；15b)，用于向着互相离开的方向偏压探头固定器(13,14)。
8．根据前述的一个或者多个权利要求所述的电子连接测试装置，其特征在于，所述的相对移动机构(18；19；15；35；118)包括设置在接插件固定器(12)和第二探头固定器(14)之间和设置在第二探头固定器(14)和相对移动机构(18；19；15；35；118)，尤其是推压机构(18)，之间的第一连接件和第二连接件(35a,35b)。
9．根据前述的一个或者多个权利要求所述的电子连接测试装置，其特征在于，所述的探头插入孔(12e)形成在接插件固定器(12)的两侧的侧壁部分(12c)上；其中，第一和第二探头固定器设置为可以面对所述的接插件固定器(12)的两端。
10．根据前述的一个或者多个权利要求所述的电子连接测试装置，其特征在于，所述的第一和第二探头固定器(13,14)中的至少一个探头固定器包括一个挡块(20；21)，用于通过在接插件固定器(12)内的安装在接插件(C)或者接插件(C)的一个端面插入表面上的保持器(Ce)未充分插入时阻挡保持器(Ce)，从而防止所述的第一和/第二探头固定器(13,14)相对地移动到测试位置(附图6A；P1)。
11．根据前述的一个或者多个权利要求所述的电子连接测试装置，其特征在于一对探头固定器(13,14)设置为向着或者离开接插件固定器(12)的两个端面移动。
12．根据权利要求11所述的电子连接测试装置，其特征在于，所述的相对移动机构(18；19；15；35；118)包括弹簧(115c,115d)，用于向着接插件固定器(12)将探头固定器(13,14)移动到测试位置(P1)，在该测试位置上，探头(16,17)插入穿过固定在接插件固定器(12)内的接插件(C)的测试孔(Cd)内。
13．根据权利要求11或者12所述的电子连接测试装置，其特征在于，所述的相对移动机构(18；19；15；35；118)包括一个凸轮(118)，该凸轮(118)可围绕一个支点(A)旋转，并且形成有一对推压表面(118a；118b)，这两个推压表面(118a；118b)以支点(A)为中心向着两个相反的方向伸出；所述的凸轮(118)设置在接插件固定器(12)的侧壁上，而所述的探头固定器(13,14)形成有导向表面(13a,14a)，该导向表面可以与对应的推压表面(118a,118b)接触，其特征在于，所述的推压表面(118a,118b)通过凸轮(118)的旋转推压探头固定器(13,14)的导向表面(13a,14a)，因此将探头固定器(13,14)移动离开接插件固定器(12)，从而克服弹簧(115c,115d)的偏压作用力而移动到回缩位置(P2)，在该位置上，接插件(C)可以至少部分地插入到接插件固定器(12)内或者从接插件固定器(12)内取出。
14．根据权利要求13所述的电子连接测试装置，其特征在于，凸轮(118)固定到一个可操作控制杆(19)，该可操作控制杆(19)可以围绕一个支点(A)旋转，该凸轮(118)可以在可操作控制杆(19)的旋转移动作用下进行旋转。
15．一种用于对至少部分盛装在一个接插件(C)内的接线端子接头(T)进行测试的电子连接测试方法，包括下列步骤将一个接插件(C)至少部分地插入到在一个接插件箱体(Ca)的侧壁(Cb)上形成的测试孔(Ce)内，所述的测试孔沿着0-180°的不同角度延伸，该角度最好基本上垂直于具有配合的接线端子接头的接线端子接头(T)的接线端子配合方向，接插件固定器(12)形成有探头插入孔(12e)，这些插入孔与所述的测试孔(Ce)基本上对应；相对地相互移动(位移)装载一个或者多个探头(16,17)的一个第一探头固定器(13)、一个第二探头固定器(13,14)和/或一个接插件固定器(12)，以至少部分地将探头(16,17)插入到插入孔(12e)和测试孔(Cd)内，从而与所固定的接插件(C)的接线端子接头(T)接触；以及利用探头对至少部分地盛装在接插件(C)内的接线端子进行测试。
全文摘要
一个电子连接测试装置具有一个接插件固定器12、第一和第二探头固定器13、14,接插件固定器和第二探头固定器可以向着和离开所述的接插件固定器移动。一个用于在接插件固定器的对侧推压第二探头固定器的接收面14d的推压机构18与第二探头固定器配合,从而可以向着和离开该第二探头固定器移动。第二探头固定器和接插件固定器可以随着推压机构的移动而进行运动,从而定位在测试位置P1或者回缩位置P2。
文档编号G01R31/04GK1308389SQ0110248
公开日2001年8月15日 申请日期2001年2月6日 优先权日2000年2月10日
发明者永野勇二, 铃木信广, 西野彰 申请人:住友电装株式会社