专利名称：图像显示装置的亮度测定方法、制造方法、特性调整方法和特性调整装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及图像显示装置中所具有的用来调整像素亮度的图像显示装置的亮度测定方法、制造方法、特性调整方法和特性调整装置。
背景技术：
作为目前的图像显示装置的亮度检测方法，例如在实开平04-055535号(文献2)中，公开了使用线性传感器的液晶显示板的图像检测方法。此外，在特开平10-228867号(文献1)里，公开了在具有表面传导型电子释放元件(以下，称为SCE元件)的图像显示装置中，测定荧光体的发光亮度，向各元件施加特性位移电压的特性调整方法。
SCE如图2所示，具有与元件电压Vf、元件电流If和释放电流Ie相对的非线形特性，而释放电流Ie具有明确的临界值电压Vth。
已提出了利用这些特性，如图11所示，使SCE元件4001与具有布线电阻4004、4005的行方向和列方向布线连接，并配置为简单矩阵，作为电子源而应用的图像显示装置的方案。
将多重电子源适用于简单矩阵驱动的图像显示装置，为了从对应于任意像素的元件输出希望的释放电流，向行方向布线4002和列方向布线4003施加适当的电信号。此外，同时向未作图示的正电极施加高电压。
与一般的分时分割驱动一样，周期性地逐行选择行方向布线4002，在向选择行的行方向布线4002的端子施加选择电压Vs的同时，向非选择行的行方向布线4002的端子施加非选择电压Vns。与此同周期地，为了对应于显示的图像信息，输出释放电流，向列方向布线4003的端子施加调制电压Ve1～Ve6。
这里，为了向选择的元件施加临界值电压Vth以上的电压，向非选择的元件施加临界值电压Vth以下的电压，如果Ve1～Ve6、Vs、Vns为大小适宜的电压，则只从选择的元件输出希望强度的释放电流。此外，对应于这样的分级信息，代替调制调制电压的电压振幅，也可以调制调制电压的脉冲幅度。进一步，也可以使用电压振幅调制和脉冲幅度调制的组合驱动方法。
然而，配置了多个电子释放元件的多重电子源，由于步骤上的变动等原因，每个电子释放元件的电子释放特性多少都会产生一些散乱，在适用于大画面的平面图像显示装置的情况下，会表现为各自的电子释放元件的特性误差、亮度误差等的问题。
作为这种多重电子源的每个电子释放元件的电子释放特性不同的原因，可以考虑是，例如电子释放部件使用的材料成分的误差、元件各部件材料的尺寸形状误差、通电形成步骤的通电条件的不统一、通电活性化步骤的通电条件和氛围气体的不统一等各种原因。
要排除所有这些原因，需要非常专业的制造设备和极严密的工程管理，为了满足这些条件需要巨额制造成本，这是不现实的。
在上述文献1中，为了减少这种误差，公开了具有测定各自特性的步骤和为了成为对应于基准值的值而施加调整特性的特性位移电压的步骤的图像显示装置的制造方法。但在以下点中，并不很充分。
这里，首先叙述为了调整元件特性而必需的元件特性的测定。
现有的元件特性的测定是通过选择一个元件对其施加电压，检测释放电流Ie和亮度，把其结果存入存储器，并通过这样的检测工作对所有元件重复进行。在检测亮度的情况下，还可以对包括荧光体的发光特性的散乱进行调整。
针对这个步骤，参照图15的流程图作更为详细的说明。
首先，由开关矩阵选择元件(S1)，输出峰值数据Tv(S2)。然后，施加脉冲信号(S3)，检测释放电流Ie(S4)，将检测结果保存在存储器中(S5)。
判断该S3到S5的步骤对所有元件是否结束，未结束则选择新的元件(S7)，进行S3到S5的步骤。
如果对所有元件完成了步骤，则比较所有元件的Ie，决定向各元件施加的存储器电压(S8)，将其结果保存在存储器中(S9)，未结束时返回S3。
在这样的元件特性的检测步骤中，在适用于近来的高画质电视等高分辨率图像形成装置那样的像素数多的图像显示装置时，完成该步骤需要耗费大量时间，产生生产性下降的问题。
此外，在测定各像素的亮度过程中，由于荧光体的位置偏差和电子射线的照射位置的偏差等原因，还由于混色等相邻元件的影响，有可能使被测定元件的亮度信号测定精度低下。
进一步，在使用一般用于CRT的荧光体P22时，荧光体的1/10余辉时间，绿和兰是10微秒，红是1毫秒左右。
在使用光学测定系统对从一个元件发出的光逐次进行检测的情况下，因为有该余辉时间，所以某个元件和下一个元件的驱动时间间隔有必要隔开余辉时间的量。
因此，在构成1280×RGB×768像素程度的高清晰度显示器的情况下，检测所有的点需要1000秒的长时间。
此外，红色荧光体(R)、绿色荧光体(G)、兰色荧光体(B)的三元色荧光体的发光特性，在使荧光体发光的电子释放元件的基于电子释放特性的电子照射量以外，也受使用的材料、荧光体的形成状态等影响。
如果考虑作为其显示特性的白色平衡，则在实施调整荧光体的发光特性(CRT等的一般的灰度系数特性等)、修正测定仪器的灵敏度的基础上，还需要调整显示部件全体成为最合适的白色平衡的电子释放元件的电子释放特性等繁琐的工作。
如上所述，在现在的技术中，为了调整像素的亮度而测定各个像素需要很长的测定时间，此外，测定精度也不够。
发明内容
本发明的目的在于提供一种能够缩短像素亮度的测定时间、提高测定精度的图像显示装置的亮度测定方法、制造方法、特性调整方法和特性调整装置。
为了达到上述目的，本发明的图像显示装置的亮度测定方法的特征是，在各自相邻的显示红、蓝、绿的多个像素被配置成矩阵状的图像显示装置的亮度测定方法中，把各种颜色的像素按照每种颜色分间地进行分割并使其发亮，对应于该发亮来测定发光像素的亮度。
像素亮度的测定，通过具有光传感器的亮度测定装置进行，同时可以把图像显示装置的显示区域分割成对应于上述亮度测定装置的测定区域的各自包含多个像素的多个块，通过在分割的各个块上移动上述亮度测定装置，测定各像素的亮度。
可以在图像显示装置上配置多个上述亮度测定装置，由这些多个亮度测定装置同时测定像素的亮度。
可以针对分割的各个块中所包含的像素，使每个颜色同时发亮，来测定各种颜色的像素的亮度。
此外，本发明的图像显示装置的制造方法具有以下特征，在各自相邻的显示红、兰、绿的多个像素被配置成矩阵状的图像显示装置的制造方法中，具有把各种颜色的像素按照颜色分间地进行分割并使其发亮，对应于该发亮测定发光像素的的亮度测定步骤；以及根据该测定步骤的测定结果，调整各像素的亮度的调整步骤。
此外，本发明的图像显示装置的特性调整方法是具有在基板上排列了多个电子释放元件的多电子源以及由于照射从该电子释放元件释放的电子而发光的荧光材料的图像显示装置的特性调整方法，其特征在于包括把图像显示装置的显示区域分割成多个区域，依次测定各个分割区域的亮度的测定步骤；根据该测定步骤的测定结果，通过施加特性位移电压，使各个电子释放元件的电子释放特性移动到规定的特性目标值的位移步骤；
其中在上述测定步骤中，使分割区域内的不相邻的电子释放元件同时释放电子，通过照射这些释放电子来测定发光的荧光材料的亮度。
上述分割区域的不相邻的电子释放元件是从向红色荧光体、绿色荧光体、蓝色荧光体中的任意一色的荧光材料照射电子的电子释放元件中选择出来的元件。
此外，本发明的图像显示装置的特性调整装置是在基板上配置了多个电子释放元件的图像显示装置的特性调整装置，其特征在于包括同时选择并驱动图像显示装置的显示部件的规定区域内的多个不相邻的电子释放元件的选择驱动装置；与该选择驱动装置的驱动时间同步的定时信号发生装置；根据从上述电子释放元件释放的电子而发光的发光装置；与上述定时信号发生装置的输出同步地取得上述发光装置的亮度信号的至少一个的亮度测定装置；根据从该亮度测定装置得到的信号和上述驱动装置的多个元件的选择信息，求出选择的元件的各自的发光特性的运算装置；存储该运算装置的输出的存储装置；向选择的多个元件施加特性位移电压的电压施加装置；以及使显示板相对于上述亮度测定装置移动的至少一个的移动装置。
图1是本发明的第一个实施例中的向使用了多重电子源的图像显示装置施加特性调整信号的装置的简要构成图。
图2是展示SCE元件的元件特性的一个例子的图。
图3是展示在施加了预备驱动电压的各SCE元件的驱动电压改变时释放电流特性的一个例子的图。
图4是本发明的第一实施例相关的特性调整装置的驱动定时流程图。
图5是展示本发明的第一实施例相关的图像显示装置上的亮点投影在局部传感器上的状态的模式图。
图6是展示向图3中所示的具有释放电流特性的元件施加特性转移电压时的释放电流特性的变化的图。
图7(a)是本发明的第一实施例的图像显示装置的正面板的构成模式图，图7(b)是同一图像形成装置的背面构成的模式图。
图8是展示第一实施例的电子源中，各SCE元件的特性调整处理的流程图。
图9是展示根据测定的电子释放特性施加特性调整信号的处理的流程图。
图10是本发明的第四实施例相关的向使用多重电子源的图像形成装置施加特性调整信号的装置的简要构成图。
图11是说明现有技术的多重电子源的矩阵布线的图。
图12是展示本实施例的显示板中正面板的荧光体配置的例子的平面图。
图13是展示本发明第四实施例的特性调整装置结构的斜视图。
图14是展示本发明第四实施例的图像显示装置中设定的区域位置的模式图。
图15是现有技术的特性调整方法的特性测定步骤的流程图。
图16是展示本发明的第四实施例的施加特性调整信号的处理的流程图。
具体实施例方式
以下参照附图，详细说明本发明的合适的实施例。但是，实施例所记载的构成部件的尺寸、材料、形状、其相对配置等并不特别限定于记载，本发明的范围也并不仅仅限定于它们。
第一实施例下面对本发明的第一实施例相关的图像显示装置的亮度测定方法、制造方法、特性调整方法和特性调整装置进行说明。在本实施例中，说明将SCE元件作为多重电子射线源使用的图像显示装置的例子。
关于图像显示装置的整体结构，通过文献1参照图15、图16等已经作了详细说明，故此省略。
本专利申请发明者认为在制造步骤中，在用于通常显示的驱动前，先通过进行预备驱动处理，能够减少实效变化。
在本实施例中由于预备驱动和电子源的特性调整一起进行，所以先对预备驱动进行说明。
通常，实施了成型处理和通电活性化处理的元件被维持在减少了有机物分压的稳定状态。
预备驱动是指在这样的减少了真空环境中的有机物分压的环境(稳定状态)下，为了显示图像而先于通常驱动实施的通电处理。
即用预备驱动电压Vpre的电压短时间进行驱动后，再以电场强度减小那样的通常驱动电压Vdrv进行通常的显示驱动。
由于通过施加这样的Vpre电压来驱动，并向元件的电子释放部分事先施加大的电场，所以使得成为实效特性的不稳定原因的构造部件的变化在短时间内集中体现，可以减少以低电场的通常驱动电压Vdrv长时间驱动时的变动因素。
在本实施例中，在使用图像形成装置的电子释放元件前，先以用于显示图像的通常驱动电压Vdrv测定各电子释放元件的发光特性，在发光特性有误差的情况下，为了减少该误差并取得均匀的分布，调整各元件的特性。
图1是展示本发明的第一实施例的用来调整电子释放元件的电子释放特性的驱动电路的构成的框图。在本实施例中，通过向显示板301的各个SCE元件施加特性调整用的波形信号而改变电子释放特性，来调整各个元件的特性。
在图1中301是显示板，是将具有将多个SCE元件配置成矩阵状的底板和在该底板上分开设置的具有通过从SCE元件释放电子而发光的荧光体的正面板等设置在真空容器中而构成的。
在显示板301上设置的各个元件中，在特性调整前，先施加上述预备驱动电压Vpre。
302是用于向显示板301所具备的荧光体施加从高压电源313来的高压电的端子。
303、304是开关矩阵，通过选择各自的行方向布线和列方向布线，来选择用于施加脉冲电压的电子释放元件。
306、307是脉冲发生器，产生驱动用的脉冲波形信号Px、Py。
305是捕捉图像形成装置的发光进行光电感测的亮度测定装置，具有光学透镜305a和局部传感器305b。在本实施例中局部传感器使用CCD。
使用该亮度测定装置305(光学系统)，可以把图像形成装置的发光状态作为二维图像信息而电子化。
308是运算装置。
局部传感器305b输出的二维亮度信号Ixy和开关矩阵303、304所指定的位置信息信号Axy从开关矩阵控制电路310输入到运算装置308。然后，运算装置308计算对应于每一个被驱动了的SCE元件的发光量信息，把结果Lxy输出到控制电路312。以后详细叙述其方法。
309是使局部传感器305b相对于控制板移动的自动系统。自动系统309具有没有图示的圆头螺栓和直线导轨。
311是脉冲峰值设定电路，通过输出脉冲设定信号Lpx、Lpy，决定脉冲发生器306、307各自输出的脉冲信号的峰值。
312是控制电路，控制特性调整的整个过程，并输出用于脉冲峰值设定电路311设定峰值的数据Tv。此外，312a是CPU，对控制电路312的动作进行控制。
312b是为了调整各个元件的特性，存储各元件的发光特性的亮度数据存储器。
具体来说，存储器312b存储与在施加通常驱动电压Vdrv时，由于从各个元件释放电子而发光的发光亮度成比例的发光数据。
312c是为了使元件特性成为目标设定值，而储存必要的特性位移电压的存储器。
312d将在以后详细叙述，是为了进行元件的特性调整而参照的检索表(LUT)。
310是开关矩阵控制电路，输出开关切换信号Tx、Ty，通过对开关矩阵303、304的开关选择进行控制，选择施加脉冲电压的电子释放元件。
此外，开关矩阵控制电路310向运算装置308输出使哪个元件发亮的地址信息Axy。
接下来，说明驱动电路的动作。
驱动电路的动作可以大致分为测定显示板301的各元件的发光亮度，为了达到调整目标值而取得必要的亮度误差信息的阶段；为了达到调整目标值而施加特性转移用脉冲波形信号的阶段。
首先，叙述测定发光亮度的方法。
开始通过自动系统309使亮度测定装置305移动到希望检测的显示板上的对面位置。然后根据从控制电路312来的开关矩阵控制信号Tsw，通过开关矩阵控制电路310选择开关矩阵303和304的所定的行方向布线或列方向布线，并使之切换连接而可以驱动那些希望的地址的SCE元件。
另一方面，控制电路312向脉冲峰值设定电路311输出测定电子释放特性用的峰值数据Tv。由此，从脉冲峰值设定电路311将峰值数据Lpx、Lpy分别输出到脉冲发生器306、307。
根据该峰值数据Lpx、Lpy，脉冲发生器306和307各自输出驱动脉冲Px、Py，这些驱动脉冲Px、Py被施加给由开关矩阵303和304选择的元件。
这里，该驱动脉冲Px、Py，在SCE元件上，被设定成用来测定特性而施加的电压(峰值)Vdrv的1/2振幅，并且极性相互不同的脉冲。
另外同时通过高压电源313向显示板301的荧光体施加规定的电压。
该地址选择和施加脉冲的步骤对多个行布线反复进行，边扫描显示板的区域(例如，矩形区域)一边进行驱动。
另外，表示这个反复执行步骤的期间的信号Tsync被作为电子遮断器的触发信号传给局部传感器。
即控制电路312如图4所示那样地与开关切换信号Tx、Ty同步地输出驱动信号Vdrv，依次输出扫描Ty的行布线数。并覆盖该多个Ty信号那样地输出Tsync信号。
由于在Tsync理论的High期间，局部传感器305b的遮断器处于开的状态，所以通过光学透镜305a缩小的发亮图像成像在局部传感器305b上。其状态如图5所示。
对于一个发光点501，为了在多个局部传感器的元件502上成像，要设定光学系统的缩小倍率。
这个被摄影的图像的亮度信号Ixy被传送给运算装置308。由于被驱动的元件图像已经成像，所以如果计算出该被分配的传感器的元件数之和，则就是与该被驱动的元件的发光量成比例的亮度值。
由此得到了对应于驱动区域的元件的亮度值，并作为亮度数据Lxy将信息传送给控制电路312。
在荧光体的余辉时间的期间电子遮断器是开放的，可是发光点之间在传感器上在空间上是分离的，所以余辉时间不会对发光点之间产生影响。
下面，参照图3、图6对本实施例所使用的特性调整方法作模式化说明。
图3是展示构成本实施例的显示板301的多重电子源施加预备驱动电压Vpre以后的SCE元件的驱动电压(驱动脉冲的峰值)Vf变化时的释放电流Ie的变化的一个例子的图。
电子释放特性由动作曲线(a)表示，当驱动电压为Vdrv时释放电流是Iel。
但是本实施例的SCE元件具有与以前被施加的电压的驱动脉冲的最大峰值和脉冲幅对应的释放电流特性(存储功能性)。
图6展示了向具有图3的释放电流特性(a)的元件施加特性位移电压Vshift(Vshift≥Vpre)时释放电流特性的变化(图6(c)的曲线)。
已知由于施加特性位移电压，施加Vdrv时的释放电流Ie从Ie1减少到了Ie2。即由于施加特性位移电压，释放电流特性向右方向(释放电流减小的方向)位移了。
相对于释放电流的发光量由向荧光体发射的电子的加速电压、荧光体的发光效率和电流密度特性决定，如果参照事先向其添加了的量则可以使发光特性位移。
在各个步骤中向电子释放元件施加电压的大小如以下叙述的那样设定。
在将在测定各个电子释放元件的发光特性的步骤中施加的测定用驱动电压设为VEmeasure，将在使各个电子释放元件的特性变得均匀而进行调整的步骤中施加的特性位移用电压设为Vshift，在为了图像显示而使用电子释放元件时施加的驱动电压最大值设为Vdrive的情况下，它们与上述的Vpre有Vdrive≤VEmeasure≤Vpre≤Vshift的大小关系。
这样，由于设定了VEmeasure比Vdrive大，在各个电子释放元件上，在使用前预先施加了比使用时施加的驱动电压还大的电压。所以可以防止使用中电子释放特性发生位移的异常。
此外，由于设定了Vshift比VEmeasure大，所以特性位移用脉冲成为向电子释放元件施加的最大电压。
于是，如果施加特性位移用脉冲，则可以确保电子释放特性位移到希望的特性。当然，由于设定了Vshift比Vdrive大，所以可以防止被调整成均匀的电子释放特性在使用时发生位移的异常。
这里，元件的电子释放量和发光亮度的关系由电子的加速电压和电流密度以及荧光体的发光特性决定。于是，如果想知道向具有某个初期特性的电子释放元件施加多大的特性位移用电压则特性曲线向右有多大的位移，则有必要事先向各种各样的初期特性的电子释放元件施加各种大小的Vshift，并检测其亮度。
为此，将这样的实验数据预先作为检索表312d存储在控制电路312中。向各个电子释放元件施加的特性位移电压的大小，参照检索表312d被选择。
在本实施例中，为了能够将显示板的区域分割为纵横10×8合计80块的区域进行检测，设计了该光学系统和自动系统。
在本实施例的显示板的正面板中，如图7(a)所示，由单色的一个像素的荧光体构成155μm×300μm，纵黑线条宽50μm，横黑线条宽300μm的大小，3×1280×768个像素的显示区域大约是790mm×460mm。此外，图7(b)展示了与正面板上的荧光体和黑线条相对应地，在基板上与SCE元件并列配置了行方向布线和列方向布线的后板的结构。这里，列方向布线和行方向布线的宽度被设定为与正面板上的纵、横黑线条的宽度匹配。
于是，设计能够扫描该区域的自动系统，使光学系统的倍率为0.18。
图8是展示控制电路312的特性测定处理的流程图。
首先，在步骤S1中，把光学系统移动到所希望的范围(区域)。
在步骤S2输出开关矩阵控制信号Tsw，通过开关矩阵控制电路310切换开关矩阵303、304，选择显示板301的SCE元件不相邻的192个(1行384个元件的一半)元件。
接下来，在步骤S3把向该选择了的元件施加的脉冲信号的峰值数据Tv输出到脉冲峰值设定电路311。
测定用脉冲的峰值是显示图像时的驱动电压Vdry。此外，在步骤S4中，由脉冲发生器306、307通过开关矩阵303、304，向在步骤S1选择了的SCE元件施加测定电子释放元件特性用脉冲信号。
一边依次切换指定的行方向布线和列方向布线，一边重复从步骤2到步骤4共192(96行×2)次。与这些步骤同时，在步骤5测定被驱动的区域的发光图像。
接下来，在步骤S6根据发光图像和被驱动的元件的地址变换为对应于元件地址的亮度值。即能够驱动96×384个元件并得到其亮度值。
另外，在步骤S7把得到的亮度数据存入存储器312b。
接下来，根据得到的亮度数据，在步骤S8进行施加位移电压的处理。以后将详细叙述这个步骤。到此为止对一个区域施加位移电压的处理就结束了。
在步骤S17中，调查是否针对显示板的所有区域进行了亮度测定和施加位移电压的处理，不是的时候，进入步骤S1，循环将光学系统移动到下一个区域。
光学系统的移动使用自动系统309，亮度测定系统的移动速度为30mm/秒。
由于一个区域约80mm×60mm，所以区域间的移动时间大约为4秒。
在本实施的例子中Vdrv＝14v，Vpre＝16v，Vshift＝16～18v，对于特性位移使用脉冲幅为1ms、周期为2ms的方形脉冲，对于亮度测定使用脉冲幅为18μs，周期为20μs的脉冲。
关于移动时间和元件的发亮时间，在测量整个画面的亮度值时输出的脉冲数对应于一个区域为192个脉冲，由于区域数为80个，所以共计15360个脉冲，由此驱动时间约为0.3秒，移动时间为4秒，80个区域需要约320秒左右。
此外，施加位移电压的时间为2ms×所有元件数，约为5900秒。
图9是展示本实施例中，由控制电路312执行的，为了使显示板301的一个区域内的SCE元件的亮度值成为目标设定值的处理的流程图，相当于图8的流程图的步骤8。
首先，在步骤S10从存储器312b读入检测的亮度值。
然后，在步骤S11判断是否有必要向各个SCE元件施加特性位移电压，即与作为目标的亮度值的上下(大小)关系。
需要施加位移电压时，在步骤12从检索表312d中读出与该元件的初期特性最近似的元件数据。
然后，从该数据中，选出用来使该元件的特性变为目标值的特性位移电压。
接下来在步骤S13，通过开关矩阵控制信号Tsw通过开关矩阵控制电路310控制开关矩阵303、304，并选择显示板301的SCE元件中的一个元件。
然后，根据峰值设定信号Tv由脉冲峰值设定电路311设定脉冲信号的峰值，在步骤S14中，脉冲峰值设定电路8输出峰值数据Lpx和Lpy，根据该值脉冲发生器306和307输出该被设定的峰值的驱动脉冲Px、Py。
这样，针对每一个元件，决定特性位移用电压的值，并向有必要进行特性位移的SCE，施加对应其特性的特性位移脉冲。
在步骤S15调查对在一个区域内的所有SCE处理是否结束，未结束时返回步骤10。
在通过以上步骤用Vdrv＝14Volt驱动做成的图像形成装置并检测所有的亮度亮点时，标准偏差/平均值为3％。此外，如果在该面板上显示动态图像，则能够显示没有误差感的高品质的图像。
(比较例)代替上述第一实施例的实施内容，选择了相邻的电子释放元件，还调整了与上述同样的方法做成的图像形成装置的电子释放特性。
其结果，可在区域内找到一部分显示性能下降的部位。观察该部位，是发光点在相邻部位与几个部位重叠发光的区域。
在图5中，在两个发光点501之间，如果设想还存在另外一个发光点的情况，则很容易能推测出在比较例中显示的画质与上述第一实施例那样选择“不相邻元件”时的画质会产生差异。
(第二实施例)
在上述第一实施例中，在测定像素的亮度的情况下，已经说明了同时选择不相邻的像素并使之发亮来测定亮度的情况，在本实施例中，对作为这个“不相邻像素”，从3元色(红R，绿G，兰B)中选择同色的情况作说明。
关于基本结构和作用，由于和上述第一实施例相同，所以省略其说明。
在上述第一实施例中的亮度测定方法中，作为测定对象、显示R、G、B的像素被配置成相邻的像素构成了彩色图像显示装置，为了能够同时选择不相邻的元件，而在时间上各自分割为RGB并使之发亮，用与上述第一实施例相同的方法进行特性调整。
即，本实施例的彩色图像显示装置如图12所示，荧光体被以R、G、B的顺序配置在正面板上。这样，如果选择了同样颜色的像素就选择了不相邻的像素。
在此，在本实施例中，通过各种颜色的像素分间地错开，测定其亮度，如上述第一实施例中说明的那样，缩短了检测时间，并且提高了检测精度。
另外，在本实施例中，在一个块内逐次选择行方向布线，可以不检测分间分割的每行的各种颜色的像素的亮度，而同时选择一个块内的所有行方向布线，测定每一种颜色的亮度。即对于一个块内的SCE元件，每个RGB正好进行三次发亮动作，因而可以测定块内所有的SCE元件的亮度。此时，与测定每行的情况比较，可以明显缩短检测时间。
这时，在列方向上的相邻画素同时发亮，但如上所述，通过配置横向黑线条，可以充分抑制相邻像素对测定亮度的影响。
有关根据测定的亮度，调整电子释放特性的方法等，与上述第一实施例的说明相同。
但是，在本实施例中，以R/G/B测定亮度值和使特性位移到特性目标值的特性调整，也要考虑显示部件的白色平衡。
即不仅要根据各种颜色的各元件亮度数据，使亮度分布达到均匀那样地调整电子释放元件的电子释放特性，在本实施例中，在达到亮度分布均匀的基础上，还要根据各种颜色的亮度数据，达到适当的白色平衡那样地来调整电子释放元件的电子释放特性。
其结果是，在得到与上述第一实施例相同程度的亮度亮点的基础上，还能得到白色平衡良好的图像显示。
如上所述，在图像显示装置的亮度测定中，由于排除了作为显示别的颜色的像素的相邻像素的影响，所以可以取得高测定精度的亮度测定。
进而，通过适用于多重电子源的特性调整步骤，还能够减轻各电子释放元件的电子释放特性的不规则的误差、荧光体的荧光(发光)特性误差、图像形成装置的结构等原因引起的各种各样的误差，可以制造高显示品质的图像显示装置。
进而，由于通过同时得到多个元件的发光特性，可以高速进行调整处理，所以能够大幅度缩短特性调整所需要的步骤时间。
(第三实施例)在本实施例中，在上述第一实施例中选择驱动测定元件时，选择某行中不相邻的元件的基础上，进而同时选择多行不相邻的行，使每个RGB各自发亮，测定亮度。
其它的点，用与上述第二实施例相同的方法进行特性调整后，得到与上述第二实施例相同的图像显示。
在本实施例中，能够扩大检测仪器的位置匹配精度和显示板尺寸精度的允许范围。另外，由于可以进行包括检测仪器的灵敏度修正等的统一处理而使检测更加简便。
(第四实施例)在上述第一实施例中，说明了利用一个亮度测定装置，并使该亮度测定装置相对于面板的所有区域进行移动，进行亮度测定的情况下的结构。
在本实施例中，说明在设置多个亮度测定装置(具体说是四台)，利用多台亮度测定装置同时进行测定，来谋求进一步缩短测定时间的情况下的结构。
关于其他基本的构成，由于与上述第一实施例相同，所以给相同的构成赋予相同的符号，并适当省略其说明。此外，本实施例可适用于上述第二、三实施例。
图10是展示本发明的第四实施例的用来调整电子释放元件的电子释放特性的驱动电路结构的框图。
相对于上述第一和第二实施例中的图1的结构，增加了三台亮度测定装置，合计四台(亮度测定装置305、314、315、316)，此外，伴随于此，脉冲发生电路增加了两个，合计四个(脉冲发生电路306、307、317、318)。
在本实施例中一次选择四个区域，所以使亮度测定高速化了。
如图13所示的模式图，在载物台1801上设置显示板301，在台座1802上配置在XY方向上移动光学系统的自动系统1803。
配置四台由透镜1804和CCD照相机1850构成的光学系统(亮度测定装置)。
关于整体流程，与图8所示的第一到第三实施例相同，以下主要说明不同部分。
首先，在步骤S1中，两个亮度测定装置(亮度测定系统，光学系统)如图14所示，在区域1、区域2、区域3、区域4的两个地点移动。
在步骤S2选择768个SCE元件。
具体地说，如果以从多个区域中选择一个时的动作作为例子，则Y＝1、Y＝385、X＝1～384、X＝1921～2304的不相邻元件的开关选择处于ON的状态。
接下来，在步骤S3将向该被选择的元件施加的脉冲信号的峰值数据Tv1、Tv2输出到脉冲峰值设定电路311。然后，在步骤S4由脉冲发生电路306、307、317、318通过开关矩阵303、304向在步骤S1选择的SCE元件施加电子释放元件特性测定用脉冲信号。
这样，Y＝1、Y＝385、X＝1～384、X＝1921～2304的合计768个元件被同时驱动。
一边依次切换指定了的行方向布线(Y)，一边重复步骤2到步骤4共192次。
通过该操作使Y＝1～96、Y＝385～480、X＝1～383、X＝1921～2304的四个区域(矩形区域)发亮。
从控制电路312输出与该区域发亮同步的同步信号Tsync，根据该信号开放电子遮断器。由此测定在步骤5驱动的区域的发光图像。
这里，说明这时向各个块施加的电压。
在图14中，向在X方向和Y方向选择的区域的作为重复区域用斜线部分表示的块施加电压。
如果向进行调整的元件以外的元件施加位移电压，则元件的特性会发生变动，而在本实施例中如以下这样来回避该问题。
如果设从区域1、3的Y侧施加的电压为Py1、从X侧施加的电压为Px1、从区域2、4的Y侧施加的电压为Py2、X侧施加的电压为Px2，则向区域1内的元件施加了Py1+Px1的电压。
此外，向区域2内的元件施加了Py2+Px1的电压，向区域3内的元件施加Py1+Px2的电压，向区域4内的元件施加了Py2+Px2的电压。
这样，在测定亮度时让四种电压成为Vdrv电压那样地，确定指示信号Lp1、Lp2、Lp3、Lp4。
接下来，在步骤S6与上述第一实施例一样，根据发光图像和被驱动的元件的地址变换成与元件地址对应的亮度值。这样可以得到排列了96×384个元件的四个部位的亮度值。
使用图16说明使特性位移的处理。
在本实施例中，针对两个区域各自选择一个元件，合计两个元件，同时施加位移电压。
不能向四个区域各自选择一个、合计四个元件施加位移电压的原因如下所述。
例如在图14中，在区域1、区域2、区域3、区域4中的某个元件需要施加的位移电压为16、15、15.5、16volt，则由于只能向区域施加上述那样组合的电压，所以不能决定Py1、Py2、Px1、Px2。
此外，即便从区域1、区域4中选择同时施加位移电压的2个元件，但由于区域2、区域3的部分也被施加了电压，所以不能同时施加不同的位移电压。
首先，在步骤10读入与区域1、区域3各自对应的地址的元件的亮度数据。为叙述方便，将这些元件称为A元件和B元件。首先针对A元件进行与目标值的比较，判断有无必要施加V位移电压。
在有必要施加位移电压时，在步骤11参照检索表，决定位移电压Tv1。接下来在步骤13判断有无必要向B元件施加位移电压并在步骤14决定Tv2。
接下来，利用图10中的脉冲峰值设定电路311来决定脉冲的峰值。例如在向A元件需要施加16Volt的Vpre、向B元件需要施加15.5Volt的电压的情况下，设定Py1＝8Volt、Py2＝0Volt、Px1＝8Volt、Px2＝7.7Volt。
此时，向区域2和区域4的元件只施加了Vdrv以下的电压，所以即便同时向A元件和B元件施加位移电压，对特性也没有影响。
这样来决定指示信号Lp1、Lp2、Lp3、Lp4。
此外，对从区域2、区域4中选择的元件依次进行施加位移电压的处理。
然后，利用上述电压设定在步骤15选择元件，在步骤16实际施加位移电压。
以上处理要针对两个区域内的所有元件进行，如果在步骤17中判断出对所有元件已经结束时，处理结束。
检测整个画面的亮度值的时间为上述第一实施例的1/4的约160秒。
位移电压的施加时间，由于在本实施例中可以向两个元件同时施加位移电压，所以可以达到3000秒，是上述第一实施例的情况的大约一半。
通过以上步骤做成的图像形成装置用Vdr＝14Volt驱动并检测全面的亮度斑点，标准偏差/平均值为3％。与上述第一实施例做成的图像显示装置比较，可以做成同等的东西。
在本实施例中说明了区域增加到四个的情况，若进一步增加光学系统，则还可以缩短该部分的亮度检测的时间。
此外，由于设置了4个设定脉冲峰值的信号和四个脉冲发生电路所以设定了四个区域，并向两个元件同时施加位移电压，但这时如果增加脉冲发生电路，则可以进一步增加能够同时施加位移电压的元件数。
以上，以SCE元件为例子详细叙述了图像显示装置，但本发明也适用于对使用电场释放型等其他冷阴极电子释放元件的显示装置和液晶显示装置、等离子体显示器板以及EL显示装置的有效的亮度测定方法。
如以上的说明，通过本发明可以缩短像素亮度的测定时间，并提高测定精度。
另外，伴随测定精度的提高，还可以提高显示图像的品质。
权利要求
1.一种图像显示装置的亮度测定方法，是将各自相邻的显示红、蓝、绿的像素配置成多个矩阵状的图像显示装置的亮度测定方法，其特征在于把各种颜色的像素按每种颜色分间地分割并使其发亮，对应于该发亮，测定发光像素的亮度。
2.根据权利要求1所述的图像显示装置的亮度测定方法，其特征在于像素亮度的测定通过具有被配置成矩阵状的多个光传感器的亮度测定装置进行，同时，将图像显示装置的显示区域分割成对应于上述亮度测定装置的测定区域的各自包含多个像素的多个块，通过在被分割的各个块上移动上述亮度测定装置来测定各个像素的亮度。
3.根据权利要求2所述的图像显示装置的亮度测定方法，其特征在于在图像显示装置上，配置多个上述亮度测定装置，通过这些多个亮度测定装置同时测定像素的亮度。
4.根据权利要求2所述的图像显示装置的亮度测定方法，其特征在于使被分割的各个块所包含的像素按照每种颜色同时发亮，并测定每种颜色的像素的亮度。
5.一种图像显示装置的制造方法，是将各自相邻的显示红、蓝、绿的像素配置成多个矩阵状的图像显示装置的制造方法，其特征在于包括把各种颜色的像素按每种颜色分间地分割并使其发亮，对应于该发亮，测定发光像素的亮度的测定步骤；以及根据该测定步骤的测定结果，调整各像素的亮度的调整步骤。
6.一种图像显示装置的特性调整方法，是具有在基板上排列了多个电子释放元件的多重电子源、通过照射从该电子释放元件释放的电子而发光的荧光材料的图像显示装置的特性调整方法，其特征在于包括把图像显示装置的显示区域分割成多个区域，依次测定分割的各个区域的亮度的测定步骤；以及根据该测定步骤的测定结果，通过施加特性位移电压，使各个电子释放元件的电子释放特性移动到规定的特性目标值的位移步骤；其中在上述的测定步骤中，使分割区域内的不相邻的电子释放元件同时释放电子，测定通过照射该释放电子而发光的荧光材料的亮度。
7.根据权利要求6所述的图像显示装置的特性调整方法，其特征在于上述分割区域内不相邻的电子释放元件是从向红色荧光体、绿色荧光体、蓝色荧光体中的任意一色的荧光材料照射电子的电子释放元件中选择出来的元件。
8.一种图像显示装置的特性调整装置，是在基板上配置了多个电子释放元件的图像显示装置的特性调整装置，其特征在于包括同时选择并驱动图像显示装置的显示部件中的规定区域内的多个不相邻的电子释放元件的选择驱动装置；与该选择驱动装置的驱动时间同步的定时信号发生装置；通过从上述电子释放元件释放的电子而发光的发光装置；与上述定时信号发生装置的输出同步地取得上述发光装置的亮度信号的至少一个亮度测定装置；根据从该亮度测定装置得到的信号和上述驱动装置的多个元件的选择信息，求出选择出来的元件的各自的发光特性的运算装置；存储该运算装置的输出的存储装置；向被选择的多个元件施加特性位移电压的电压施加装置；以及使显示面板相对于上述亮度测定装置移动的至少一个移动装置。
全文摘要
本发明提供能够缩短像素亮度的测定时间并提高测定精度的图像显示装置的亮度测定方法、制造方法、特性调整方法和特性调整装置。选择多个不相邻的元件(例如RGB中相同颜色的元件)并使其同时发亮，测定各自的亮度。然后，根据测定的亮度，调整各个电子释放元件的电子释放特性。
文档编号G01J1/42GK1489171SQ0313309
公开日2004年4月14日 申请日期2003年7月25日 优先权日2002年7月26日
发明者山下真孝, 山口英司, 山野明彦, 司, 彦 申请人:佳能株式会社