专利名称：片式压电陶瓷及相关器件自动定位测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种对片式压电陶瓷及相关器件如片式电容、电感、电阻及陶瓷SMD器件的自动定位测试装置。
背景技术：
片式压电陶瓷是目前世界上用量很大的陶瓷材料。由片式压电陶瓷制作封装而成的陶瓷谐振器、滤波器、陷波器等是用途极为广泛的电子器件。片式陶瓷是制作压电陶瓷器件的基体，在生产加工的过程中需要对片式压电陶瓷的频率、谐振电阻、反谐振电阻、静电容、带宽等参数进行检测并分类，因此片式压电陶瓷及相关器件的参数自动测量分选系统成为生产中不可缺少的重要设备，而自动定位测试装置是测量分选系统的核心。目前生产厂家普遍使用的分选系统的定位测试装置均采用直线平台式定位测试，其工作过程是片式压电陶瓷及相关片式器件通过螺旋送料器送至直线送料平台，在直线送料平台的末端设有测试位进行定位测试。该装置存在的问题是1、测试效率不高。随着生产工艺的不断改进，片式压电陶瓷及相关片式器件的引线区域越来越小，测试电极必须与之有效接触，才能保证测试可靠。采用直线式定位测试方式，由于惯性作用，被测器件在测试位有时不能有效定位，测试电极与被测器件的引线区不能有效接触，导致废品率提高，测试效率降低。2、破损率高。由于片式压电陶瓷及相关器件均为接触式测试，当被测器件定位不到位或有碎片进入测试位时，经常会导致相邻数片破损，导致破损率提高。3、测试时相邻被测器件之间影响较大。由于测试位设在直线送料平台的末端，片式压电陶瓷及相关器件在直线送料平台上以自动行进式方式运行，排列较紧，端面互相接触，彼此之间影响较大，尤其是端面有引线层的器件，导致测试精度降低。
发明内容本实用新型的目的是提供一种克服上述不足，测量精度高、分选速度快、破损率低、结构简单，对片式压电陶瓷及相关器件的自动定位测试装置。
本实用新型的目的是通过以下技术方案实现的片式压电陶瓷及相关器件自动定位测试装置，主要由送料部分和定位测试部分组成。送料部分包括螺旋送料器和直线送料平台，其特征是螺旋送料器在驱动电路作用下作电磁振动，将片式器件作定向运动并有序排列送到直线送料平台上，在直线送料平台上设有螺旋送料器控制光耦，控制螺旋送料器的工作；直线送料平台上设有由平台下侧的可调节刀口和压块构成的送料槽，保证片式器件单排单层通过。定位测试部分由测试位、定位光纤传感器、定位片、上、下测试电极等组成，其特征是在直线送料平台的末端有一段倾斜的直线送料槽作为测试位，倾斜的直线送料槽与水平直线平台的角度可为10∽60度，理想角度为30∽45度；作为测试位的直线送料槽处设有光纤传感器和凸起的定位片，保证被测器件精确到位并传送测试信号；测试位上、下两侧采用可自动伸缩的对电极接触片式器件并进行测量，电极与网络测试仪或振荡器相连并与被测器件构成回路，在计算机控制下完成参数测试。
本实用新型的进一步改进是与倾斜的直线送料槽相连接的水平的直线送料槽末端设有吸气孔，测试时能吸住排列在水平直线送料槽末端的片式器件，避免后续器件对已在测试位的待测器件的影响。本改进特别适用于较小体积的片式压电陶瓷及相关器件，如SMD陶瓷器件的测试。
本实用新型的工作过程是螺旋送料器在驱动电路作用下作电磁振动，将被测器件作定向运动并有序排列送至直线送料平台上，直线送料平台在驱动电路作用下作定向振动，将被测器件送至倾斜的直线送料槽内的检测位，定位光纤传感器检测到被测器件时，将检测信号传输给计算机，计算机通过PCL控制电路使直线送料平台停止振动，被测器件在惯性及自身重力作用下被凸起的定位片挡住，恰好停留在测试位，此时计算机控制上、下电极动作，将被测器件夹持住并打开测试闸门进行测量。对于小型片式器件，计算机同时控制吸气电路工作，将在直线送料平台末端的被测器件吸住，避免滑落影响在测器件的测量。测试完毕后，上电极迅速脱离，下电极将被测器件轻顶到滑道内后收回，落片完毕后，直线送料平台开始振动，将下一片送至测试位，重复上次动作。
本实用新型与现有的技术相比，其显著优点是1、采用倾斜式的测位，实现了被测器件的片间分离，大大提高了测试精度，降低了被测器件的破损率。2、采用高精度光纤定位，定位精确。3、采用行进式自动送料方式，分选速度快。4、结构简单，调整方便。
四
以下结合附图和实施例对实用新型作进一步详述图1是本实用新型结构示意图，图2是本实用新型直线送料平台结构示意图，螺旋送料器(1)、螺旋送料器控制光耦(2)、压块(3)、输送槽靠板、驱动气缸(5)、吸气孔(17)、上电极(7)、定位光纤(8)、直线送料平台(9)、定位片(10)、下电极(11)、滑道(12)、片式压电陶瓷及相关器件(13)、下刀口(14)、下部垫块(15)、驱动气缸(16)、驱动气缸(16)、测位(18)。
具体实施方式
片式压电陶瓷及相关器件在图1中螺旋送料器(1)的振动下作定向运动并有序排列至直线送料平台(9)上，在直线送料平台(9)的入口端设有螺旋送料器控制光耦(2)，当控制光耦感应到被测器件时，螺旋送料器(1)停止工作，保证被测器件在螺旋送料器中不致过多的磨损。片式压电陶瓷及相关器件(13)在直线送料平台(9)定向振动下，通过由压块(3)及下刀口(14)构成的输送槽，被送到直线送料平台末端倾斜的直线送料槽内的测试位，当定位光纤(8)感应到被测器件时，直线送料平台(9)在计算机控制下停止振动，被测器件(13)被凸起的定位片(10)挡住，恰好停在测试位上，此时上电极(7)在驱动气缸(5)的作用下先行下压，与被测器件的上表面电极接触，下电极(11)在驱动气缸(16)的作用下后行与被测器件的下表面电极接触，上、下电极分别与外接电路相连构成测试回路，此时测试闸门打开进行测试，被测器件的参数同步显示在显示器或网络分析仪上。测试完毕后，上电极(7)先行与被测器件分离，下电极(11)将被测器件轻顶到滑道(12)后收回，完成一片被测器件的测试，此时直线送料平台在计算机的控制下开始振动，将下一片被测器件送至测试位，重复上述定位测试过程。
对于小型片式器件，当定位光纤(8)感应到被测物体时，计算机同时控制吸气电路工作，在图2中的吸气孔(17)产生负压，将直线送料平台末端的一片被测器件吸住，避免滑落影响在测器件的测量。
在图1中，直线送料平台(9)安装在与水平面成一定倾角的振动基座上，其倾斜角度可为10-80度，理想角度为30-60度。
在图1中，上电极(7)与下电极(11)分别由1-5根带有弹性的金属测试针构成，其排列间距与被测器件的引线脚间距一致。
在图2中，倾斜的直线送料槽与水平直线平台的角度可为10∽60度，理想角度为30∽45度。
权利要求1.片式压电陶瓷及相关器件自动定位测试装置，由送料部分和定位测试部分组成，送料部分包括螺旋送料器和直线送料平台，螺旋送料器在驱动电路作用下作电磁振动，将片式器件作定向运动并有序排列送到直线送料平台上；直线送料平台上设有由平台下侧的可调节刀口和压块构成的送料槽，保证片式器件单排单层通过；定位测试部分由测试位、定位光纤传感器、定位片、上、下测试电极组成，测试位上、下两侧采用可自动伸缩的对电极接触片式器件并进行测量，其特征是在直线送料平台的末端有一段倾斜的直线送料槽作为测试位，倾斜的直线送料槽与水平直线平台的角度为10∽60度，作为测试位的直线送料槽处设有光纤传感器和凸起的定位片。
2.由权利要求1所述的片式压电陶瓷及相关器件自动定位测试装置，其特征是倾斜的直线送料槽与水平直线平台的角度优选30∽45度；
3.由权利要求1所述的片式压电陶瓷及相关器件自动定位测试装置，其特征是与倾斜的直线送料槽相连接的水平的直线送料槽末端设有吸气孔。
4.由权利要求1所述的片式压电陶瓷及相关器件自动定位测试装置，其特征是直线送料平台(9)的下側安装有可调节的刀口(14)，通过旋转调节手柄(4)调整刀口的高度，保证片式器件单层通过送料平台。
5.由权利要求1所述的片式压电陶瓷及相关器件自动定位测试装置，其特征是直线送料平台亦安装在与水平面成一定倾角的振动基座上，其倾斜角度可为10-80度，理想角度为30-60度。
6.由权利要求1所述的片式压电陶瓷及相关器件自动定位测试装置，其特征是直线送料平台(9)的入口端设有螺旋送料器控制光耦(2)，当控制光耦感应到被测器件时，螺旋送料器(1)停止工作。
7.由权利要求1所述的片式压电陶瓷及相关器件自动定位测试装置，其特征是测试电极的上电极(7)与下电极(11)分别由1-5根带有弹性的金属测试针构成，压力可调，保证与被测器件能有效接触，其排列间距与被测器件的引线脚间距一致。
专利摘要片式压电陶瓷及相关器件自动定位测试装置，由送料部分和定位测试部分组成，送料部分包括螺旋送料器和直线送料平台，直线送料平台上设有由平台下侧的可调节刀口和压块构成的送料槽，保证片式器件单排单层通过；定位测试部分由测试位、定位光纤传感器、定位片、上、下测试电极组成，在直线送料平台的末端有一段倾斜的直线送料槽作为测试位，倾斜的直线送料槽与水平直线平台的角度为10～60度，作为测试位的直线送料槽处设有光纤传感器和凸起的定位片。本实用新型采用倾斜式的测位，实现了被测器件的片间分离，大大提高了测试精度，降低了被测器件的破损率。采用行进式自动送料方式，分选速度快；结构简单，调整方便。
文档编号G01B7/02GK2716805SQ0327889
公开日2005年8月10日 申请日期2003年9月29日 优先权日2003年9月29日
发明者徐华军, 肖歧, 陈晓争, 周月萍 申请人:南京熊猫仪器仪表有限公司