专利名称：一种自动调整测试时钟频率的装置及方法
技术领域：
本发明涉及测试技术领域，更确切地说，涉及一种自动调整测试时钟频率的装置及方法。
背景技术：
边界扫描技术通过在器件输入输出管脚与内核电路之间置入边界扫描单元来提高器件的可控性和可观察性，革新了器件及其外围电路的测试方式。它的提出是为了解决电路板上互连测试的问题，后来发展到应用于逻辑芯片的在板编程和FLASH的在板编程等多种场合。目前，绝大多数芯片都支持边界扫描测试。
为便于叙述，将与本发明有关的边界扫描相关缩略语和术语列举如下JTAGJoint Test Action Group，联合测试行动组；BSBoundary Scan，边界扫描；BSCBoundary Scan Cell，边界扫描单元；TCKTest ClocK，测试时钟；TDITest Data Input，测试数据输入；TDOTest Data Output，测试数据输出；TMSTest Mode Select，测试模式选择；TRSTTest Reset，测试复位；BSDLBoundary-Scan Description Language，边界扫描描述语言。
在边界扫描测试系统和边界扫描编程系统中，TCK频率是一个很重要的因素，工作的TCK频率越高，测试和编程效率越高。但是TCK频率受到芯片和线路信号质量的限制，不可能无限制地提高。边界扫描芯片都会在BSDL文件中提供它所支持的最高的TCK频率，软件系统能读取这个TCK频率。
当需对多个边界扫描芯片进行测试时，可将它们连成一条边界扫描链，这条边界扫描链理论上能支持的最高的TCK频率是所在链路上各个芯片所支持的最高TCK频率的最小值。例如图1所示的三个边界扫描芯片U1、U2和U3串接成的一条边界扫描链路，其中U1支持的最高TCK频率为10MHz，U2支持的最高TCK频率为5MHz，U3支持的最高TCK频率为20MHz，那么这条边界扫描链路理论上所支持的最高TCK频率就是5MHz。
但是这只是理想的情况，实际应用中，信号质量等因素将影响到边界扫描链上的TCK频率，有可能需要降低TCK频率才能保证测试或编程操作的可靠稳定。
目前TCK频率的调整都是人工完成的，过程为发现测试或编程失败时就人工设置一个低一点的TCK频率重复执行一次，再失败再降低一点TCK频率，直至成功为止。现有技术的这种人工干预方法的缺点是显而易见的效率低下、使用成本高、不利于大规模自动测试的实现。
发明内容
为避免边界扫描测试过程中的人工干预，提高效率，降低测试人力和时间成本，实现自动测试，本发明的实施例创造性地提出了一种自动调整边界扫描测试时钟频率的装置，包括有扫描单元，用于在TCK频率下使用测试数据对扫描链路进行扫描，并根据扫描结果判断扫描过程中TCK频率是否可靠；调整单元，用于设置所述扫描单元的初始TCK频率，并在扫描单元确定当前TCK频率不可靠时降低所设置的TCK频率；第一判断单元，用于判断所述调整单元设置的TCK频率是否低于预定的频率下限并在确定TCK频率不低于预定频率下限时将所述设置的TCK频率发送到扫描单元；第一输出单元，用于在所述第一判断单元确定降低后的TCK频率低于预定频率下限时，输出测试失败信息；第二输出单元，用于在所述扫描单元确定TCK频率可靠时输出测试成功信息。
本发明的实施例还提供一种自动调整边界扫描测试时钟频率的方法，包括以下步骤(a)获取边界扫描链路上允许的最高TCK频率，并设其为当前TCK频率；(b)在当前TCK频率下向被测链路输入测试数据，执行测试操作并判断当前TCK频率是否稳定，若当前TCK频率稳定，则执行步骤(c)；若当前TCK频率不稳定，则执行步骤(d)；(c)输出测试成功消息；(d)降低当前TCK频率，并判断判断降低后的当前TCK频率是否低于预定的下限，若当前TCK频率低于下限则执行步骤(e)；若当前TCK频率不低于下限，执行步骤(b)；(e)输出测试失败消息。
通过使用本发明实施例中的装置及方法，避免了TCK频率调整过程中的人工干预，提高了应用效率，增加了芯片测试的自动化程度；在生产中可以提高生产效率，降低人力投入和人工干预的时间成本。
下面将结合附图对本发明作进一步说明，附图中图1是3个边界扫描芯片组成的一条边界扫描链路示意图。
图2是边界扫描芯片结构示意图；图3是本发明自动调整TCK频率的实施例的结构框图；图4是图3中扫描单元的第一实施例的结构框图；图5是图3中扫描单元的第二实施例的结构框图；图6是图3中扫描单元的第三实施例的结构框图；图7是本发明自动调整TCK频率的方法的第一实施例的流程图。
具体实施例方式
测试中涉及的边界扫描芯片构成的扫描链路示意图如图1所示，图1只有3个芯片，有一个或多个芯片的扫描链路与此类似，每个芯片的测试数据输出信号作为链路中下一个芯片的测试数据输入(如果下一个芯片存在的话)。其中每个芯片的结构示意图如图2所示。
从图2的芯片结构可以看出，测试数据从输入到输出可以有两条路径一条路径经过指令寄存器，即测试数据输入接口→指令寄存器→测试数据输出接口，各芯片均采用此路径构成的链路称为指令寄存器链路；另一条路径经过边界扫描单元(BSC)，即测试数据输入接口→BSC→……→BSC→测试数据输出接口，各芯片均采用此路径构成的链路称为边界扫描单元链路。
这两条路径的长度也就是指令寄存器的长度和BSC的个数都可以从BSDL(Boundary-Scan Description Language，边界扫描描述语言)文件中自动获取。
如图3所示，是本发明自动调整测试时钟频率的装置实施例的结构框图。在本实施例中，自动调整测试时钟频率的装置包括有扫描单元33、设置单元34、第一判断单元36、第一输出单元35以及第二输出单元37。
扫描单元33，用于在TCK频率下使用测试数据对扫描链路进行扫描，并根据扫描结果判断扫描过程中TCK频率是否可靠。在本实施例中，扫描单元33从调整单元34获取TCK频率，并在获取的TCK频率下使用测试数据对扫描链路进行多次扫描，并根据扫描结果判断测试过程中TCK频率是否可靠，其中TCK频率值的初始值为扫描链路的最高TCK频率Tmax。若多次扫描链路时每次的输出数据等于输入的测试数据，则表示当前TCK频率可靠；若任一次扫描链路输出的数据不等于输入的测试数据，则表示TCK频率不可靠。对于在同一TCK频率下扫描的次数可以根据系统对稳定性的要求和测试时间进行选择，例如10次，也可以是其它自然数。通常稳定性要求越高，扫描次数越多；测试时间越长，进行扫描次数可以越多。
在本实施例中，扫描单元33通过一个连接装置连接到扫描链路上的测试存取接口(Test Access Port，TAP)，从而将测试数据及TCK频率输入到扫描链路的测试数据输入接口和测试时钟，并通过该测试数据输出接口获得输出结果。在实际应用中，连接装置可以为JTAG控制器。
调整单元34，用于设置扫描单元33的初始TCK频率，并在扫描单元33确定当前TCK频率不可靠时降低所设置的TCK频率。调整单元34将扫描单元33的TCK频率的初始值设置为扫描链路的最高TCK频率Tmax，并在扫描单元33确定TCK频率不可靠时，降低设置的TCK频率的值，生成新的TCK频率值，并将新的TCK频率发送到第一判断单元36。
在本实施例中，调整单元34通过分析边界扫描链路上各个边界扫描芯片的BSDL文件或类似描述各边界扫描芯片性能参数的文件获取扫描链路的最高TCK频率Tmax、总的指令链路长度和总的边界扫描单元长度，其中最高TCK频率Tmax为各个边界扫描芯片所支持的最高TCK频率的最小值，总的指令链路长度为各边界扫描芯片的指令寄存器的长度的总和，总的边界扫描单元长度为各边界扫描芯片的BSC个数的总和。
在本实施例中，调整单元34降低TCK频率时的降低幅度是由扫描单元33本身硬件的支持特性确定的，主要是连接装置的硬件支持特性。通常，在Tmax和预定的边界扫描测试可以接受的频率下限之间的有效频率点的个数不多，所谓有效频率点的含义是扫描单元33硬件支持的频率，例如扫描单元33硬件支持的频率为6MHz，12MHz，24MHz以及其它6MHz整数倍的频率等，则23MHz就不是一个有效频率点。由于对于特定的连接装置，其有效频率点的数量是固定的，因此调整单元34在TCK频率不可靠时，从Tmax开始按由高到低的次序逐步降低TCK频率。
第一判断单元36，用于判断所述调整单元34设置的TCK频率是否低于预定的频率下限并在确定TCK频率不低于预定频率下限时将所述设置的TCK频率发送到扫描单元33。该预定频率为预定的边界扫描测试可以接受的频率下限。
第一输出单元35，用于在第一判断单元36确定降低后的TCK频率低于预定频率下限时，输出测试失败的信息。
第二输出单元37，用于在扫描单元33确定TCK频率可靠时输出测试成功信息。
如图4所示，是图3中扫描单元33第一实施例的详细结构示意图。在本实施例中，扫描单元33用于扫描指令寄存器链路，其具体包括第一指令单元41、第二判断单元42及第三判断单元43。
第一指令单元41用于在调整单元设置34的TCK频率下扫描指令寄存器链路，也就是在TCK频率下将测试数据由测试数据输入接口输入，经由指令寄存器，并由测试数据输出接口输出。在本实施例中，第一指令单元41的初始TCK频率为Tmax。第二判断单元42用于根据第一指令单元41的扫描结果判断当前TCK频率是否稳定，即测试数据输出接口输出的数据是否等于输入的测试数据，若不等于，则向调整单元34发送信号，由调整单元34降低当前TCK频率，并由第一指令单元41在降低后的TCK频率下扫描指令寄存器链路；若等于则由第三判断单元43进一步判断第一指令单元41在当前TCK频率下扫描的次数是否达到预定次数，若达到则由第二输出单元37输出测试成功信息，否则向第一指令单元41发送信号，第一指令单元41继续在当前TCK频率下扫描指令寄存器链路。
如图5所示，是图3中扫描单元33第二实施例的详细结构示意图。在本实施例中，扫描单元33用于扫描边界扫描单元链路，其具体包括第一数据单元51、第四判断单元52及第五判断单元53。
第一数据单元51用于在调整单元34设置的TCK频率下进行边界扫描链路扫描，也就是在TCK频率下将测试数据由测试数据输入接口输入，依次经由各个边界扫描单元，并由测试数据输出接口输出。在本实施例中，第一数据单元51的初始TCK频率为Tmax。第四判断单元52用于根据所述第一数据单元51的扫描结果判断当前TCK频率是否稳定，即判断测试数据输出接口输出的数据是否等于输入的测试数据，若不等于，则向调整单元34发送信号，由调整单元34降低当前TCK频率，并由第一数据单元51在降低后的TCK频率下扫描边界扫描链路链路；若等于由第五判断单元53进一步判断第一数据单元51在当前TCK频率扫描的次数是否达到预定次数，若达到则由第二输出单元37输出测试成功信息，否则向第一数据单元51发送信号，第一数据单元51继续在当前TCK频率下扫描边界扫描单元链路。
如图6所示，是图3中扫描单元33第三实施例的详细结构示意图。在本实施例中，扫描单元33用于扫描指令寄存器链路及边界扫描单元链路，其具体包括第二指令单元61、第六判断单元62、第七判断单元63、第二数据单元65、第八判断单元64及第九判断单元66。
第二指令单元61用于在调整单元34设置的TCK频率下扫描指令寄存器链路，也就是将测试数据由测试数据输入接口输入，经由指令寄存器，并由测试数据输出接口输出。在本实施例中，第二指令单元61的初始TCK频率为Tmax。第六判断单元62根据第二指令单元61的扫描结果判断当前TCK频率是否稳定，即判断测试数据输出接口输出的数据是否等于输入的测试数据，若不等于，则向调整单元34发送信号，由调整单元34降低当前TCK频率，并由第二指令单元61在降低后的TCK频率下扫描指令寄存器链路；若等于则由第七判断单元43进一步判断第二指令单元61在当前TCK频率下扫描的次数是否达到预定次数，若达到则通知第二数据单元65进行边界扫描单元链路扫描；否则向第二指令单元61发送信号，第二指令单元61继续在当前TCK频率下扫描指令寄存器链路。
第二数据单元65用于自第七判断单元获得当前的TCK频率，并在当前的TCK频率下扫描边界扫描单元链路。该第二数据单元65在第七判断单元63判断指令扫描达到预定次数后，在当前TCK频率下将测试数据由测试数据输入接口输入，经由各个边界扫描单元，并由测试数据输出接口输出。第八判断单元64根据第二数据单元65的扫描结果判断当前TCK频率是否稳定，即判断测试数据输出接口输出的数据是否等于输入的测试数据，若不等于，则由调整单元34降低当前TCK频率，并由第二指令单元61在降低后的TCK频率下扫描指令寄存器链路；若等于则由第九判断单元66进一步判断第二数据单元65在当前TCK频率下扫描的次数是否达到预定次数，若达到则由第二输出单元37输出测试成功信息，否则向第二数据单元65发送信号，第二数据单元65继续在当前TCK频率下扫描边界扫描单元链路。
同样地，在上述实施例中第一、第二指令单元41、61，第一、第二数据单元51、65对于同一TCK频率下扫描的次数可以根据系统对稳定性的要求和测试时间进行选择。
如图7所示，是本发明自动调整测试时钟频率方法的第一实施例的流程图。在本实施例中，联合使用指令扫描和数据扫描对TCK频率是否稳定可靠进行判断，具体包括以下步骤步骤701，获取边界扫描链路允许的最高TCK频率Tmax以及总的指令链路长度和总的边界扫描单元长度。在该步骤中，可通过分析边界扫描链路上各个边界扫描芯片的BSDL文件或类似描述各边界扫描芯片性能参数的文件实现，其中最高TCK频率Tmax为各边界扫描芯片所支持的最高TCK频率的最小值，总的指令链路长度为各边界扫描芯片的指令寄存器的长度的总和，总的边界扫描单元长度为各边界扫描芯片的BSC个数的总和。
步骤702，将TCK频率设置为Tmax。
步骤703，在当前TCK频率下使用测试数据执行m次指令扫描，并判断当前TCK频率是否稳定，即判断测试数据输出接口输出的数据与测试数据输入接口输入的数据是否一致，其中输入的扫描用数据可以是特定的数据如0x55AA等，也可以是随机数据。如果任一次结果不一致则判定当前TCK频率不稳定，执行步骤707；如果m次结果都一致则执行步骤704。
上述的m次指令扫描可通过以下步骤实现(b11)在当前TCK频率下将测试数据从测试数据输入接口输入，经指令寄存器链路从测试数据输出接口输出；(b12)判断所述输出数据与所述输入数据是否一致，如果输出数据与输入数据不一致，则确定当前TCK频率不稳定，执行步骤707；否则执行步骤(b13)；(b13)将当前TCK频率下使用测试数据扫描的次数加1，并判断当前TCK频率下扫描的次数是否达到m次，如果当前TCK频率下的扫描次数达到m次，则确定当前TCK频率稳定，执行步骤704；否则执行步骤(b11)。
步骤704，在当前TCK频率下使用测试数据执行n次数据扫描操作，并对从测试数据输出接口输出的数据与从测试数据输入接口数据是否一致进行判断，其中输入的测试数据可以是特定的数据如0x55AA等，也可以是随机数据。如果n次结果都一致则执行步骤705；如果任一次结果不一致，则确定当前TCK频率不稳定，执行步骤707。
上述的n次数据扫描可通过以下步骤实现(b21)在当前TCK频率下将测试数据从测试数据输入接口输入，经边界扫描单元链路从测试数据输出接口输出；(b22)判断所述输出数据与所述输入数据是否一致，如果输出数据与输入数据不一致，则确定当前TCK频率不稳定，执行步骤707；否则执行步骤(b23)；(b23)将当前TCK频率下使用测试数据扫描的次数加1，并判断扫描的次数是否达到n次，如果当前TCK频率下的扫描次数达到n次，则确定当前TCK频率稳定，执行步骤705；否则执行步骤(b21)。
步骤705，确定当前TCK频率为稳定可靠，报告调整成功并以当前TCK频率为测试时钟；步骤707，降低当前TCK频率，然后执行步骤708；步骤708，判断降低后的TCK频率是否已经低于预定的频率下限，如果低于则说明在设定范围内没有稳定可靠的TCK频率，报告失败并结束调整过程；如果降低调整后的TCK频率不低于预定下限则执行步骤703。
上述的m和n是预先设定的循环次数，根据对稳定性的要求和测试时间进行选择，例如m＝n＝10，也可以是其它自然数。通常稳定性要求较高越高，m、n的值越大；测试时间越长，m、n的值越大。
在本发明自动调整TCK频率的方法的第二实施例中，只使用指令扫描判断TCK频率是否稳定。与上述实施例类似，本实施例中，在获取边界扫描链路允许的最高TCK频率Tmax以及总的指令链路长度后，将Tmax作为当前TCK频率进行指令扫描，并判断当前TCK频率是否稳定可靠。若当前TCK频率稳定可靠，即在m次指令扫描中每次测试数据输出接口输出的数据与测试数据输入接口输入的数据一致，则报告成功；否则依次降低当前TCK频率，并使用降低后的TCK频率进行指令扫描，直到降低后TCK频率的低于下限，报告失败。
在本发明自动调整TCK频率的方法的第三实施例中，只使用数据扫描判断TCK频率是否稳定。与上述实施例类似，本实施例中，在获取边界扫描链路允许的最高TCK频率Tmax以及总的边界扫描单元长度后，将Tmax作为当前TCK频率进行数据扫描，并判断当前TCK频率是否稳定可靠。若当前TCK频率稳定可靠，即在n次数据扫描中每次测试数据输出接口输出的数据与测试数据输入接口输入的数据一致，则报告成功；否则依次降低当前TCK频率，并使用降低后的TCK频率进行数据扫描，直到降低后TCK频率的低于下限，报告失败。
上述实施例中的指令扫描和数据扫描是所有支持边界扫描的芯片都支持的操作，因此具有通用性，实现了自动调整TCK频率，从而提高了测试效率，并减少了测试过程中的人力投入。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式
，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。
权利要求
1.一种自动调整边界扫描测试时钟频率的装置，其特征在于，包括有扫描单元，用于在TCK频率下使用测试数据对扫描链路进行扫描，并根据扫描结果判断扫描过程中TCK频率是否可靠；调整单元，用于设置所述扫描单元的初始TCK频率，并在扫描单元确定当前TCK频率不可靠时降低所设置的TCK频率；第一判断单元，用于判断所述调整单元设置的TCK频率是否低于预定的频率下限并在确定TCK频率不低于预定频率下限时将所述设置的TCK频率发送到扫描单元；第一输出单元，用于在所述第一判断单元确定降低后的TCK频率低于预定频率下限时，输出测试失败信息；第二输出单元，用于在所述扫描单元确定TCK频率可靠时输出测试成功信息。
2.根据权利要求1所述的自动调整边界扫描测试时钟频率的装置，其特征在于，所述扫描单元包括第一指令单元，用于在调整单元设置的TCK频率下扫描指令寄存器链路；第二判断单元，用于根据第一指令单元的扫描结果判断TCK频率是否稳定，并在确定TCK频率不稳定时由所述调整单元降低TCK频率；第三判断单元，用于判断在当前TCK频率下，第一指令单元扫描的次数是否达到预定次数，并在未达到预定次数时由第一指令单元继续在当前TCK频率下扫描指令寄存器链路、在达到预定次数时由第二输出单元输出测试成功信息。
3.根据权利要求1所述的自动调整边界扫描测试时钟频率的装置，其特征在于，所述扫描单元包括第一数据单元，用于在调整单元设置的TCK频率下扫描边界扫描单元链路；第四判断单元，用于根据第一数据单元的扫描结果判断当前TCK频率是否稳定，并在确定TCK频率不稳定时由所述调整单元降低TCK频率；第五判断单元，用于判断在当前TCK频率下，第一数据单元扫描的次数是否达到预定次数，并在未达到预定次数时由第一数据单元继续在当前TCK频率下扫描边界扫描单元链路、在达到预定次数时由第二输出单元输出测试成功信息。
4.根据权利要求1所述的自动调整边界扫描测试时钟频率的装置，其特征在于，所述扫描单元包括第二指令单元，用于在调整单元设置的TCK频率下扫描指令寄存器链路；第六判断单元，用于根据第二指令单元的扫描结果判断当前TCK频率是否稳定，并在确定TCK频率不稳定时由所述调整单元降低TCK频率；第七判断单元，用于判断在当前TCK频率下，第二指令单元扫描的次数是否达到预定次数，并在未达到预定次数时由第二指令单元继续在当前TCK频率下扫描指令寄存器链路、在达到预定次数时，由第二数据单元在当前频率下扫描边界扫描单元链路；第二数据单元，用于自第七判断单元获得当前的TCK频率，并在当前的TCK频率下扫描边界扫描单元链路；第八判断单元，用于根据第二数据单元的扫描结果判断当前TCK频率是否稳定，并在确定当前TCK频率不稳定时由所述调整单元降低TCK频率；第九判断单元，用于判断第二数据单元在当前TCK频率下扫描的次数是否达到预定次数，并在未达到预定次数时由第二数据单元继续在当前TCK频率下扫描边界扫描单元链路、在达到预定次数时由第二输出单元输出测试成功信息。
5.根据权利要求1-4中任一项所述的自动调整边界扫描测试时钟频率的装置，其特征在于，所述扫描单元包括有连接装置，所述连接装置连接到扫描链路上的测试存取接口。
6.一种自动调整边界扫描测试时钟频率的方法，其特征在于，包括以下步骤(a)获取边界扫描链路上允许的最高TCK频率，并设其为当前TCK频率；(b)在当前TCK频率下向被测链路输入测试数据，执行测试操作并判断当前TCK频率是否稳定，若当前TCK频率稳定，则执行步骤(c)；若当前TCK频率不稳定，则执行步骤(d)；(c)输出测试成功消息；(d)降低当前TCK频率，并判断判断降低后的当前TCK频率是否低于预定的下限，若当前TCK频率低于下限则执行步骤(e)；若当前TCK频率不低于下限，执行步骤(b)；(e)输出测试失败消息。
7.根据权利要求6所述的自动调整边界扫描测试时钟频率的方法，其特征在于，所述步骤(b)包括步骤(b11)在当前TCK频率下将测试数据从测试数据输入接口输入，经指令寄存器链路从测试数据输出接口输出；(b12)判断所述输出数据与所述输入数据是否一致，如果输出数据与输入数据不一致，则确定当前TCK频率不稳定，执行步骤(d)；否则执行步骤(b13)；(b13)判断当前TCK频率下的扫描次数是否达到预定次数，如果当前TCK频率下的扫描次数达到预定次数，则确定当前TCK频率稳定，执行步骤(c)；否则执行步骤(b11)。
8.根据权利要求6所述的自动调整边界扫描测试时钟频率的方法，其特征在于，所述步骤(b)包括步骤(b21)在当前TCK频率下将测试数据从测试数据输入接口输入，经边界扫描单元链路从测试数据输出接口输出；(b22)判断所述输出数据与所述输入数据是否一致，如果输出数据与输入数据不一致，则确定当前TCK频率不稳定，执行步骤(d)；否则执行步骤(b23)；(b23)判断当前TCK频率下扫描的次数是否达到预定次数，如果当前TCK频率下的扫描次数达到预定次数，则确定当前TCK频率稳定，执行步骤(c)；否则执行步骤(b21)。
全文摘要
本发明涉及一种自动调整边界扫描测试时钟频率的装置，包括有扫描单元，用于在TCK频率下对扫描链路进行扫描并判断TCK频率是否可靠；调整单元，用于设置所述扫描单元的初始TCK频率并在设置的TCK频率不可靠时降低所述当前TCK频率；第一判断单元，用于判断所述调整单元设置的TCK频率是否低于预定的频率下限并在不低于预定频率下限时将TCK频率发送到扫描单元；第一输出单元，用于在降低后的TCK频率低于下限时输出测试失败信息；第二输出单元，用于在TCK频率可靠时输出测试成功信息。本发明避免了人工干预，提高了应用效率，增加了芯片测试的自动化程度；在生产中可以提高生产效率，降低人力投入和人工干预的时间成本。
文档编号G01R31/28GK1948983SQ200610063569
公开日2007年4月18日 申请日期2006年11月9日 优先权日2006年11月9日
发明者滑思真, 李颖悟, 徐光晓 申请人:华为技术有限公司