专利名称：Pcb板测试仪的测试电路改良的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测量仪器，更具体的说，为PCB板仪器的测试 电路改良。
背景技术：
现在的测试仪器测试元件电阻， 一般采用电流电压法测试原理，即采 用将电流表或电压表的测试探头直接接触在被测元件的两端，电流表或电 压表提供恒定的电压或电流，通过测试回路的电流或电压，达到测试元件 的电阻的目的。
这种结构的测量仪器，当测量电阻值较大时，其测量精度可以保证， 但测量较小的电阻元件时，由于测量仪器的测试探头线本身有一定的内 阻，与待测电阻相差较小时，测量值就会产生较大误差，无法保证测量的 精度。现在的市场测试仪器还没有很好的克服这一技术难题。
对于PCB板测试，待测的元件内阻一般相差较大，有时可能需要测量 内阻上百兆欧姆的元件，有时可能需要测量一个几毫欧姆的元件，另外， PCB板的测试点数多，元件的精度高，这无疑对PCB板的仪器产生更高的 要求。 发明内容
本实用新型的针对现有技术不足，提供一种测量精度高，测量的点数 多的PCB板仪器的测试电路改良。
本实用新型提供的PCB板测试仪的测试电路改良，测试电路设有恒 流源或恒压源，测试电路连接有定值电阻，定值电阻连接运算放大器一， 运算放大器一的输出端连接数模转化模块，测试电路的两个测量端子连接 高阻抗运算放大器二，测试电路中还设有电子开关。
所述的定值电阻有多个，他们并联在测试电路中，每个定值电阻都串 联有一个开关。
所述的测试电路的恒流源或恒压源直接连接两个PNP三极管Ql、 的发射极，PNP三极管的基极Q1、 Q3串联信号源SC, PNP三极管Q1、 Q3集电极分别连接测量端子P1、 P2，测量端子P1、 P2分别与两个NPN 三极管Q2、 Q4的集电极相连，NPN三极管Q2、 Q4的基极与控制源SK 连接，此NPN三极管Q2、 Q4发射极同时定值电阻。
本实用新型有益效果在于本实用新型通过运算放大器二直接与测量 端子相连接，由于运算放大器二为高阻抗的元件，这相当于将测试探头线 本身的内阻变为零，有效提高测量的精确程度，本实用新型还提供了恒压 源和恒流源两种测量电压，使测量范围较大程度的扩大。
图1为本实用新型的电路原理图具体实施方式
以下仅为本实用新型较佳实施例，并不以此来限定本实用新型的保护 范围。
见图1所示，本实用新型采用的PCB板测试仪的测试电路改良，测 试电路提供恒流源或恒压源，恒流源或恒压源直接连接两个PNP三极管
Ql、 Q3的发射极，此PNP三极管基极Q1、 Q3串联信号源SC连接，此 PNP三极管Q1、 Q3集电极分别连接测量端子P1、 P2，测量触点P1、 P2 分别与两个NPN三极管Q2、 Q4的集电极相连，此NPN三极管Q2、 Q4 的基极与控制源SK连接，此NPN三极管Q2、 Q4发射极同时串联定值电 阻到信号地，定值电阻有多个，其阻值各不相同，他们并联在测试电路中， 每个定值电阻都串联有一个开关，本实施例提供三个电阻R1、 R2和R3， 分别串联开关K1、 K2和K3，其应用与不同测量值的电路中。定值电阻 连接运算放大器一的输入端，运算放大器的输出端连接数模转化模块，测 试电路的两个测量端子P1、 P2还连接高阻抗运算放大器二，在测量端子 Pl、 P2和高阻抗运算放大器二的两个端子之间设有电子开关Kl、 K2、 K3、 K4、 K5、 K6，以控制端子是否连通高阻抗运算放大器二。
本电路为PCB板测试仪器的两个量测端子的测试电路，实际的PCB 板测试仪器设置多个测试卡，每个测试卡集成了 256测试端子。
本实用新型的工作原理如下
1.当测量端子P1、 P2连接待测电阻Rx的电阻值比较小时(0.005— 30欧姆)，测试电路连接恒流源，即电流值大小恒定，并已知电流值，三 极管开关通路Ql与Q4开通，电流从Ql流过Rx ，经过Q4 、 K7和 定值电阻R1通入恒流源负端。此时开关K1、 K2、 K4、 K6、 K7闭合，运 算放大器二与待测电阻Rx两端直接相连通，可直接测出待测电阻Rx两 端电压，且运算放大器二本身为高阻抗元件，直接测量端子P1、 P2连接, 相当于将测试探头线本身的内阻变为零，运算放大器二将经过测得的结果 直接输入A/D数模转换，通过显示器直接显示测得的结果。
2. 当测量端子P1、 P2连接待测电阻Rx的电阻值比较大时(l一100K 欧姆)，测试电路连接恒压源，即电压值大小恒定，并己知电压值，三极 管开关通路Q1与Q4开通，电流从Q1流过Rx ，经过Q4 、 K8和定 值电阻R2通入恒流源负端。此时开关K1、 K2、 K4、 K6、 K8闭合，定值 电阻Rl运算放大器2与待测电阻Rx两端直接相连通，可直接测出待测 电阻Rx两端电压，此时运算放大器一可直接测定定值电阻R2两端的电 压，可得到电路中的电流值，运算放大器一和运算放大器二综合得到测得 的结果直接输入A/D数模转换，通过显示器直接显示测得的结果。
3. 当测量端子Pl 、P2连接待测电阻Rx的电阻值比较大时(1M—100M 欧姆)，测试电路连接恒压源，即电压值大小恒定，并已知电压值，三极 管开关通路Q1与Q4开通，电流从Q1流过Rx ，经过Q4 、 K9和定 值电阻R3通入恒流源负端。此时开关K9闭合，定值电阻R3运算放大器 二与待测电阻Rx两端直接相连通，可直接测出待测电阻Rx两端电压， 此时运算放大器一可直接测定定值电阻R3两端的电压，可得到电路中的 电流值，运算放大器一和运算放大器二可测得待测电阻的电阻值。
总之，本实用新型通过运算放大器二直接与测量端子相连接，由于运 算放大器二为高阻抗的元件，这相当于将测试探头线本身的内阻变为零， 有效提高测量的精确程度，本实用新型还提供了恒压源和恒流源两种测量 电压，使测量范围较大程度的扩大。
权利要求1.PCB板测试仪的测试电路改良，其特征在于测试电路设有恒流源或恒压源，测试电路连接有定值电阻，定值电阻连接运算放大器一，运算放大器一的输出端连接数模转化模块，测试电路的两个测量端子连接高阻抗运算放大器二，测试电路中还设有电子开关。
2. 根据权利要求1所述的PCB板测试仪的测试电路改良，其特征在于所述的定值电阻有多个，它们并联在测试电路中，每个定值电阻都串 联有一个开关。
3. 根据权制要求1或2所述的PCB板测试仪的测试电路改良，其特 征在于:所述的测试电路的恒流源或恒压源直接连接两个PNP三极管Ql 、 Q3的发射极，PNP三极管的基极Ql、 Q3串联信号源SC， PNP三极管 Ql、 Q3集电极分别连接测量端子P1、 P2，测量端子P1、 P2分别与两个 NPN三极管Q2、 Q4的集电极相连，NPN三极管Q2、 Q4的基极与控制 源SK连接，此NPN三极管Q2、 Q4发射极同时定值电阻。
专利摘要本实用新型涉及一种测量仪器，更具体地说，为PCB板仪器的测试电路改良。测试电路设有恒流源或恒压源，测试电路连接有定值电阻，定值电阻连接运算放大器一，运算放大器一的输出端连接数模转化模块，测试电路的两个测量端子连接高阻抗运算放大器二，测试电路中还设有电子开关。本实用新型通过运算放大器二直接与测量端子相连接，由于运算放大器二为高阻抗的元件，这相当于将测试探头线本身的内阻变为零，有效提高测量的精确程度，本实用新型还提供了恒压源和恒流源两种测量电压，使测量范围较大程度的扩大。
文档编号G01R27/02GK201014993SQ20062015412
公开日2008年1月30日 申请日期2006年12月4日 优先权日2006年12月4日
发明者杨世光 申请人:杨世光