专利名称：测量装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种测量装置，特别涉及一种测量宽度差值的测量装置。
背景技术：
现代化的生产方式使得产品制造商更加注重购进的原材料的品质，其往往投入一定成本 对购进的原材料进行测量。其中一项就是叠加材料宽度差值测量，业界通常采用高度计来测 量片状叠加材料的宽度差值。
如图1所示，为现有技术中采用高度计20测量片状叠加材料50宽度差的示意图。高度计 20包括旋钮21、探测臂22、数字表头23及底座24。数字表头23设置于底座24之上，且与探测 臂22相连。探测臂22中部设有旋钮21。旋钮21用于调整探测臂22升高或降低。数字表头23根 据探测臂22升高或降低的程度显示相应数据。测量片状叠加材料50时，首先用手先将片状叠 加材料50竖直放置并保持其平稳，并向高度计20靠近。旋转旋钮21，使得探测臂22与片状叠 加材料50的第一接触面51接触，此时按下数字表头23的归零键以使数字表头23显示的数据为 零；继续旋转旋钮21，使得探测臂22与片状叠加材料50的第二接触面52接触，此时数字表头 23显示出第一接触面51与第二接触面52的宽度差值。
然而，采用高度计20测量片状叠加材料50的宽度差的过程中，需要手动的旋转旋钮21， 并同时要保持片状叠加材料50的平稳，故而测量精度不高且测量速度太慢。例如，过度旋转 旋钮21或者片状叠加材料50不平稳都会造成测量的结果误差较大。
发明内容
鉴于此，有必要提供一种快速测量片状叠加材料宽度差的测量装置。 一种测量装置，其用于测量片状叠加材料突出部分的宽度差值。片状叠加材料包括重叠 放置的矩形第一平板及第二平板，第一平板长边对应的两侧面为第一接触面，第二平板长边 对应的两侧面为第二接触面。测量装置包括千分表及承载台。千分表包括表头、套筒及测量 杆。承载台包括挡块，挡块具有相背的第一侧面及第二侧面、垂直穿过第一侧面、第二侧面 的通孔，第二侧面上设有第一凸块及第二凸块。第一接触面的长度不大于第一凸块及第二凸 块之间的最短距离。通孔位于第一凸块及第二凸块之间。套筒固定在通孔内，测量杆沿通孔 从第二侧面穿出，测量杆穿出部分高于第一凸块及第二凸块。
使用测量装置来测量片状叠加材料宽度差时，千分表被固定在承载台上，且片状叠加材料由承载台承载平稳的向固定了千分表的挡块靠近以测量出片状叠加材料的宽度差。在整个 测量过程中，减少了人为手动的操作千分表及保持片状材料的平稳所造成的误差，故测量所 得到的结果更加精确。
图1为现有技术中采用高度计测量片状叠加材料宽度差的示意图。
图2为一片状叠加材料的立体图。
图3为一较佳实施方式的测量装置的分解图。
图4为图3所示测量装置的承载台的立体图。
图5为图3所示测量装置的立体图。
图6为图3所示测量装置的测量状态图。
具体实施例方式
如图2所示，为一片状叠加材料10的立体图。该片状叠加材料10包括重叠放置的第一平 板ll、第二平板12。第一平板11及第二平板12均为矩形块状。第一平板ll的长度小于第二平 板12的长度，第一平板11的宽度大于第二平板12的宽度。第一平板ll长边对应的两侧面为第 一接触面lll，第二平板12长边对应的两侧面为第二接触面121，第二平板12短边对应的两侧 面为第三接触面122。 一平面A垂直且平分片状叠加材料IO。第一接触面lll及第二接触面 121与平面A平行，且位于平面A同一侧的第一接触面lll、第二接触面121到该平面A的距离为 Ll、 L2， L1大于或等于L2。第一接触面111与第二接触面121之间的距离为L3， L3为要测量的 宽度差值。第一平板ll长边的长度就是第一接触面lll的长度，第二平板12长边的长度就是 第二接触面121的长度。
如图3所示，其为一较佳实施方式的测量装置30的分解图。该测量装置30包括承载台31 、固定于承载台31上的千分表32a及千分表32b。其中，千分表32a包括内部设有测量机构的 表头321a、与表头连接的套筒322a、可伸縮地设置于套筒322a内且与测量机构相连的测量杆 323a。触头3231a位于测量杆323a上远离表头321a的端部，用于与待测材料接触。表头321a 可根据测量杆323a伸縮长度显示相应数值。千分表32b具有与千分表32a相同的结构，其包括 表头321b、套筒322b、测量杆323b及触头3231b。
请同时参照图4，承载台31包括基板33、挡块34、保持块36a及保持块36b。该基板33为 长方体状，其具有光滑平整的第一表面330。挡块34大体呈长条形状，其固定于基板33的第 一表面330上。挡块34具有相背的第一侧面340和第二侧面341 。第一侧面340与基板33的第一 表面330的边沿线位于同一平面内。第二侧面341上设有对称的第一凸块342及第二凸块343，其中第一凸块342与第二凸块343形状完全相同。
第一凸块342具有第一凸面3421，第一凸面3421与第二侧面341平行。第一凸块342还具 有第一交面3422，第一交面3422与第二侧面341第一凸面3421连接。第一交面3422与第二侧 面341相交的线为第一交线3423，第一交面3422与第一凸面3421相交的线为第二交线3424。 其中，第一凸面3421为矩形，第一交面3422到第二侧面341的角a的范围是0度<(1<180 度。第二凸块343具有第二凸面3431，第二凸面3431与第二侧面341平行。第二凸块343还具 有第二交面3432，第二交面3432与第二侧面341、第二凸面343 l连接。第二交面3432与第二 侧面341相交的线为第三交线3433，第二交面3432与第二凸面3431相交的线为第四交线3434 。其中，第二凸面3431为矩形，第二交面3432到第二侧面341的角e的范围是0度< {3 < 180度。其中，角a的开口方向与角e的开口方向相对。
请再参照图2，片状叠加材料10的第一接触面111及第二接触面121的长度要满足以下要 求当角a及角e都大于0度小于90度时，第一接触面111的长度不大于第二交线3424与第四 交线3434之间的距离，且第二接触面121的长度大于第二交线3424与第四交线3434之间的距 离，此时第一交线3423与第三交线3433之间的距离为第一凸块342与第二凸块343之间的最长 距离，第二交线3424与第四交线3434之间的距离为第一凸块342与第二凸块343之间的最短距 离；当角a及角e都大于等于90度小于180度时，第一接触面l 11的长度不大于第一交线 3423与第三交线3433之间的距离，且第二接触面121的长度大于第二交线3424与第四交线 3434之间的距离，此时第一交线3423与第三交线3433之间的距离为第一凸块342与第二凸块 343之间的最短距离，第二交线3424与第四交线3434之间的距离为第一凸块342与第二凸块 343之间的最长距离；第一接触面511与第二接触面521之间的宽度差不大于第一凸块342与第 二凸块343的突出高度。
请同时参照图4，挡块34具有垂直穿过第一侧面340和第二侧面341的二通孔344，且通孔 344位于第一凸块342及第二凸块343之间，挡块34还具有第一表面345，第一表面345与基板 33的第一表面330平行。在挡块34的第一表面345上具有螺丝孔346，且螺丝孔346穿透至通孔 344。螺丝40可旋入螺丝孔346到达通孔344。其中，通孔344的位置根据下列情况设置当角 a及角e都大于0度小于90度时，通孔344设置于第二交线3424、第四交线3434在第二侧面 341上的正投影之间；当角a及角e都大于等于90度小于180度时，通孔344设置于第一交线 3423与第三交线3433之间。
保持块36a及保持块36b为长方体状，其固定于基板33的第一表面330上，且对应的与第 一凸面3421及第二凸面3431垂直。第二接触面521的长度不大于保持块36a与保持块36b之间的距离。
请同时参照图5，千分表32a的套筒322a及测量杆323a从第一侧面340穿入通孔344。测量 杆323a从第二侧面341穿出，穿出部分高出第一凸面3421及第二凸面3431 。通过将螺丝40旋 入螺丝孔346直至到达套筒322a以固定千分表32a。另外，也可用粘贴等方式固定。同样的， 千分表32b也以同样的方式被固定。
请同时参看图6，其为图3所示测量装置30的测量状态图。请一并参看图2所示的片状叠 加材料10的立体图。首先，对测量装置30进行归零操作。亦即，用一直尺推压千分表30a的 测量杆323a及千分表30b的测量杆323b的触头3231a、触头3231b，直至直尺与第一凸面3421 及第二凸面3431接触，以使触头3231a、触头3231b与第一凸面3421及第二凸面3431位于同一 平面，此时按下千分表32a、千分表32b各自的归零键以归零。接着进行测量操作，亦即，将 片状叠加材料10水平放置于基板33的第一表面330上，且其第一接触面111与第二侧面341平 行。两第三接触面122对应的与保持块36a及保持块36b相接触，以使片状叠加材料10不能在 保持块36a及保持块36b之间移动。推动片状叠加材料10向挡块34靠近。第一接触面lll先与 测量杆323a、测量杆323b的触头3231a、 3231b接触，随着片状叠加材料10的移动，测量杆 323a、测量杆323b受到推力而对应的縮入套筒322a、套筒322b。当第二接触面121与第一凸 面3421及第二凸面3431接触时，测量杆323a、测量杆323b停止向套筒322a、套筒322b縮入， 此时千分表32a及千分表32b显示第一接触面lll与第二接触面121的宽度差值。
如上所述，使用上述测量装置30来测量片状叠加材料10宽度差时，千分表32a、 32b被固 定在承载台上，且片状叠加材料10由承载台承载并在保持块36a、 36b的保持下平稳的向固定 了千分表32a、 32b的挡块34靠近以测量出片状叠加材料10的宽度差。在整个测量过程中，减 少了人为手动地操作千分表及保持片状叠加材料10的平稳所造成的误差，故测量所得到的结 果更加精确。
权利要求
1.一种测量装置，其用于测量片状叠加材料突出部分的宽度差值，所述片状叠加材料包括重叠放置的矩形第一平板及第二平板，所述第一平板长边对应的两侧面为第一接触面，所述第二平板长边对应的两侧面为第二接触面，所述测量装置包括千分表及承载台，所述千分表包括表头、套筒及测量杆，其特征在于所述承载台包括挡块，所述挡块具有相背的第一侧面及第二侧面、垂直穿过所述第一侧面、所述第二侧面的通孔，所述第二侧面上设有第一凸块及第二凸块，所述第一接触面的长度不大于所述第一凸块及第二凸块之间的最小距离，所述通孔位于所述第一凸块及所述第二凸块之间，所述套筒固定在所述通孔内，所述测量杆沿所述通孔从所述第二侧面穿出，所述测量杆穿出部分高于所述第一凸块及所述第二凸块。
2.权利要求2如权利要求l所述的测量装置，其特征在于所述第一凸块具有与 所述第二侧面平行的第一凸面及连接所述第二侧面、所述第一凸面的第一交面，所述第一交 面与所述第二侧面相交的线为第一交线，所述第一交面与所述第一凸面相交的线为第二交线 ，所述第一交面到所述第二侧面的角a的范围是0度<(1<90度，所述第二凸块具有与所 述第二侧面平行的第二凸面及连接所述第二侧面、所述第二凸面的第二交面，所述第二交面 与所述第二侧面相交的线为第三交线，所述第二交面与所述第二凸面相交的线为第四交线， 所述第二交面到所述第二侧面的角e的范围是0度<{3<90度，所述角a的开口方向与所 述角e的开口方向相对，所述第一接触面的长度不大于所述第二交线与所述第四交线之间的 距离且所述第二接触面的长度大于所述第二交线与所述第四交线之间的距离，所述通孔设置 于所述第二交线、第四交线在所述第二侧面上的正投影之间。
3.权利要求3如权利要求l所述的测量装置，其特征在于所述第一凸块具有与 所述第二侧面平行的第一凸面及连接所述第二侧面、所述第一凸面的第一交面，所述第一交 面与所述第二侧面相交的线为第一交线，所述第一交面与所述第一凸面相交的线为第二交线 ，所述第一交面到所述第二侧面的角a的范围是90度S(K180度，所述第二凸块具有与 所述第二侧面平行的第二凸面及连接所述第二侧面、所述第二凸面的第二交面，所述第二交面与所述第二侧面相交的线为第三交线，所述第二交面与所述第二凸面相交的线为第四交线 ，所述第二交面到所述第二侧面的角e的范围是90度^{3<180度，所述角a的开口方向与所述角e的开口方向相对，所述第一接触面的长度不大于所述第一交线与所述第三交线之 间的距离且所述第二接触面的长度大于所述第二交线与所述第四交线之间的距离，所述通孔 设置于所述第一交线与所述第三交线之间。
4.如权利要求2或3所述的测量装置，其特征在于所述挡块具有螺 丝孔，且所述螺丝孔穿透至所述通孔， 一螺丝可旋入所述螺丝孔直至到达所述套筒以固定所 述千分表。
5.如权利要求4所述的测量装置，其特征在于所述千分表为两个， 所述挡块相应的具有两个所述通孔。
6.如权利要求4所述的测量装置，其特征在于所述承载台还包括基 板，所述基板为长方体，所述挡块固定于所述基板的上表面，且所述挡块的所述第一侧面与 所述基板的一个侧面位于同一平面内。
7.如权利要求6所述的测量装置，其特征在于所述基板的第一表面光滑且平整。
8.如权利要求7所述的测量装置，其特征在于所述承载台还包括保持块，所述保持块固定于所述基板的第一表面上，且与所述第一凸面及所述第二凸面垂直。
9.如权利要求8所述的测量装置，其特征在于所述承载台还包括两个所述保持块，其各自固定于所述基板的第一表面上，且对应的与所述第一凸面及所述第二 凸面垂直，所述两保持块之间的距离不小于所述第二接触面长度。
全文摘要
一种测量装置，用于测量片状叠加材料的第一接触面与第二接触面的宽度差值。该测量装置包括千分表及承载台，千分表包括表头、套筒及测量杆。承载台包括挡块，挡块具有相背的第一侧面及第二侧面、垂直穿过第一侧面、第二侧面的通孔，第二侧面上设有第一凸块及第二凸块。第一接触面的长度不大于第一凸块及第二凸块之间的最短距离。通孔位于第一凸块及第二凸块之间。套筒固定在所述通孔内，测量杆沿通孔从第二侧面穿出，测量杆穿出部分高于第一凸块及第二凸块。
文档编号G01B5/02GK101408400SQ20071020204
公开日2009年4月15日 申请日期2007年10月12日 优先权日2007年10月12日
发明者肖世馨, 陈中元, 陈龙枫 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司