专利名称：位移检测方法、校正表制作方法、马达控制设备、加工机的制作方法
技术领域：
本发明涉及校正位移信息以改善检测精度的位移检测方法、校正 表制作方法、马达控制设备、以及加工机。
背景技术：
本申请的申请人正在开发用于诸如激光加工机、激光修整机、以
及激光修补机之类的加工机的电流马达(galvano motor)。对于电流 马达，采用增量编码器(incremental encoder)作为高精度的角检测 器。申请人正在考虑编码器信号的电分割(electric division )手段。
常规上，基于输出幅值和偏移值相同并且相位彼此相差90度的两 相模拟正弦波信号和余弦波信号的前提执行电分割。可在校正来自编 码器的输出信号以使该输出信号接近上述前提之后进行电分割。
作为一种电分割方法，已知如日本专利特开No. H02-138819中公 开的利用电阻分割的方法以及如日本专利特开No. H06-58769中公开 的利用tan'1 (反正切)的方法。
如上所述，常规上，幅值、偏移和相位的校正是基于来自编码器 的输出信号是正弦波信号的前提而执行的。然而，编码器输出信号包 含谐波分量和非线性分量，并且不是理想的正弦波信号。因此，即使 编码器输出信号被校正，严格来说，校正后的信号也不是理想正弦波 信号。结果，当执行电分割时，导致误差。
此外，编码器的刻度间距被加工为被等间隔地布置，但是实际上 产生加工误差。
发明内容
本发明提供了校正由编码器输出信号中包含的谐波分量或者刻度间距的加工误差导致的检测误差以便改善检测精度的位移检测方法、
马达控制i殳备和加工机。
作为本发明的 一个方面的位移检测方法包括如下步骤利用驱动 单元驱动移动部分；利用位移检测器检测所述移动部分的位移量；利 用位移校正表校正位移量，以使得所述位移检测器所检测的位移量的 位移速度恒定；以及检测由所述位移校正表校正的位移量作为所述移 动部分的位移量。
作为本发明的另一个方面的用于制作校正表的方法包括如下步 骤利用驱动单元驱动移动部分；利用位移检测器检测所述移动部分 的位移量；利用微分器计算所述位移量的位移速度；以及制作位移校 正表，所述位移校正表被配置为校正所述位移量，以使得所述位移检 测器所检测的位移量的位移速度恒定。
作为本发明的另一个方面的马达控制设备包括移动部分；驱动 单元，被配置为将驱动转矩提供给移动部分；位移检测器，被配置为 检测所述移动部分的位移量；具有位移校正表的控制器，所述位移校 正表被配置为校正所述位移量，以使得所述位移检测器所检测的位移 量的位移速度恒定。所述控制器利用通过所述位移校正表校正的位移 量来控制所述驱动单元。
作为本发明的另一个方面的加工机包括所述马达控制设备。
参照附图阅读以下示例性实施例的描述，本发明的其他特征和方 面将变得清晰。
图l是实施例1中的马达控制设备执行的控制的框图。
图2是示出实施例1中的马达的转动角检测误差6m，-em与马达 的转动角em之间的关系的图。
图3是示出实施例1中的马达的检测角9m，与马达的转动角em 之间的关系的图。
图4是实施例1中的驱动转矩的输入波形图。图5是示出在实施例1中当图4中示出的波形作为转矩被施加时 检测角0m，与转动速度的时间依存关系的图。
图6是示出在实施例1中在速度不均匀的一个周期中检测角与转 动速度的时间依存关系的图。
图7是示出在实施例1中图6所示的检测角0m，被线性近似的状 态的图。
图8是示出实施例1中的校正后的检测角em"和校正前的检测角
em，之间的关系的图。
图9是示出在实施例1中校正前的检测误差em，-em和校正后的 检测误差em"-em与转动角6m之间的关系的图。
图10是示出在实施例2中当施加图4所示的波形作为转矩时检测 角0m，和转动速度的时间依存关系的图。
图11是示出在实施例2中在速度不均匀的 一个周期中检测角和转 动速度的时间依存关系的图。
图12是示出在实施例2中图11中所示的检测角0m，被线性近似 的状态的图。
图13是示出实施例2中的校正后的检测角9m，，和校正前的检测 角9m，之间的关系的图。
图14是示出在实施例2中校正前的检测误差0m，-em和校正后的 检测误差9m"-em与转动角em之间的关系的图。
图15是示出实施例3中的马达的检测角em，与马达的转动角em 之间的关系的图。
图16是示出实施例3中的马达的转动角检测误差em，-9m与马达 的转动角6m之间的关系的图。
图17是实施例3中的驱动转矩的输入波形图。
图18是示出在实施例3中当施加图17所示的波形作为转矩时检
测角em'和转动速度的时间依存关系的图。
图
转动速度的时间依存关系的20是示出在实施例3中图19所示的检测角9m，被线性近似的 状态的图。
图21是示出实施例3中的校正后的检测角em"和校正前的检测 角0m，之间的关系的图。
图22是示出在实施例3中校正前的检测角0m，和校正后的检测角 em"与转动角0m之间的关系的图。
图23是示出实施例3中校正前的检测角0m，和零点校正后的检测
角em"，与转动角em之间的关系的图。
图24是示出在实施例3中校正前的检测误差em，-em和零点校正 后的检测误差em，"-em与转动角6m之间的关系的图。 图25是示出实施例1中的校正过程的流程图。 图26是示出本实施例中的激光加工机的一个示例的示意图。 图27是示出本实施例中的马达控制设备的一个示例的示意图。 图28是示出转动编码器的刻度盘的一个示例的平面图。 图29是示出编码器的输出信号的图。
具体实施例方式
以下将参照附图描述本发明的示例性实施例。在每个图中，相同
的元件将由相同的附图标记表示，并且将省略对其的重复描述。
首先，作为本实施例中的加工机的一个示例，将描述激光加工机
的配置。图26示出激光加工机100的示意图。激光加工机100用于多
种应用，诸如板的切割或钻孔，或者焊接金属。
本实施例的激光加工机100具有两个马达控制设备200a和200b。
马达控制设备200a和200b中的每一个具有反射镜和转动马达。转动
马达被设置为转动地驱动所述反射镜。反射镜被转动马达转动地驱动
以改变其方向。
因而，、激光加工机100利用这两个转动马达改变每个反射镜的方 向，以便能够改变激光L的行进方向。如后文所述，转动马达具有用 于检测其转动位移量的编码器。所述编码器用于准确地检测转动马达的转动位移量，以便能够准确地控制激光L的行进方向。
从激光振荡器105发射的激光L经由马达控制设备200a和200b
的反射镜照射到激光加工表面106上。作为要被加工的激光加工表面
106，可选择宽范围的材料，诸如金属、玻璃、或塑料。
如上所述，激光加工才几100可以通过转动马达控制i殳备200a和
200b的反射镜来精确地控制激光L的行进方向。因此，即使激光加工
表面106不平坦，所述激光加工表面106也可被高精度地加工。
接着，将描述用于激光加工机100的马达控制设备的配置。图27
是马达控制设备的示意图。图28是编码器的刻度盘201的示意性平面图。
本实施例的马达控制设备200具有用于检测转动马达104的转动 位移量的光学编码器。所述编码器由刻度盘201和传感器单元202构 成，所述刻度盘201包括转动狭缝盘(slit disk)和固定狭缝盘，所述 传感器单元202包括发光元件(发光二极管)和光接收元件(光电二 极管)。转动狭缝盘根据转动马达104的转动而转动，而固定狭缝盘 固定。编码器具有这样的结构，即其中转动狭缝盘和固定狹缝盘被布 置在发光元件和光接收元件之间。
转动狹缝盘和固定狭缝盘具有很多狭缝(slits)。发光元件的光 根据转动狭缝盘的转动而透射或者被遮蔽。固定狹缝盘具有多个分离
的固定狭缝，以便使编码器的输出信号为多相。因此，也设置多个发 光元件和光接收元件。
如图28所示，编码器的刻度盘201具有多个狹缝205。刻度盘201 根据转动马达104的转动位移而围绕刻度盘中心204 (转动轴)转动。 传感器单元202具有两个光接收元件，当来自发光元件的光经过了狭 缝205时每一个光接收元件检测所述光。这两个光接收元件基于经过 狭缝205的光分别形成A相图案和B相图案这两种图案。
结果，如图29所示，产生彼此相位差为90度的A相信号和B相 信号。图29中的A相信号和B相信号是方波信号，其是通过由波形 整形电路对正弦波编码器输出进行波形整形而获得的。在图27中，马达控制器203控制转动马达104的转动驱动。马达 控制器203具有将驱动转矩提供给转动马达104的驱动单元和控制所 述驱动单元的控制器。马达控制器203比较作为目标值的马达转动角 和作为测量值的马达检测角，以执行反馈控制以便使得所述测量值等 于所述目标值。结果，反射镜103的方向可被改变为等于目标值的角 度。
编码器的检测原理不限于光学的检测原理，而是也可以采用其他 类型的编码器，诸如磁性编码器。之间，并且校正检测角，以使得在此时间期间的速度不均 匀等于零。校正后的检测角被定义为em"。
图6是在100[msec和111.56[msec]之间(速度不均匀的一个周期) 的检测角em，和转动速度的时间依存关系。在图6中，检测角0m，由 实线表示，转动速度由虚线表示。为了使速度不均匀等于零，在本实 施例中，在100[msec]和111.56[msec之间(速度不均匀的一个周期) 的时间期间执行对于检测角em，的时间依存关系的线性近似。
通过在作为校正时间的速度不均匀的一个周期中选择两个点并且 计算这两个点处的斜率来执行线性近似。例如，在本实施例中，利用 在作为校正时间的开始时刻的100[msec和作为校正时间的结束时刻 的111.56[msec处的两个检测角9m，来计算时间微分值(直线的斜率)。图7通过点划线示出其中图6所示的检测角9m，被线性近似的状
态。因而，可以获得检测角em，与通过线性近似而获得的校正后的检
测角0m"之间的关系。此关系在图8中示出。图8中所示的检测角0m" 和检测角em，之间的关系被保持在马达控制设备200的马达控制器 203 (控制器)中。因而，位移校正表校正检测角9m，(位移量6)， 以使得转动速度(位移速度)在至少一个速度不均匀的周期期间恒定。
接着，将描述本实施例中的校正过程。图25是示出本实施例中的 校正过程(用于制作位移校正表的方法)的流程图。
首先，在步骤Sl,基于上部控制器的命令，利用驱动单元l驱动 移动部分3 (马达)。接着，在步骤S2，作为驱动马达时的响应，利 用位移检测器5检测出马达的检测角em，(位移量6)。此外，利用 微分器7计算检测角0m，(位移量6)的时间微分值(位移速度)。
在步骤S3中，确定转动速度(位移速度)的速度不均匀的范围、 即校正范围。根据要使用的移动部分3 (马达)的类型等来适当地确 定转动速度的速度不均匀的范围(校正范围)。
在步骤S4中，由校正前的检测角em，计算校正后的检测角em"，
以使得在步骤S3中确定的速度不均匀的范围中，转动速度的速度不均 匀等于零。换言之，校正检测角em，，以使得检测角em，(位移量6) 的时间微分值(位移速度)恒定。校正前的检测角em，与校正后的检 测角em，，之间的关系作为被位移校正表制作单元10制作的位移校正
表被保持。本实施例的位移校正表被如上所述地制作。
在本实施例的位移检测方法中，利用位移校正表校正的位移量(检
测角0m")被检测作为移动部分3的位移量4 (转动角0m)。图25 中所示的校正过程也可以;故应用于后文描述的实施例2和3。 校正角度检测之前和之后的检测误差
接着，将描述本实施例中的在校正角度检测之前和之后的检测误差。
图9是校正前的检测误差9m，-em和校正后的检测误差em"-0m 与转动角6m之间的关系。在图9中，水平轴表示马达的转动角Gm，垂直轴表示校正前的检测误差em，-em和校正后的检测误差em，，-9m。 实线表示校正前的检测误差em，-9m，虛线表示校正后的检测误差 6m，，-0m。
如图9所示，在本实施例的校正范围内，与校正前的检测角em， 相比，校正后的检测角0m"的检测误差大大减小。因此，根据本实施 例，可以执4亍理想的电分割。
如上所述，根据本实施例，可以减小包含谐波信号的编码器信号 的角度检测误差。通过改变移动部分(马达)的初始位置而反复执行 本实施例中的检测角的校正方法。因此，可以在宽的范围内校正检测 角。
接着，将描述本发明的实施例2。
在本实施例中，考虑其中对于转动马达的转矩命令的位置响应为 1/(>2+8+100)的移动部分的模型。此模型在实施例1的模型上添加了粘 性和弹簧系统的模型。粘性的模型由上述表达式中的分母的"s"反映， 弹簧系统的模型由该表达式中的分母的"100"反映。
用于校正角度检测的方法
首先，将描述本实施例中的用于校正角度检测的方法。 在本实施例中，也通过与实施例1的过程相同的过程执行校正。 首先，类似于实施例1，图4中所示的波形被施加作为转矩。此时的 检测角em，和转动速度(时间微分值)的时间依存关系在图IO中示出。 在图10中，检测角em，由实线表示，转动速度由虛线表示。
在本实施例中，移动部分3(马达)的初始位置被设定为O[弧度]。 在图10中，当关注转动速度时，在0.3到0.4秒期间的转动速度 几乎恒定，并且具有速度不均匀性。因此，假设速度不均勻的一个周 期为从358.16[msec到371.89[msec，并且通过校正检测角0m，以使 得在此时间期间的速度不均匀等于零，获得校正后的检测角0m"。 图11是在从358.16[msec到371.89[msec]的时间(速度不均匀的一个周期)期间的检测角0m，和转动速度(时间微分值)的时间依存 关系。在图11中，检测角9m，由实线表示，转动速度由虛线表示。图 11对应于图10的一部分的^t大S见图。
为了使转动速度的速度不均匀等于零，在本实施例中，如点划线 在图12中所示的，对从358.1msec到371.89[msec的时间期间的检 测角0m，进行线性近似。因而，可以获得校正前的检测角em，和通过 线性近似获得的校正后的检测角em"之间的关系。此关系在图13中 示出。
图13中的校正后的检测角0m"和校正前的检测角0m，之间的关 系被保持在马达控制设备200的马达控制器203中作为位移校正表。 校正角度检测之前和之后的检测误差
接着，将描述本实施例中的在校正角度检测之前和之后的检测误差。
图14是示出校正前的检测误差em，-6m和校正后的检测误差 0m，，-em与转动角em之间的关系的图。在图14中，水平轴表示马达 的转动角em，垂直轴表示校正前的检测误差0m，-0m和校正后的检测 误差em，，-em。实线表示校正前的检测误差6m，-9m,虚线表示校正后 的检测误差em"-0m。
如图14所示，在本实施例的校正范围内，与校正前的检测角em， 相比，校正后的检测角em"的检测误差大大减小。因此，根据本实施 例，可以执行理想的电分割。
如上所述，根据本实施例，可以减小包含谐波信号的编码器信号 的角度检测误差。通过改变移动部分(马达)的初始位置，反复执行 本实施例中的检测角的校正方法。因此，可以在宽的范围内校正检测 角。时，编码器的相位角ee[弧度i由以下
表达式(7)表示。
《=140000 (7)
编码器的两相正弦波信号Asig和Bsig由以下表达式(8)和(9) 表示。
^$7> = sin《+ — (8) 、 2 J
= sin <9e (9)
然而，当产生刻度间距的加工误差时，不满足以上表达式(7)的 关系，并且不能检测到精确的位置。
在本实施例中，将描述在产生刻度间距的加工误差的情况下的检 测校正过程。
包含刻度加工误差的编码器信号在检测角度时提供的误差 首先，将描述包含刻度加工误差的编码器信号在检测角度时提供
的误差。在本实施例中，编码器的刻度被配置为相对于马达的转动角
满足以下表达式(10)和(11)。
当马达的转动角的范围是(-丌/140000) x 1.2^Gm<0时，编码器的相
位角0e，[弧度]由以下表达式(10)表示。
r,画0 (10)
6 1.2 、
当马达的转动角的范围是OS0nK(7r/14OOOO)x0.8时，编码器的相 位角Ge，[弧度由以下表达式(11)表示。
r々訓0 (11)
e 0.8
在这种情况下，在本实施例的编码器的刻度中产生满足表达式
(10)和(11)的关系的加工误差。假设在除上述范围之外的范围中
16没有产生加工误差。在假设编码器的刻度是理想刻度的情况下，利用
编码器信号0e，通过表达式(12)获得马达的转动角9m，。
图15是本实施例中的马达的检测角em，与马达的转动角0m之间 的关系。在图15中，水平轴表示马达的转动角0m，垂直轴表示已通 过电分割获得的马达的马达转动角em，。
图16是本实施例中的马达的转动角检测误差em，-em与马达的转 动角0m之间的关系。在图16中，水平轴表示马达的转动角em，垂 直轴表示马达的转动角em与已通过电分割获得的马达转动角6m，之 间的检测误差em，-0m。
如图15和16所示，本实施例的编码器包含由刻度加工误差引起 的角度检测误差。
用于校正角度检测的方法
接着，将描述本实施例中的用于校正角度检测的方法。
通过与实施例1的过程相同的过程执行本实施例中的校正。在本 实施例中，图17所示的波形被施加作为驱动转矩。图17是本实施例 中的驱动转矩的输入波形视图。如图17所示，在0到0.1秒期间施加 O.IN的驱动转矩。
图18是示出在本实施例中当施加图17所示的波形作为转矩时的 检测角0m，和转动速度的时间依存关系的视图。在图18中，检测角em， 由实线表示，转动速度由虚线表示。移动部分(马达)的初始位置被 设定为零[弧度J。
当关注图18中的转动速度时，0.35到0.38秒的时间期间的转动 速度几乎恒定。然而，在365[msec附近产生速度不均匀。因此，假设 速度不均匀的范围在350[msec和380[msec之间，并校正检测角，以 使得在此时间期间的速度不均勻等于零，以获得校正后的检测角 0m，，。
图19是示出在包含本实施例的速度不均匀的时间期间(350[msec
17和380[msec之间的时间期间)的检测角em，和转动速度的时间依存关 系的视图。在图19中，检测角em，由实线表示，转动速度由虛线表示。 为了使转动速度的速度不均勻等于零，在本实施例中，如在图20 中由点划线所示的，对在350 [msec到380[msec之间的时间期间(在 包含速度不均匀的时间期间)的检测角em，进行线性近似。因而，可
获得校正前的检测角em，和通过线性近似计算出的校正后的检测角
em"之间的关系。此关系在图21中示出。
图21中示出的校正后的检测角9m"和校正前的检测角9m，之间 的关系被保持在马达控制设备200的马达控制器203中作为位移校正 表。
校正角度检测之前和之后的检测误差 接着，将描述在校正角度检测之前和之后的检测误差。 图22是校正前的检测角6m，和校正后的检测角em"与转动角em 之间的关系。在图22中，水平轴表示马达的转动角0m，垂直轴表示 冲t正前的检测角0m，和冲交正后的检测角9m"。才交正前的检测角6m，由 实线表示，通过线性近似获得的校正后的检测角em"由虛线表示。
如图22所示，当马达的转动角em等于零时，校正后的检测角0m" 不为零。因此，另外还执行零点校正，以使得当马达的转动角em等 于零时校正后的检测角em，，等于零。零点校正后的检测角被定义为 9m，"。
图23是校正前的检测角em，和零点校正后的检测角em"，与转动 角0m之间的关系。在图23中，水平轴表示马达的转动角em，垂直 轴表示检测角0m，和零点校正后的检测角em"，。检测角6m，由实线表
示，零点校正后的检测角em，"由虚线表示。
如图23所示，当转动角6m等于零时，零点校正后的检测角em"， 也等于零。因而，本实施例的位移校正表执行校正，以使得当移动部
分(马达)的转动角em (位移量)等于零时，校正后的转动角em"，
(位移量)等于零。
图24是校正前的检测误差0m，-em和零点校正后的检测误差关系。在图24中，水平轴表示马达的 转动角em，垂直轴表示校正前的检测误差em，-em和零点校正后的检
测误差em，"-em。校正前的检测误差em，-em由实线表示，零点校正 后的检测误差em，"-em由虚线表示。
如图24所示，在本实施例的校正范围内，与校正前的检测角0m，
的检测误差相比，零点校正后的检测角em，"的检测误差大大减小。
如上所述，根据本实施例，可以减小包含刻度加工误差的编码器 信号的角度检测误差。此外，在本实施例中，即使编码器的刻度间距 是不均质的，也可以通过设定包含不均质性的角度或者位置的范围来 执行位移校正。
在利用上述实施例中的每一个中的校正方法的电流马达的定位设 备(马达控制设备)中，或者在使用该马达控制设备的激光加工机和 加工机中，与利用常规情况相比，可以容易地改善编码器的分割精度。
因此，根据上述实施例中的每一个，可以抑制编码器检测到的位 移量的位移速度(测量的位置响应的时间微分)的速度不均匀。结果， 可执行精确的位移检测，而与来自编码器的输出信号的幅值或偏移、 两相信号的相位差、谐波分量、或编码器刻度的间距误差无关。
因此，根据上述实施例中的每一个，可提供校正由编码器输出信 号中包含的谐波分量或刻度间距的加工误差等引起的检测误差以改善 检测精度的位移检测方法、马达控制设备以及加工机。也可以提供用 于制作校正表的方法。结果，可以改善机器的性能，并且可以改善被 加工的对象或被处理的对象的质量。
虽然参照示例性实施例描述了本发明，但是应该理解，本发明不 限于所公开的示例性实施例。以下权利要求的范围应被给予最宽的解 释，以便包括所有这些变型以及等同结构和功能。
例如，在上述实施例中的每一个中，使用转动马达(转动机构) 作为移动部分，但是作为替换，也可以使用平动机构。此外，作为移 动部分的驱动单元，可以使用诸如马达或者压电元件的致动器或者人 手。
19在上述实施例中的每一个中，使用编码器作为位移检测器，但是
作为替换，也可以使用电容传感器或者PSD (位置敏感检测器)。根 据电容传感器或者PSD，可以执行位移检测的线性校正。
权利要求
1.一种位移检测方法，包括如下步骤利用驱动单元驱动移动部分；利用位移检测器检测所述移动部分的位移量；利用位移校正表校正所述位移量，以使得由所述位移检测器所检测的所述位移量的位移速度恒定；以及检测通过所述位移校正表校正的位移量作为所述移动部分的位移量。
2. 如纟又利要求1所述的位移检测方法，其中，所述位移量的位移速度具有周期性的速度不均匀，以及 其中，所述位移校正表执行校正，以使得在速度不均匀的至少一 个周期期间所述位移速度恒定。
3. 如4又利要求1所述的位移检测方法，其中，所述位移校正表执行校正，以使得当所述移动部分的实际 位移量等于零时，校正后的所述位移量等于零。
4. 一种用于制作校正表的方法，包括如下步骤 利用驱动单元驱动移动部分； 利用位移检测器检测所述移动部分的位移量； 利用微分器计算所述位移量的位移速度；以及 制作位移校正表，所述位移校正表被配置为校正所述位移量，以使得所述位移检测器所检测的位移量的位移速度恒定。
5. —种马达控制设备，包括 移动部分；驱动单元，被配置为将驱动转矩提供给所述移动部分；位移检测器，被配置为检测所述移动部分的位移量；以及 控制器，所述控制器具有位移校正表，所述位移校正表被配置为校正所述位移量，以使得所述位移检测器所检测的位移量的位移速度恒定，其中，所述控制器利用通过所述位移校正表校正的位移量来控制 所述驱动单元。
6. 根据权利要求5所述的马达控制设备，其中，所述位移量的位移速度具有周期性的速度不均匀，以及 其中，所述位移校正表校正所述位移量，以使得在速度不均匀的 至少一个周期期间所述位移速度恒定。
7. 根据权利要求5所述的马达控制设备，其中，所述位移校正表执行校正，以使得当所述移动部分的实际 位移量等于零时，校正后的所述位移量等于零。
8. 根据权利要求5所述的马达控制设备， 其中，所述位移检测器是编码器。
9. 一种加工机，包括根据权利要求5-8中任一项所述的马达控制 设备。
全文摘要
本发明涉及位移检测方法、校正表制作方法、马达控制设备、加工机。本发明的位移检测方法包括以下步骤利用驱动单元(1)驱动移动部分(3)；利用位移检测器(5)检测所述移动部分(3)的位移量(6)(检测角θm’)；利用位移校正表校正位移量(6)(检测角θm’)，以使得所述位移检测器(5)所检测出的位移量(6)(检测角θm’)的位移速度(dθm’/dt)恒定；以及检测通过所述位移校正表校正的位移量(检测角θm”)作为所述移动部分(3)的位移量。
文档编号G01D5/245GK101603840SQ20091014910
公开日2009年12月16日 申请日期2009年6月12日 优先权日2008年6月12日
发明者上田伸治 申请人:佳能株式会社