专利名称：一种磁场测量装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种磁场强度的测量器具。
技术背景现有技术中，测量表面磁场的工具一般为高斯计，高斯计是一种相 对比较精密的测量仪器，尤其是探头部分的霍尔片，其对磁场敏感度高， 能够测量平面磁场中各个位置的磁场强度，并通过计量表表示出来。对 于分布多个磁极的磁场，想要在其中找出磁场强度的最高点，使用高斯 计寻找，是比较困难的，需要将探头在磁场的各个位置进行测量，不仅 浪费时间，而且由于磁场各个位置的磁场强度均不同，其测量的结果误 差相对会较大。另外，由于探头比较精密，其极容易损坏，这种逐点测 试的方法，容易导致探头的损坏。发明内容本实用新型所要解决的技术问题是提供一种磁场测量装置，寻找磁 场中磁场强度最高点更容易，且高斯计的探头不容易损坏。为解决上述技术问题，本实用新型的技术方案是 一种磁场测量装 置，包括高斯计，所述高斯计包括测量笔、计量表，其中测量笔头为一 探头；设有支架，所述测量笔安装在所述支架上，支架上对应探头下方处设有永磁体。作为改进，所述支架为阶梯状，分为上、下两层支架，所述测量笔 安装在上支架上，所述永磁体安装在下支架上，下支架上设有使永磁体 旋转的旋钮。将测量笔固定于支架上，并在测量笔位置下方放置永磁体。于探头的上方，并水平 的通过探头。当测试品上的磁极正好位于探头上方，且其极性与永磁体 极性相反，根据同极相斥、异极相吸原理，测试品将被位于探头下方的 永磁体吸引而紧压在探头上，测试品与探头的接触点即为测试品上其中 一点磁场最高点，同时，探头测量到这一接触点的磁场强度，并在计量 表上反映出来。按照此方法，可以继续寻找磁场上的磁场最高点。作为改进，所述支架上于测量笔安装处向外延伸设有一凸出部，所 述探头位于凸出部端部上方，所述永磁体安装在凸出部上，凸出部上设 有使永磁体旋转的旋钮。圆柱形的凸出部可以更方便的测量类似环形永 磁体的磁场分布。作为改进，所述支架上设有倾斜支架，所述计量表安装在所述倾斜 支架上。使计量表、支架、测量笔成为一整体，方便了实用和操作。 本实用新型与现有技术相比所带来的有益效果是将测量笔固定在支架上，利用磁极自身同极相斥、异极相吸原理寻 找磁场的磁场最高点，极大的降低了寻找磁场最高点的难度，且高斯计 的探头不容易损坏；永磁体的极性可变，方便了寻找磁场上的所有磁场 最高点。
图1为本实用新型实施例1结构示意图; 图2为实施例1测量状态图I; 图3为实施例1测量状态图II; 图4为本实用新型实施例2结构示意图; 图5为图4的A-A剖视图；图6为实施例2测量状态图I;图7为实施例2测量状态图n。下面结合说明书附图对本实用新型作进一步说明。 实施例1如图1所示， 一种磁场测量装置，包括高斯计，所述高斯计包括测 量笔2、计量表l，其中测量笔2头为一探头3;设有分上下层且呈阶梯状的支架，所述测量笔2安装在所述上支架4上，探头3伸出上支架4 外,位于下支架5的上表面；下支架5对应探头3下方处设有永磁体6， 该永磁体6可以通过旋钮7旋转。如图2、 3所示，测量测试品8上的磁 场时，将测试品8放置于探头3的上方，并水平的通过探头3，当测试品 8上的磁极正好位于探头3上方，且其极性与永磁体6极性相反，根据同 极相斥、异极相吸原理，测试品8将被位于下支架5的永磁体6吸引， 使得测试品8紧压在探头3上，测试品8与探头3的接触点即为测试品8 上其中一点磁场最高点，同时，探头3测量到这一接触点的磁场强度， 并在计量表1上反映出来。寻找出其中一点磁场最高点后，继续寻找磁 场上另一点磁场最高点，当测试品8上的磁极正好位于探头3上方，且 其极性与永磁体6极性相同时，根据同极相斥、异极相吸原理，测试品8 将受到排斥力而快速的通过探头3，等到探头3上方再次出现与永磁体6 极性相反的磁极，第二个磁极最高点被寻找出来，按照此方法，可以方 便地寻找出测试品8的磁场上与永磁体6极性相反的磁场最高点。通过 旋钮7旋转永磁体6，使其极性改变，按照上述磁场最高点的寻找方法， 可以寻找出测试品8的磁场上与永磁体6极性相反的磁场最高点，这样 一来，测试品8的磁场上各个N极和S极均被寻找出来。 实施例2如图4、 5所示， 一种磁场测量装置，包括高斯计，所述高斯计包括 测量笔2、计量表l，其中测量笔2头为一探头3;所述支架上于测量笔 2安装处向外延伸设有一凸出部9，所述探头3位于凸出部9端部上方，所述永磁体6安装在凸出部9上，凸出部9上设有使永磁体6旋转的旋 钮7，所述支架上设有倾斜支架10，所述计量表1安装在所述倾斜支架 10上。本实施例中，所述凸出部9为圆柱形，为了准确放置探头，所述圆 柱形凸出部一面被切削成平面，所述探头放置与该平面上。本实施例中， 所述的测试品为圆环形多极磁体，本结构对于测量圆环形磁体8的磁场 最高点更方便快捷，如图6所示，为测量圆环形磁条8内环磁场分布； 如图7所示，为测量圆环形磁条8外环磁场分布。其测量原理与实施例1 中测量磁场最高点的方法一致，所不同的是，水平磁条在测量时为水平 经过探头，而对于圆环形磁体在测量时，旋转磁体即可。通过本实用新型极大的降低了寻找磁场最高点的难度，且高斯计的 探头3不容易损坏；永磁体6的极性可变，方便了寻找磁场上的所有磁 场最高点。
权利要求1.一种磁场测量装置，包括高斯计，所述高斯计包括测量笔、计量表，其中测量笔头为一探头；其特征在于设有支架，所述测量笔安装在所述支架上，支架上对应探头下方处设有永磁体。
2. 根据权利要求1所述的一种磁场测量装置，其特征在于所述支架为阶 梯状，分为上、下两层支架，所述测量笔安装在上支架上，所述永磁体 安装在下支架上，下支架上设有使永磁体旋转的旋钮。
3. 根据权利要求1所述的一种磁场测量装置，其特征在于所述支架上于 测量笔安装处向外延伸设有一凸出部，所述探头位于凸出部端部上方， 所述永磁体安装在凸出部上，凸出部上设有使永磁体旋转的旋钮。
4. 根据权利要求2或3所述的一种磁场测量装置，其特征在于所述支架 上设有倾斜支架，所述计量表安装在所述倾斜支架上。
专利摘要本实用新型公开一种磁场测量装置，包括高斯计，所述高斯计包括测量笔、计量表，其中测量笔头为一探头；设有支架，所述测量笔安装在所述支架上，支架上对应探头下方处设有永磁体，还设有使永磁体旋转的旋钮。利用磁极自身同极相斥、异极相吸原理寻找磁体表面磁场的最高点，极大的降低了寻找磁场最高点的难度，且高斯计的探头不容易损坏；永磁体的极性可变，方便了寻找磁体表面的所有磁场最高点。本实用新型对于多极磁体表面的测量尤其有效。
文档编号G01R33/02GK201425619SQ20092005834
公开日2010年3月17日 申请日期2009年6月12日 优先权日2009年6月12日
发明者柴 任 申请人:安吉司润磁性材料有限公司