专利名称：一种同页综框上经纱张力的采样方法
技术领域：
本发明涉及一种喷气织机送经机构的控制系统，尤其涉及同页综框上经纱张力的 采样方法。技术领域在喷气织机送经机构控制系统中，活动后梁承受着全部经纱的总张力，因为所有 的经纱从后梁表面绕过。因此，现有技术中，多采用后梁作为张力信号反馈的主要部件，采集 经纱动态张力实际是采集后梁承受的力。但是，后梁反馈系统具有很大的惯性，在织造过程 中，后梁的摆动和振动都很大，后梁作为反馈元件，容易受到较大干扰。用后梁反映经纱动态 的信号不灵敏，而经纱的直径很细，惯性又小，因此，用后梁反映经纱的动态力是不充分的。由于在织造过程中，经纱分成上层经纱和下层经纱，上层经纱张力和下层经纱张 力的状态很不一样，后梁不能反映处在上梭口或下梭口经纱张力的不同特点。因此，需要寻 求一种新的经纱张力采样方法。
发明内容
本发明目的是提供一种获取更多经纱张力动态信息从而更真实反映经纱的变动 状态的采样方法。为了达到上述目的，本发明所采用的技术方案为一种同页综框上经纱张力的采 样方法，其包括对采样周期、采样点分布、采样内容的设定以及对输出张力的计算，所述的 采样周期设定为以织机曲轴二回转为一采样周期，所述的采样点分布包括满开区、打纬区 的多个采样点，采样内容包括上层经纱和下层经纱的满开平均张力、张力波动幅度以及打 纬峰力，所述的输出张力计算为对上层经纱满开区的平均张力、下层经纱满开区的平均张 力、打纬峰张力、张力波动幅度的加权平均。在根据上述技术方案所优化的实施方式中，对于平纹织物，以720°为一采样周期。当对应上层经纱，采样的满开区范围在0° -210°和300° -360°，对于下层经 纱，采样的满开区范围在360° -640°。在所述的采样范围内，每隔2度采样一次。所述的张力波动幅度包括上层经纱张力波动幅度和下层张力波动幅度，所述的上 层经纱张力波动幅度为上层经纱的最大张力与最小张力之差；所述的下层经纱张力波动幅 度为下层经纱的最大张力与最小张力之差。由于采用上述技术方案，本发明具有以下优点本发明通过对采样周期、采样点分 布以及采样内容的设定，各采样点的张力分布可通过曲线反映，通过曲线波动形态可获知 更多的有用信息，从而用这些信息作为张力反馈信号，以更真实地反映经纱的变动状态。
附图1为平纹织物单经纱张力曲线具体实施例方式下面结合附图，对本发明优选的具体实施例进行说明本发明提供一种同页综框上经纱张力的采样方法，它包括对采样周期、采样内容、 采样点分布的设定以及对输出张力的计算方法等。在本实施例中，我们以平纹织物作为采样对象，取织机曲轴二回转即720°为一采 样周期。图1表明经纱张力每波动一次对应的曲线，该张力信号特性曲线以曲轴二回转为 一周期，对应二次引纬和二次打纬。从图1经纱张力曲线上可以清楚地到，第一个360°和第二个360°的曲线在数值 上有很大差异。第一个360°对应上层经纱，第二个360°对应下层经纱。因此，上层经纱 和下层经纱张力的取值范围不同，应分别采样。由图1可见下层经纱一直处在高张力位，上层经纱一直处在低张力位。经纱在满 开区的张力最大，在平综区张力最小，因此张力取样选择满开区。对下层经纱，取值范围 360° -640°，对上层经纱，取值范围0° -210°和300° -360°。在取值范围内，以2度 为一采样间隔。图1所示曲线上标注点1和11是打纬点。曲线上显示打纬张力峰对应一个度数， 实际是一个区域，打纬区一般宽5°。在标注点为1的打纬点，取718°、0°、2。三个采样 点；在标注点为11的打纬点，取358°、360°、362°三个采样点。曲线形态还包括张力波动幅度的范围，上层经纱的最大张力和最小张力就是整条 曲线的最大张力和最小张力，下层经纱的最大张力和最小张力在数值比上层经纱小。张力 波动幅度指最大张力和最小张力之差。第一个360°内，最大张力和最小张力之差是上层经 纱的张力波动幅度；第二个360°内，最大张力和最小张力之差是下层经纱的张力波动幅度。输出张力的计算方法采用加权平均法。设上层经纱满开区的平均张力为A，下层经 纱满开区的平均张力为B，上层经纱打纬峰张力为C，上层经纱打纬峰张力为D，上层经纱张 力波动幅度为e，下层经纱张力波动幅度为F。取加权系数为mm输出张力=WiA+^B+WsC+^D+WsE+lF ；
其中，EW=1。
权利要求
一种同页综框上经纱张力的采样方法，其包括对采样周期、采样点分布、采样内容的设定以及对输出张力的计算，所述的采样周期设定为以织机曲轴二回转为一采样周期，所述的采样点分布包括满开区、打纬区的多个采样点，采样内容包括上层经纱和下层经纱的满开平均张力、张力波动幅度以及打纬峰力，所述的输出张力计算为对上层经纱满开区的平均张力、下层经纱满开区的平均张力、打纬峰张力、张力波动幅度的加权平均。
2.根据权利要求1所述的同页综框上经纱张力的采样方法，其特征在于对于平纹织 物，以720°为一采样周期。
3.根据权利要求2所述的同页综框上经纱张力的采样方法，其特征在于当对应上层 经纱，采样的满开区范围在0° -210°和300° -360°，对于下层经纱，采样的满开区范围 在 360° -640° 。
4.根据权利要求3所述的同页综框上经纱张力的采样方法，其特征在于在所述的采 样范围内，每隔2度采样一次。
5.根据权利要求1所述的同页综框上经纱张力的采样方法，其特征在于所述的张力 波动幅度包括上层经纱张力波动幅度和下层张力波动幅度，所述的上层经纱张力波动幅度 为上层经纱的最大张力与最小张力之差；所述的下层经纱张力波动幅度为下层经纱的最大 张力与最小张力之差。
全文摘要
本发明涉及一种同页综框上经纱张力的采样方法，其包括对采样周期、采样点分布、采样内容的设定以及对输出张力的计算，所述的采样周期设定为以织机曲轴二回转为一采样周期，所述的采样点分布包括满开区、打纬区的多个采样点，采样内容包括上层经纱和下层经纱的满开平均张力、张力波动幅度以及打纬峰力，所述的输出张力计算为对上层经纱满开区的平均张力、下层经纱满开区的平均张力、打纬峰张力、张力波动幅度的加权平均。本发明通过对采样周期、采样点分布以及采样内容的设定，各采样点的张力分布可通过曲线反映，通过曲线波动形态可获知更多的有用信息，从而用这些信息作为张力反馈信号，以更真实地反映经纱的变动状态。
文档编号G01L5/04GK101975635SQ20101029594
公开日2011年2月16日 申请日期2010年9月29日 优先权日2010年9月29日
发明者周平, 祝章琛 申请人:江苏万工科技集团有限公司