专利名称：一种接线盒二极管测试系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种接线盒二极管测试系统，用于检测接线盒和接线盒内二极管的 工作状态。
背景技术：
目前，传统测试成品接线盒中的二极管方法是用万用表的二极管测试档的正 负探针分别点测接线盒的_、+端，通过所测得值的大小是否在规定范围内来判断二极管 的好坏。此测试方法具有相当多的弊端首先，其测试的是接线盒中所有二极管串联的 结果，并不能反映每个二极管的参数特性及好坏，当然也不能测试每个二极管的正向电 压、反向耐压及漏电流等参数；其次，即使当中有某个二极管坏了也有可能总体测得值 能够在规定范围之内，这样就可能漏测二极管击穿、混接等情况；最后，传统的测试效 率不高。
发明内容
为了解决上述技术问题，本发明提供了一种接线盒二极管测试系统。本发明解决其技术问题所采用的技术方案是一种接线盒二极管测试系统， 设有控制器，所述控制器将其内部的气动控制信号传输至气动压针治具的气动治具，所 述控制器上的两个对应接头分别连接在接线盒上的公接头和母接头上，所述气动压针治 具通过探针信号连接在控制器，所述控制器的逻辑控制信号连接在二极管参数测试模块 上，并由二极管参数测试模块控制。本发明能够解决了传统的测试问题，能够单独测试每个二极管的详细参数(包 括正向压降、反向耐压、反向漏电流)判断每个二极管的每个参数在标准范围之内，同 时它也能够检测二极管的错接、漏接、击穿等问题，而且通过系统中的压针治具及切换 电路能够在很短的时间内逐一测试完每个二极管。整个系统采用自动化处理，提供了工 作效率。
图1为本发明的结构框图。图2为本发明工作图。图中1、控制器；1-1、气动控制信号；1-2、对应接头；1-3、逻辑控制信 号；2、气动压针治具；2-1、气动治具；2-2、探针信号；3、接线盒；3-1、公接头； 3-2、母接头；4、二极管参数测试模块。
具体实施例方式下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。如图1所示一种接线盒二极管测试系统，设有控制器1，所述控制器1将其内部的气动控制信号1-1传输至气动压针治具2的气动治具2-1，所述控制器1上的两个对应 接头1-2分别连接在接线盒3上的公接头3-1和母接头3-2上，所述气动压针治具2通过 探针信号2-2连接在控制器1，所述控制器1的逻辑控制信号1-3连接在二极管参数测试 模块4上，并由二极管参数测试模块4控制。其主要是通过用二极管参数测试模块4检 测出厂的每一个二极管，将此仪器的4根检测线通过控制器中的4进12出的逻辑选择电 路通过连接气动治具2-1的方法自动检测每个二极管的参数，并判断出厂前每个二极管 的质量。结合图2所示，当使用者将接线盒3的公接头3-1和母接头3-2与控制器1上的 两个对应接头1-2连接上后，首先系统检测接线盒3的通路情况并通过控制器1的LED指 示灯指示状态，同时给控制器1 一个开始检测的信号，待通路检测后，开始进行二极管 的检测工作，启动气动治具2-1并压制在接线盒3上，相应的开始逻辑选择并检测，检测 的状态通过控制器1上的指示灯显示出来，如果出现出错的情况则产生报警并指示LED 红灯亮。使用之前需要设置所测得二极管的数量，系统根据此参数可以判定测试结束后 的整个接线盒3的状态。例如，如果有2个二极管，因为设计的是最多5个二极管，那么 势必会造成当检测完前2个的时候，之后检测的都为错误状态，如果设置了数量参数， 就可以在检测完前2个后就不检测或者检测但不判定之后的状态。同时，使用之前要设 置二极管参数测试模块4上二极管的参数范围，以能够方便的检测不同型号的二极管。需要强调的是以上仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式 上的限制，凡是依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与 修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。
权利要求
1. 一种接线盒二极管测试系统，其特征是所述接线盒二极管测试系统设有控制器 (1)，所述控制器(1)将其内部的气动控制信号(1-1)传输至气动压针治具(2)的气动治 具(2-1)，所述控制器(1)上的两个对应接头(1-2)分别连接在接线盒(3)上的公接头 (3-1)和母接头(3-2)上，所述气动压针治具(2)通过探针信号(2-2)连接在控制器(1)， 所述控制器(1)的逻辑控制信号(1-3)连接在二极管参数测试模块(4)上，并由二极管参 数测试模块(4)控
全文摘要
本发明涉及一种接线盒二极管测试系统，用于检测接线盒和接线盒内二极管的工作状态，其设有控制器，所述控制器将其内部的气动控制信号传输至气动压针治具的气动治具，两个对应接头分别连接在接线盒上的公接头和母接头上，所述气动压针治具通过探针信号连接在控制器，所述控制器的逻辑控制信号连接在二极管参数测试模块上，并由二极管参数测试模块控制。能够解决传统的测试问题，能够单独测试每个二极管的详细参数，判断每个二极管的每个参数在标准范围之内，同时它也能够检测二极管的错接、漏接、击穿等问题，而且通过系统中的压针治具及切换电路能够在很短的时间内逐一测试完每个二极管。整个系统采用自动化处理，所以测试的效率也会高很多。
文档编号G01R31/02GK102012477SQ201010505760
公开日2011年4月13日 申请日期2010年10月13日 优先权日2010年10月13日
发明者段正刚, 王新林 申请人:苏州快可光伏电子有限公司