用于自动光学测量仪的旋转平台结构的制作方法

文档序号:5998768阅读:240来源:国知局
专利名称:用于自动光学测量仪的旋转平台结构的制作方法
技术领域
本实用新型涉及一种旋转平台结构,尤其涉及一种转动平稳可靠、用于自动光学 测量仪的旋转平台结构。
背景技术
在现有技术中对变截面零部件的精确测量通常采用三座标测量,它是通过在笛卡 儿坐标系中移动的探针来确定空间点的位置,当探针接触到被测零部件时,探针受力并触 发测量机记录当前点的三个坐标信息,该方法测量精度高,且不受被测零部件的外形限制, 因此在工业测量中得以广泛应用。但测量时往往对周围的环境要求较高,因此人们又开始 采用对周围环境要求较低、使用范围更广、测量精度更高的光学测量仪进行测量,但测量时 二者均需将待测零部件固定在工作平台上,而常用的固定方法是用胶水将待测零部件直接 粘在工作平台上,转换测量面时需拆除后重新固定,导致测量周期长、效率低、并影响零部 件的测量精度,同时也难以适应大批量的零部件检测。中国专利公开了一种试样测量旋转机构(CN10152(^95A),它包括设于基板的两气 爪座,其中一个气爪座上固设有一轴,该轴上套装有可转动的从动气爪,另一个气爪座上设 有通孔,该通孔内设有一两端分别与主动气爪和旋转缸固定的轴。此装置利用气爪夹持试 样,旋转缸带动气爪旋转90度或270度,因此其测量范围仅局限于上、下表面,结构相对复 杂,而且在水平方向转换测量面时同样存在二次定位,由此导致测量周期长、效率低、并影 响零部件的测量精度等技术问题。
发明内容本实用新型主要是提供了一种结构简单,转动平稳可靠,一次定位即可对测试零 件进行全方位测量,从而可提高检测效率和检测精度的用于自动光学测量仪的旋转平台结 构,解决了现有技术中存在的测试零件转换测量面时需重复定位,由此导致测量周期长、效 率低、并降低测量精度等的技术问题。本实用新型的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的用于自动光学 测量仪的旋转平台结构,包括工作平台,在所述工作平台上设有定位盘,所述定位盘通过推 力调心轴承和圆锥滚子轴承旋转支撑有过渡轴,所述过渡轴的下端延伸至工作平台下并通 过连轴器与垂直驱动转轴相连,所述过渡轴的上端与水平固定盘固定相连。通过推力调心 轴承和圆锥滚子轴承来承载用于固定测试零件的水平固定盘的轴向载荷以及径向载荷,降 低了传动副的受力以及运动磨损,提高了旋转平台的旋转承载性能,避免了传动副的受力 以及运动磨损所造成的摩擦噪音和运动时的不平稳性,使旋转平台旋转精度高,运动平稳 性好,安全系数高,整体结构简单,测试时首先将测试零件固定在水平固定盘上,转换测量 时只需转动水平固定盘上即可带动测试零件旋转,即一次定位即可对测试零件进行全方位 测量,从而可提高检测效率和检测精度。作为优选,所述定位盘包括环形底盘及延伸设在环形底盘上的罩环,所述罩环朝向水平固定盘,所述过渡轴插接在定位盘的中孔内,所述圆锥滚子轴承嵌装在环形底盘中 孔与过渡轴之间,所述推力调心轴承嵌装在罩环中孔与过渡轴之间。通过一面带有凹槽的 定位盘固定轴承,固定方式简单可靠。作为更优选,所述过渡轴包括下过渡轴及同轴固定在下过渡轴上的上过渡轴,所 述圆锥滚子轴承嵌装在环形底盘中孔与下过渡轴之间,所述推力调心轴承嵌装在罩环中孔 与上过渡轴之间。将过渡轴分为上下两段,便于轴承的安装及调整,同时也方便过渡轴加 工,降低加工成本。作为优选,在所述过渡轴、垂直驱动转轴、连轴器及水平固定盘的中部同轴设有轴 孔。中空结构重量轻,使水平固定盘转动灵活,同时也便于设备上所用导线自轴孔穿出,由 此确保导线不会受损及保持设备外观的整洁。作为优选,在所述定位盘的底部设有环形底座,所述定位盘通过环形底座固定在 工作平台上。通过在定位盘与工作平台间设置环形底座,可提高定位盘的稳定性,同时也便 于定位盘的固定连接。作为优选,所述水平固定盘呈圆盘形,在所述水平固定盘上设有若干个定位孔,且 所述定位孔沿水平固定盘的中心轴在圆周方向均布。通过在固定盘上设置定位孔,方便测 试零件固定。因此,本实用新型的用于自动光学测量仪的旋转平台结构具有下述优点通过推 力调心轴承和圆锥滚子轴承来承载水平固定盘的轴向载荷以及径向载荷,降低了传动副的 受力以及运动磨损,提高了旋转平台的旋转承载性能,避免了传动副的受力以及运动磨损 所造成的摩擦噪音和运动时的不平稳性,使旋转平台旋转精度高,运动平稳性好,安全系数 高,整体结构简单,转换测量时只需转动水平固定盘上即可带动测试零件旋转,即一次定位 即可对测试零件进行全方位测量,从而可提高检测效率和检测精度;通过一面带有凹槽的 定位盘来固定轴承,固定方式简单可靠;将过渡轴分为上下两段,便于轴承的安装及调整, 降低过渡轴加工成本。

图1是本实用新型用于自动光学测量仪的旋转平台结构的结构示意图;图2是图1所示的纵向剖视图。
具体实施方式
下面通过实施例,并结合附图,对本实用新型的技术方案作进一步具体的说明。实施例如图1所示,本实用新型的用于自动光学测量仪的旋转平台结构,包括由大理石 制成的工作平台1,在工作平台1上通过螺栓固定一个环形底座9,在环形底座9上又通过 螺栓固定一个定位盘2,如图2所示,定位盘2通过推力调心轴承62和圆锥滚子轴承61旋 转支撑一根过渡轴,过渡轴的下端穿过工作平台1上的孔延伸至工作平台1的下面,并通过 连轴器7与垂直驱动转轴4同轴相连,过渡轴的上端通过螺栓同轴固定一个水平固定盘5, 在水平固定盘5上垂直开有若干个定位孔51,且定位孔51沿水平固定盘5的中心轴在圆 周方向均布。其中的定位盘2包括环形底盘21及同轴一体式连接在环形底盘21上的罩环22,罩环22侧朝向水平固定盘5,过渡轴包括下过渡轴31及同轴连接在下过渡轴31上的上 过渡轴32,圆锥滚子轴承61嵌装在环形底盘21中孔与下过渡轴31之间,推力调心轴承62 嵌装在罩环22中孔与上过渡轴32之间。在过渡轴、垂直驱动转轴4、连轴器7及水平固定 盘5的中部同轴开有大小相同的轴孔8。使用时,首先将测试零件或夹持有测试零件的夹具固定在水平固定盘5上,再启 动与垂直驱动转轴4相连接的驱动装置,驱动装置带动垂直驱动转轴4及垂直驱动转轴4 上的水平固定盘5旋转,至水平固定盘5上的测试零件至合适的角度即可进行测量,转换测 量面时只需再次启动驱动装置,操作省时省力,方便快捷。本文中所描述的具体实施例仅仅是对本实用新型的构思作举例说明,本实用新型 所属技术领域的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类 似的方式替代,但并不会偏离本实用新型的精神或者超越所附权利要求书所定义的范围。
权利要求1.一种用于自动光学测量仪的旋转平台结构,包括工作平台(1),其特征在于在所述 工作平台(1)上设有定位盘O),所述定位盘( 通过推力调心轴承(6 和圆锥滚子轴承 (61)旋转支撑有过渡轴,所述过渡轴的下端延伸至工作平台(1)下并通过连轴器(7)与垂 直驱动转轴(4)相连,所述过渡轴的上端与水平固定盘(5)固定相连。
2.根据权利要求1所述的用于自动光学测量仪的旋转平台结构,其特征在于所述定 位盘(2)包括环形底盘及延伸设在环形底盘上的罩环(22),所述罩环02)朝向 水平固定盘(5),所述过渡轴插接在定位盘( 的中孔内,所述圆锥滚子轴承(61)嵌装在环 形底盘中孔与过渡轴之间,所述推力调心轴承(6 嵌装在罩环0 中孔与过渡轴之 间。
3.根据权利要求2所述的用于自动光学测量仪的旋转平台结构,其特征在于所述过 渡轴包括下过渡轴(31)及同轴固定在下过渡轴(31)上的上过渡轴(32),所述圆锥滚子轴 承(61)嵌装在环形底盘中孔与下过渡轴(31)之间,所述推力调心轴承(6 嵌装在 罩环02)中孔与上过渡轴(32)之间。
4.根据权利要求1或2或3所述的用于自动光学测量仪的旋转平台结构,其特征在于 在所述过渡轴、垂直驱动转轴G)、连轴器(7)及水平固定盘( 的中部同轴设有轴孔(8)。
5.根据权利要求1或2或3所述的用于自动光学测量仪的旋转平台结构,其特征在于 在所述定位盘( 的底部设有环形底座(9),所述定位盘( 通过环形底座(9)固定在工作 平台⑴上。
6.根据权利要求4所述的用于自动光学测量仪的旋转平台结构,其特征在于在所述 定位盘的底部设有环形底座(9),所述定位盘( 通过环形底座(9)固定在工作平台 ⑴上。
7.根据权利要求1或2或3所述的用于自动光学测量仪的旋转平台结构,其特征在于 所述水平固定盘( 呈圆盘形,在所述水平固定盘( 上设有若干个定位孔(51),且所述定 位孔(51)沿水平固定盘(5)的中心轴在圆周方向均布。
8.根据权利要求6所述的用于自动光学测量仪的旋转平台结构,其特征在于所述水 平固定盘( 呈圆盘形,在所述水平固定盘( 上设有若干个定位孔(51),且所述定位孔 (51)沿水平固定盘(5)的中心轴在圆周方向均布。
专利摘要本实用新型公开了一种旋转平台结构,提供了一种结构简单,转动平稳可靠,一次定位即可对测试零件进行全方位测量,从而可提高检测效率和检测精度的用于自动光学测量仪的旋转平台结构,其特征在于在所述工作平台(1)上设有定位盘(2),所述定位盘(2)通过推力调心轴承(62)和圆锥滚子轴承(61)旋转支撑有过渡轴,所述过渡轴的下端延伸至工作平台(1)下并通过连轴器(7)与垂直驱动转轴(4)相连,所述过渡轴的上端与水平固定盘(5)固定相连,解决了现有技术中存在的测试零件转换测量面时需重复定位,由此导致测量周期长、效率低、并降低测量精度等的技术问题。
文档编号G01B11/00GK201909614SQ20102068384
公开日2011年7月27日 申请日期2010年12月28日 优先权日2010年12月28日
发明者殷伯银, 潘先进 申请人:苏州弗士达科学仪器有限公司
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