专利名称：一种同轴度光学检测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及同轴度检测领域，尤其是一种同轴度光学检测装置。
背景技术：
在工业、机械、科研等领域，往往需要对两个圆杆的同轴度进行定量测量。如图1所示，圆杆轴线不重合有三种情况:1)如图1a所述，X1、X2平行但O点与Xl不重合；2)如图1b所示，X1、X2有夹角但O点与Xl重合；3)如图1c所示，X1、X2有夹角且O点与Xl不重合。目前针对圆杆的同轴度测量方法主要是机械准直法。机械准直法是建立在机械实物基础上进行的测量方法，主要有拉钢丝法或量规法，由于钢丝挠度、环境振动、材料磨损等原因，机械准直法的测量精度比较低，而且由于采用接触式测量，在很多环境下不适用。
实用新型内容本实用新型所要解决的技术问题是:为了克服现有的圆杆同轴度采用接触式测量和测量精度较低的缺点，本发明提供一种基于非接触测量的高精度同轴度光学装置，该装置可以实现非接触测量，且测量精度较高。为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是:一种同轴度光学检测装置包括第一光学检测装置、第二光学检测装置、处理器，所述第一光学检测装置、第二光学检测装置分别检测基准圆杆与相向圆杆数字图像信号，所述第一光学检测装置、第二光学检测装置输出信号发送至处理器。所述第一光学检测装置或第二光学检测装置是ICXD摄像机。所述第一光学检测装置光轴与第二光学检测装置光轴夹角是Φ，且位于与基准圆杆垂直同一平面内，所述Φ角度范围是0° < Φ < 180°。从上述本实用新型的结构特征可以看出，其优点是利用第一光学检测装置、第二光学检测装置获得基准圆杆和相向圆杆的数字图像信号，并传输至处理器进行处理，可获得基准圆杆检测直径值、基准圆杆与相向圆杆轴线夹角、数字图像信号中基准圆杆与相向圆杆的轴偏移值，结合基准圆杆实际直径和第一光学检测装置与第二光学检测装置的夹角，计算得到基准圆杆与相向圆杆的同轴度轴线偏移参数、轴线夹角参数，该方法可以实现非接触测量，且测量精度较高。同时由基于计算机的处理器处理数字图像信号，检测快速，可大大提高圆杆的同轴度检测效率。
本实用新型将通过例子并参照附图的方式说明，其中:图1是圆杆轴线不重合的情况；图1a是X1、X2平行但O点与Xl不重合情况；图1b是X1、X2有夹角但O点与Xl重合情况；[0015]图1c是X1、X2有夹角且O点与Xl不重合；图2是本发明装置连接示意图；附图标记1-基准圆杆2-相向圆杆3-第一光学测量装置4-第二光学测量装置5-处理器。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，
以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。相关说明:图1中Xl表不基准圆杆轴线,X2表不相向圆杆轴线,O表不相向圆杆端面的圆心。实施例一:如图2所示，一种同轴度光学检测装置，其特征在于包括第一光学检测装置、第二光学检测装置、处理器，所述第一光学检测装置、第二光学检测装置分别检测基准圆杆与相向圆杆数字图像信号，所述第一光学检测装置、第二光学检测装置输出信号发送至处理器。实施例二:在实施例一基础上，所述第一光学检测装置或第二光学检测装置是ICCD摄像机。实施例三:在实施例一或二基础上，所述第一光学检测装置光轴与第二光学检测装置光轴夹角是Φ，且位于与基准圆杆 垂直同一平面内，所述Φ角度范围是0° < Φ< 180。本说明书中公开的所有特征，除了互相排斥的特征以外，均可以以任何方式组合。本说明书(包括任何附加权利要求、摘要和附图)中公开的任一特征，除非特别叙述，均可被其他等效或具有类似目的的替代特征加以替换。即，除非特别叙述，每个特征只是一系列等效或类似特征中的一个例子而已。
权利要求1.一种同轴度光学检测装置，其特征在于包括第一光学检测装置、第二光学检测装置、处理器，所述第一光学检测装置、第二光学检测装置分别检测基准圆杆与相向圆杆数字图像信号，所述第一光学检测装置、第二光学检测装置输出信号发送至处理器。
2.根据权利要求1所述的一种同轴度光学检测装置，其特征在于所述第一光学检测装置或第二光学检测装置是ICXD摄像机。
3.根据权利要求2所述的一种同轴度光学检测装置，其特征在于所述第一光学检测装置光轴与第二光学检测装置光轴夹角是Φ，且位于与基准圆杆垂直同一平面内，所述Φ角度范围是O。< Φ < 180°。
专利摘要本实用新型涉及同轴度检测领域，尤其是一种同轴度光学检测装置。本实用新型所要解决的技术问题是为了克服现有的圆杆同轴度采用接触式测量和测量精度较低的缺点，本实用新型提供一种基于非接触测量的高精度同轴度光学检测装置，该装置可以实现非接触测量，且测量精度较高。一种同轴度光学检测装置包括第一光学检测装置、第二光学检测装置、处理器，所述第一光学检测装置、第二光学检测装置分别检测基准圆杆与相向圆杆数字图像信号，所述第一光学检测装置、第二光学检测装置输出信号发送至处理器。本实用新型主要应用于同轴度检测领域。
文档编号G01B11/27GK202994108SQ20122067330
公开日2013年6月12日 申请日期2012年12月10日 优先权日2012年12月10日
发明者程晋明, 钱伟新, 祁双喜, 李泽仁, 刘冬兵, 王婉丽, 彭其先 申请人:中国工程物理研究院流体物理研究所