传送带装置制造方法

文档序号:6166997阅读:165来源:国知局
传送带装置制造方法
【专利摘要】本发明涉及一种传送带装置(10),其设置有:磨耗量测量部件(12)和回转圈数测量部件(14),其中磨耗量测量部件(12)测量传送带(11)的已经装载输送物的表面(11a)的磨耗量,回转圈数测量部件(14)对传送带(11)的回转圈数进行测量。
【专利说明】传送带装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种传送带装置。要求2011年12月2日递交的日本专利申请N0.2011-264958的优先权,该日本专利申请的内容通过引用包含于此。
【背景技术】
[0002]传统上,已知例如在下述的专利文献I示出的传送带装置,该传送带装置设置有无端带状的传送带和磨耗量测量部件,其中传送带输送输送物,磨耗量测量部件测量传送带的载置输送物的表面的磨耗量。
[0003]在这种类型的传送带装置中,定期测量传送带的表面的磨耗量。之后基于如下数据来预测直到传送带到达其使用寿命的终点时的残留时间:上述磨耗量;从尚未使用过的传送带被首次使用的时刻开始直到测量前述磨耗量的时刻所经历的时间的长度;以及已经预先确定的当传送带达到其使用寿命的终点时的磨耗量。
[0004]现有技术文献
[0005]专利文献
[0006]专利文献1:日本特开2005-138979号公报
【发明内容】

[0007]发明要解决的问题
[0008]然而,在上述传统的传送带装置中,例如当从一圈测量磨耗量到之后再圈测量磨耗量的不同期间中,传送带的运行时间不总是相同,使得输送物的输送量不一致时,难以精确预测传送带的残留寿命。
[0009]鉴于上述情况构思了本发明,且本发明的目的在于提供一种传送带装置,其能够精确预测传送带的寿命。
[0010]用于解决问题的方案
[0011]为了解决上述问题,本发明使用如下构件。
[0012]根据本发明的第一方面的传送带装置设置有:无端带状的传送带,其用于输送输送物;以及磨耗量测量部件,其测量传送带的用于装载输送物的表面的磨耗量,其中包括回转圈数测量部件,其对传送带的回转圈数进行测量。
[0013]发明的效果
[0014]根据本发明的传送带装置,能够精确预测传送带的寿命。
【专利附图】

【附图说明】
[0015]图1是示出根据本发明的实施方式的传送带装置的侧视图。
[0016]图2是构成图1所示的传送带装置的主要部分的局部纵截面图。
[0017]图3是说明图1所示的传送带装置的作用的图表。
[0018]图4是说明图1所示的传送带装置的作用的图表。[0019]图5是示出根据本发明的变形例的传送带装置的局部纵截面图。
【具体实施方式】
[0020]以下,将参照附图描述根据本发明的实施方式的传送带装置。
[0021]如图1和2所示,传送带装置10设置有无端带状的传送带11、磨耗量测量部件12、装载高度测量部件13和计算部14,其中无端带状的传送带11输送输送物Y,磨耗量测量部件(即,回转检测部件)12测量传送带11的载置输送物Y的表面Ila的磨耗量,装载高度测量部件13测量已经被装载到传送带11上的输送物Y的装载高度,计算部(即,回转圈数测量部件)14分别从磨耗量测量部件12和装载高度测量部件13获取测量数据。
[0022]传送带11在一对带轮15和16之间卷绕,该对带轮15和16被设置成在水平方向上分开预定的距离,且能够绕其自身的转轴转动。在图示的示例中,驱动带轮15和从动带轮16被设置为一对带轮15和16。该两个带轮15和16的转轴彼此平行且在带宽度方向H上延伸。
[0023]在传送带11的承载侧通过多个带支撑部件17支撑传送带11,该承载侧是表面Ila面向铅垂方向上方的侧,该多个带支撑部件17在驱动带轮15和从动带轮16之间沿带周向L排列。传送带11在承载侧由带支撑部件17支撑成槽状的同时行进。带支撑部件17被设置成能够绕着其沿带宽度方向H延伸的转轴自由转动。带支撑部件17设置有中央辊18和一对侧辊19,该中央辊18支撑传送带11的带宽度方向H的中央部。该对侧辊19设置于中央辊18的带宽度方向H上的两外侧且被设置成能够绕着其转轴自由转动,侧辊19的转轴相对于中央辊18的转轴倾斜。该对侧辊19分别支撑传送带11的带宽度方向H的侧端部。
[0024]传送带11的承载侧从从动带轮16 (即,一带轮)侧朝向驱动带轮15 (即,另一带轮)侧输送已经被载置于传送带11的顶部的输送物Y。在传送带11的承载侧上方设置将输送物Y投落至传送带11上的料斗(未示出)。传送带11的承载侧向设置于驱动带轮15侧的卸载部(未示出)输送已经从料斗投落的输送物Y。
[0025]在图示的示例中,传送带11的返回侧在带宽度方向H上被打开成平坦状态的同时前进,该返回侧是表面Ila面向铅垂方向下方的侧。
[0026]在传送带11中分别设置朝向传送带11的表面Ila侧发射磁场的第一磁场产生部件20和第二磁场产生部件21。第一磁场产生部件20和第二磁场产生部件21设置于带周向L上彼此不同的位置处且设置于带宽度方向H上彼此相同的位置处。
[0027]第一磁场产生部件20和第二磁场产生部件21产生的各自的磁场的极性在传送带11的表面Ila侧彼此不同。各磁场产生部件20和21均通过单个橡胶磁体(rubber magnet)形成,该橡胶磁体具有充分的柔软性以允许其在跟随传送带11的回转时变形。形成第一磁场产生部件20的橡胶磁体和形成第二磁场产生部件21的橡胶磁体的各磁场在传送带11的表面Ila侧具有彼此不同的极性。橡胶磁体由粘结的磁体形成并且在传送带11的厚度方向上进行磁化,例如可通过将永磁材料的磁粉分散在橡胶合成物中来形成粘结的磁体。可以采用诸如钕铁硼或钐铁硼基磁体等的稀土类磁体、铝镍钴磁体(alnico magnet)、和铁氧体等用于磁粉。
[0028]第一磁场产生部件20例如以其在传送带11的表面Ila露出的方式埋设在传送带11中。当传送带11的表面Ila被磨耗时,第一磁场产生部件20也被磨耗。当传送带11的表面Ila被磨耗时,例如第一磁场产生部件20的磁场的大小、第一磁场产生部件20的磁场的沿带宽度方向H的范围以及第一磁场产生部件20的磁场的沿带周向L的范围全都变化。
[0029]磨耗量测量部件12利用传送带11首次投入使用时传送带11的状态作为基准点来测量传送带表面的磨耗量。磨耗量测量部件12由如下的磁性传感器形成:该磁性传感器测量如上述那样根据传送带11的表面Ila的磨耗量变化的第一磁场产生部件20的磁场并将该测量结果作为传送带11的表面Ila的磨耗量。例如,可以采用高斯计或环形线圈等用于磁性传感器。
[0030]磨耗量测量部件12以面对传送带11的位于返回侧的表面Ila的方式设置。注意,还能在传送带11通过返回侧所沿着的带路径的面对磨耗量测量部件12的面对部中设置调整传送带11的沿带宽度方向H的运动的宽度方向引导件(未示出)。此外,还能在上述带路径的面对部中设置厚度方向引导件。该厚度方向引导件从传送带的背面侧支撑传送带11,且限制传送带11在传送带11的厚度方向上远离磨耗量测量部件12的运动。
[0031]磨耗量测量部件12检测传送带11的每圈回转的开始和结束。在图示的示例中,磨耗量测量部件12检测第二磁场产生部件21的磁场,并将其作为传送带11的一圈回转的开始和结束。根据磨耗量测量部件12,当检测到传送带11的一圈回转的结束时,检测传送带11的下一圈回转的开始。
[0032]装载高度测量部件13测量已经被装载到传送带11的一部分上的输送物Y的装载高度。装载高度测量部件13定位于传送带11的承载侧的带路径的测量部,且该测量部位于料斗的驱动带轮15侧。装载高度测量部件13测量传送带11的正通过上述测量部的部分上所装载的输送物Y的装载高度。
[0033]装载高度测量部件13设置于传送带11的表面Ila侧。装载高度测量部件13由如下的距离传感器形成:该距离传感器例如通过发射诸如激光等光线或超声波并且之后接收光或超声波的反射来测量从装载高度测量部件13到输送物Y的距离并将测量的距离用作输送物Y的装载高度。
[0034]装载高度测量部件13被设置成比传送带11和带支撑部件17这两者高,且朝向已经被装载到传送带11上的输送物Y发射光或超声波。在图示的示例中,装载高度测量部件13由支架22保持,从而当输送物Y未被装载到传送带11的表面Ila上时,装载高度测量部件13能够朝向传送带11的表面Ila的带宽度方向H的中央发射光或超声波。装载高度测量部件13定位于传送带11的带宽度方向H的中央部的带宽度方向H的外侧。装载高度测量部件13朝向带宽度方向H的内侧斜向下发射光或超声波。
[0035]注意,当已经被装载到传送带11上的输送物Y的装载高度大时,从装载高度测量部件13到输送物Y的距离成比例地变短,且当该装载高度小时,该距离成比例地变长。即,从装载高度测量部件13到输送物Y的距离根据装载高度变化。
[0036]计算部14从传送带11首次投入使用的时刻开始对传送带11的回转圈数进行计数。基于从磨耗量测量部件12接收的用于传送带11的每圈回转的开始和结束的检测数据,传送带11每完成一圈回转,计算部14均使传送带11的回转圈数增加一圈。因此,计算部14对上述回转圈数进行计数。
[0037]计算部14基于从装载高度测量部件13接收的测量数据确定传送带11上是否存在输送物Y。可通过对输送物Y的装载高度和已经预先确定的基准值的大小进行比较来确定传送带11上是否存在输送物Y。如果计算部14确定了从传送带11的回转的开始直到该回转的结束传送带11上不存在输送物Y,则计算部14不使传送带11的回转圈数增加一圈。
[0038]计算部14基于从磨耗量测量部件12获取的传送带11的磨耗量的测量数据来计算传送带11的残留厚度。
[0039]通过从已经预先存储于计算部14中的传送带11首次投入使用的时刻的传送带11的厚度减去传送带11的磨耗量来计算传送带11的残留厚度。
[0040]在以上述方式构造的传送带装置10中,驱动带轮15使得传送带11前进。此时,计算部14对传送带11的回转圈数进行计数,并且如图3所示,计算部14还从装载高度测量部件13获取测量数据。传送带11每完成例如1000圈回转等的固定圈数的回转,计算部14就从磨耗量测量部件12获取测量数据,并且借助于该磨耗量测量部件12测量磨耗量。
[0041]如上所述,根据本实施方式的传送带装置10,计算部14对传送带11的回转圈数进行计数。因此,当通过磨耗量测量部件12测量传送带11的表面Ila的磨耗量时,还通过计算部14对传送带11的回转圈数进行计数。作为其结果,如图4所示,能够基于上述磨耗量和回转圈数并且基于已经预先测量的传送带11达到其寿命的终点时传送带11的磨耗量来预测直到传送带11到达其寿命的终点的残留回转圈数。即,可以不基于时间而是基于回转圈数来预测传送带11的寿命。结果,能够精确地预测一圈测量磨耗量和再圈测量磨耗量之间的任意特定期间的传送带11的寿命,即使传送带11的运行时间在这些期间中的每一个中并不相同。
[0042]注意,图4所示的图表中的纵轴示出了传送带11的残留厚度。
[0043]此外,如果计算部14确定了从传送带11的回转的开始直到该回转的结束传送带11上不存在输送物Y,则计算部14不使传送带11的回转圈数增加一圈。这样,能够从传送带11的回转圈数中排除对传送带11的表面Ila上的磨耗没有影响的回转。因此,能够更精确地预测传送带11的寿命。
[0044]此外,传送带11每完成一圈回转,计算部14均基于计算部14从磨耗量测量部件12接收的检测数据使传送带11的回转圈数增加一圈。结果,计算部14对传送带11的回转圈数进行计数。因此,能够精确地对传送带11进行的回转圈数进行计数。结果,能够更精确地预测传送带11的寿命。
[0045]此外,第一磁场产生部件20和第二磁场产生部件21的各磁场在传送带11的表面Ila侧具有彼此不同的极性。因此,能够借助于由磨耗量测量部件12检测的磁场的极性来确定第一磁场产生部件20和第二磁场产生部件21的磁场中的哪个磁场被检测到。因此,能够更精确地预测传送带11进行的回转圈数。
[0046]此外,磨耗量测量部件12还用作检测传送带11的回转的开始和结束的上述回转检测部件。因此,能够在仍然能够检测传送带11的回转的开始和结束的同时限制传送带装置10的大型化。
[0047]此外,装载高度测量部件13由上述距离传感器形成。因此,能够在不必与输送物Y接触的情况下测量装载高度。因此,传送带11能稳定运行。
[0048]注意,本发明的技术范围不限于上述实施方式,并且可以在不背离本发明的范围的前提下进行各种修改等。
[0049]例如,在上述实施方式中,装载高度测量部件13由上述距离传感器形成。然而,本发明不限于此。装载高度测量部件13还可以被适当地修改成能够测量已经被装载到传送带11上的输送物Y的装载高度的一些其它结构。例如,在如图5所示的传送带装置30的情况下,装载高度测量部件13设置有光或超声波的发射部31和接收部32。发射部31和接收部32位于传送带11上方,从而从带宽度方向H的两侧夹着(sandwich)传送带11。可基于接收部32是否接收到光或超声波来测量输送物Y的装载高度。
[0050]在上述实施方式中,如果计算部14确定了从传送带I的回转的开始直到该回转的结束传送带11上不存在输送物Y,则计算部14不使传送带11的回转圈数增加一圈。然而,本发明不限于此。在有些情况下,不需要设置装载高度测量部件13。
[0051]在上述实施方式中,形成第一磁场产生部件20的橡胶磁体和形成第二磁场产生部件21的橡胶磁体的各磁场在传送带11的表面Ila侧具有彼此不同的极性。因此,第一磁场产生部件20和第二磁场产生部件21的各磁场的极性在传送带11的表面Ila侧彼此不同。然而,本发明不限于此。例如,还能够采用第一橡胶磁体形成第一磁场产生部件20且采用两个橡胶磁体形成第二磁场产生部件21,并且这两个橡胶磁体的各磁场在传送带11的表面Ila侧具有彼此不同的极性。在这种情况下,第一磁场产生部件20发射的磁场具有一个极性,而第二磁场产生部件21发射的磁场具有两个极性。即,第一磁场产生部件20和第二磁场产生部件21的各磁场的极性彼此不同。
[0052]第一磁场产生部件20和第二磁场产生部件21的各磁场的极性在传送带11的表面Ila侧彼此不同。然而,本发明不限于此。
[0053]在上述实施方式中,磨耗量测量部件12检测传送带11的每圈回转的开始和结束。然而,本发明不限于此。还可以与磨耗量测量部件12独立地设置回转检测部件,且能够利用该回转检测部件检测传送带11的每圈回转的开始和结束。
[0054]在上述实施方式中,磨耗量测量部件12由磁性传感器形成,该磁性传感器测量第一磁场产生部件20的磁场作为传送带11的磨耗量。然而,本发明不限于此。可适当地更改所采用的结构,只要该结构能够测量传送带11的表面Ila的磨耗量即可。
[0055]在上述实施方式中,磨耗量测量部件12检测第二磁场产生部件21的磁场作为传送带11的一圈回转的开始和结束。然而,本发明不限于此。例如,还能够在传送带11中设置RFID标签来代替第二磁场产生部件21,且能够通过检测该RFID标签来检测传送带11的每圈回转的开始和结束。
[0056]在上述实施方式中,计算部14基于计算部14从磨耗量测量部件12获取的用于传送带11的每圈回转的开始和结束的检测数据对传送带11的回转圈数进行计数。然而,本发明不限于此。例如,还能够设置转动计数部件,该转动计数部件对驱动带轮15的转动圈数进行计数,并且能够基于来自转动计数部件的计数数据对传送带11的回转圈数进行计数。
[0057]在上述实施方式中,从磨耗量测量部件12获取测量数据的计算部14还对传送带11的回转圈数进行计数。然而,本发明不限于此。还能够与计算部14独立地设置回转圈数测量部件,且能够利用该回转圈数测量部件对传送带11的回转圈数进行计数。
[0058]在上述实施方式中,传送带11的承载侧在被支撑成槽形的同时前进,且传送带11的返回侧在带宽度方向H上被打开成平坦状态的同时前进。然而,本发明不限于此。[0059]例如,还能够采用如下结构:其中传送带11的承载侧不被支撑成槽形,且代替地以在传送带11的整周上为平坦的状态的方式前进。
[0060]此外,还能够采用如下结构:其中传送带11的承载侧和传送带11的返回侧中的至少一侧以管状部的形式前进,该管状部绕着沿带周向L延伸的管轴线旋绕。在承载侧和返回侧中,如果传送带11的承载侧在被旋绕成管形的同时前进,则装载高度测量部件13例如可被设置于传送带11的承载侧的管状部的前后。
[0061]除上述内容之外,适当地可利用其它已知的组成元件替换上述实施方式的组成元件。此外,还可以在各种适当的组合中使用上述变形例。
[0062]产业上的可利用性
[0063]根据本发明,能够获得一种传送带装置,该传送带装置能够以高精度预测传送带的寿命。
[0064]附图标记说明
[0065]10、30 传送带装置
[0066]11传送带
[0067]Ila表面
[0068]12磨耗量测量部件
[0069]14计算部(回转圈数测量部件)
[0070]20第一 磁场产生部件
[0071]21第二磁场产生部件
【权利要求】
1.一种传送带装置,其包括: 无端带状的传送带,所述传送带用于输送输送物;以及 磨耗量测量部件,所述磨耗量测量部件测量所述传送带的用于装载输送物的表面的磨耗量,其中 包括回转圈数测量部件,所述回转圈数测量部件对所述传送带的回转圈数进行测量。
2.根据权利要求1所述的传送带装置,其特征在于, 包括回转检测部件,所述回转检测部件检测所述传送带的一圈回转的开始和结束,且所述回转圈数测量部件通过基于所述回转检测部件的检测数据而在每一圈回转结束均使所述传送带进行的回转圈数增加一圈来测量所述回转圈数。
3.根据权利要求2所述的传送带装置,其特征在于, 所述磨耗量测量部件由磁性传感器形成:该磁性传感器测量被安装于所述传送带的第一磁场产生部件的磁场作为所述磨耗量,且 所述回转检测部件检测被安装于所述传送带的第二磁场产生部件的磁场作为所述传送带的一圈回转的开始和结束,且 所述磨耗量测量部件还用作所述回转检测部件。
4.根据权利要求3所述的传送带装置,其特征在于, 所述第一磁场产生部件和所述第二磁场产生部件的各磁场的极性在所述传送带的表面侧彼此不同。
【文档编号】G01B7/00GK103958372SQ201280058865
【公开日】2014年7月30日 申请日期:2012年11月27日 优先权日:2011年12月2日
【发明者】坂口年规 申请人:株式会社普利司通
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