一种用于测试治具的探针的制作方法
【专利摘要】本发明涉及一种用于测试治具的探针，包括依次连接的探测段、弹性体和接线段，所述接线段连接有导线，所述弹性体的弯曲部设置有加强筋。作为优选，所述探测段、所述弹性体和所述接线段为一体成型结构。本发明的用于测试治具的探针，通过在弹性体的弯曲部设置加强筋，有效地分散了弹性体本身的内应力和弹性体所受到的应力，较好的提高了弹性体的刚性，能够有效防止弹性体断裂。
【专利说明】一种用于测试治具的探针
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种电性能测试或故障探测部件，特别是涉及一种用于测试治具的探针。
【背景技术】
[0002]现有的用于测试治具的探针设有弹性体，弹性体可为螺旋状、S形状、半弧形状等，弹性体的两端分别连接探测部和接线部。此种弹性体的缺陷是:其折弯点容易断裂，工作过程中产生的应力和弹性体本身的内应力都会集中在折弯点上，导致弯曲部的断裂，损坏产品O
【发明内容】
[0003]本发明的目的是针对上述现有技术的不足，提供一种能够防止弹性体弯曲部断裂的用于测试治具的探针。
[0004]为实现上述目的，本发明所采取的技术方案如下。
[0005]一种用于测试治具的探针，包括依次连接的探测段、弹性体和接线段，所述接线段连接有导线，所述弹性体的弯曲部设置有加强筋。
[0006]进一步地，所述探测段的顶端为圆锥形尖头。
[0007]进一步地，所述探测段、所述弹性体和所述接线段为一体成型结构。
[0008]进一步地，所述探测段镀有导电高分子纳米复合材料。
[0009]本发明的有益效果是:本发明的用于测试治具的探针，通过在弹性体的弯曲部设置加强筋，有效地分散了弹性体本身的内应力和弹性体所受到的应力，较好的提高了弹性体的刚性，能够有效防止弹性体断裂。
【专利附图】
【附图说明】
[0010]图1为本发明用于测试治具的探针的结构示意图。
[0011]图中，1-探测段，2-弹性体，3-接线段，4-圆锥形尖头，5-导线，6-加强筋。
【具体实施方式】
[0012]为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，下面结合附图及实施例对本发明作进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
[0013]本发明的用于测试治具的探针如图1所示，包括依次连接的探测段1、弹性体2和接线段3，接线段3连接有导线5，弹性体2的弯曲部设置有加强筋6，探测段1、弹性体2和接线段3可为一体成型结构。通过在弹性体2的弯曲部设置加强筋6，能够有效地分散弹性体2本身的内应力和弹性体2所受到的应力，较好的提高了弹性体2的刚性，能够有效防止弹性体2断裂。[0014]作为优选，探测段I的顶端设置有圆锥形尖头4，便于刺破绝缘体进行探测。作为进一步优选，探测段I镀有导电高分子纳米复合材料，该复合材料具有高导电性，可减少探测段的金属材质的原料消耗。
[0015]以上所述仅为本发明的较佳实施例，并非用来限定本发明的实施范围；如果不脱离本发明的精神和范围，对本发明进行修改或者等同替换，均应涵盖在本发明权利要求的保护范围当中。
【权利要求】
1.一种用于测试治具的探针，包括依次连接的探测段、弹性体和接线段，所述接线段连接有导线，其特征在于，所述弹性体的弯曲部设置有加强筋。
2.根据权利要求1所述的用于测试治具的探针，其特征在于，所述探测段的顶端为圆锥形尖头。
3.根据权利要求1或2所述的用于测试治具的探针，其特征在于，所述探测段、所述弹性体和所述接线段为一体成型结构。
4.根据权利要求1或2所述的用于测试治具的探针，其特征在于，所述探测段镀有导电高分子纳米复合材料。
【文档编号】G01R1/067GK103529253SQ201310471502
【公开日】2014年1月22日 申请日期:2013年10月10日 优先权日:2013年10月10日
【发明者】杨俊民 申请人:苏州市国晶电子科技有限公司