一种电容的容值检测方法及装置制造方法
【专利摘要】本发明公开了一种电容的容值检测方法及装置，用于在受电设备工作的过程中对该受电设备的备电模块中电容的容值进行检测，能够兼顾受电设备的备用供电可靠性和容值检测准确度。该电容的容值检测方法，包括：在该受电设备工作的过程中，采用快速容值检测法对该电容的容值进行检测，得到指定检测值；根据该指定检测值和检测补偿值确定该电容的容值；其中，该检测补偿值是预先根据第一检测值和第二检测值确定的，该第一检测值为采用精确容值检测法对该电容的容值进行检测得到的检测值，该第二检测值为采用快速容值检测法对该电容的容值进行检测得到的检测值。
【专利说明】一种电容的容值检测方法及装置
【技术领域】
[0001] 本发明涉及检测【技术领域】，尤其涉及一种电容的容值检测方法及装置。
【背景技术】
[0002] 目前很多受电设备中都会设置储能电容作为备电模块，例如，固态硬盘（Solid State Disk，SSD)中。而随着使用时间的增加，电容的容值会逐渐减小，电容能够存储的电 量逐渐较小，可能会导致电容无法满足受电设备备用供电的需求，因此，需要对电容的容值 进行周期性检测。
[0003] 现有的一种电容的容值检测方法为精确容值检测法，在精确容值检测法中，对电 容进行深度放电，根据深度放电前后的电容电压、深度放电时长以及和电容构成放电回路 的放电电阻阻值，能够精确确定出电容的容值。然而，采用精确容值检测法，由于需要电容 深度放电，电容存储的电量会降到受电设备正常工作所需的电量以下，会导致受电设备的 备用供电可靠性降低，存在一定的风险。
[0004] 现有的另一种电容的容值检测方法为快速容值检测法，在快速容值检测法中，对 电容进行浅度放电，根据浅度放电前后的电容电压、浅度放电时长以及和电容构成放电回 路的放电电阻阻值，确定电容的容值。虽然采用快速容值检测法，电容存储的电量不会降到 受电设备正常工作所需的电量以下，但是，采用快速容值检测法不能保证容值检测的准确 度。
【发明内容】
[0005] 本发明实施例提供一种电容的容值检测方法及装置，能够兼顾受电设备的备用供 电可靠性和容值检测准确度。
[0006] 第一方面，提供一种电容的容值检测方法，用于在受电设备工作的过程中对所述 受电设备的备电模块中电容的容值进行检测，包括：
[0007] 在所述受电设备工作的过程中，采用快速容值检测法对所述电容的容值进行检 测，得到指定检测值；
[0008] 根据所述指定检测值和检测补偿值确定所述电容的容值；其中，所述检测补偿值 是预先根据第一检测值和第二检测值确定的，所述第一检测值为采用精确容值检测法对所 述电容的容值进行检测得到的检测值，所述第二检测值为采用快速容值检测法对所述电容 的容值进行检测得到的检测值。
[0009] 结合第一方面，在第一种可能的实现方式中，在所述采用快速容值检测法对所述 电容的容值进行检测之前，还包括：
[0010] 根据预设的更新条件判断是否需要对所述检测补偿值进行更新；
[0011] 在确定需要对所述检测补偿值进行更新时，采用精确容值检测法对所述电容的容 值进行检测得到所述第一检测值，采用快速容值检测法对所述电容的容值进行检测得到所 述第二检测值；根据所述第一检测值和所述第二检测值获得所述检测补偿值。
[0012] 结合第一方面的第一种可能的实现方式，在第二种可能的实现方式中，所述根据 预设的更新条件判断是否需要对所述检测补偿值进行更新，包括：
[0013] 判断当前时刻是否满足预设的更新时刻；
[0014] 在确定当前时刻满足预设的更新时刻时，确定需要对所述检测补偿值进行更新。
[0015] 结合第一方面的第一种可能的实现方式，在第三种可能的实现方式中，所述根据 预设的更新条件判断是否需要对所述检测补偿值进行更新，包括：
[0016] 判断上一次确定的所述电容的容值是否满足预设的更新条件；
[0017] 在确定上一次确定的所述电容的容值满足预设的更新条件时，确定需要对所述检 测补偿值进行更新。
[0018] 结合第一方面的第一种可能的实现方式，第一方面的第二种可能的实现方式，或 者第一方面的第三种可能的实现方式，在第四种可能的实现方式中，所述根据所述第一检 测值和所述第二检测值获得所述检测补偿值，包括：
[0019] 根据所述第一检测值与所述第二检测值的差值获得所述检测补偿值。
[0020] 第二方面，提供一种电容的容值检测装置，用于在受电设备工作的过程中对所述 受电设备的备电模块中电容的容值进行检测，包括：
[0021] 检测单元，用于在所述受电设备工作的过程中，采用快速容值检测法对所述电容 的容值进行检测，得到指定检测值；
[0022] 确定单元，用于根据所述指定检测值和检测补偿值确定所述电容的容值；其中，所 述检测补偿值是预先根据第一检测值和第二检测值确定的，所述第一检测值为采用精确容 值检测法对所述电容的容值进行检测得到的检测值，所述第二检测值为采用快速容值检测 法对所述电容的容值进行检测得到的检测值。
[0023] 结合第二方面，在第一种可能的实现方式中，还包括更新单元，用于在所述采用快 速容值检测法对所述电容的容值进行检测之前，根据预设的更新条件判断是否需要对所述 检测补偿值进行更新；在确定需要对所述检测补偿值进行更新时，采用精确容值检测法对 所述电容的容值进行检测得到所述第一检测值，采用快速容值检测法对所述电容的容值进 行检测得到所述第二检测值；根据所述第一检测值和所述第二检测值获得所述检测补偿 值。
[0024] 结合第二方面的第一种可能的实现方式，在第二种可能的实现方式中，所述更新 单元，用于判断当前时刻是否满足预设的更新时刻；在确定当前时刻满足预设的更新时刻 时，确定需要对所述检测补偿值进行更新。
[0025] 结合第二方面的第一种可能的实现方式，在第三种可能的实现方式中，所述更新 单元，用于判断上一次确定的所述电容的容值是否满足预设的更新条件；在确定上一次确 定的所述电容的容值满足预设的更新条件时，确定需要对所述检测补偿值进行更新。
[0026] 结合第二方面的第一种可能的实现方式，第二方面的第二种可能的实现方式，或 者第二方面的第三种可能的实现方式，在第四种可能的实现方式中，所述更新单元，用于根 据所述第一检测值与所述第二检测值的差值获得所述检测补偿值。
[0027] 根据第一方面提供的电容的容值检测方法，第二方面提供的电容的容值检测装 置，预先根据采用精确容值检测法对电容的容值进行检测得到的检测值和采用快速容值检 测法对电容的容值进行检测得到的检测值确定检测补偿值，在受电设备工作的过程中，只 需要采用快速容值检测法对电容的容值进行检测，再根据得到的检测值和检测补偿值确定 电容的容值，即不需要每次容值检测都采用精确容值检测法进行电容深度放电，便可以使 确定的电容的容值接近采用精确容值检测法对电容的容值进行检测得到的检测值，在保证 了容值检测的准确度同时，也保证了受电设备的备用供电可靠性。
【专利附图】
【附图说明】
[0028] 为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例描述 中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些 实施例。
[0029] 图1为本发明实施例提供的电容的容值检测方法的流程图；
[0030] 图2为本发明实施例提供的电容的容值检测方法的详细流程图；
[0031] 图3为本发明实施例提供的电容的容值检测装置的结构示意图；
[0032] 图4为本发明实施例提供的电容的容值检测设备的结构示意图。
【具体实施方式】
[0033] 为了使本【技术领域】的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的 附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是 本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。
[0034] 本发明实施例提供一种电容的容值检测方法，用于在受电设备工作的过程中对该 受电设备的备电模块中电容的容值进行检测，如图1所示，可以包括如下步骤：
[0035] 步骤101、在受电设备工作的过程中，采用快速容值检测法对电容的容值进行检 测，得到指定检测值；
[0036] 步骤102、根据该指定检测值和检测补偿值确定该电容的容值；其中，该检测补偿 值是预先根据第一检测值和第二检测值确定的，该第一检测值为采用精确容值检测法对该 电容的容值进行检测得到的检测值，该第二检测值为采用快速容值检测法对该电容的容值 进行检测得到的检测值。
[0037] 可见，本发明实施例提供的电容的容值检测方法，将精确容值检测法和快速容值 检测法相结合，相比于仅采用精确容值检测法的检测方案提高了受电设备的备用供电可靠 性，相比于仅采用快速容值检测法的检测方案提高了容值检测准确度。
[0038] 较佳的，在采用快速容值检测法对该电容的容值进行检测之前，还包括：根据预设 的更新条件判断是否需要对检测补偿值进行更新；在确定需要对该检测补偿值进行更新 时，采用精确容值检测法对该电容的容值进行检测得到第一检测值，采用快速容值检测法 对该电容的容值进行检测得到第二检测值；根据该第一检测值和该第二检测值获得该检测 补偿值。
[0039] 具体的，可以根据该第一检测值与该第二检测值的差值获得该检测补偿值，即该 检测补偿值为该第一检测值与该第二检测值的差值。
[0040] 在确定需要对该检测补偿值进行第二次更新时，采用精确容值检测法对该电容的 容值进行检测得到第三检测值，采用快速容值检测法对该电容的容值进行检测得到第四检 测值；根据该第三检测值和该第四检测值获得该检测补偿值。
[0041] 具体的，可以根据该第三检测值与该第四检测值的差值获得该检测补偿值，即第 二次更新后的检测补偿值为该第三检测值与该第四检测值的差值。
[0042] 依次类推，还可以对检测补偿值进行第三次更新、第四次更新……，每次执行步骤 102,根据指定检测值和检测补偿值确定电容的容值时，均采用最新的检测补偿值。
[0043] 进一步的，在确定需要对该检测补偿值进行更新时，可以直接确定该电容的容值 为在更新检测补偿值的过程中采用精确容值检测法对该电容的容值进行检测得到的检测 值。
[0044] 通过对检测补偿值的不断更新，能够保证检测补偿值的准确度，因此能够进一步 保证容值检测准确度。
[0045] 在本发明一具体实施例中，根据预设的更新条件判断是否需要对该检测补偿值进 行更新，可以包括：判断当前时刻是否满足预设的更新时刻；在确定当前时刻满足预设的 更新时刻时，确定需要对该检测补偿值进行更新。例如，可以预设一个更新周期，采用更新 周期更新检测补偿值，此时判断当前时刻是否满足预设的更新时刻具体为：判断当前时刻 是否到达采用更新周期更新检测补偿值的时刻；在确定当前时刻到达采用更新周期更新检 测补偿值的时刻时，确定需要对该检测补偿值进行更新。
[0046] 在本发明另一具体实施例中，根据预设的更新条件判断是否需要对该检测补偿 值进行更新，可以包括：判断上一次确定的该电容的容值是否满足预设的更新条件；在确 定上一次确定的该电容的容值满足预设的更新条件时，确定需要对该检测补偿值进行更 新。例如，可以预设当上一次确定的电容的容值降至电容的初始容值的90 %、80 %、70 %、 60%......时更新检测补偿值，此时，判断上一次确定的该电容的容值是否满足预设的更 新条件具体为：判断上一次确定的该电容的容值相比于上上一次确定的该电容的容值是否 降低了该电容的初始容值的10% ;在确定上一次确定的该电容的容值相比于上上一次确定 的该电容的容值降低了该电容的初始容值的10 %时，确定需要对该检测补偿值进行更新。
[0047] 上述预设的更新条件仅为示例，并不用于限定本发明。
[0048] 较佳的，在根据预设的更新条件判断是否需要对检测补偿值进行更新之前，还可 以包括确定当前时刻已到达检测电容的容值时刻，可以避免检测补偿值不必要的更新。较 佳的，也可以预设一个检测周期检测电容的容值，并且，该检测周期小于上述更新周期。
[0049] 下面结合附图，以受电设备具体为SSD为例，对本发明提供的电容的容值检测方 法进行详细描述。
[0050] SSD在写入数据时主要有两种模式：透写模式和回写模式。SSD采用透写模式写 入数据时，SSD的控制器直接将数据写入SSD的闪存（Flash)阵列中；SSD采用回写模式写 入数据时，SSD的控制器先将数据写入SSD的同步动态随机存储器（Synchronous Dynamic Random Access Memory，SDRAM)中，待SSD的控制器空闲时，再将SDRAM中的数据写入Flash 阵列中。
[0051] 由于SSD采用回写模式写入数据性能更优，所以实际应用中为保证SSD的写性能， 通常会采用回写模式。但由于SDRAM具有断电数据丢失的特性，因此SSD中就需要设置储 能电容作为备电模块，在SSD外部电源断电时能够为SSD供电一定时长，使SSD的控制器能 够将SDRAM中的数据写入Flash阵列中。
[0052] 图2为本发明实施例提供的SSD中电容的容值检测方法的详细流程图，包括如下 步骤：
[0053] 步骤201、SSD上电，并延迟其开始工作时间。
[0054] 在此期间，不对SSD下发读写数据业务指令。
[0055] 步骤202、采用精确容值检测法对电容的容值进行检测，得到检测值C1 ;以及采用 快速容值检测法对电容的容值进行检测，得到检测值C2。
[0056] 在采用精确容值检测法对电容的容值进行检测完毕后，SSD可以开始工作，SSD采 用回写模式写入数据。
[0057] 在本步骤202中，采用精确容值检测法得到的电容的容值检测值C1较为准确，采 用快速容值检测法得到的电容的容值检测值C2较为不准确。
[0058] 因此，此时可以确定在上电初始时的电容的容值C为检测值C1。
[0059] 步骤203、根据步骤202中得到的检测值C1和检测值C2,确定检测补偿值Λ C。
[0060] 在本实施例中，检测补偿值具体可以为采用精确容值检测法对电容的容值进行检 测得到的检测值减去采用快速容值检测法对电容的容值进行检测得到的检测值的差值，即 AC = C1-C2 ;在其它实施例中，检测补偿值具体也可以为采用快速容值检测法对电容的容 值进行检测得到的检测值减去采用精确容值检测法对电容的容值进行检测得到的检测值 的差值，g卩AC = C2_C1。本发明对此不做限定。
[0061] 确定出检测补偿值Λ C后，可以将该检测补偿值Λ C存储于SSD内非易失存储空 间备用。
[0062] 步骤204、判断当前时刻是否到达采用预设检测周期检测电容的容值时刻。
[0063] 若当前时刻已到达采用预设检测周期检测电容的容值时刻，进入步骤205;若当 前时刻未到达采用预设检测周期检测电容的容值时刻，循环执行本步骤204,进行循环判 断。
[0064] 上述预设检测周期可以根据SSD对可靠性要求进行设定，在本实施例中，预设检 测周期具体可以为1个月。
[0065] 步骤205、判断当前时刻是否到达采用预设更新周期更新检测补偿值的时刻，其 中，预设检测周期小于预设更新周期。
[0066] 若当前时刻已到达采用预设更新周期更新检测补偿值的时刻，进入步骤206 ;若 当前时刻未到达采用预设更新周期更新检测补偿值的时刻，进入步骤208。
[0067] 上述预设更新周期也可以根据SSD对可靠性要求进行设定，在本实施例中，预设 更新周期具体可以为1年。
[0068] 步骤206、采用精确容值检测法对电容的容值进行检测，得到检测值C1' ；以及采 用快速容值检测法对电容的容值进行检测，得到检测值C2'。
[0069] 并且，此时可以确定本次电容的容值检测，电容的容值C为检测值C1'。
[0070] 为避免数据丢失，在采用精确容值检测法对电容的容值进行检测，可以切换SSD 采用透写模式写入数据，待采用精确容值检测法对电容的容值进行检测完毕后，再切换SSD 恢复采用回写模式写入数据。
[0071] 步骤207、根据步骤206中得到的检测值C1'和检测值C2'，更新检测补偿值Λ C， 并返回步骤204。
[0072] 若在步骤203中Λ C = C1-C2,则在本步骤207中更新Λ C = Cl' -C2' ；若在步骤 203中Λ C = C2-C1，则在本步骤207中更新Λ C = C2' -Cl'。
[0073] 更新后的检测补偿值替换存储于SSD内非易失存储空间中的原检测补偿值。
[0074] 步骤208、采用快速容值检测法对电容的容值进行检测，得到检测值C2"。
[0075] 步骤209、根据检测值C2"和最新的检测补偿值AC，确定电容的容值C。
[0076] 若在步骤203中Λ C = C1-C2,则在本步骤209中电容的容值为指定检测值和检测 补偿值的和值，即C = C2" +AC;若在步骤203中AC = C2-C1，则在本步骤209中电容的 容值为指定检测值减去检测补偿值的差值，即C = C2" - Λ C。
[0077] 在确定出电容的容值后，还可以和预设容值进行比较，该预设容值为能够满足受 电设备备用供电的需求的电容的容值，在本实施例中，该预设容值即为在SSD外部电源断 电时，能够为SSD供电一定时长，使SSD的控制器能够将SDRAM中的数据写入Flash阵列中 的电容的容值。
[0078] 具体的，当确定出的电容的容值小于该预设容值时，可以按既定策略处理，例如切 换SSD采用透写模式写入数据、发出告警等。
[0079] 可见，本发明实施例提供的电容的容值检测方法，在SSD工作的过程中，在不需要 对检测补偿值进行更新时，只需要采用快速容值检测法对电容的容值进行检测，再根据得 到的检测值和检测补偿值确定电容的容值，可以使确定的电容的容值接近采用精确容值检 测法对电容的容值进行检测得到的检测值；在需要对检测补偿值进行更新时，更新检测补 偿值，供后续检测使用，并可以直接确定电容的容值为在更新检测补偿值的过程中采用精 确容值检测法对该电容的容值进行检测得到的检测值。显然，采用本发明实施例提供的电 容的容值检测方法，兼顾了备用供电可靠性和容值检测准确度，保证了 SSD的写性能。
[0080] 基于同一发明构思，根据本发明上述实施例提供的电容的容值检测方法，相应地， 本发明实施例还提供一种电容的容值检测装置，用于在受电设备工作的过程中对该受电设 备的备电模块中电容的容值进行检测，其结构示意图如图3所示，具体包括：
[0081] 检测单元301，用于在受电设备工作的过程中，采用快速容值检测法对电容的容值 进行检测，得到指定检测值；
[0082] 确定单元302,用于根据该指定检测值和检测补偿值确定该电容的容值；其中，该 检测补偿值是预先根据第一检测值和第二检测值确定的，该第一检测值为采用精确容值检 测法对该电容的容值进行检测得到的检测值，该第二检测值为采用快速容值检测法对该电 容的容值进行检测得到的检测值。
[0083] 较佳的，该电容的容值检测装置还包括更新单元303,用于在该采用快速容值检 测法对该电容的容值进行检测之前，根据预设的更新条件判断是否需要对该检测补偿值进 行更新；在确定需要对该检测补偿值进行更新时，采用精确容值检测法对该电容的容值进 行检测得到该第一检测值，采用快速容值检测法对该电容的容值进行检测得到该第二检测 值；根据该第一检测值和该第二检测值获得该检测补偿值。
[0084] 进一步的，更新单元303,用于判断当前时刻是否满足预设的更新时刻；在确定当 前时刻满足预设的更新时刻时，确定需要对该检测补偿值进行更新。
[0085] 进一步的，更新单元303,用于判断上一次确定的该电容的容值是否满足预设的更 新条件；在确定上一次确定的该电容的容值满足预设的更新条件时，确定需要对该检测补 偿值进行更新。
[0086] 进一步的，更新单元303,用于根据该第一检测值与该第二检测值的差值获得该检 测补偿值。
[0087] 上述各模块的功能可对应于图1或图2所示流程中的相应处理步骤，在此不再赘 述。
[0088] 基于同一发明构思，本发明实施例还提供一种电容的容值检测设备，用于在受电 设备工作的过程中对该受电设备的备电模块中电容的容值进行检测，其结构示意图如图4 所示，包括存储器401、处理器402和通信总线400。
[0089] 通信总线400用于设备各部分之间的连接通信。
[0090] 存储器401可能包含高速随机存取存储器（Random Access Memory, RAM)，也可能 还包括非不稳定的存储器（non-volatile memory),例如磁盘存储器。
[0091] 处理器402用于执行存储器401中存储的可执行模块，例如计算机程序。
[0092] 在一些实施方式中，存储器401存储了程序4011，程序4011可以被处理器402执 行，程序4011包括：在受电设备工作的过程中，采用快速容值检测法对电容的容值进行检 测，得到指定检测值；根据该指定检测值和检测补偿值确定该电容的容值；其中，该检测补 偿值是预先根据第一检测值和第二检测值确定的，该第一检测值为采用精确容值检测法对 该电容的容值进行检测得到的检测值，该第二检测值为采用快速容值检测法对该电容的容 值进行检测得到的检测值。
[0093] 在一些实施方式中，程序4011还包括：在该采用快速容值检测法对该电容的容值 进行检测之前，根据预设的更新条件判断是否需要对该检测补偿值进行更新；在确定需要 对该检测补偿值进行更新时，采用精确容值检测法对该电容的容值进行检测得到该第一检 测值，采用快速容值检测法对该电容的容值进行检测得到该第二检测值；根据该第一检测 值和该第二检测值获得该检测补偿值。
[0094] 在一些实施方式中，程序4011包括：判断当前时刻是否满足预设的更新时刻；在 确定当前时刻满足预设的更新时刻时，确定需要对该检测补偿值进行更新。
[0095] 在一些实施方式中，程序4011包括：判断上一次确定的该电容的容值是否满足预 设的更新条件；在确定上一次确定的该电容的容值满足预设的更新条件时，确定需要对该 检测补偿值进行更新。
[0096] 在一些实施方式中，程序4011包括：根据该第一检测值与该第二检测值的差值获 得该检测补偿值。
[0097] 综上所述，采用本发明实施例提供的方案，将精确容值检测法和快速容值检测法 相结合，兼顾了受电设备的备用供电可靠性和容值检测准确度。
[0098] 本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序 产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实 施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机 可用存储介质（包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等）上实施的计算机程序产 品的形式。
[0099] 本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备（系统）、和计算机程序产品的流程 图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一 流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算 机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理 器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生 用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能 的装置。
[0100] 这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特 定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指 令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或 多个方框中指定的功能。
[0101] 这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计 算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或 其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图 一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
[0102] 尽管已描述了本发明的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造 性概念，则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优 选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。
[0103] 显然，本领域的技术人员可以对本发明实施例进行各种改动和变型而不脱离本发 明实施例的精神和范围。这样，倘若本发明实施例的这些修改和变型属于本发明权利要求 及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
【权利要求】
1. 一种电容的容值检测方法，用于在受电设备工作的过程中对所述受电设备的备电模 块中电容的容值进行检测，其特征在于，包括： 在所述受电设备工作的过程中，采用快速容值检测法对所述电容的容值进行检测，得 到指定检测值； 根据所述指定检测值和检测补偿值确定所述电容的容值；其中，所述检测补偿值是预 先根据第一检测值和第二检测值确定的，所述第一检测值为采用精确容值检测法对所述电 容的容值进行检测得到的检测值，所述第二检测值为采用快速容值检测法对所述电容的容 值进行检测得到的检测值。
2. 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述采用快速容值检测法对所述电容 的容值进行检测之前，还包括： 根据预设的更新条件判断是否需要对所述检测补偿值进行更新； 在确定需要对所述检测补偿值进行更新时，采用精确容值检测法对所述电容的容值进 行检测得到所述第一检测值，采用快速容值检测法对所述电容的容值进行检测得到所述第 二检测值；根据所述第一检测值和所述第二检测值获得所述检测补偿值。
3. 根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据预设的更新条件判断是否需要 对所述检测补偿值进行更新，包括： 判断当前时刻是否满足预设的更新时刻； 在确定当前时刻满足预设的更新时刻时，确定需要对所述检测补偿值进行更新。
4. 根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据预设的更新条件判断是否需要 对所述检测补偿值进行更新，包括： 判断上一次确定的所述电容的容值是否满足预设的更新条件； 在确定上一次确定的所述电容的容值满足预设的更新条件时，确定需要对所述检测补 偿值进行更新。
5. 根据权利要求2-4任一所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一检测值和所述 第二检测值获得所述检测补偿值，包括： 根据所述第一检测值与所述第二检测值的差值获得所述检测补偿值。
6. -种电容的容值检测装置，用于在受电设备工作的过程中对所述受电设备的备电模 块中电容的容值进行检测，其特征在于，包括： 检测单元，用于在所述受电设备工作的过程中，采用快速容值检测法对所述电容的容 值进行检测，得到指定检测值； 确定单元，用于根据所述指定检测值和检测补偿值确定所述电容的容值；其中，所述检 测补偿值是预先根据第一检测值和第二检测值确定的，所述第一检测值为采用精确容值检 测法对所述电容的容值进行检测得到的检测值，所述第二检测值为采用快速容值检测法对 所述电容的容值进行检测得到的检测值。
7. 根据权利要求6所述的装置，其特征在于，还包括更新单元，用于在所述采用快速容 值检测法对所述电容的容值进行检测之前，根据预设的更新条件判断是否需要对所述检测 补偿值进行更新；在确定需要对所述检测补偿值进行更新时，采用精确容值检测法对所述 电容的容值进行检测得到所述第一检测值，采用快速容值检测法对所述电容的容值进行检 测得到所述第二检测值；根据所述第一检测值和所述第二检测值获得所述检测补偿值。
8. 根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述更新单元，用于判断当前时刻是否满 足预设的更新时刻；在确定当前时刻满足预设的更新时刻时，确定需要对所述检测补偿值 进行更新。
9. 根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述更新单元，用于判断上一次确定的所 述电容的容值是否满足预设的更新条件；在确定上一次确定的所述电容的容值满足预设的 更新条件时，确定需要对所述检测补偿值进行更新。
10. 根据权利要求7-9任一所述的装置，其特征在于，所述更新单元，用于根据所述第 一检测值与所述第二检测值的差值获得所述检测补偿值。
【文档编号】G01R27/26GK104111382SQ201410325214
【公开日】2014年10月22日 申请日期:2014年7月9日 优先权日:2014年7月9日
【发明者】章根林, 余霄, 张睿夫 申请人:华为技术有限公司