一种电路板的测试治具的制作方法
【专利摘要】本发明公开了一种电路板的测试治具，属于治具设备【技术领域】，为解决传统的电路板调试方法检测效率低，劳动强度大，容易出错，精确度低等问题而设计。电路板的测试治具包括设置在底箱上方的上模组件和设置在底箱上面板上的下模组件，在上模组件的升降机构和XY轴调节机构作用下，将上模组件上的探针调节至穿过下模组件探针板上的探针孔，使探针与产品载板上的被测产品接触用于测试如电路板主要元器件的漏焊及电路的开短路等情况。本发明操作简单，自动化程度高，简化了人工操作，降低了劳动强度，提高了工作效率和测试精确度。
【专利说明】一种电路板的测试治具
【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种治具，尤其涉及一种电路板的测试治具。
【背景技术】
[0002] 随着科学技术的进步，电子工业发展突飞猛进，电子系统越来越复杂，电子系统的 可靠性和可维护性要求也越来越高。电路板作为电子系统研制和生产中的重要组成部分， 其质量的好坏直接影响整个设备的质量，生产周期长会影响到整机调试进度和交付时间。 因此，电路板调试是关系到电子系统的质量和生产周期的重要环节。
[0003] 传统的电路板调试方法主要是利用人的肉眼来检验电路板的主要元器件的漏焊 及电路的开短路等情况，但是该方法不仅检测效率低，劳动强度大，容易出错，精确度低，而 且无法看出电路板内的实质问题。
【发明内容】
[0004] 本发明的目的是提出一种操作简单，自动化程度高，工作效率高，精确度高的电路 板的测试治具。
[0005] 为达此目的，本发明采用以下技术方案：
[0006] 本发明提供了一种电路板的测试治具，包括设置在底箱上方的上模组件和设置在 底箱上面板上的下模组件，所述上模组件包括升降机构、XY轴调节机构和探针，所述升降机 构用于带动所述探针上下移动，所述XY轴调节机构用于带动所述探针在水平面内沿Y轴方 向和/或X轴方向移动；
[0007] 所述下模组件包括产品载板和压棒模组，所述产品载板上设置有探针模组，所述 压棒模组包括压棒和压棒下压气缸，所述探针模组包括探针板，所述探针板上设置有探针 孔，当所述探针测试产品时，所述压棒在压棒下压气缸的作用下压在产品载板上，所述探针 穿过所述探针孔与被测产品接触，所述探针连接测试单元将测试数据传输至所述底箱上的 界面板上。
[0008] 优选的，所述压棒模组还包括Y轴调节机构，用于带动所述压棒沿Y轴方向移动。
[0009] 优选的，所述XY轴调节机构包括Y轴调节机构和若干个X轴微调机构，所述Y轴 调节机构分别与所述升降机构的悬臂和所述X轴微调机构相连，每个所述X轴微调机构通 过一联轴器与一探针相连。
[0010] 优选的，所述探针模组还包括设置在所述底箱上面板底部且位于所述底箱内的探 针模组上顶气缸，当所述探针测试产品时，所述探针模组上顶气缸驱动所述探针板向上顶 起。
[0011] 优选的，所述底箱上面板底部设置有用于固定被测产品的真空吸盘，所述真空吸 盘与真空发生器相连。
[0012] 优选的，所述底箱上面板上设置有直线导轨，所述直线导轨平行于Y轴方向设置， 所述压棒可沿所述直线导轨滑动至所述产品载板的正上方。
[0013] 优选的，所述底箱内设置有PLC控制器。
[0014] 优选的，所述底箱的后方设置有进气口，所述进气口通过气管分别与外部气泵和 所述探针模组上顶气缸相连。
[0015] 优选的，所述底箱内还设置有散热装置。
[0016] 优选的，所述底箱的底部设置有牛眼轮。
[0017] 本发明的有益效果为：
[0018] (1)本发明提供了一种电路板的测试治具，在上模组件的升降机构和XY轴调节机 构作用下，将上模组件上的探针调节至穿过下模组件探针板上的探针孔，使探针与产品载 板上的被测产品接触用于测试如电路板主要元器件的漏焊及电路的开短路等情况。本发明 操作简单，自动化程度高，简化了人工操作，降低了劳动强度，提高了工作效率和测试精确 度。
[0019] (2)底箱上面板底部设置有真空吸盘，通过真空吸盘吸住被测产品，实现了被测产 品电路板的牢固定位，增强了测试的可靠稳定性和精确度。
[0020] (3)底箱的底部设置有滚动灵活的牛眼轮，使该测试治具能够非常灵活地滑移，降 低了工人的劳动强度，方便了操作人员在不同车间内使用，扩大了使用范围。
【专利附图】
【附图说明】
[0021] 图1是本发明实施例一提供的电路板的测试装置的立体图；
[0022] 图2是图1中A处的局部放大图；
[0023] 图3是本发明实施例一提供的上膜组件的结构示意图；
[0024] 图4是本发明实施例一提供的产品载板和探针模组的结构示意图；
[0025] 图5是本发明实施例一提供的底箱上面板底部的结构示意图；
[0026] 图6是图5中B处的局部放大图；
[0027] 图7是本发明实施例一提供的电路板的测试装置的后视图。
[0028] 图中，1、底箱；21、升降机构；211、悬臂；22、XY轴调节机构；221、Y轴调节机构； 222、X轴微调机构；223、联轴器；23、探针；31、产品载板；311、定位槽；32、压棒模组；321、 压棒；322、压棒下压气缸；323、Y轴调节机构；33、探针模组；331、探针板；332、探针孔； 333、探针模组上顶气缸；4、真空吸盘；5、PLC控制器；6、进气口；7、散热装置；8、牛眼轮。
【具体实施方式】
[0029] 下面结合附图并通过【具体实施方式】来进一步说明本发明的技术方案。
[0030] 实施例一：
[0031] 本实施例提供了一种电路板的测试治具，该电路板的测试治具的结构如图1-图7 所示，其包括设置在底箱1上方的上模组件和设置在底箱上面板上的下模组件。上模组件 包括四组升降机构21、四组XY轴调节机构22及对应升降机构21和XY轴调节机构22设 置的四组探针23,每组探针23包含三个探针23。升降机构21用于带动探针23上下移动。 每组XY轴调节机构22包括一 Y轴调节机构221和三个X轴微调机构222, Y轴调节机构 221分别与升降机构21的悬臂211和X轴微调机构222相连，每个X轴微调机构222通过 一联轴器223与一探针23相连。Y轴调节机构221用于带动探针23在水平面内沿Y轴方 向（如图1所示）移动，X轴微调机构222用于带动探针23在水平面内沿X轴方向（如图 1所示）移动。
[0032] 下模组件包括产品载板31、压棒模组32和探针模组33。其中，产品载板31的上 表面形成有用于固定待测电路板的定位槽311，该定位槽311的底端与底箱上面板底部设 置的真空吸盘4的吸盘口相连通，且真空吸盘4通过气管与真空发生器相连。如此设计，通 过真空吸盘4内真空的吸附作用将待测电路板牢牢固定在产品载板31上，实现了待测电路 板的定位，增强了测试的可靠稳定性和精确度。
[0033] 探针模组33包括探针板331和探针模组上顶气缸333,探针板331上设置有探针 孔332,探针模组上顶气缸333设置在底箱上面板底部且位于底箱内。当探针23测试产品 时，探针模组上顶气缸333驱动探针板331向上顶起。
[0034] 压棒模组32包括压棒321、与压棒321相连的压棒下压气缸322和Y轴调节机构 323,压棒321设置在底箱上面板的上方，底箱上面板上设置有平行于Y轴方向设置的直线 导轨，压棒下压气缸322设置在底箱上面板的下方且位于底箱1内，压棒321通过Y轴调节 机构323可沿直线导轨前后滑动。当探针23测试待测电路板时，压棒321在压棒下压气缸 322的驱动作用下滑动至产品载板31的正上方，并压在产品载板31上，探针23穿过探针孔 332与被测电路板相接触，探针23连接测试单元将测试数据传输至底箱1上的界面板上。
[0035] 底箱1内设置有PLC控制器5,通过PLC控制器能够控制上模组件的探针穿过下模 组件探针板上的探针孔与被测产品接触，从而实现如电路板主要元器件的漏焊及电路的开 短路等情况的准确测试。
[0036] 底箱1的后方设置有进气口 6,进气口 6通过气管分别与外部气泵和探针模组上顶 气缸333相连。
[0037] 为了避免该测试治具由于在运行过程中过热而造成治具的损坏，底箱1内设置有 散热装置7,该散热装置7优选为风扇，能够有效去除运行过程中产生的热量，延长了设备 的使用寿命。
[0038] 底箱1的底部设置有牛眼轮8,该牛眼轮滚动灵活，能够使该测试治具非常灵活地 滑移，降低了工人的劳动强度，方便了操作人员在不同车间内使用，扩大了使用范围。
[0039] 具体的测试过程如下：
[0040] 首先，将被测电路板置于下模组件产品载板31的定位槽311内，然后打开测试治 具的电源开关，下模组件的压棒321通过Y轴调节机构323沿着平行于Y轴方向设置的直 线导轨向前滑动，直至滑动至产品载板31的正上方，通过压棒下压气缸322的驱动下压在 产品载板31上，同时，上模组件的探针23在升降机构21、Y轴调节机构221及X轴微调机 构222共同作用下移动至对准探针板331上的探针孔332,直至探针23穿过探针孔332,且 探针23的底端与待测电路板的待测元器件相接触，进而完成电路板主要元器件的漏焊及 电路的开短路等情况的测试。
[0041] 在测试时，探针利用运算放大器两输入端间虚地的原理，使得与待测电路板上的 待测元器件相连的元器件两端同电位后，隔离后进行测量，保证了测量的准确性。
[0042] 本实施例中上模组件的升降机构、XY轴调节机构及探针的数量不局限于上述的四 组，可根据实际测试需要进行随意设置。下模组件的产品载板、压棒模组和探针模组的数量 与上模组件的升降机构和XY轴调节机构的数量相对应，可依据它们的设置数量而决定。
[0043] 本发明操作简单，自动化程度高，简化了人工操作，降低了劳动强度，提高了工作 效率和测试精确度。
[0044] 以上结合具体实施例描述了本发明的技术原理。这些描述只是为了解释本发明的 原理，而不能以任何方式解释为对本发明保护范围的限制。基于此处的解释，本领域技术人 员不需要付出创造性劳动即可联想到本发明的其它【具体实施方式】，这些方式都将落入本发 明的保护范围之内。
【权利要求】
1. 一种电路板的测试治具，其特征在于：包括设置在底箱（1)上方的上模组件和设置 在底箱上面板上的下模组件，所述上模组件包括升降机构（21)、XY轴调节机构（22)和探针 (23)，所述升降机构（21)用于带动所述探针（23)上下移动，所述ΧΥ轴调节机构（22)用于 带动所述探针（23)在水平面内沿Υ轴方向和/或X轴方向移动； 所述下模组件包括产品载板（31)和压棒模组（32)，所述产品载板（31)上设置有探针 模组（33)，所述压棒模组（32)包括压棒（321)和压棒下压气缸（322)，所述探针模组（33) 包括探针板（331)，所述探针板（331)上设置有探针孔（332)，当所述探针（23)测试产品 时，所述压棒（321)在压棒下压气缸（322)的作用下压在产品载板（31)上，所述探针（23) 穿过所述探针孔（332)与被测产品接触，所述探针（23)连接测试单元将测试数据传输至所 述底箱（1)上的界面板上。
2. 根据权利要求1所述的一种电路板的测试治具，其特征在于：所述压棒模组还包括Υ 轴调节机构（323)，用于带动所述压棒（321)沿Υ轴方向移动。
3. 根据权利要求1所述的一种电路板的测试治具，其特征在于：所述ΧΥ轴调节机构 (22)包括Υ轴调节机构（221)和若干个X轴微调机构（222)，所述Υ轴调节机构分别与所 述升降机构（21)的悬臂（211)和所述X轴微调机构（222)相连，每个所述X轴微调机构 (222)通过一联轴器（223)与一探针（23)相连。
4. 根据权利要求1所述的一种电路板的测试治具，其特征在于：所述探针模组（33)还 包括设置在所述底箱上面板底部且位于所述底箱内的探针模组上顶气缸（333)，当所述探 针（23)测试产品时，所述探针模组上顶气缸（333)驱动所述探针板（331)向上顶起。
5. 根据权利要求1所述的一种电路板的测试治具，其特征在于：所述底箱上面板底部 设置有用于固定被测产品的真空吸盘（4)，所述真空吸盘（4)与真空发生器相连。
6. 根据权利要求1所述的一种电路板的测试治具，其特征在于：所述底箱上面板上设 置有直线导轨，所述直线导轨平行于Υ轴方向设置，所述压棒（321)可沿所述直线导轨滑动 至所述产品载板（31)的正上方。
7. 根据权利要求1所述的一种电路板的测试治具，其特征在于：所述底箱（1)内设置 有PLC控制器（5)。
8. 根据权利要求4所述的一种电路板的测试治具，其特征在于：所述底箱（1)的后 方设置有进气口（6)，所述进气口（6)通过气管分别与外部气泵和所述探针模组上顶气缸 (333)相连。
9. 根据权利要求7所述的一种电路板的测试治具，其特征在于：所述底箱（1)内还设 置有散热装置（7)。
10. 根据权利要求1所述的一种电路板的测试治具，其特征在于：所述底箱⑴的底部 设置有牛眼轮（8)。
【文档编号】G01R31/02GK104155563SQ201410424762
【公开日】2014年11月19日 申请日期:2014年8月26日 优先权日:2014年8月26日
【发明者】黄锦章, 狄静, 王盛, 胡志刚, 杨伟 申请人:昆山迈致治具科技有限公司