冲击试样尺寸测量装置制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种冲击试样尺寸测量装置，包括试样固定底座，试样固定底座上设置有前面和顶面开口的长方体试验槽，所述长方体试验槽的底面用于放置被测量试样，所述长方体试验槽的后面中央设置有中心定位器，所述中心定位器的形状与被测量试样的V型缺口相匹配，所述长方体试验槽的两侧端面贯穿安装有千分测量尺。其可以直观、快捷、精确地测量冲击试样缺口对称面到端部的距离和冲击试样的长度，并能有效提高测量工作质量和效率。
【专利说明】 冲击试样尺寸测量装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及冲击试样检验装置，具体指一种冲击试样尺寸测量装置。
【背景技术】
[0002]GB/T229中要求测量冲击试样缺口对称面到端部的距离和冲击试样的长度，然而，由于缺口很小，采用传统的测量器具如游标卡尺等，不容易进行准确定位，极易产生因为人员操作带来的测量误差，很难准确测量冲击试样尺寸，且测量效率低。
【发明内容】
[0003]本实用新型的目的就是要提供一种结构简单、操作便利的冲击试样尺寸测量装置，通过该装置可以更快捷、简便、准确地测量出冲击试样缺口对称面到端部距离和冲击试样的长度。
[0004]为实现上述目的，本实用新型所设计的冲击试样尺寸测量装置，包括试样固定底座，试样固定底座上设置有前面和顶面开口的长方体试验槽，长方体试验槽的底面用于放置被测量试样，长方体试验槽的后面中央设置有中心定位器，中心定位器的形状与被测量试样的V型缺口相匹配，长方体试验槽的两侧端面对称贯穿安装有千分测量尺，千分测量尺的测微螺杆在工作时与被测量试样的端面抵接配合，转动千分测量尺的调节旋钮，即可通过千分测量尺上的刻度标识读出被测量试样中心到端部的距离，从而与标准值比较确认是否符合要求。
[0005]本实用新型的工作原理是这样的:首先，旋转两侧的调节旋钮，将左右两端的测微螺杆端面对齐在中心定位器顶角处，检查千分测量尺的刻度标识，确认其在零点处；然后，旋转两侧的调节旋钮，使左右两端的测微螺杆端面张开足够的距离，将加工好的被测量试样放置在带有长方体试验槽内侧，使被测量试样的V型缺口卡住中心定位器，并保持被测量试样稳定；最后，旋转两侧的调节旋钮，使左右两端的测微螺杆端面紧密接触被测量试样的两个端部，左右两端的千分测量尺刻度标识上读出的数值即为被测量试样缺口对称面到端部距离，其和即为被测量试样长度，将所得数值与标准值比较，确认被测量试样是否符合要求。
[0006]作为优选方案，中心定位器呈与被测量试样的V型缺口相匹配的三棱柱形，其三角形横截面的顶角为43?47°、底高为1.925?2.025mm。这样，中心定位器能更稳固地卡住被测量试样，使测量更加精准。
[0007]进一步地，试样固定底座为可以吸附被测量试样的微磁性底座或试样固定底座的底面嵌置有可以吸附被测量试样的永磁块。这样，试样固定底座与中心定位器配合稳固被测量试样，较传统千分测量尺或其他常用工具测量更快捷，能有效提高工作质量和效率。
[0008]本实用新型的优点主要体现在如下几方面:
[0009]其一，两端千分测量尺配合使用同时测量冲击试样缺口对称面到端部距离和冲击试样长度，所得数据直观、精确，测量精度可以达到0.01_，完全满足标准要求范围。
[0010]其二，中心定位器的使用大幅度减小了人为误差。
[0011]其三，测量时，微磁性试样固定底座或嵌置有永磁块的试样固定底座与中心定位器配合稳固被测量试样，较传统千分测量尺或其他常用工具测量更快捷，能有效提高工作质量和效率。
【专利附图】
【附图说明】
[0012]图1为一种冲击试样尺寸测量装置的主视结构示意图；
[0013]图2为图1的俯视结构示意图。
[0014]图中:试样固定底座I (其中:长方体试验槽Ia)冲心定位器2 ;千分测量尺3(其中:测微螺杆3a，调节旋钮3b，刻度标识3c);被测量试样4 ;永磁块5。
【具体实施方式】
[0015]以下结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步的详细描述，但该实施例不应该理解为对本实用新型的限制。
[0016]图中所示的冲击试样尺寸测量装置，包括试样固定底座1，试样固定底座I上设置有前面和顶面开口的长方体试验槽la，长方体试验槽Ia的底面用于放置被测量试样4，长方体试验槽Ia的后面中央设置有中心定位器2，中心定位器2的形状与被测量试样4的V型缺口相匹配，长方体试验槽Ia的两侧端面对称贯穿安装有千分测量尺3，千分测量尺3的测微螺杆3a在工作时与被测量试样4的端面抵接配合，转动千分测量尺3的调节旋钮3b，即可通过千分测量尺3上的刻度标识3c读出被测量试样4对称面到端部的距离，从而与标准值比较确认是否符合要求。
[0017]中心定位器2呈与被测量试样4的V型缺口相匹配的三棱柱形，其三角形横截面的顶角为43?47°、底高为1.925?2.025mm。
[0018]在本技术方案中，试样固定底座I为可以吸附被测量试样4的微磁性底座,试样固定底座I还可以在底面嵌置可以吸附被测量试样4的永磁块5。
[0019]本实用新型工作时，首先，旋转两侧的调节旋钮3b，将左右两端的测微螺杆3a端面对齐在中心定位器2顶角处，检查千分测量尺3的刻度标识3c，确认其在零点处；然后，旋转两侧的调节旋钮3b，使将左右两端的测微螺杆3a端面张开足够的距离，将加工好的被测量试样4放置在带有长方体试验槽Ia内侧，使被测量试样4的V型缺口卡住中心定位器2，保持被测量试样4稳定；最后，旋转两侧的调节旋钮3b，使左右两端的测微螺杆3a端面紧密接触被测量试样4的两个端部，通过左右两端的千分测量尺3的刻度标识3c即可读出被测量试样4缺口对称面到端部的距离，其和即为冲击试样长度，将所得数值与标准值比较，确认被测量试样4是否符合要求。
[0020]本说明书中未作详细描述的内容，属于本专业技术人员公知的现有技术。
【权利要求】
1.一种冲击试样尺寸测量装置，包括试样固定底座(I)，其特征在于:所述试样固定底座(I)上设置有前面和顶面开口的长方体试验槽(Ia)，所述长方体试验槽(Ia)的底面用于放置被测量试样(4)，所述长方体试验槽(Ia)的后面中央设置有中心定位器(2)，所述中心定位器(2)的形状与被测量试样(4)的V型缺口相匹配，所述长方体试验槽(Ia)的两侧端面对称贯穿安装有千分测量尺(3)，所述千分测量尺(3)的测微螺杆(3a)在工作时与被测量试样(4)的端面抵接配合，转动千分测量尺(3)的调节旋钮(3b)，即可通过千分测量尺(3)上的刻度标识(3c)读出被测量试样(4)中心到端部的距离，从而与标准值比较确认是否符合要求。
2.根据权利要求1所述的冲击试样尺寸测量装置，其特征在于:所述中心定位器(2)呈与被测量试样(4)的V型缺口相匹配的三棱柱形，其三角形横截面的顶角为43?47°、底高为 1.925 ?2.025mm。
3.根据权利要求1或2所述的冲击试样尺寸测量装置，其特征在于:所述试样固定底座(I)为可以吸附被测量试样(4)的微磁性底座。
4.根据权利要求1或2所述的冲击试样尺寸测量装置，其特征在于:所述试样固定底座(I)的底面嵌置有可以吸附被测量试样(4)的永磁块(5)。
【文档编号】G01B5/02GK204115633SQ201420662543
【公开日】2015年1月21日 申请日期:2014年11月6日 优先权日:2014年11月6日
【发明者】孙磊磊, 胡晟蓝, 罗毅, 胡钢华, 肖永浩, 芦正芬, 付畅, 赵在群, 袁红兰 申请人:武汉钢铁(集团)公司