技术领域本发明涉及测量技术领域，尤其是涉及一种孔内径测量方法。
背景技术：
目前，测量产品的内径孔是否合格时，常常需要至少测量内径孔的两处直径。通常使用游标卡尺测量内径孔的直径，由于手持游标卡尺难以寻找到内径孔的处于同一直径上的两点，易有测量分歧。因此，如何方便取点测量产品的内径孔，避免测量分歧，且能够测量出产品的内径孔是否合格是本领域技术人员亟待解决的技术问题。
技术实现要素：
有鉴于此，本发明的目的是提供一种孔内径测量方法，以实现方便取点测量产品的内径孔，避免测量分歧，且能够测量出产品的内径孔是否合格。为了实现上述目的，本发明提供了如下方案：一种孔内径测量方法，包括以下步骤：步骤A：调整三次元测量仪的测头，使所述测头对准待测孔；步骤B：调整探头到所述待测孔的第一预设深度处，将所述测头接触所述待测孔的内壁，通过所述三次元测量仪读出所述待测孔在所述第一预设深度孔的第一直径值；步骤C：调整所述探头到所述待测孔的第二预设的深度处，将所述测头接触所述待测孔的内壁，通过所述三次元测量仪读出所述待测孔在第二预设深度处的第二直径值；步骤D：比较所述第一直径值与标准直径值的差值及所述第二直径值与所述标准直径值的差值，判断所述第一直径值和所述第二直径值是否在预设的误差范围内。优选地，在上述孔内径测量方法中，所述步骤B中的第一预设深度为1mm。优选地，在上述孔内径测量方法中，所述步骤C中的第二预设深度为距孔底1mm处。从上述的技术方案可以看出，本发明提供的孔内径测量方法，测量时，将三次元测量仪的测头对准待测孔；接着，调整探头到待测孔的第一预设深度处，将测头接触待测孔的内壁，通过三次元测量仪读出待测孔在第一预设深度孔的第一直径值；最后，调整探头到待测孔的第二预设的深度处，将测头接触待测孔的内壁，通过三次元测量仪读出待测孔在第二预设深度处的第二直径值。通过两次的测量，对比与标准直径值的差值是否在预设的误差范围内，判断待测孔是否合格。本发明公开的孔内径测量方法，通过三次元测量仪的测头与孔壁接触取点测量，避免了手动控制游标卡尺造成的取点不便，易产生测量分歧的问题。本发明公开的孔内径测量方法，方便了对孔内径取点，且能够测量出产品的内径孔是否合格。附图说明为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本发明实施例一提供的孔内径测量方法的流程图；图2为本发明实施例二提供的孔内径测量方法的流程图。具体实施方式为了使本领域的技术人员更好的理解本发明的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步的详细说明。请参阅图1，为本发明实施例一提供的孔内径测量方法的流程图。本发明公开了一种孔内径测量方法，包括以下步骤：步骤S1：将三次元测量仪的测头对准待测孔；取出待测产品，调整三次元测量仪相对待测产品的位置，病调整测头，使得三次元测量仪的测头能够对准待测产品上的待测孔。步骤S2：调整探头到待测孔的第一预设深度，测量出第一直径值；调整探头到待测孔的第一预设深度处，将测头接触待测孔的内壁，通过三次元测量仪读出待测孔在第一预设深度孔的第一直径值。本发明通过利用三次元测量仪实现了准确取点，避免了测量分歧。步骤S3：调整探头到待测孔的第二预设的深度处，测量出第二直径值；调整探头到待测孔的第二预设深度处，将测头接触待测孔的内壁，通过三次元测量仪读出待测孔在第二预设深度孔的第二直径值。本发明通过利用三次元测量仪实现了准确取点，避免了测量分歧。步骤S4：比较第一直径值与标准直径值的差值及第二直径值与标准直径值的差值，判断第一直径值和第二直径值是否在预设的误差范围内。标准直径值指的是图纸上标注的理论直径值，预设的误差范围是指允许的公差范围值。本发明提供的孔内径测量方法，测量时，首先调整三次元测量仪，使其测头对准待测孔；接着，调整探头到待测孔的第一预设深度处，将测头接触待测孔的内壁，通过三次元测量仪读出待测孔在第一预设深度孔的第一直径值；最后，调整探头到待测孔的第二预设的深度处，将测头接触待测孔的内壁，通过三次元测量仪读出待测孔在第二预设深度处的第二直径值。通过两次的测量，对比与标准直径值的差值是否在预设的误差范围内，判断待测孔是否合格。本发明公开的孔内径测量方法，通过三次元测量仪的测头与孔壁接触取点测量，避免了手动控制游标卡尺造成的取点不便，易产生测量分歧的问题。本发明公开的孔内径测量方法，方便了对孔内径取点，且能够测量出产品的内径孔是否合格。本实施例以测量待测孔的两处内径为例进行的说明，需要说明的是，本发明公开的孔内径测量方法也可以用于测量待测孔的多处内径。请参阅图2，为本发明实施例二提供的孔内径测量方法的流程图。在本发明提供又一实施例中，本实施例中的孔内径测量方法和实施例一中的孔内径测量方法的结构类似，对相同之处就不再赘述了，仅介绍不同之处。本发明公开了一种孔内径测量方法，包括以下步骤：步骤S10：将三次元测量仪的测头对准待测孔；取出待测产品，调整三次元测量仪相对待测产品的位置，使得三次元测量仪的测头能够对准待测产品上的待测孔。步骤S20：调整探头到待测孔1mm深度处，测量出第一直径值；本发明公开了第一预设深度为1mm，需要说明的是，第一预设深度不仅仅限于1mm，也可以是其他深度值，可以根据不同的需求进行调整。步骤S30：调整探头到距孔底1mm处，测量出第二直径值；本发明公开了第二预设深度，需要说明的是，第二预设深度距孔底1mm处，也可以是其他深度值，可以根据不同的需求进行调整。步骤S40：比较第一直径值与标准直径值的差值及第二直径值与标准直径值的差值，判断第一直径值和第二直径值是否在预设的误差范围内。本实施例与实施例一的方法类似，有益效果相同，在此不再赘述了，具体参见实施例一。在本发明中的“第一”、“第二”等均为描述上进行区别，没有其他的特殊含义。对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和创造性特点相一致的最宽的范围。