一种自动流水化智能卡质检设备及测试方法与流程

本发明涉及市民卡技术领域，特别是涉及一种自动流水化智能卡质检设备及测试方法。

背景技术：

近年来，伴随着智能卡领域的技术革新和市民卡工程在全国范围内大力推行与发展，“一卡通用、一卡多用”的发展要求越来越强烈，从技术需求角度分析，即需要在一张智能卡上集成多功能、多用途的应用，同时要保证芯片各类应用之间相对独立，从应用逻辑上分开管理，因此，芯片加载的各类应用数据也需要独立构建和管理，比如卡片密钥区域、卡片结构信息、持卡人个人信息等数据结构，都有着严格的定义和规划，现有技术中采用的是人工验卡，增加了人工劳动强度和成本。

技术实现要素：

本发明提供的一种自动流水化智能卡质检设备，降低验卡的人工成本，提高了验卡的效率，为实现上述目的及其他相关目的，本发明采用以下技术方案,包括有：工控模块，与所述工控模块连接的入卡装置、智能卡推送装置、芯片读写装置、传送装置、出卡装置，

所述入卡装置设置有智能卡盛放模块，所述入卡装置与芯片读写装置之间设置有智能卡推送装置；

所述芯片读写装置与pc机连接，所述芯片读写装置与出卡装置之间设置有传送装置；

所述传送装置包括有：传送带以及传送滚轮组，所述传送装置上设置有：智能卡位置传感器、位置调节模块；

所述出卡装置设置有至少两个智能卡存放装置，所述出卡装置上还设置有自动分卡器。

优选的，所述芯片读写装置包括有：mcu、收发天线、射频处理模块和数据串行通讯模块，所述mcu与射频处理模块连接，所述mcu通过据串行通讯模块与pc机连接，所述射频处理模块与收发天线连接。

优选的，所述智能卡推送装置为真空吸盘或者推板，所述智能卡推送装置安装于滑轨上，所述推板与动力驱动器连接，所述动力驱动器与工控模块连接。

还包括有自动流水化智能卡质检方法，包括以下步骤：

（1）工控模块控制智能卡推送装置运动，将智能卡从入卡装置批量输送至芯片读写装置位置；

（2）pc机通过数据串行通讯模块发送控制指令给芯片读写装置，工控模块控制芯片读写装置工作，芯片读写装置通过射频处理模块和天线发送检测数据，智能卡天线接收检测数据后进行处理，处理后的数据通过天线发送至芯片读写装置的mcu；

（3）芯片读写装置的mcu接收数据后对数据进行对比，判断智能卡逻辑功能是否完整，并记录数据分析结果，然后将测试结果发送给pc机；

（4）工控模块控制传送装置工作，将完成读写的智能卡由芯片读写装置输送至出卡装置位置；

（5）根据（3）中的分析结果，pc机发送指令给工控模块，工控模块控制自动分卡器将逻辑功能完整的智能卡汇集在一个智能卡存放装置内，将逻辑功能不完整的智能卡汇集在另外一个智能卡存放装置内。

优选的，还包括有智能卡位置位置调节步骤：利用智能卡位置传感器感应到只能卡的位置，当数据反应到智能卡发生偏移时，工控模块控制位置调整模块进行调整，智能卡位置位置调节步骤的工作时间为智能卡位于传送装置的整个行程时间。

还包括有自动流水化智能卡质检方法，包括以下步骤：

（1）工控模块控制智能卡推送装置运动，将智能卡从入卡装置批量输送至芯片读写装置位置；

（2）pc机将检测软件下载至数据管理设备，数据管理设备通过数据串行通讯模块发送控制指令给芯片读写装置；

（3）工控模块控制芯片读写装置工作，芯片读写装置通过射频处理模块和天线发送检测数据，智能卡天线接收检测数据后进行处理，处理后的数据通过天线发送至芯片读写装置的mcu；

（4）芯片读写装置的mcu接收数据后对数据进行对比，判断智能卡逻辑功能是否完整，并记录数据分析结果，然后将测试结果发送给数据管理设备；

（5）数据管理设备将数据传送给pc机；

（6）工控模块控制传送装置工作，将完成读写的智能卡由芯片读写装置输送至出卡装置位置；

（7）根据（4）中的分析结果，pc机发送指令给工控模块，工控模块控制自动分卡器将逻辑功能完整的智能卡汇集在一个智能卡存放装置内，将逻辑功能不完整的智能卡汇集在另外一个智能卡存放装置内。

同现有技术相比较，本发明的有益效果在于：

本发明利用智能卡推送装置将智能卡推送至芯片读写装置处，利用读写装置进行非接触式读写、逻辑功能是完整性的判断，利用工控模块控制传送装置工作，将完成读写后的智能卡输送至出卡装置出，并根据判断结果控制自动分卡器进行自动分卡，采用本装置完成现智能卡的传送、非接触式读写、分卡和出卡的步骤，实现智能卡芯片数据自动化质检流程，降低人工验卡的繁琐，同时也保证了制卡数据的安全、稳定、可靠，本发明可通过配置验卡模板调整不同芯片结构和数据结构的智能卡质检工序，避免智能卡质检设备的重复投入。

附图说明

图1显示为本专利申请的结构示意图；

图2为本专利申请的控制系统的连接原理图；

图3显示为本专利申请的芯片读写装置的连接示意图；

图中，1、入卡装置，2、芯片读写装置，3、出卡装置，4、智能卡盛放模块，

5、智能卡推送装置，6、传送装置，7、智能卡存放装置，8、自动分卡器。

具体实施方式

以下通过特定的具体实例说明本发明的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点与功效。本发明申请还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本专利申请的精神下进行各种修饰或改变。

请参阅图1、图2，本发明工控模块，与所述工控模块连接的入卡装置1、智能卡推送装置5、芯片读写装置2、传送装置6、出卡装置3，

所述入卡装置1设置有智能卡盛放模块4，所述入卡装置1与芯片读写装置2之间设置有智能卡推送装置5；

所述芯片读写装置2与pc机连接，所述芯片读写装置2与出卡装置3之间设置有传送装置6；

所述传送装置6包括有：传送带以及传送滚轮组，所述传送装置6上设置有：智能卡位置传感器、位置调节模块；

所述出卡装置3设置有至少两个智能卡存放装置7，所述出卡装置3上还设置有自动分卡器8。

优选的，所述芯片读写装置2包括有：mcu、收发天线、射频处理模块和数据串行通讯模块，所述mcu与射频处理模块连接，所述mcu通过据串行通讯模块与pc机连接，所述射频处理模块与收发天线连接。

优选的，所述智能卡推送装置5为真空吸盘或者推板，所述智能卡推送装置5安装于滑轨上，所述推板与动力驱动器连接，所述动力驱动器与工控模块连接。

还包括有自动流水化智能卡质检方法，包括以下步骤：

（1）工控模块控制智能卡推送装置5运动，将智能卡从入卡装置1批量输送至芯片读写装置2位置；

（2）pc机通过数据串行通讯模块发送控制指令给芯片读写装置2，工控模块控制芯片读写装置2工作，芯片读写装置2通过射频处理模块和天线发送检测数据，智能卡天线接收检测数据后进行处理，处理后的数据通过天线发送至芯片读写装置2的mcu；

（3）芯片读写装置2的mcu接收数据后对数据进行对比，判断智能卡逻辑功能是否完整，并记录数据分析结果，然后将测试结果发送给pc机；

（4）工控模块控制传送装置6工作，将完成读写的智能卡由芯片读写装置2输送至出卡装置3位置；

（5）根据（3）中的分析结果，pc机发送指令给工控模块，工控模块控制自动分卡器8将逻辑功能完整的智能卡汇集在一个智能卡存放装置7内，将逻辑功能不完整的智能卡汇集在另外一个智能卡存放装置7内。

优选的，还包括有智能卡位置位置调节步骤：利用智能卡位置传感器感应到只能卡的位置，当数据反应到智能卡发生偏移时，工控模块控制位置调整模块进行调整，智能卡位置位置调节步骤的工作时间为智能卡位于传送装置6的整个行程时间。

还包括有自动流水化智能卡质检方法，包括以下步骤：

（1）工控模块控制智能卡推送装置5运动，将智能卡从入卡装置1批量输送至芯片读写装置2位置；

（2）pc机将检测软件下载至数据管理设备，数据管理设备通过数据串行通讯模块发送控制指令给芯片读写装置2；

（3）工控模块控制芯片读写装置2工作，芯片读写装置2通过射频处理模块和天线发送检测数据，智能卡天线接收检测数据后进行处理，处理后的数据通过天线发送至芯片读写装置2的mcu；

（4）芯片读写装置2的mcu接收数据后对数据进行对比，判断智能卡逻辑功能是否完整，并记录数据分析结果，然后将测试结果发送给数据管理设备；

（5）数据管理设备将数据传送给pc机；

（6）工控模块控制传送装置6工作，将完成读写的智能卡由芯片读写装置2输送至出卡装置3位置；

（7）根据（4）中的分析结果，pc机发送指令给工控模块，工控模块控制自动分卡器8将逻辑功能完整的智能卡汇集在一个智能卡存放装置7内，将逻辑功能不完整的智能卡汇集在另外一个智能卡存放装置7内。

上述实施例仅例示性说明本专利申请的原理及其功效，而非用于限制本专利申请。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本专利申请的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本专利申请所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本专利申请的权利要求所涵盖。