1.一种用于设备壳体细微形变检测的石墨烯探测元件，包括电路板，其特征在于：所述电路板上开有镂空；所述电路板位于镂空处的两面分别贴有石墨烯导电薄膜；所述石墨烯导电膜附于绝缘的弹性基层上，且上下两层石墨烯导电薄膜相对设置；石墨烯导电膜与电路板之间设置有贴合电极。
2.根据权利要求1所述的一种用于设备壳体细微形变检测的石墨烯探测元件，其特征在于：所述石墨烯导电膜为三维石墨烯导电薄膜。
3.根据权利要求2所述的一种用于设备壳体细微形变检测的石墨烯探测元件，其特征在于：所述石墨烯导电膜图形化为圆柱形、方柱形、圆锥形、方锥形中的一种，且上下石墨烯导电膜图形化后的形态相互啮合。
4.根据权利要求3所述的一种用于设备壳体细微形变检测的石墨烯探测元件，其特征在于：所述石墨烯导电膜的厚度为为100nm～2um，图形化后的形态底部直径或者宽度为为100nm～100um。
5.根据权利要求1所述的一种用于设备壳体细微形变检测的石墨烯探测元件，其特征在于：所述基层由PDMS、TPU、Ecoflex、PET中的一种制作。
6. 根据权利要求5所述的一种用于设备壳体细微形变检测的石墨烯探测元件，其特征在于：所述基层的厚度为0.1 um～500um。
7.根据权利要求1所述的一种用于设备壳体细微形变检测的石墨烯探测元件，其特征在于：所述石墨烯导电膜方阻为10～1000Ω/□。
8.根据权利要求1所述的一种用于设备壳体细微形变检测的石墨烯探测元件，其特征在于：所述贴合电极为银浆。
9.根据权利要求1所述的一种用于设备壳体细微形变检测的石墨烯探测元件，其特征在于：还包括从贴合电极引出的引出线端子。
10.根据权利要求1所述的一种用于设备壳体细微形变检测的石墨烯探测元件，其特征在于：所述电路板为FPC柔性电路板，其厚度为0.1～0.2mm。