技术总结
本发明公开了一种斜向几何公差测量仪，该测量仪包括底座（1）、三爪卡盘（13）、导轨（15）、顶针（16）、旋转导轨（29）、立柱（52）和测量台（41），底座（1）上安装导轨（15）和旋转导轨（29），导轨（15）的两端分别安装三爪卡盘（13）和顶针（16），旋转导轨（29）上安装立柱（52）和旋转底盘（30），立柱（52）上安装测量台（41），测量台（41）上安装一号测量杆（68）和二号测量杆（59），一号测量头（67）的小端垂直套在一号测量杆（68）一端的孔中，二号测量头（62）安装在二号测量杆（59）上成90度，整体构成斜向几何公差测量仪。本发明结构简单可靠，操作容易，旋转的导轨带动测量头沿直线或斜线运动，适应大部分斜向几何公差特征项目的测量。
技术研发人员：李伯奎;陈建兵;许兆美;曲建华;王玲;蒋素琴;王顺军;冯清付;畅皓皓
受保护的技术使用者：淮阴工学院
文档号码：201610967669
技术研发日：2016.11.01
技术公布日：2017.03.22